1、ICS 25.120.20 H90 备案号:21708一2007D D 王飞111、.J E .;、JB/T 5000.14 2007 代替J8fT5000.14 1998 坷IJ立目Heavy mechanical general techniques and standards 一-Part14: Non-destructive inspection of cast steel 2007-08-28发布2008-02-01实施华共和国l王革毛员会发布JB厅5000.142007 目次前言.l1v 1 范围. 1 2 规范性引用文件.1 3 术语和定义.1 4 一般要求.2 4.1 4.2
2、4.3 5 5.1 5.2 应用原则.2检测档案. 检测人员. 等级. 2 等级分类. .2 6 检验方法. () 6.1 磁粉检测或渗透检测.6.2 超声波检测或射线检测. . () 附录A(规范性附录铸钢件表面磁粉检测. 8 A.1 A.2 A.3 A .4 A.5 A.6 A.7 A.8 A.9 A.10 A.11 A.12 方法原理. 检验前的商定. 磁化装置. 磁化方法. 磁化电流的种类. 磁化的校验. 显示漏磁场的检验介质.受检表面的准备.9操作.缺陷显示的评定. 9 退磁.1() 检验报告. 1() 铸钢件渗透检测.附录B(规范性附录检验的型式和目的B.1 . 10 10 B.2
3、 B.3 B.4 B.5 B.6 B.7 检验前的商定. . 10 渗透探伤剂及其检查H.10 受检表面的准备检验方法和操作缺陷显示的评定. 11 . 11 . 14 检验报告.14 附录C(规范性附录铸钢件超声波检测. . . 15 C.1 检验原则与目的. . . . . 15 C.2 适用范围. . 15 I JB5000.14 C.3 C.4 C.5 C.6 C.7 C.8 C.9 C. lO C.ll C.12 007 检验前的协商. . 15 受检铸件的准备. 15 检验系统.15 探伤仪的调整.16 超声可探性的确认. l (i 检验的实施.1 6 缺陷的检验. . . . 17
4、 测定缺陷大小. 1 回波的评定.19 检验报告.19 附录D(规范性附录铸钢件射线透照检测及其按附录A按附录B进行渗透检测时按附录C表4按附录D表B.1表B.2表B.3表C.l表D.1D.l D.2 D.3 D.4 D.5 D.6 D.7 D.8 D.9 图1图2图C.1图C.2图C.3图D.1图D.2图D.3图D.4图D.5图D.6图D.7123 表表表H 20 . . 像质级别. . 20 合约双方协定. 20 设备与器材. 1 透照方法. 21 底片. . 25 底片观察.25 散射线屏蔽.25 . 25 记录. 27 铸件壁厚区域划分. (5 表3中缺陷的单个面积和总面积的说明近场区
5、长度和常用单晶片探头远场区声束直径(6dB)与声程关系的近似值.19 直探头测定深度方向的延伸尺寸td一(S1+S2) 斜探头测定垂直于受检面的延伸性缺陷的延伸尺寸和国波动态特性曲线延伸尺寸t=. . 7 . 19 (Sz-S1) cos. () 平板形工件照相布置. . . . . . . . . . . . . . 22 筒形工件照相布置(内透法筒形工件照相布置(双壁单影法筒形工件照相布置(双壁双影法)500KV以下x. 22 .22 . . 23 高管电压与透照厚度的关系.23 多张胶片照相法. . 由工件表面至胶片的距离(乌)和射线源尺寸(决定源至工件表面(L1 ) 的诺模图. . .
