IEC 60306-2-1969 Measurement of photosensitive devices Part 2 Methods of measurement of phototubes《光敏器件的测量 第2部分 光电管的测量方法》.pdf

1、NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 60306-2 Premire dition Fi rc t ed i ti on 1969-01 Mesures des dispositifs photosensibles Deuxime partie: Mthodes de mesure des tubes photolectroniques Measurement of photosensitive devices Part 2: Methods of measurement of phototubes Numro de rfren

2、ce Reference number CEIIIEC 60306-2: 1969 Numros des publications Depuis le ler janvier 1997, les publications de la CE1 sont numrotes partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CE1 incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les n

3、umros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la prsente publicatiora Le contenu technique des publications de la CE1 est constamment revu par l

4、a CE1 afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfir- mation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs des questions ltude et des travaux en cours entrepris par le comit technique qui a tabli cette publi

5、cation, ainsi que la liste des publications tablies, se trouvent dans les documents ci- dessous: Site web) de la CEI* Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis jour rgulirement (Catalogue en ligne) Bulletin de la CE1 Disponible la fois au -site web de la CEI* et comme priodique

6、imprim Terminologie, symboles graphiques et littraux En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 60050: Vocabulaire Electro- technique International (VEI). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur con

7、sultera la CE1 60027: Symboles littraux a utiliser en lectrotechnique, la CE1 6041 7: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles, et la CE1 60617: Symboles graphiques pour schmas. * Voir adresse site web, sur la page de titre. Numbering As

8、from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. Consolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the bas

9、e publication incor- porating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Vaility of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the

10、 date of the reconfirmation of the publication is available in the IEC catalogue. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is to be found at the followin

11、g IEC sources: e IEC web site* Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates (On-line catalogue)* Available both at the IEC web site* and as a printed periodical IEC Bulletin Terminology, graphical and letter symbols For general terminology, readers are referred to I EC 60050:

12、international Electrotechnical Vocabulary (IEV). For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical symbols for use on equipment. fndex, surv

13、ey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams. * See web site address on title page. NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 60306-2 Premire dition First edition 1969-01 Mesures des dispositifs photosensibles Deuxime partie: Mthodes de mesure des t

14、ubes photolectroniques Measurement of photosensitive devices Part 2: Mthods of measurement of phototubes O IEC 1969 Droits de reproduction rservs -Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in

15、 utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun any form or by any means, electronic or mechanical, procd, lectronique ou mcanique, y compris la photo- including photocopying and microfilm, without permission in copie et les microfilms, sans laccord crit de Iditeur. writing from the publisher.

16、International Electrotechnical Commission Telefax: +41 22 91 9 0300 3, rue de Varemb Geneva, Switzerland IEC web site http: llwww.iec.ch e-mail: inmailiec.ch E CODE PRIX PRICE CODE Poorprix. voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue Commission Electrotechnique Internationale Interna

17、tional Electrotechnical Commission MeHilvHapoLlHaR KTPOTXHHCHR KOMHCCWA O -2- PREAMBCLE . PRFACE . SOMMAIRE Articles I . Domaine dapplication . 2 . Dfinitions 3 . Mthodes de mesure Pages 4 4 -3- CONTENTS i. Page 5 FOREWORD PREFACE 5 . Clause 1. Scope 7 7 2. Definitions 7 3. Measuring methods -4- COM

18、MISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE IWESURES DES DISPOSITIFS PHOTOSENSIBLES Deuxime partie : Mthodes de mesure des tubes photolectroniques PRAMBULE i) Les dcisions ou accords officiels de la C E I en ce qui concerne les questions techniques, prpars par des Comits dEtudes O sont reprsents tous les

19、 Comits nationaux sintressant ces questions, expriment dans la plus grande mesure possible un accord international sur les sujets examins. 2) Ces dcisions constituent des recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux. 3) Dans le but dencourager cette unification

20、 internationale, la C E I exprime le vu que tous les Comits nationaux ne possdant pas encore de rgles nationales, lorsquils prparent ces rgles, prennent comme base fondamentale de ces rgles les recommandations de la C E I dans la mesure o les conditions nationales le permettent. 4) On reconnat quil

