GB T 17024-1997 半导体器件集成电路 第2部 分 数字集成电路 第三篇 HCMOS数字集成电路 5474HC、5474HCT、5474HCU 系列空白详细规范.pdf

1、ICS 31.200L 55督臀中华人民共和国国家标准cB/T 17024一1997idt IEC 748-2-3:1992QC 790130半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第三篇HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系X空白详细规范Semiconductor devices Integrated circuitsPart2:Digital integrated circuitsSection three-Blank detail specificationfor HCMOS digital integrated circuitsseries 54/7

2、4HC，54/74HCT，54/74HCU1997一10一07发布1998一09一01实施国家技术监督局发布GB/T 17024一1997前言本标准等同采用国际电工委员会标准IEC 748-2-3:1992半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第三篇一HCMOS数字集成电路54/74HC, 54/74HCT, 54/74HCU系列空白详细规范，以促进我国该类产品的国际贸易、技术和经济交流。本标准引用的国家标准GB/T 4937-1995半导体器件机械和气候试验方法idt IEC 749(1984)及修改单10993)和修改单2(1993),本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由全国集

3、成电路标准化分技术委员会归口。本标准起草单位:电子工业部东北微电子研究所、电子工业部标准化研究所。本标准主要起草人:王连友、毕思庆、李燕荣。GB/r 17024一1997IEC前言1) IEC(国际电工委员会)在技术问题上的正式决议或协议，是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员会制定的.对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见.2)这些决议或协议，以推荐标准的形式供国际上使用，并在此意义上为各国家委员会所认可。3)为了促进国际上的统一，IEC希望各国家委员会在本国条件许可的情况下，采用IEC标准的文本作为其国家标准。IEC标准与相应国家标准之间的差异，应尽可能在国家标准中指明。本

4、标准是由SC47A.(集成电路)和IEC TC47(半导体器件)制定的口本标准是HCMOS数字集成电路54/74HC,54/74HCT,54/74HCU系0i的空白详细规范。本标准文本以下列文件为依据:六个月法表决报告二个月程序表决报告47A(CO)19047A (C0)21547A (C0)21147A (C0)241表决批准本标准的详细资料可在上表列出的表决报告中查阅。在本标准封面的QC编号是IEC电子元器件质量评定体系(IECQ)的规范号。本标准引用下列IEC标准:68-2-17(1978)环境试验第2部分:试验试验Q密封617-12(1991)图形符号第12部分:二进制逻辑单元747-

5、10(1991)半导体器件第10部分:分立器件和集成电路总规范748-2-2(1991)半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第二篇- HCMOS数字集成电路54/74HC, 54/74HCT, 54/74HCU系Fllj族规范修改单1(1994)748-11(1990)半导体器件集成电路第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路)749(1984)半导体器件机械和气候试验方法修改单1(1991)QC 0010020986) IEC电子元器件质量评定体系(IECQ )程序规则中华人民共和国国家标准半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第三篇HCMOS数字集成电路54/74HC,54/

6、74HCT,54/74HCU系列空白详细规范cB/T 17024一1997idt Ii;C 748-2-3:1992QC 790130Semiconductor devices Integrated circuitsPart2,Digital integrated circuitsSection three-Blank detail specificationfor HCMOS digital integrated circuitsseries 54/74HC,54/74HCT,54/74HCU引言IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程，并在IEC授权下进行工作。这个体系的目的是确定质量

7、评定程序，使得由一个成员国根据相应规范要求认为合格而放行的电子元器件在所有其他成员国内不需要再进行检验就能同样地承认其合格。本空白详细规范是与半导体器件有关的一系列空白详细规范之一，并且与下列标准一起使用。IEC 747-10/QC 70000。半导体器件第10部分:分立器件和集成电路总规范要求的资料本页和下页括号内的数字与下列各项要求的资料相对应，应填写在相应的栏中。详细规范的识别1授权发布详细规范的国家标准化机构名称。2详细规范的IECQ编号。3总规范、分规范的编号及版本号。【们详细规范的国家编号、发布日期及国家标准体系要求的其他资料。器件的识别5主要功能和型号。6典型结构(材料、主要工艺

8、)和外壳资料。如果器件具有若干种派生产品，则应指出其差别.例如用对照表列出特性。如果器件属静电敏感型，应在详细规范中注明注意事项。7外形图、引出端识别、标志和/或有关外形的参考文件.国家技米监您局1997一10一07批准1998一09一01实施IGE/T 17024一1997仁s按总规范2. 6的质量评定类别。C9参考数据。本规范下面方括号内所要求的内容构成了详细规范的首页，这些内容仅供指导详细规范的编写，而不应纳入详细规范中。当一段文字是否供指导编写可能引起混淆时，这段文字将被放在括号内叙述。GB/T 17024一1997国家代表机构(NAD(和可以提供1规范的团体)的名称(地址)详细规范的

