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本文(IEC 60512-4-2-2002 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 4-2 Voltage stress tests Test 4b Partial discharge《电子设备连接器.试验和测量.第4-2部分 电压应力试验.试验4b 部分放电》.pdf)为本站会员(amazingpat195)主动上传,麦多课文库仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对上载内容本身不做任何修改或编辑。 若此文所含内容侵犯了您的版权或隐私,请立即通知麦多课文库(发送邮件至master@mydoc123.com或直接QQ联系客服),我们立即给予删除!

IEC 60512-4-2-2002 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 4-2 Voltage stress tests Test 4b Partial discharge《电子设备连接器.试验和测量.第4-2部分 电压应力试验.试验4b 部分放电》.pdf

1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60512-4-2 Premire dition First edition 2002-02 Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 4-2: Essais de contrainte dilectrique Essai 4b: Dcharges partielles Connectors for electronic equipment Tests and measurements Part 4-2

2、: Voltage stress tests Test 4b: Partial discharge Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 60512-4-2:2002Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions con

3、solides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros dditi on 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2.

4、Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publi

5、cations de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par linter

6、mdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publicatio

7、n. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par courrier lectronique. Veuillez prendr

8、e contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03

9、00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0

10、, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensur

11、ing that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progre

12、ss undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to se

13、arch by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (ww

14、w.iec.ch/JP.htm) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel:

15、 +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 .NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60512-4-2 Premire dition First edition 2002-02 Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 4-2: Essais de contrainte dilectrique Essai 4b: Dcharges partielles Connectors for electronic

16、equipment Tests and measurements Part 4-2: Voltage stress tests Test 4b: Partial discharge Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2002 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise

17、 sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm,

18、 without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE C Commission Electrotechnique Int

19、ernationale International Electrotechnical Commission 2 60512-4-2 CEI:2002 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 4-2: Essais de contrainte dilectrique Essai 4b: Dcharges partielles AVANT-PROPOS 1) La CEI (Commission lectrotechni

20、que Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de l

21、lectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales,

22、en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprs

23、entent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, spcifications

24、techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. 4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs norme

25、s nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5) La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand

26、un matriel est dclar conforme lune de ses normes. 6) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de

27、tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence La Norme internationale CEI 60512-4-2 a t tablie par le sous-comit 48B: Connecteurs, du comit dtudes 48 de la CEI: Composants lectromcaniques et structures mcaniques pour quipements lectroniques. Cette norme annule et remplace lessai 4b

28、 de la CEI 60512-2, parue en 1985, dont elle constitue une rvision technique. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDIS Rapport de vote 48B/1134/FDIS 48B/1185/RVD Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de

29、cette norme. Cette publication a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie 3. Le comit a dcid que le contenu de cette publication ne sera pas modifi avant 2007. A cette date, la publication sera reconduite; supprime; remplace par une dition rvise, ou amende.60512-4-2 IEC:2002 3 INTERNATIONAL ELEC

30、TROTECHNICAL COMMISSION _ CONNECTORS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT TESTS AND MEASUREMENTS Part 4-2: Voltage stress tests Test 4b: Partial discharge FOREWORD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical comm

31、ittees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entru

32、sted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the Int

33、ernational Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects

34、since each technical committee has representation from all interested National Committees. 3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the N

35、ational Committees in that sense. 4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the correspond

36、ing national or regional standard shall be clearly indicated in the latter. 5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one of its standards. 6) Attention is drawn to the possibility that som

37、e of the elements of this International Standard may be the subject of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. International Standard IEC 60512-4-2 has been prepared by subcommittee 48B: Connectors, of IEC technical committee 48: Electromec

38、hanical components and mechanical structures for electronic equipment. This standard cancels and replaces test 4b of IEC 60512-2, issued in 1985, and constitutes a technical revision. The text of this standard is based on the following documents: FDIS Report on voting 48B/1134/FDIS 48B/1185/RVD Full

39、 information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table. This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 3. The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged u

40、ntil 2007. At this date, the publication will be reconfirmed; withdrawn; replaced by a revised edition, or amended. 4 60512-4-2 CEI:2002 CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 4-2: Essais de contrainte dilectrique Essai 4b: Dcharges partielles 1 Gnralits 1.1 Domaine dappli

41、cation et objet La prsente partie de la CEI 60512 est utilise, lorsque la spcification particulire le prescrit, pour essayer des composants lectromcaniques du domaine dapplication du comit dtudes 48 de la CEI. Cet essai peut aussi tre effectu sur des dispositifs similaires, lorsquune spcification pa

42、rticulire le prescrit. Lobjet de cet essai est de dfinir une mthode dessai normalise pour valuer laptitude dun composant lectromcanique tre utilis dans des conditions spcifies de tension sans dcharges partielles. 1.2 Rfrences normatives Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions q

43、ui, par suite de la rfrence qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la prsente partie de la CEI 60512. Pour les rfrences dates, les amendements ultrieurs ou les rvisions de ces publications ne sappliquent pas. Toutefois, les parties prenantes aux accords fonds sur la prsente part

44、ie de la CEI 60512 sont invites rechercher la possibilit dappliquer les ditions les plus rcentes des documents normatifs indiqus ci-aprs. Pour les rfrences non dates, la dernire dition du document normatif en rfrence sapplique. Les membres de la CEI et de lISO possdent le registre des Normes interna

45、tionales en vigueur. CEI 60270:2000, Techniques des essais haute tension Mesures des dcharges partielles 2 Mthodes dessai Lessai doit tre effectu en accord avec la CEI 60270. La procdure dessai et lexigence doivent tre dfinies par la spcification particulire. 3 Dtails spcifier Quand cet essai est re

46、quis par la spcification particulire, les dtails suivants doivent tre prciss: a) procdure dessai; b) exigence; c) toute drogation la mthode dessai normalise. _60512-4-2 IEC:2002 5 CONNECTORS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT TESTS AND MEASUREMENTS Part 4-2: Voltage stress tests Test 4b: Partial discharge 1 G

47、eneral 1.1 Scope and object This part of IEC 60512, when required by the detail specification, is used for testing electromechanical components within the scope of IEC technical committee 48. This test may also be used for similar devices when specified in a detail specification. The object of this

48、test is to define a standard test method to assess the ability of an electromechanical component to be used under specified voltage conditions without showing partial discharges. 1.2 Normative references The following normative documents contain provisions which, through reference in this text, constitute provisions of this part of IEC 60512. For dated references, subsequent amend- ments to, or revisio

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