IEC 60512-5-1-2002 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 5-1 Current-carrying capacity tests Test 5a Temperature rise《电子设备连接器.试验和测量.第5-1部分 载流容量试验.试验5a 温升》.pdf

1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60512-5-1 Premire dition First edition 2002-02 Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 5-1: Essais de courant limite Essai 5a: Echauffement Connectors for electronic equipment Tests and measurements Part 5-1: Current-carry

2、ing capacity tests Test 5a: Temperature rise Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 60512-5-1:2002Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolid

3、es de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros dditi on 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Infor

4、mations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publicatio

5、ns de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiai

6、re de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. De

7、s informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par courrier lectronique. Veuillez prendre con

8、tact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Pu

9、blication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1

10、 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring t

11、hat the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress un

12、dertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search

13、by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec

14、.ch/JP.htm) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41

15、22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 .NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60512-5-1 Premire dition First edition 2002-02 Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 5-1: Essais de courant limite Essai 5a: Echauffement Connectors for electronic equipment Tests and

16、measurements Part 5-1: Current-carrying capacity tests Test 5a: Temperature rise Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2002 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quel

17、que forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without p

18、ermission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE D Commission Electrotechnique International

19、e International Electrotechnical Commission 2 60512-5-1 CEI:2002 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 5-1: Essais de courant limite Essai 5a: Echauffement AVANT-PROPOS 1) La CEI (Commission lectrotechnique Internationale) est u

20、ne organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet,

21、 la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, p

22、articipent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du

23、 possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, spcifications techniques, rapports tech

24、niques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. 4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et rgionales

25、. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5) La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conf

26、orme lune de ses normes. 6) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et

27、 de ne pas avoir signal leur existence La Norme internationale CEI 60512-5-1 a t tablie par le sous-comit 48B: Connecteurs, du comit dtudes 48 de la CEI: Composants lectromcaniques et structures mcaniques pour quipements lectroniques. Cette norme annule et remplace lessai 5a de la CEI 60512-3, parue

28、 en 1976, dont elle constitue une rvision technique. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDIS Rapport de vote 48B/1136/FDIS 48B/1187/RVD Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Cette public

29、ation a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie 3. Le comit a dcid que le contenu de cette publication ne sera pas modifi avant 2007. A cette date, la publication sera reconduite; supprime; remplace par une dition rvise, ou amende.60512-5-1 IEC:2002 3 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _

30、 CONNECTORS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT TESTS AND MEASUREMENTS Part 5-1: Current-carrying capacity tests Test 5a: Temperature rise FOREWORD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC Nat

31、ional Committees). The object of the IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technic

32、al committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Orga

33、nization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each tech

34、nical committee has representation from all interested National Committees. 3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National Committ

35、ees in that sense. 4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding national or

36、 regional standard shall be clearly indicated in the latter. 5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one of its standards. 6) Attention is drawn to the possibility that some of the elemen

37、ts of this International Standard may be the subject of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. International Standard IEC 60512-5-1 has been prepared by subcommittee 48B: Connectors, of IEC technical committee 48: Electromechanical compone

38、nts and mechanical structures for electronic equipment. This standard cancels and replaces test 5a of IEC 60512-3, issued in 1976, and constitutes a technical revision. The text of this standard is based on the following documents: FDIS Report on voting 48B/1136/FDIS 48B/1187/RVD Full information on

39、 the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table. This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 3. The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until 2007. At t

40、his date, the publication will be reconfirmed; withdrawn; replaced by a revised edition, or amended 4 60512-5-1 CEI:2002 CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 5-1: Essais de courant limite Essai 5a: Echauffement 1 Gnralits 1.1 Domaine dapplication et objet La prsente part

41、ie de la CEI 60512 est utilise, lorsque la spcification particulire le prescrit, pour essayer des composants lectromcaniques du domaine dapplication du comit dtudes 48 de la CEI. Cet essai peut aussi tre effectu sur des dispositifs similaires, lorsquune spcification particulire le prescrit. Lobjet d

42、e cet essai est dtablir une mthode dessai normalise pour valuer laptitude dun composant supporter son courant spcifi la temprature ambiante, sans dpasser une limite dchauffement dtermine. 1.2 Rfrences normatives Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la rfren

43、ce qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la prsente partie de la CEI 60512. Pour les rfrences dates, les amendements ultrieurs ou les rvisions de ces publications ne sappliquent pas. Toutefois, les parties prenantes aux accords fonds sur la prsente partie de la CEI 60512 sont i

44、nvites rechercher la possibilit dappliquer les ditions les plus rcentes des documents normatifs indiqus ci-aprs. Pour les rfrences non dates, la dernire dition du document normatif en rfrence sapplique. Les membres de la CEI et de lISO possdent le registre des Normes internationales en vigueur. CEI

45、60512-1-1, Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 1-1: Examen gnral Essai 1a: Examen visuel 2 Prparation du spcimen Trois spcimens doivent tre utiliss, sauf indication contraire. Les spcimens doivent tre raccords une longueur minimale de fil en accord avec le tableau 1 et

46、monts comme prescrit dans la spcification particulire. La mthode de cblage et loutillage recommands par le fabricant ou par les normes industrielles doivent tre utiliss, sauf indication contraire dans la spcification particulire. Les spcimens doivent tre munis dun dispositif sensible la temprature,

47、dont la masse thermique ne doit pas affecter la mesure de temprature de manire significative. Ce dispositif sensible la temprature doit tre mont aussi prs que possible de la partie la plus chaude du systme de contact, sauf indication contraire. Un appareil de mesure de la temprature sans contact peu

48、t tre utilis. NOTE Il faut prendre des prcautions pour protger le spcimen en essai des courants dair ou dautres moyens de refroidissement artificiel. Ceci peut tre obtenu par lutilisation dune enceinte ou en sassurant que le laboratoire est exempt de courant dair. Si un courant continu est utilis, linfluence dune tension induite sur le thermocouple peut tre vite en inversant le courant durant lessa