6、 . . 28 (评定框尺寸:许缺陷显示(评定框尺寸:. 3 105mmx148mm) . . . . 3 148mmx105mm) 进行超声波检测时缺陷的最大允许值.4 进行射线检测时缺陷的最大允许值.5 11 . . 按显像方法分类的检测方法.12 检测操作程序.12 铁素体钢铸件超声波检测记录限.18 胶21 与增感屏.表D.2表D.3表D.4表D.5表D.6表D.7表D.8表D.9表D.lOJBrr 5000.14 2007 Y射线和lMeV以上X射线适用透照厚度.24 应识别的像质计最小线径. 24 黑度范围. . . 25 观片灯的适用范围. 25 气孔、夹砂夹渣类缺陷评定框.21
7、6-50 50 mm 虹un2mm mm 0.1 0.3 1 l 1 2 2 1.5 10 2 2 4 3 6 5 10 2 2 35 4 4 6 6 12 10 20 3 3 70 6 6 lO 9 18 15 30 4 5 200 10 10 18 18 27 30 45 5 5 500 16 16 25 27 40 45 70 注1:在评定框内最多可以有两个达到允许最大长度的缺陷显示。注2:在组成排缺陷显示的第个缺陷显示开始到最后个缺陷显示末端之间距离称为成排缺陷显示长度。注3:质量等级01仅用于承受高负荷的小铸件和机械加工面。非线性缺陷显示线性缺陷显示或成排缺陷显示(成排缺陷显示除外)
8、应记录的最大允许长度最小缺陷缺陷显示缺陷显示单个线性缺全部线性缺单个线性缺伞部线性缺单个线性缺伞1m线性缺l显示的直个数长度陷显示或成陷显示或成陷显示或成陷显示或成陷显示或成陷显示或成等级径或长度排缺陷显示排缺陷显示排缺陷显示排缺陷显示排缺陷显示排缺陷显示(非决定性的)受检部位的铸件厚度mm 王三1616-50 50 mm 个mm mm 0.1 0.3 1 1 1 l 2 2 1 1.5 8 3 2 4 3 6 5 10 2 2 8 6 4 6 6 12 10 20 斗3 3 12 9 6 lO 10 18 18 30 4 5 20 14 10 18 18 27 30 45 5 5 32 21
9、 18 25 27 40 45 70 注1:在组成排缺陷显示的第个缺陷显示开始到最后个缺陷间的距离，称为成排缺陷显示长度。注2:01仅用于承受高负荷的小铸件和机械加工面。注3:单个缺陷显示大小的分布频率应大致符合附录B图例的说明，但不得有缺陷显示大于本表指出的值。如果:评j内除非线性缺陷显示外还有线性缺陷显示，则应满陷显示的要求，此外，还应将非线性缺陷显示内。3 JB厅5000.1牛一2007表3按质量等级1 2 3 4 5 区域评定项目(见图1)受检部位的铸件壁厚mm 1) I三二5(50 100 50 100 50 100 50 100 三三5011 1三5011 1三50按附录C的检验等
10、级气-1 II 非延伸性缺陷最大平底孔当中心2憧直径m 主三3参看序号10d)非决定性作用边缘每1dm2受检苟|中心a)如果在任何情况下缺陷间距A(见图2)大于声束直径，则下列最大值应有效:主三3主三5主三3主三3主三3主三5主三5非决定性作用3 中记录的缺主三3主三5目也按序号10和序号11行执行。延伸性缺陷4 最大平底孔当中心坚主主参看序号10d)非决定性作用量直径mm 边缘50mm，平底孔当量直径超过8mm且位于边缘区d) 内的缺陷。即使以上缺陷没有超过本的记录限，也应作记录，与用户商定。裂纹是不允许的，除非断裂力学试验证i该|医纹是无妨碍的。4 JB厅5000.142007 表3(续)
