IEC 60115-4-3-1993 Fixed resistors for use in electronic equipment part 4 blank detail specification fixed power resistors heat-sink types assessment level H《电子设备用固定电阻器 第4-3部分 空白详细规范 带散热的功率型固定电阻器.pdf

1、NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 1 15-4-3 QC 400203 Premire dition First edition 1993-03 Rsistances f xes utilises dans les quipements lectroniques Partie 4: Spcification particu lire-cadre: Rsistances fixes de puissance, modle radiateur Niveau d?assurance H Fixed resistors for us

2、e in electronic equipment Part 4: Blank detail specification: Fixed power resistors, heat-sink types Assessment level H Numro de rfrence Reference number CEMEC 115-4-3: 1993 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or net

3、working permitted without license from IHS-,-,-Numros des publications Depuis le ler janvier 1997, les publications de la CE1 sont numrotes partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CE1 incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple,

4、les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la prsente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est constamment revu p

5、ar la CE1 afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfirmation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs des questions ltude et des travaux en cours entrepris par le comit technique qui a tabli cette pub

6、lication, ainsi que la liste des publications tablies, se trouvent dans les documents ci- dessous: Site web de la CE* Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis jour rgulirement (Catalogue en ligne)* Disponible la fois au Toutes les dimensions sont en millimtres. Note. -Les dfini

7、tions de la temprature maximale de llment et de la dissipation nominale avec un radiateur rfrenc sont donnes dans la Publication 115-1 de la CEI. Gamme de rsistance* . . Tolrances sur la rsistance nominale i . % Basse pression atmosphrique 8,s kPa (85 mbar) Classe de stabilit . % Catgorie climatique

8、 -/-/- *Les valeurs prfrentielles sont celles de la (des) srie(s) E . de la Publication 63 de la CEI: Sries de valeurs normales pour rsistances et condensateurs. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking perm

9、itted without license from IHS-,-,-1 15-4-3 O IEC: 1993 -9- 1.2 DIMENSIONS, RATINGS AND CHARACTERISTICS Style TABLE IA Dimensions Style - Maximum element temperature Rated dissipation with a reference he at -s ink (W at 25 OC) TABLE IB Maximum dissipation at 70 C without heat-s ink Limiting e 1 emen

10、 t volt age (V d.c. or a.c. r.m.s) (VI Isolat ion voltage (V d.c. or a.c. peak) (VI All dimensions are in millimetres. Note. -The definitions of maximum element temperature and rated dissipation with a reference heat-sink are given in IEC Publication 115-1. Resistance range* . to . Tolerances on rat

11、ed resistance f . % Climatic category -/-/- Low air pressure 8,s kPa (85 mbar) Stability class . % *The preferred values are those of the E-series of IEC Publication 63: Preferred Number Series for Resistors and Capacitors. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under li

12、cense with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-1 15-4-3 O CE1 11 993 - 10- . w Limites de la variation de rsistance: I I I I I I I I I I - - pour les essais de longue dure i( . %R + . S2) - pour les essais de courte dure i( . %R + . S2) Variation de

13、rsistance en fonction de la temprature E le IB of this spe- :if ication LS in 4.5.2 io breakdown or Il as hove r ;ood tinning as evi- ienced by free flow- ing of the solder uith wetting of the :enninations or sol- ier shall flow withir , s, as applicable Legible marking JO visible damage IR5 f( . %R

14、 + . Q: Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,- 18 - N C 1 15-4-3 O CEI: 1993 N Q A Numro de paragraphe et essai (voir note 1) s-3 Sous-groupe B3 4.8.4.2 Coefficient

15、de tempra- ture de la rsistance 2,5% Wmro de paragraphe It essai (voir note 1) VONTROLE DU GROUPE C (priodique) Sous-Rroupe C1A Moiti de lchantil- lon du sous-groupe C1 4.16 4.18 Robustesse des sorties Rsistance la chaleur de soudage - D ID )U D Conditions dessai (voir note 1) La rsistance doit tre

16、monte sur le radiateur rfrenc Examen visuel Rsistance Cet essai ne sapplique quaux rsistances de coefficient de tempra- ture nominal infrieur I50 x 10-6/oC. Neffectuer quun cycle: 20 “C/70 “C/20 “C Conditions dessai (voir note 1) Essais de traction, pliage et torsion comme applicable Examen visuel R

17、sistance Mthode 1B Examen visuel Rsistance Exigences (voir note 1) Pas de dommage visible Marquage lisible ARr 98 m/s2 (whichever is the less severe) Cota1 duration: 6 h lisual examination 8,5 kPa (85 mbar) ;ample size i criterion )f accepta- ility (see C - 1 ?erf ormance requirements :see Note 1) ?

18、o visible damage Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,- 24 - 11 5-4-3 O CEI: 1993 I Numro de paragraphe et essai (voir note 1) Sous-groupe C2 4.25.2 Endurance 2 la t

19、emprature de la salle Sous-groupe C3 4.8 Variation de rsistance en fonction de la temprature CONTROLE DU GROUPE D (priodique) Sous-Rroupe D1 4.24 Essai continu de chaleur :onditions dessai :voir note 1) Zxamen visuel ls ist ance lsistance disolement voir note 4) Cension de tenue voir note 4) ure: 1

20、O00 h 3xamen 48 h, 500 h et 1 O00 h: 3xamen visuel 3 s ist ance Examen 1 O00 h: Rsistance disolement remprature minimale ie catgorie/ 20 “C 2 O “ C / t emp r at Ure naximaie de catgorie Paragraphe 4.24.2.1 ler groupe: 6 spcimens 2ime groupe: 7 spci- mens 3ime groupe: 7 spci- mens iffectif de chantil

21、lon ,t critre .I acceptation vo i P - 3 3 - 12 no n - - 13 - 10 - 20 ! 3) C - - 1 1 - 1 Exigence s (voir note i) Pas de dommage visible Marquage lisible AR 5 f( . %R + . Q) R 2 100 MQ Pas de claquage ou de contournement Pas de dommage visible AR i f( . %R + . Q) RL1 GQ Ei ility (see 1 - ?e rf ormanc

22、e requirements :see Note 1) To visible damage Legible marking IR 5 f( . %R + . 52) i 2 100 MQ To breakdown or El ashover 4s specified in rable IB of this specification go visible damage hR 5 f( . %R + . Q) RL1 GQ Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-