21、est dsirable que laccord international sur ces questions soit suivi dun effort pour harmoniser les rgles nationales de normalisation avec ces recommandations dans la mesure o les conditions nationales le permettent. Les Comits nationaux sengagent user de leur influence dans ce but. PRFACE La prsente

22、 recommandation a t tablie par le Comit dEtudes NO 39 de la CEI: Tubes lectroniques. Elle fait partie dune srie de publications traitant des mesures des dispositifs photosensibles. Le Catalogue des publications de la CE1 donne tous renseignements sur les autres parties de cette srie. Un premier proj

23、et fut discut lors de la runion tenue New Haven en 1967, la suite de laquelle un projet rvis fut soumis lapprobation des Comits nationaux suivant la Rgle des Six Mois en mars 1968. Les pays suivants se sont prononcs explicitement en faveur de la publication de cette deuxime partie: Allemagne Austral

24、ie Belgique Danemark Etats-Unis dAmrique France Isral Italie Japon Pays-Bas Pologne Roumanie Royaume-Uni Sude Suisse Tchcoslovaquie Turquie Union des Rpubliques Socialistes Sovitiques -5- INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION MEASUREMENT OF PHOTOSENSITIVE DEVICES Part 2 : Methods of measurement

25、of phototubes FOREWORD i) The formal decisions or agreements of the I E C on technical matters, prepared by Technical committees on which all the National Committees having a special interest therein are represented, express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the subjec

26、ts dealt with. 2) They have the form of recommendations for international use and they are accepted by the National Committees in that sense. 3) In order to promote this international unification, the I E C expresses the wish that all National Committees having as yet no national rules, when prepari

27、ng such rules, should use the I E C recommendations as the fundamental basis for these rules in so far as national conditions will permit. 4) The desirability is recognized of extending international agreement on these matters through an endeavour to harmonize national standardization rules with the

28、se recommendations in so far as national conditions will permit. The National Committees pledge their influence towards that end. PREFACE This Recommendation has been prepared by LEC Technical Committee No. 39, Electronic Tubes and Valves. It forms one of a series dealing with the measurement of pho

29、tosensitive devices. Reference should be made to the current Catalogue of IEC Publications for information on the other parts of the series. A first draft was discussed at the meeting held in New Haven in 1967, as a result of which a revised draft was submitted to the National Committees for approva

30、l under the Six Months Rule in March 1968. The following countries voted explicitly in favour of publication of Part 2: Australia Belgium Czechoslovakia Denmark France Germany Israel Italy Japan Netherlands Poland Romania Sweden Switzerland Turkey Union of Soviet Socialist Republics United Kingdom U

31、nited States of America -6- MESURES DES DISPOSITIFS PHOTOSENSIBLES Deuxime partie : Mthodes de mesure des tubes photolectroniques 1. Domaine dapplication La prsente recommandation concerne : 1. Les phototubes vide. 2. Les phototubes gaz. Note. - Les photomultiplicateurs ne sont pas traits dans cette

32、 recommandation. 2. Dfinitions Les dfinitions ncessaires linterprtation des mthodes de mesure se trouvent dans la Publication 50(07) de la CE1 : Vocabulaire Electrotechnique International, Groupe 07 : Electro- nique, et dans la Publication 306-1 de la CEI: Mesures des dispositifs photosensibles, Pre

33、mire partie: Recommandations fondamentales. 3. Mthodes de mesure Les mesures ci-aprs seront effectues conformment aux conditions gnrales dcrites au paragraphe 7.1 de la Publication 306-1 de la CEI. 3.1 Sensibilit Lanode et les autres lectrodes doivent tre connectes comme indiqu, et la tension indiqu

34、e doit tre applique entre anode et cathode. On fera en sorte que le rayonnement incident couvre la surface spcifie de photocathode. 3.1.1 Sensibilit nergtique La sensibilit nergtique est calcule partir de la mesure du courant photolectrique cor- respondant au flux (ou lclairement) nergtique spcifi,

35、incident sur la photocathode ; on lexprimera en ampres par watt (ou par watt/mtre carr). 3.1.2 Sensibilit lumineuse La sensibilit lumineuse est calcule partir de la mesure du courant photolectrique cor- respondant au flux (ou lclairement) lumineux spcifi, incident sur la photocathode; on lexprimera