9、IECQ编号、版本号和/或日期幻QC 790130-评定器件质量的依据3总规范:IEC 747-10/QC 700000分规范:IEC 748-11/QC 790100族规范:IEC 748-2-2/QC 790109及编号不同时的国家标准号仁详细规范的国家编号仁4若国家编号与IECQ编号一致，本栏可不填HCMOS数字集成电路54/74HC,54/74HCT,54/74HCU系列空白详细规范5有关器件的型号订货资料:见本规范工.2机械说明71外形依据:应给出IEC标准(如有，则需遵循)和/或国家标准外形图:仁可以移人本规范第8章或在那里给出更详细的资料引出端识别:仁画出引出端排列图，包括图形符

10、号标志:字母和图形详细规范应规定器件上标志的内容仁见总规范2.5和/或本规范1.1丑简要说明6应用:见本规范第6章功能:见本规范第3章半导体材料:Si封装:空封或非空封派生产品的特性对照表注意:静电敏感器件质t评定类别8按总规范2.6,参考数据91仁能在各型号间比较的最重要性能的参考数据。按本规范鉴定合格的器件，其有关制造厂的资料，可在现行合格产品目录中查到。Gs/T 17024一1997标志和订货资料1.1标志除第7栏和/或总规范2. 5给出的资料外，任何特殊资料应在本条给出。，.2订货资料若无其他规定，订购器件至少需要下列资料:准确的型号(必要时，标称电压值);当适用时，详细规范的IECQ

11、编号、版本号和/或日期;总规范2.6和分规范第9章规定的质量评定类别，以及如果需要时，分规范第8章规定的筛选程序;任何其他特殊的资料。应用说明见本规范第61栏规定的内容。功能的详细说明详细框图应给出器件的详细框图。应给出功能的图形符号。图形符号可从图形符号的标准目录中得到，或按IEC标准617-12的规定。3.2引出端的识别及功能所有引出端应在框图中注明(电源端，输入端或输出端，输人/输出端)。引出端功能应在下表中标明:丁一I 8属引出端编号!引出端符号引出端名称功能输入/输出识别功能输出电路的类别3.3功能说明应给出功能表4极限值(绝对最大颇定值体系)若无其他规定，这些极限值适用于整个工作温

12、度范围。应给出第9章中所要求的曲线所有电压以v为基准。条款号参数符号数值单位最小最大4. 1-4. 10见族规范XX5工作条件(在规定的工作温度范围内)见族规范第5章，条款号如下:GB/T 17024一19975.2,5.3(HC),5.13,5.14(HCT),5.24,5.25(HCU)和5. 32. 3(HC,HCT),6电特性检验要求见本规范第13章。推荐电源电压范围:见族规范第5章。若无其他规定，这些电特性适用于整个工作温度范围。所有电压以V为基准。6.1静态特性见族规范第5章，条款号如下:5.1,5.4-5.8,5. 12,5.15 5. 19(HCT),5.23,5.25-5.

13、28,6.2动态特性见族规范第5章，5. 32. 1,5. 32. 2(HC,HCT)和5.32.3,参数V.v符号T,二单位54HC/74HC74HC054HC最小最大最小最大最小最大传输延迟时间佑出允许时间枯出禁止时间建立时间保持时间脉冲宽度t尸川tPLHt-IpptpH2littsu盆AtxXXxxxXxxxxxxxxxxxxxxxxxXXXnSnsnsnsnSnSnsnSnS1) 25C.2)一40C -85.3)一55 C -125 .63时序图见族规范5.32.4,6.4电容见族规范第5章，条款号如下:5. 9: CIA I Coz (HC) , 5. 20: C Coz (HCT

14、)和5.29:C.(HCU),7编程不适用。S机械和环境的额定值、特性和数据见分规范12. 2,9附加资料见族规范。仁仅就规范和器件使用所需而给出，例如:GB/T 17024一1997极限值中所引用的温度降额曲线;测试电路或补充方法的完整说明;详细的外形图。101111筛选(如果要求)见分规范第s章。老化条件:应确定下列条件:环境温度;电源电压;频率;电路图和条件。质且评定程序鉴定批准程序见总规范第3章和分规范5.1,能力批准程序在考虑中。结构相似性程序见分规范第6章。试验条件和检验要求13.1总则在编写详细规范时，下列表中的数值和确切的试验条件，应按器件型号要求以及有关标准中有关试验的要求确

