IEC 60512-12-6-1996 Electromechanical components for electronic equipment - Basic testing procedures and measuring methods - Part 12 Soldering tests - Section 6 Test 12f Sealing ag.pdf

1、NORME CE1 INTERNATIONALE IEC INTERNATIONAL STANDARD 51 2-1 2-6 Premire dition First edition 1996-01 Composants lectromcaniques pour quipements lectroniques - Procdures dessai de base et mthodes de mesure - Partie 12: Essais de soudure - Section 6: Essai 12f - Etanchit aux flux et solvants de nettoya

2、ge dans une machine souder Electromechanical components for electronic equipment - Basic testing procedures and measuring methods - Part 12: Soldering tests - Section 6: Test 12f - Sealing against flux and cleaning solvents in machine soldering Numro de rfrence Reference number CEIAEC 51 2-1 2-61 19

3、96 Validit de la prsente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est cons- tamment revu par la CE1 afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfirmation de la publication sont disponibles auprs du Bureau Central de la CEI. Les renseig

4、nements relatifs ces rvisions, ltablis- sement des ditions rvises et aux amendements peuvent tre obtenus auprs des Comits nationaux de la CE1 et dans les documents ci-dessous: Bulletin de la CE1 Annuaire de la CE1 Publi annuellement Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis jour

5、 rgulirement Terminologie En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 50: Vocabulaire Electrotechnique lnter- national (VEI), qui se prsente sous forme de chapitres spars traitant chacun dun sujet dfini. Des dtails complets sur le VE1 peuvent tre obtenus sur demande. Vo

6、ir galement le dictionnaire multilingue de la CEI. Les termes et dfinitions figurant dans la prsente publi- cation ont t soit tirs du VEI, soit spcifiquement approuvs aux fins de cette publication. Symboles graphiques et littraux Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes dusa

7、ge gnral approuvs par la CEI, le lecteur consultera: - la CE1 27: Symboles littraux a utiliser en lectro -technique; - la CE1 41 7: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles; - la CE1 61 7: Symboles graphiques pour schmas; et pour les appa

8、reils lectromdicaux, - la CE1 878: Symboles graphiques pour quipements lectriques en pratique mdicale. Les symboles et signes contenus dans la prsente publi- cation ont t soit tirs de la CE1 27, de la CE1 417, de la CE1 617 et/ou de la CE1 878, soit spcifiquement approuvs aux fins de cette publicati

9、on. Publications de la CE1 tablies par le mme comit dtudes Lattention du lecteur est attire sur les listes figurant la fin de cette publication, qui numrent les publications de la CE1 prpares par le comit dtudes qui a tabli la prsente publication. Validity of this publication The technical content o

10、f IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available from the IEC Central Office. Information on the revision work, the issue of revised editions

11、 and amendments may be obtained from IEC National Committees and from the following IEC sources: IEC Bulletin IEC Yearbook Catalogue of IEC publications Published yearly Published yearly with regular updates Termi nology For general terminology, readers are referred to IEC 50: International Electrot

12、echnical Vocabulary (I EV), which is issued in the form of separate chapters each dealing with a specific field. Full details of the IEV will be supplied on request. See also the IEC Multilingual Dictionary. The terms and definitions contained in the present publi- cation have either been taken from

13、 the IEV or have been specifically approved for the purpose of this publication. Graphical and letter symbols For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications: - IEC 27: Letter symbols to be used in electrical technology; -

14、 IEC 417: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets; - I EC 61 7: Graphical symbols for diagrams; and for medical electrical equipment, - equipment in medical practice. IEC 878: Graphical symbols for electromedical The symbols and signs contained in t

15、he present publication have either been taken from IEC 27, IEC 417, IEC 617 and/or IEC 878, or have been specifically approved for the purpose of this publication. IEC publications prepared by the same technical committee The attention of readers is drawn to the end pages of this publication which l

16、ist the IEC publications issued by the technical committee which has prepared the present publication. NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 51 2-1 2-6 Premire dition First edition 1996-01 Composants lectromcaniques pour quipements lectroniques - Procdures dessai de base et mthodes de

17、mesure - Partie 12: Essais de soudure - Section 6: Essai 12f - Etanchit aux flux et solvants de nettoyage dans une machine souder Electromechanical components for electronic equipment - Basic testing procedures and measuring methods - Part 12: Soldering tests - Section 6: Test 12f - Sealing against

18、flux and cleaning solvents in machine soldering O CE1 1996 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved Auwne partie de cette publication ne put tre reproduite ni utilise sous quelque forme que soit et par auwn pro- cd, lectronique ou mcanique. y wmpris la photocopie et les microf

19、ilms. sans raccord Crd de Iddeur. No pari of this publicaliai may be reproduced or utXized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permksion in writing from the publisher. Bureau Central de la Commission Electrotechnique Internationale 3,

20、rue de Varemb Genve, Suisse Commission Electrotechnique Internationale CODE PRIX international Electrotechnical Commission PRICE CODE H MewcnyHapontaR 3nenrpotexliecnan KOMHCWR 0 Pourprix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue -2- SOMMAIRE 512-12-6 O CEI:1996 Pages AVANT-PROPOS

21、. 4 Articles Domaine dapplication et objet Rfrences normatives Prparation du spcimen . Matriel dessai Procdure dessai 5.1 Immersion du spcimen 5.2 Brasage . 5.3 Solvants de nettoyage 5.4 Spcimen dessai de carte circuit imprim Exigences . Prparation pour essai . 7.1 Mesures initiales 7.2 Epreuve . 7.