11、质等级2 3 4 5 区域评定项目(见图1)受检部位的mm 50 100 50 100 50 100 50 100 1) 三三50主主50主三so主三50100 600 100 600 100 600 100 600 般规定如果结果不明确或与上述要求不符，。11 如果超声波检验发现有能测出面积的缺陷，而射线检验又检测又不出陷，不能排除存在着裂纹，应按序号10行的规定执行。3.2. 1.30 注1:当对延伸性缺陷和非延伸性缺陷分类以及序号3中的a)和b)所列根据非延伸性缺陷间距讲行子分类存在疑问时，应使用直径为24mm，频率为2MHz2.25MHz的直探头，或使用声速特性与上述探头相同的探头进行
12、检验。注2:在缺陷显示范围内，对于2到5的区域，允许局部底破衰减量为100%。注3:在质量等级2级到5级时，从中心到边缘区的缺陷在厚度方向上最大尺寸为壁厚的15%(最大5伽un).而位于边缘区的缺陷，其尺寸不得超过壁厚的10%( 25mm)。注4:如果中心区的单个缺陆，在厚度方向上的尺寸运10%的哇厚，并且判定为中心缩孔，2到4时，比本表规定定值高出50%。当质量等级为5时，其允许值不受限制。5 JB厅5000.142007 表4(续)公称厚度质量等级缺陷类型日lll12 3 4 5 运10250 450 800 1600 3600 10-20 树枝状缩孔20-40 600 900 1650
13、2700 6300 40-80 800 1350 2700 5400 9000 80-120 十120 1000 2000 3000 8000 12000 注1:裂纹、冷铁完全未熔合和泥，也撑完全未榕合性质的缺陷不允许。注2:气孔、夹砂和夹渣类缺陷以点数计。注3:线状缩孔缺陷以mm为单位计。、注4:树技壮缩孔缺陷以mm2为单位计。注5:缺陷位于评定框边界时，框外部分应计算。6 检验方法6.1 磁粉检测或渗透检为了证实铸钢件已经满足表I或表2规定的外部质量要求，应使用附录A规定的磁粉检测或附录B规定的渗透检测。对于不能磁化的钢种应使用渗透检测，对于可以磁化的钢种(铁磁性的)应优先使用磁粉检测。检
14、验机械加工表面时，如果没有其他商定应使用磁粉检测。6.2超声波检测或射线6.2.1 如果订货时没有其他商定，则应由制造厂来选定检验方法。这时应当注意下列各项:对于奥氏体材料，只能用射线检测。对于铁素体钢(包括珠光体钢和马氏体钢)应由供需双方商定采用超声波检测或射线检测。6.2.2 超声波检测:超声波检测应按附录C进行。I级检测适用质量等级1到4，II级检测适用质量等级5。6.2.3 射线检测:射线检测应按附录D进行。d13，最大100mm边缘区中心区、险制时边缘区d13，最大100mm图1区(壁厚区域的划分以铸件加工后的尺寸为基准)6 -FI . . BI 3 JB厅5000.142007 F
15、指其与相邻面积的距离A大于两个相邻面积中任一最大尺寸L的面积。示例中町，凡，月面积的尺寸L，B头扫查该缺陷时从其中心点连线得出的。声程大时。图2表3中缺陷的单个面积和总面积的说明7 JB厅5000.142007 附录A(规范性附录)A.1 方法原理在被磁化的工件上，当缺陷垂直切割磁力线时，缺陷处即产生漏磁通。不同的磁粉检测方法，其磁化方法和为显示漏磁场所使用的检验介质的种类也各不相同。缺陷显示的形态与钢铸件中相对于磁力线方向的缺陷取向密切相关。平行于磁力线方向的缺陷不能.被显示出来，所以应选择合适的磁力线方向。A.2 检验前的商定检验范围。件的受检部位。J牛受检部位缺陷的允许尺寸和个数。必要时
16、，应进行退磁oA.3磁化装应熟知磁化装置的各项参数。A.4磁化方法可采用下列磁化方法:直接通电周向磁化:触头和磁辄磁化:通电导棒磁化。A.5 磁化电流的种类可采用下列磁化电流:直流电。交流电。非滤波的脉动直流电:半波整流:流。脉冲电流。A.6磁化的校验通过下述方法来证实是否已磁化:测定切向磁场强度;的技术资料;计算评定或者:测定电流强度。8 JB厅5000.142007 A.7 的检验介质磁粉和载液的混合物组成检验介质。按照载液的种类，检验介质可分为湿式检验介质和干式检验介质。根据磁粉的目视特性，检验介质又可分为荧光检验介质和非荧光检验介质。注:检测灵敏度由于检验介质的性能而受到影响，所H质的
