1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60512-4-1 Premire dition First edition 2003-05 Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 4-1: Essais de contrainte dilectrique Essai 4a: Tension de tenue Connectors for electronic equipment Tests and measurements Part 4-1: V
2、oltage stress tests Test 4a: Voltage proof Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 60512-4-1:2003Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides
3、 de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informat
4、ions supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications
5、de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire
6、de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (http:/www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de pu
7、blication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (http:/www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm) est aussi disponible p
8、ar courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch
9、Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its public
10、ations. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept unde
11、r constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subject
12、s under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (h
13、ttp:/www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Pub
14、lished This summary of recently issued publications (http:/www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need fur
15、ther assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 .NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60512-4-1 Premire dition First edition 2003-05 Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 4-1: Es
16、sais de contrainte dilectrique Essai 4a: Tension de tenue Connectors for electronic equipment Tests and measurements Part 4-1: Voltage stress tests Test 4a: Voltage proof Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2003 Droits de reproduction rservs Copyright - all righ
17、ts reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form
18、or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inm
19、ailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE D Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission 2 60512-4-1 CEI :2003 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 4-1: Essais de contrainte dilectri
20、que Essai 4a: Tension de tenue AVANT-PROPOS 1) La CEI (Commission lectrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour
21、 toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer.
22、 Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dci
23、sions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les documents produits se prsentent sous la forme de
24、 recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. 4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans t
25、oute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5) La CEI na fix aucune procdure concernant le mar
26、quage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. 6) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analog
27、ues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence La Norme internationale CEI 60512-4-1 a t tablie par le sous-comit 48B: Connecteurs, du comit dtudes 48 de la CEI: Composants lectromcaniques et structures mc
28、aniques pour quipements lectroniques. Cette norme annule et remplace lEssai 4a de la CEI 60512-2 parue en 1985, dont elle constitue une rvision technique. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDIS Rapport de vote 48B/1323/FDIS 48B/1348/RVD Le rapport de vote indiqu dans le tablea
29、u ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Cette publication a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie 2. Le comit a dcid que le contenu de cette publication ne sera pas modifi avant 2007. A cette date, la publication sera reconduite; supprime; rem
30、place par une dition rvise, ou amende.60512-4-1 IEC:2003 3 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ CONNECTORS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT TESTS AND MEASUREMENTS Part 4-1: Voltage stress tests Test 4a: Voltage proof FOREWORD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organ
31、ization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activiti
32、es, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also p
33、articipate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as
34、possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested National Committees. 3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical s
35、pecifications, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense. 4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regio
36、nal standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the latter. 5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity wit
37、h one of its standards. 6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. International Standard IEC 60512-4-1 has been prepared b
38、y subcommittee 48B: Connectors, of IEC technical committee 48: Electromechanical components and mechanical structures for electronic equipment. This standard cancels and replaces Test 4a of IEC 60512-2, published in 1985, and constitutes a technical revision. The text of this standard is based on th
39、e following documents: FDIS Report on voting 48B/1323/FDIS 48B/1348/RVD Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table. This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 2. The committ
40、ee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until 2007. At this date, the publication will be reconfirmed; withdrawn; replaced by a revised edition, or amended. 4 60512-4-1 CEI :2003 CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 4-1: Essais de contr
41、ainte dilectrique Essai 4a: Tension de tenue 1 Domaine dapplication et objet La prsente partie de la CEI 60512 est utilise, lorsque la spcification particulire le prescrit, pour essayer des connecteurs pour quipements lectroniques du domaine dapplication du comit dtudes 48 de la CEI. Cet essai peut
42、aussi tre effectu sur des dispositifs similaires, lorsquune spcification particulire le prescrit. Lobjet de cet essai est de dfinir une mthode dessai normalise pour dterminer laptitude dun composant supporter les tensions dessai spcifies, appliques dune manire spcifie. NOTE Les conditions normales d
43、essai sont dfinies dans la Partie 1 de cette norme. 2 Montage du spcimen Le spcimen doit tre mont conformment aux prescriptions de la spcification particulire. 3 Mthodes de mesure Une tension dessai en courant continu ou en courant alternatif doit tre applique pendant 60 s 5 s en utilisant la mthode
44、 A, B ou C, comme indiqu dans la spcification particulire. Si on utilise une tension dessai en courant alternatif, la frquence doit tre comprise entre 45 Hz et 60 Hz, et la forme donde doit tre approximativement sinusodale. La vitesse dapplication de la tension dessai ne doit pas excder 500 V/s en c
45、ourant continu ou 500 V crte /s en courant alternatif. Mthode A Le spcimen doit tre soumis lessai de tension de tenue comme indiqu dans la spcifi- cation particulire. La tension est applique successivement entre chaque sortie et le botier et/ou la plaque de fixation, toutes les autres sorties tant r
46、elies entre elles et au botier et/ou la plaque de fixation. Mthode B Les sorties alternes doivent tre relies entre elles. Si possible, aucun groupe ne doit avoir de contacts adjacents. NOTE Dans le cas de sorties disposes sur deux ou plusieurs ranges, il sera ncessaire de former un deuxime arrangeme
47、nt de deux groupes de faon que la tension de tenue de chaque paire de contacts adjacents soit mesure.60512-4-1 IEC:2003 5 CONNECTORS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT TESTS AND MEASUREMENTS Part 4-1: Voltage stress tests Test 4a: Voltage proof 1 Scope and object This part of IEC 60512, when required by the d
48、etail specification, is used for testing connectors of electronic equipment within the scope of IEC technical committee 48. This test may also be used for similar devices when specified in a detail specification. The object of this test is to define a standard test method to determine the ability of a component to withstand specified test voltages applied in a specified manner. NOTE Standard conditions of testing are defin
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