IEC 60512-10-4-2003 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 10-4 Impact tests (free components) static load tests (fixed components) endurance test and .pdf

1、NORMEINTERNATIONALECEIIECINTERNATIONALSTANDARD60512-10-4Deuxime ditionSecond edition2003-08Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 10-4:Essais dimpact (composants libres),essais dimpact sous charge statique(composants fixes), essais denduranceet essais de surcharge Essai 10

2、d: Surcharge lectrique (connecteurs)Connectors for electronic equipment Tests and measurements Part 10-4:Impact tests (free components), static loadtests (fixed components), endurance testsand overload tests Test 10d: Electrical overload (connectors)Numro de rfrenceReference numberCEI/IEC 60512-10-4

3、:2003Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple

4、, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la

5、 CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des infor

6、mations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne

7、sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications r

8、emplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo-nible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients S

9、i vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a design

10、ation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporatin

11、g amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, i

12、ncluding its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the

13、list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publica

14、tion. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available by email. Please contact the Customer Service Ce

15、ntre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . NORMEINTERNATIONALECEIIECINTERNATIONALSTA

16、NDARD60512-10-4Deuxime ditionSecond edition2003-08Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 10-4:Essais dimpact (composants libres),essais dimpact sous charge statique(composants fixes), essais denduranceet essais de surcharge Essai 10d: Surcharge lectrique (connecteurs)Conne

17、ctors for electronic equipment Tests and measurements Part 10-4:Impact tests (free components), static loadtests (fixed components), endurance testsand overload tests Test 10d: Electrical overload (connectors)Pour prix, voir catalogue en vigueurFor price, see current catalogue IEC 2003 Droits de rep

18、roduction rservs Copyright - all rights reservedAucune partie de cette publication ne peut tre reproduite niutilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd,lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et lesmicrofilms, sans laccord crit de lditeur.No part of this publication may be rep

19、roduced or utilized in anyform or by any means, electronic or mechanical, includingphotocopying and microfilm, without permission in writing fromthe publisher.International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +

20、41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.chCODE PRIXPRICE CODE GCommission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission 2 60512-10-4 CEI :2003COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE_CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 10-4: Essais

21、dimpact (composants libres),essais dimpact sous charge statique (composants fixes),essais dendurance et essais de surcharge Essai 10d: Surcharge lectrique (connecteurs)AVANT-PROPOS1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composede lensembl

22、e des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet defavoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines dellectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits publie des Normes internationales

23、,des Spcifications techniques, des Rapports techniques et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) dela CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit nationalintress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et no

24、ngouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement aveclOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deuxorganisations.2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions

25、techniques reprsentent, dans la mesuredu possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de la CEIintresss sont reprsents dans chaque comit dtudes.3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agrescomme

26、 telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEIsassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsable delventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque util

27、isateur final.4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute lamesure possible, appliquer de faon transparente, les Publications de la CEI dans leurs publicationsnationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CE

28、I et toutes publicationsnationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires.5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant indication dapprobation et nengage pas saresponsabilit pour les quipements dclars conformes une de ses Publications.6) Tous les

29、 utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication.7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires oumandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comitsnationaux

30、de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de tout autredommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les fraisde justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la

31、 CEI ou detoute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord.8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publicationsrfrences est obligatoire pour une application correcte de la prsente publication.9) Lattention est attire sur le

32、fait que certains des lments de la prsente Publication de la CEI peuvent fairelobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pourresponsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence.La Norme internatio

33、nale CEI 60512-10-4 a t tablie par le sous-comit 48B: Connecteurs,du comit dtudes 48 de la CEI: Composants lectromcaniques et structures mcaniquespour quipements lectroniques.Cette deuxime dition annule et remplace la premire dition parue en 1996, dont elleconstitue une rvision technique.Cette norme

34、 doit tre lue conjointement avec la CEI 60512-1 et la CEI 60512-1-100 quiexplique la structure de la srie CEI 60512.60512-10-4 IEC:2003 3 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION_CONNECTORS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT TESTS AND MEASUREMENTS Part 10-4: Impact tests (free components), static load tests(

35、fixed components), endurance tests and overload tests Test 10d: Electrical overload (connectors)FOREWORD1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprisingall national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of I

36、EC is to promoteinternational co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. Tothis end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,Technical Reports, and Guides (hereafter referred to as “IEC

37、 Publication(s)”). Their preparation is entrusted totechnical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in thispreparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC alsoparticipate in this preparation.

38、 IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization(ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations.2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an internationalconsensus of op

39、inion on the relevant subjects since each technical committee has representation from allinterested IEC National Committees.3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC NationalCommittees in that sense. While all reasonable efforts are made to en

40、sure that the technical content of IECPublications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for anymisinterpretation by any end user.4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publicationstransparently to t

41、he maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergencebetween any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated inthe latter.5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered respon

42、sible for anyequipment declared to be in conformity with an IEC Publication.6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts andmembers of its technical co

43、mmittees and IEC National Committees for any personal injury, property damage orother damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) andexpenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IECPublicatio

44、ns.8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications isindispensable for the correct application of this publication.9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject ofpatent ri

45、ghts. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.International Standard IEC 60512-10-4 has been prepared by subcommittee 48B: Connectors,of IEC technical committee 48: Electromechanical components and mechanical structures forelectronic equipment.This second edit

46、ion cancels and replaces the first edition published in 1996 and constitutes atechnical revision.This standard is to be read in conjunction with IEC 60512-1 and IEC 60512-1-100 whichexplains the structure of the IEC 60512 series. 4 60512-10-4 CEI :2003La modification technique majeure par rapport ld

47、ition prcdente consiste en la rvision dela mthode dessai pour en faire plus distinctement une mthode de mesure. Le rsultatdessai de cette mthode est une courbe du courant de surcharge en fonction du temps, pourle contact une temprature maximale denvironnement spcifie et pour le connecteur unetemprat

48、ure maximale spcifie.Le texte de cette norme est issu des documents suivants:FDIS Rapport de vote48B/1350/FDIS 48B/1368/RVDLe rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayantabouti lapprobation de cette norme.Cette publication a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie 2.Le comit a dcid que le contenu de cette publication ne sera pas modifi avant 2004-12.A cette date, la publication sera reconduite; supprime; remplace par une dition rvise, ou amende.