17、性能是必要的。检验介质的性能及其测定在mff6063中已予阐述。可采用相适应的试块予以进行，在用泵进行循环时尤为必要eA.8 受检表面的准备受检表面应干净，油、油脂、沙粒和氧化皮及其他妨碍缺陷磁痕辩认的物质均不允许存在。所需的表面状态可通过喷丸、打磨或机械加工的方法予以达到。注z所需的表面状态取决于是否易于识别或确定缺陷。对于表面状态的要求，建议按表面粗糙度试块在订货时商定表面粗糙度。受检表面与检验介质之间应有足够的对比度。必要时应施加对比介质。光滑的非金属涂层，例如涂料或者对比剂，其厚度可允许约为30阳n，但应注意检验灵敏度的降低。A.9 操f乍A.9.1 磁化如果在订货时没有其他规定，应在
18、受检表面上两个相五垂直的方向进行磁化。切向磁场强度应为2队Jm_6kA/m。对于电流强度和磁场强度，建议测定并指明是实际值或是有效值，假如测定值为其他值时，应加以说明。例如算术平均值或者最大值。注:磁粉检测时，如果采用触头法磁化时，则应根据采用电流的种类和强度决定触头间距，推荐每25mm触头间距的磁化电流为90A1l0A，以保证工件充分被磁化，并应按A.6进行校核。为避免灼伤工件，触头与受检表面接触且有效导电后，才应施加电压，在切断电流后才应将电极移去。建议使用铜质或铝质的易熔触头。如有必要，应检查铸件上触头触点处是否有灼烧点，若发现灼烧点可进行打磨，并A.9.2 检验介质的施加磁化时，湿式检
19、验介质以浇流方式施加，干式检验介质可采用喷粉器加以喷洒，磁悬液中的磁粉在使用前应很好地进行搅拌，在磁化过程中检验介质的施加时间应约为3s，喷洒结束和磁化结束之间的时间称之为后磁化时间，后磁化时间应至少为ls。如果使用直流电，经整流的交流电或磁辑和触头磁化，且材料具有足够的剩磁(如具有高矫顽力的硬磁材料)，则可采用剩磁法进行检查。这时检验介质是在磁化后施加。A.9.3 受检表面的照明度缺陷评定时，受检区域应有足够的照明。使用非荧光检验介质，其照明强度应至少为500lx(勒克司)。使用荧光检验介质，应在暗室使用紫外光进行检查。在受检表面测定其强度应至少为8WJm2，如有可能，为15WJm2o紫外光
20、强度的测定装置必须匹配有一套紫外辐射源。A.10 缺陷显示的评定缺陷显示应按照其大小和个数加以评定。缺陷显示的允许尺寸和个数应在订货时商定，评定的等级见表1。9 JBff 5000.14-一2007A.11 检验结束后，铸件还存在剩磁。如果剩磁对铸件的使用性有影响，则铸件必须退磁，这种要求应在订货时予以规定。A.12检验报检验报告至少包括以下资料:A.12.1 铸件的资料:工件名称、熔炼炉号和材质，必要时模型号或图号和序号:受检铸件的订货依据和检验报告。A.12.2 检验任务的资料:检验范围:受检部位:允许限;必要时，其他内容。A.12.3 检验规程和结果判定的百柯:表面状态:磁化方法种类:检
21、验装置:检验介质:磁化的校验:与本部分的偏差:检验结果及其判定:检验地点、日期和检验员姓名。附录B(规范性附录铸钢B.1 检验的型式和目的采用渗透剂检查表面裂纹的方法用于检查工件表面的开口性缺陷，例如裂纹、铸疤、折痕、气孔、。B.2检商定在订货时应商定下列各项:检验范围: , 铸件受检部位的缺陷显示的允许尺寸和个数(见B.9)。B.3 渗透探伤剂及其检查渗透探伤剂包括渗透剂、乳化剂、清洗剂、显像剂。不同型号渗透探伤剂不能混用。并且，渗透剂、显像剂的山.E_. .t:./I J J .:L BJ:J 0 10 JB厅5000.142007 B.3.1 渗透剂的控制a)参比渗透剂:每一批新的渗透剂
