IEC 60512-6-1984 Electromechanical components for electronic equipment basic testing procedures and measuring methods Part 6 Climatic tests and soldering tests《电子设备用机电元件.基本试验规程和测量方法.第6部分 气候试验和锡焊试.pdf

1、NORMEINTERNATIONALEINTERNATIONALSTANDARDCEIIEC60512-6Deuxime ditionSecond edition1984Composants lectromcaniques pour quipementslectroniques; procdures dessai de baseet mthodes de mesure Sixime partie:Essais climatiques et essais de soudureElectromechanical components for electronicequipment; basic t

2、esting procedures andmeasuring methods Part 6:Climatic tests and soldering testsIEC Numro de rfrenceReference numberCEI/IEC 60512-6: 1984Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license fro

3、m IHS-,-,-Numros des publicationsLes publications de la CEI sont numrotes partir de60000 ds le 1er janvier 1997.Publications consolidesLes versions consolides de certaines publications dela CEI incorporant amendements sont disponibles. Parexemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2indiquent respecti

4、vement la publication de base, lapublication de base incorporant lamendement 1, et lapublication de base incorporant les amendements 1et 2.Validit de la prsente publicationLe contenu technique des publications de la CEI estconstamment revu par la CEI afin quil reflte ltatactuel de la technique.Des r

5、enseignements relatifs la date dereconfirmation de la publication sont disponibles dansle Catalogue de la CEI.Les renseignements relatifs ces rvisions, ltablis-sement des ditions rvises et aux amendementspeuvent tre obtenus auprs des Comits nationaux dela CEI et dans les documents ci-dessous: Bullet

6、in de la CEI Annuaire de la CEIAccs en ligne* Catalogue des publications de la CEIPubli annuellement et mis jour rgulirement(Accs en ligne)*Terminologie, symboles graphiqueset littrauxEn ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteurse reportera la CEI 60050: Vocabulaire lectro-technique Interna

7、tional (VEI).Pour les symboles graphiques, les symboles littrauxet les signes dusage gnral approuvs par la CEI, lelecteur consultera la CEI 60027: Symboles littraux utiliser en lectrotechnique, la CEI 60417: Symbolesgraphiques utilisables sur le matriel. Index, relev etcompilation des feuilles indiv

8、iduelles, et la CEI 60617:Symboles graphiques pour schmas.Publications de la CEI tablies parle mme comit dtudesLattention du lecteur est attire sur les listes figurant la fin de cette publication, qui numrent lespublications de la CEI prpares par le comitdtudes qui a tabli la prsente publication.Voi

9、r adresse site web sur la page de titre.NumberingAs from the 1st January 1997 all IEC publications areissued with a designation in the 60000 series.Consolidated publicationsConsolidated versions of some IEC publicationsincluding amendments are available. For example,edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2

10、refer, respectively, tothe base publication, the base publicationincorporating amendment 1 and the base publicationincorporating amendments 1 and 2.Validity of this publicationThe technical content of IEC publications is kept underconstant review by the IEC, thus ensuring that thecontent reflects cu

11、rrent technology.Information relating to the date of the reconfirmation ofthe publication is available in the IEC catalogue.Information on the revision work, the issue of revisededitions and amendments may be obtained from IECNational Committees and from the following IECsources: IEC Bulletin IEC Ye

12、arbookOn-line access* Catalogue of IEC publicationsPublished yearly with regular updates(On-line access)*Terminology, graphical and lettersymbolsFor general terminology, readers are referred to IEC60050: International Electrotechnical Vocabulary(IEV).For graphical symbols, and letter symbols and sig

13、nsapproved by the IEC for general use, readers arereferred to publications IEC 60027: Letter symbols tobe used in electrical technology, IEC 60417: Graphicalsymbols for use on equipment. Index, survey andcompilation of the single sheets and IEC 60617:Graphical symbols for diagrams.IEC publications p

14、repared by the sametechnical committeeThe attention of readers is drawn to the end pages ofthis publication which list the IEC publications issuedby the technical committee which has prepared thepresent publication.* See web site address on title page.Copyright International Electrotechnical Commiss

15、ion Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-IECCODE PRIXPRICE CODE UNORME CEIINTERNATIONALE IECINTERNATIONAL 60512-6STANDARD Deuxime ditionSecond edition1984Composants lectromcaniques pour quipementslectroniques; procdu

16、res dessai de baseet mthodes de mesure Sixime partie:Essais climatiques et essais de soudureElectromechanical components for electronicequipment; basic testing procedures andmeasuring methods Part 6:Climatic tests and soldering tests IEC 1984 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights rese