22、3 Reprise 7.4 Mesures finales 7.5 Examen visuel Dtails prciser 6 6 6 6 8 8 8 8 12 12 12 12 12 12 14 14 14 512-12-6 O IEC:1996 -3- CONTENTS Page FOREWORD 5 Clause Scope and object Normative references Preparation of the specimen Test equipment Test procedure 5.1 Immersion of the specimen . 5.2 Solder

23、ing 5.3 Cleaning solvents . 5.4 Printed board test specimen . Preparation for testing . Requirements 7.1 Initial measurements 7.2 Conditioning . 7.3 Recovery 7.4 Final measurements . 7.5 Visual examination . Details to be specified . 7 7 7 7 9 9 9 9 13 13 13 13 13 13 15 15 15 -4- 512-12-6 O CEI:1996

24、 FDIS 48 Bl420lFDI S COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE Rapport de vote 48Bl464lRVD COMPOSANTS LECTROMCANIQUES POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES - PROCDURES DESSAI DE BASE ET MTHODES DE MESURE - Partie 12: Essais de soudure - Section 6: Essai 12f - Etanchit aux flux et solvants de nettoyage dans u

25、ne machine souder AVANT-PROPOS La CE1 (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CE1 a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les que

26、stions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes Internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisati

27、ons internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CE1 collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. Les dcisions ou accords o

28、fficiels de la CE1 concernant les questions techniques, reprsentent, dans la mesure du possible un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations inte

29、rnationales. Ils sont publis comme normes, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CE1 sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes Internationale

30、s de la CE1 dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la recommandation de la CE1 et la norme nationale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. La CE1 na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit

31、nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CE1 ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas

32、 avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CE1 512-12-6 a t tablie par le sous-comit 48B: Connecteurs, du comit dtudes 48 de la CEI: Composants lectromcaniques et structures mcaniques pour quipements lectroniques. Le texte de cette nor

33、me est issu des documents suivants: Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. 512-12-6 O IEC:1996 -5- INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION ELECTROMECHANICAL COMPONENTS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT - BASIC TESTIN

34、G PROCEDURES AND MEASURING METHODS - Part 12: Soldering tests - Section 6: Test 12f - Sealing against flux and cleaning solvents in machine soldering FOREWORD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnic

35、al committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation i

36、s entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with

37、the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, express as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subje

38、cts since each technical committee has representation from all interested National Committees. The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in tha

39、t sense. In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional sta

40、ndard shall be clearly indicated in the latter. 2) 3) 4) 5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one of its standards. 6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements o

41、f this International Standard may be the subject of patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. International Standard IEC 51 2-1 2-6 has been prepared by sub-committee 48B: Connectors, of IEC technical committee 48: Electromechanical components an

42、d mechanical structures for electronic equipment. The text of this standard is based on the following documents: I FDIS I Report on voting Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table. 512-12-6 O CEI:1996 -6- COMPO

43、SANTS LECTROMCANIQUES POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES - PROCDURES DESSAI DE BASE ET MTHODES DE MESURE - Partie 12: Essais de soudure - Section 6: Essai 12f - Etanchit aux flux et solvants de nettoyage dans une machine souder 1 Domaine dapplication et objet La prsente section de la CE1 512-12 est utilis

44、er, lorsque la spcification particulire le prescrit, pour tester les composants lectromcaniques du domaine dactivit du comit dtudes 48*. Cet essai peut aussi tre utilis pour des composants similaires sil est prescrit par une spcification particulire. Lobjet de cet essai est de dtailler une mthode de

45、ssai normalise pour vrifier lefficacit de ltanchit dun composant aux flux et solvants de nettoyage lors du procd de brasage a la machine. Les rsultats de cet essai peuvent ne pas tre reprsentatifs pour dautres flux; par exemple les flux moussants faible teneur de rsine, autres flux et mthodes de net

46、toyage prescrites. 2 Rfrences normatives Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la rfrence qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la prsente section de la CE1 512-12. Au moment de la publication, les ditions indiques taient en vigueur. To

47、ut document normatif est sujet rvision et les parties prenantes aux accords fonds sur la prsente section de la CE1 512-12 sont invites rechercher la possibilit dappliquer les ditions les plus rcentes des documents normatifs indiqus ci-aprs. Les membres de la CE1 et de IISO possdent le registre des N

48、ormes internationales en vigueur. CE1 68-1 : 1988, Essais denvironnement - Premiere partie: Gnralits et guide CE1 68-2-20: 1979, Essais denvironnement - Deuxime partie: Essais - Essai T: Soudure 3 Prparation du specimen Le spcimen doit tre prconditionn, cbl et mont comme prescrit par la spcification particulire. 4 Matriel dessai Une machine habituelle de soudage la vague, simple ou double vague, avec prchauffage du flux mousse, doit tre utilise. NOTE - II y a sur le march de petites machines de diffrents fabricants qui convien