22、中取500mL作为样品。的玻璃容器中，贮存温度为160C 520C，并避免阳光照射。b)各种渗透剂的比重应根据制造厂说明书的规定经常校验并保持其比重不变。校验方法是采用比重计测定。c)各种渗透剂的浓度应根据制造厂说明书规定经常校验。d)着色渗透剂的浓度的校验方法:将1归止校验的渗透剂和参比渗透剂分别注入到盛有90mL元色煤油或其他惰性溶剂的量筒中，搅拌均匀。然后把两种试剂分别放在比色计纳式试管中进行颜色浓度的比较。如果被校验渗透剂与参比渗透剂的颜色浓度差超过20%，就应作为不合格。e)对正在使用的渗透剂应做外观检验。如发现有明显的混浊或沉淀物、变色或难以清洗，应予报废。f)对荧光渗透剂的荧光性
23、能也应经常校验，其荧光效率不得低于75%。校检的方法按GB厅5097一1985的附录A测定。g)对渗透剂中氯、氟、硫含量需加以限制时，可由制造厂和用户双方协h)各种渗透剂用对比试块与参比渗透剂进行性能对比试验，比渗透剂时应报废。的能力低于参B.3.2 显像剂的控制a)对干式显像剂应经常检查，如发现粒子凝聚、有显著残留荧光、性能低下者要废弃。b)显像剂的浓度应保持在制造厂规定的工作浓度冠围内，其密度也应经常进行校验。渗透剂必须装在密封容器中，放在低温暗处保存。显像剂和快于显像剂必须装在密闭容器中保存。B.4 受检表面的准备受检表面的质量和状态可在订货时加以确定。各种妨碍检测的表面异物必须清理干净
24、，表面粗糙度的准备范围应从规定的检测部位四周向外扩展25mrnoB.5 法和操作B.5.1 渗透检测方法B.5.1.1 检测方法的分类:检测前应考虑铸钢件表面出现的缺陷类型和大小、铸钢件的用途、表面粗糙度、数量和尺寸以及探伤剂的性质，按表B.l和表B.2选择检测方法并可将表B.l和表B.2的符号组合起来表示检测方法。例如:FA-W表示用水洗型荧光渗透液和湿式显像剂的方法。B.5.1.2 渗透检测方法的选用:渗透检测方法的选用可根据被检工件的表面粗糙度、要求达到的检测灵敏度、检测批量大小和检测现场的水源、电源甘刀I I -/Jo. JJ:.。B.1 名称方法水洗型荧光渗透被方法荧光渗透检测着色渗
25、透检测注:后乳化型荧光渗透液的乳化剂有油基和水基两种。方法符号FA FB FC VA VC 11 JBfI5000.1牛一2007名称方法符号寸干式显像法干式显像剂方法D 湿式显像剂方法w 快干式显像剂方法S 无显像法不用显像剂方法N B.5.1.3 对于表面光洁且检测灵敏度要求高的工件宜采用后乳化型着色法或后乳化型荧光法，也可采用溶剂去除型荧光法。B丘1.4对于表面粗糙且检测灵敏度要求低的工件宜采用水洗型着色法或水洗型荧光法。B.5.1.5 对于现场元水源电源的场所检测方法宜采用溶剂去除型着色法。B.5.1.6 对于大型工件的局部检测，宜采用洛剂去除型着色法或溶剂去除型荧光法。B.5.1.7
26、对于批量大的检测件，宜采用水洗型着色法或水洗型荧光法。B.5.1.8 荧光渗透法比着色渗透法有较高的检测灵敏度。B.5.2 检测操作根据不同的检测方法按表B.3确定检测操作程序。表B.3所使用的渗透剂和显像剂种类水洗型荧光渗透剂-法方号测符也立前处理渗透乳化清洗去除干燥显像干燥观察后处理FA-D 。-0。水洗型荧光渗透液或型着色渗透液.湿式显FA-W VA-W 。0 0 。水洗型荧光渗透被或透液FA-S VA-S 。水洗型荧光渗透液不FA-N 。后乳化像剂干FB-D 。0 0 。后乳化型荧光渗透液FB-W 。一-00 。后乳化型荧光渗透液FB-S 。洛剂去除型荧光FC-D 。, 语剂去除型荧光渗透去除型着色FC-W VC-W 。溶剂去除