17、rvedAucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized inutilise sous quelque forme que ce soit et par aucun any form or by any means, electronic or mechanical,procd, lectronique ou mcanique, y compris la photo- including photocopyi

18、ng and microfilm, without permission incopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. writing from the publisher.International Electrotechnical Commission 3, rue de Varemb Geneva, SwitzerlandTelefax: +41 22 919 0300 e-mail: inmailiec.ch IEC web site http: /www.iec.chCommission Electrotechniq

19、ue InternationaleInternational Electrotechnical CommissionMermAyHapo IHae 3neKTpoTexHH4ecKae HOMHCCHti Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogueCopyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or netwo

20、rking permitted without license from IHS-,-,- 2 - 512-6 C E I 1984SOMMAIREPagesPRAMBULE 4PRFACE 4Domaine dapplication 12SECTION UN ESSAIS CLIMATIQUESArticles1. Essai 11a: Squence climatique 122. Essai 1 lb: Combinaison/squence de froid, de basse pression atmosphrique et dechaleur humide 163. Essai 1

21、1c: Essai continu de chaleur humide 204. Essai 11d: Variations rapides de temprature 225. Essai lle: Moisissures 266. Essai l l f: Corrosion, brouillard salin 287. Essai 11g: Corrosion, atmosphre industrielle ( ltude) 288. Essai 11h: Sable et poussires ( ltude) 309. Essai 11 i: Chaleur sche 3010. Es

22、sai i ij: Froid 3211. Essai 11k: Basse pression atmosphrique 3612. Essai 11m: Chaleur humide, cyclique 3813. Essai 1 ln: Etanchit au gaz, connexions enroules sans soudure 40SECTION DEUX ESSAIS DE SOUDURE14. Essai 12a: Soudabilit, mouillage, mthode du bain dalliage 4215. Essai 12b: Soudabilit, mouill

23、age, mthode du fer souder 4616. Essai 12c: Soudabilit, retrait de mouillage 4817. Essai 12d: Rsistance la chaleur de soudage, mthode du bain dalliage 4818. Essai 12e: Rsistance la chaleur de soudage, mthode du fer souder 50Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under lic

24、ense with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-512-6 I EC 1984 - 3 -CONTENTSPageFOREWORD 5PREFACE 5Scope 13SECTION ONE CLIMATIC TESTSClause1. Test I la: Climatic sequence 132. Test 11b: Combined/sequential cold, low air pressure and damp heat 173. Tes

25、t 11c: Damp heat, steady state 214. Test 11 d: Rapid change of temperature 235. Test 1 le: Mould growth 276. Test 11f: Corrosion, salt mist 297. Test 11g: Corrosion, industrial atmosphere (under consideration) 298. Test 11h: Sand and dust (under consideration) 319. Test 11 is Dry heat 3110. Test 11j

26、: Cold 3311. Test 11k: Low air pressure 3712. Test 11m: Damp heat, cyclic 3913. Test 11 n: Gas tightness, solderless wrapped connections 41SECTION TWO SOLDERING TESTS14. Test 12a: Solderability, wetting, solder bath method 4315. Test 12b: Solderability, wetting, iron method 4716. Test 12c: Solderabi

27、lity, dewetting 4917. Test 12d: Resistance to soldering heat, solder bath method 4918. Test 12e: Resistance to soldering heat, iron method 51Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license

28、 from IHS-,-,- 4 - 512-6 CET 1984COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALECOMPOSANTS LECTROMCANIQUES POUR QUIPEMENTSLECTRONIQUES; PROCDURES DESSAI DE BASEET MTHODES DE MESURESixime partie: Essais climatiques et essais de soudurePRAMBULE1) Les dcisions ou accords officiels de la C E I en ce qui conce

29、rne les questions techniques, prpars par des ComitsdEtudes o sont reprsents tous les Comits nationaux sintressant ces questions, expriment dans la plus grandemesure possible un accord international sur les sujets examins.2) Ces dcisions constituent des recommandations internationales et sont agres c

30、omme telles par les Comits nationaux.3) Dans le but dencourager lunification internationale, la C E I exprime le voeu que tous les Comits nationaux adoptentdans leurs rgles nationales le texte de la recommandation de la CEI, dans la mesure o les conditions nationales lepermettent. Toute divergence e

31、ntre la recommandation de la C E I et la rgle nationale correspondante doit, dans lamesure du possible, tre indique en termes clairs dans cette dernire.PRFACELa prsente norme a t tablie par le Comit dEtudes n 48 de laC E I: Composants lectromcaniques pour quipe-ments lectroniques.Elle constitue la d