15、定。两者选一的试验或试验方法，在编写详细规范时应规定一种。当同一详细规范中包括几种器件时，相应的条件和/或数值应依次连续给出，可能的话，避免重夏相同的条件和/或数值。耐久性试验应按下述要求确定进行耐久性试验的条件:功耗、工作温度、电源电压应按下列优先顺序作出选择:8)电路的每一种功能所涉及的各部分功耗，其平均功耗应是详细规范所允许的最大值。b)环境或参考点的温度应是在a)条规定的功耗下，详细规范允许的最大值。c)除非被a)或b)条所限制.电源电压应是详细规范允许的最大值。13.2抽样要求见分规范第9章。13. 3检验表若无其他规定，试验在25C下进行。标有(D)的试验是破坏性的。GB/T 17

16、024一1997表IA组逐批试验分组检验或试验试验条件规范值Al外部目检IEC 747-10,4.2.1. 1A225下的功能验证(若无其他规定)按本规范第3章A2a(不适用于I类)最低和最高工作温度下的功能验证，A325下静态特性见本规范6.1见本规范6.1和有关详细规范Ma最低和最高工作温度下的静态特性T.m=T.-最大值)和T.-(最小值)，条件同上述A3分组规范值可以与A3分组不同A425下的动态特性(若无其他规定)见本规范6.2见本规范6.2A4a(不适用于百类)最低和最高工作温度下的动态特性，了卜二T-(最大值)和T-i,最小值)，条件同上述A4分组规范值可以与A4分组不同4)如果

17、制造厂能定期证明两个极限温度下的试验结果与25C下的试验结果相关，则可使用25C一F的试验结果表lB组逐批试验(I类器件见总规范2-6)分组检验或试验GB/T 4937条件规范值B1尺寸IEC 747-10, 4. 2. 2和附录B见本规范第I章B2电额定值验证不适用B4可焊性(D)第1篇,2.1按规定浸润良好B5温度快速变化a)空封器件温度快速变化:电测试(A2和A3分组)密封，细检漏密封，粗检漏b)非空封和环氧封空封器件(D)温度快速变化:外部目检稳态湿热电测试第I篇,l.I第，篇.7.3或7.4IEC 68-2-17,Qc试验第.篇.1. 1IEC 747-10,4.2.1. 1第.篇.

18、5B一10次循环同A2和A3分组按规定按规定10次循环严酷度1,24h同A2和A3分组同A2和A3分组同A2和A3分组B8电耐久性见本规范13.1时间168 h。按分规范12.3和12.4(如适用)见本规范13.1CRRL就B4, B5和B8分组提供计数托乏查结果GB/T 17024一1997表皿C组周期试验分组检验或试验GB/T 4937条件规范值C1尺寸IEC 747-10, 4.2.2和附录BC2c瞬态能量额定值IEC 748-2-2,10.2按规定C3引出端强度(D)第I篇，第1章按相应封装规定C4耐焊接热(D)第I篇,2.2按规定C5温度快速变化a)空封器件温度快速变化:电测试(A2

19、和A3分组)密封，细检漏密封.粗检漏b)非空封和环氧封空封器件D)温度快速变化外部目检稳态湿热电测试第，篇,1.1第，篇,7.3或7.4IEC 68-2-17,Qc试验第.篇,1.1IEC 747-10,4.2.1.1第.篇5B10次循环同A2和A3分组按规定按规定500次循环严酷度1,24 h同人2和A3分组同A2和A3分组同A2和A3分组C6稳态加速度(D)(适用于空封器件)第I篇.第5章按规定C7稳态湿热s)空封器件(D)b)非空封和环氧封空封器件(D)随后电测试A2和A3分组第.篇,5A第，篇.5B严酷度:.类和.类为56 d. I类为21d严酷度1偏置:按详细规范规定时间;1类和.类

20、为1 000 h, I类为500 h同A2和A3分组同A2和A3分组C8电耐久性见本规范13.1时间:1 000 h,条件按分规范12.3及12.4(如适用)见本规范13.1C9高温贮存第，篇，第2章1 000 h.T.为最大值Cll标志耐久性第N篇，第2章方法1C12输入电容见本规范6. 4见本规范64见本规范6.4C13输出电容(如适用)见本规范6.4见本规范6.4见本规范6.4CRRL就C3,C4,C5,C6,C7,C8,C9和C11分组提供计数位查结果cB/T 17024一1997表ND组年度试验分组检验或试验IEC标准条件规范值D8电耐久性，见本规范13.1I类:不适用，类2 000 h.类3 000 h条件:见分规范12.3及12. 4(如适用)见本规范13.15)D组试验应在鉴定批准后立即进行，其后一年进行一次.13.4延期交货见IEC标准747-10的3. 6-7,14附加测f方法不适用。