36、en ampres par lumen (ou par lux). 3.1.3 Sensibilit dynamique Pour cette mesure, le rayonnement spcifi doit tre modul en amplitude: Une modulation sinusodale est gnralement employe pour les phototubes gaz. Une modulation en crneaux est gnralement employe pour les phototubes vide. La valeur de crte cr

37、te de lamplitude de modulation doit tre voisine de 100 %. Le phototube doit tre mis en fonctionnement dans les conditions spcifies. La sensibilit dynamique est obtenue partir de la mesure de la valeur de crte crte du courant photolectrique la frquence de modulation spcifie; on lexprimera en ampres p

38、ar watt. La rponse en frquence de tout amplificateur utilis pour cette mesure sera plate sur la plage de frquences requise, a) b) -7- MEASUREMENT OF PHOTOSENSITIVE DEVICES Part 2 : Methods of measurement of phototubes I. Scope This Recommendation deals with: 1. Vacuum phototubes. 2. Gasfilled photot

39、ubes. Note. - Photomultipliers are not included in this Recommendation. 2. Definitions For the definitions necessary for interpretation of the methods of measurement, see IEC Publication 50(07), International Electrotechnical Vocabulary, Group 07 : Electronics, and IEC Publication 306-1 : Measuremen

40、t of Photosensitive Devices, Part 1 : Basic Recommendations. 3. Measuring methods The following measurements should be made under the general conditions described in Sub-clause 7.1 of IEC Publication 306- 1. 3.1 Sensitivity The anode and other electrodes shall be connected as stated and a stated vol

41、tage shall be applied between the anode and the cathode. It should be determined that the incident radiation covers the specified area of the photocathode. 3.1.1 Radiant sensitivity The radiant sensitivity is calculated from the measurement of the photo-current for the specified radiant flux (or irr

42、adiance) incident on the photocathode and should be presented in amperes per watt (or per watt/square metre). 3.1.2 Luminous sensitivity The luminous sensitivity is calculated from the measurement of the photo-current for the specified luminous flux (or illuminance) incident on the photocathode and

43、should be presented in amperes per lumen (or per lux). 3.1.3 Dynamic sensitivity For this measurement, the specified radiation shall be amplitude modulated: For gasfilled phototubes sinusoidal modulation is generally used. For vacuum phototubes square wave modulation is generally used. The peak-to-p

44、eak modulation amplitude should be approaching 100 %. The phototube shall be operated under the specified conditions. The dynamic sensitivity is obtained from the measure- ment of the peak-to-peak photo-current at the specified modulation frequency and should be presented in amperes per watt. The fr

45、equency response of any amplifier used in the measurement should be flat over the required frequency range. a) b) -8- 3.1.4 Sensibilit spectrale relative Pour cette mesure, on utilisera comme source de rayonnement un monochromateur ou tout appareil quivalent. La sensibilit spectrale relative est obt

46、enue partir de la mesure de la sensibilit nergtique pour un rayonnement monochromatique, en fonction de la longueur donde, sur la plage spcifie. La caractristique de sensibilit spectrale relative sera prsente sous forme dune courbe donnant pour chaque longueur donde la sensibilit en pour-cent de la

47、valeur maximale. Note. - Les valeurs de la Sensibilit spectrale relative ne peuvent tre considres sans restriction que lorsque le courant photolectrique est proportionnel au rayonnement incident. 3.2 Facteur dampliJication d au gaz, pour les phototubes gaz Le courant photolectrique du phototube gaz

48、doit tre mesur pour les valeurs faible et leve spcifies de la tension anodique, avec la rsistance de charge spcifie et avec le flux lumineux spcifi incident sur la photocathode. Le facteur damplification d au gaz est le rapport entre (i) le courant le plus lev et (2) le courant le plus faible. Note. - I1 est essentiel que la plus faible des deux tensions corresponde la sensibilit sans amplification due au gaz, cest-dire que ce doit tre une tension proche du potentiel dionisation du gaz, niais lgrement infrielire celui-ci. 3.3 Facteur de satu