32、euxime dition de la sixime partie de la publication complte.Elle doit tre.utilise conjointement avec la premire partie: Gnralits, dite comme Publication 512-1 de la C E I .La publication complte comprendra dautres essais selon le plan densemble donn dans lannexe A de laPublication 512-1. Ces essais

33、additionnels paratront au fur et mesure de leur mise au point.Il est prvu que cette Publication 512-6 de la C E I remplacera les essais correspondants de la Publication 130-1 de la C E I.Un projet pour lessai I 1 a fut discut lors de la runion tenue Londres en septembre 1973. A la suite de cette run

34、ion, unprojet, document 48(Bureau Central)124, fut soumis lapprobation des Comits nationaux suivant la Rgle des Six Moisen juillet 1974. Des modifications lessai I la furent proposes dans le document 48(Bureau Central)260, qui fut soumis lapprobation des Comits nationaux suivant la Rgle des Six Mois

35、 en mai 1982.Un projet pour lessai 1 lb fut discut lors de la runion tenue Tokyo en juin 1975. A la suite de cette runion, un projetfut diffus suivant la Procdure Acclre en juillet 1976, et, en tant que document 48(Bureau Central)215, fut soumis lap-probation des Comits nationaux suivant la Rgle des

36、 Six Mois en mai 1977.Un projet pour lessai I 1 c fut discut lors de la runion tenue Londres en septembre 1973. A la suite de cette runion, unprojet, document 48(Bureau Central)125, fut soumis lapprobation des Comits nationaux suivant la Rgle des Six Moisen juillet 1974.Un projet pour lessai I Id fu

37、t discut lors de la runion tenue Londres en septembre 1973. A la suite de cette runion, unprojet, document 48(Bureau Central)126, fut soumis lapprobation des Comits nationaux suivant la Rgle des Six Moisen juillet 1974.Un projet pour lessai 11 e fut discut lors de la runion tenue Londres en septembr

38、e 1973. A la suite de cette runion, unprojet, document 48(Bureau Central)127, fut soumis lapprobation des Comits nationaux suivant la Rgle des Six Moisen juillet 1974.Un projet pour lessai 11 f fut discut lors de la runion tenue Londres en septembre 1973. A la suite de cette runion, unprojet, docume

39、nt 48(Bureau Central)140, fut soumis lapprobation des Comits nationaux suivant la Rgle des Six Moisen aot 1974.Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-512-6 I E C 1984

40、 -5-INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSIONELECTROMECHANICAL COMPONENTS FOR ELECTRONICEQUIPMENT; BASIC TESTING PROCEDURESAND MEASURING METHODSPart 6: Climatic tests and soldering testsFOREWORD1) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, prepared by Technical Committees on

41、 which all theNational Committees having a special interest therein are represented, express, as nearly as possible, an internationalconsensus of opinion on the subjects dealt with.2) They have the form of recommendations for international use and they are accepted by the National Committees in that

42、sense.3) In order to promote inte rnational unification, the I EC expresses the wish that all National Committees should adopt thetext of the I EC recommendation for their national rules in so far as national conditions will permit. Any divergencebetween the I EC recommendation and the corresponding

43、 national rules should, as far as possible, be clearly indicated inthe latter.PREFACEThis standard has been prepared by I EC Technical Committee No. 48: Electromechanical Components for ElectronicEquipment.It forms the second edition of Part 6 of the complete publication.Part 1: General, with which

44、this publication shall be used, is issued as I EC Publication 512-1.The complete publication will include other tests according to the general plan given in Appendix A of Publication 512-1.These additional tests will be issued as they become available.It is intended that this I EC Publication 512-6

45、will supersede the corresponding tests in I EC Publication 130-1.A draft of Test 1 la was discussed at the meeting held in London in September 1973. As a result of this meeting, a draft,Document 48(Central Office)124, was submitted to the National Committees for approval under the Six Months Rule in

46、July 1974. Amendments to Test 1 la were proposed in Document 48(Central Office)260 which was submitted to the NationalCommittees for approval under the Six Months Rule in May 1982.A draft of Test 1lb was discussed at the meeting held in Tokyo in June 1975. As a result of this meeting, a draft was ci

47、rcu-lated under the Accelerated Procedure in July 1976, and, as Document 48(Central Office)215, was submitted to the NationalCommittees for approval under the Six Months Rule in May 1977.A draft of Test I lc was discussed at the meeting held in London in September 1973. As a result of this meeting,

48、a draft,Document 48(Central Office)125, was submitted to the National Committees for approval under the Six Months Rule inJuly 1974.A draft of Test Ild was discussed at the meeting held in London in September 1973. As a result of this meeting, a draft,Document 48(Central Office)126, was submitted to the National Committees for approval u