IEC 60748-2-1-1991 Semiconductor devices integrated circuits part 2 digital integrated circuits section 1 blank detail specification for bipolar monolithic digital integrated circu.pdf

1、NORME CE1 IEC INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD 748-2-1 QC 7901 32 Premire dition First edition 1991 -1 o Dispositifs semiconducteurs. Circuits intgrs Deuxime partie: Circuits intgrs numriques Section un - Spcification particulire cadre pour les portes bipolaires circuits intgrs monolithiques (n

2、on valable pour les rseaux logiques prdiff uss) Semiconductor devices Integrated circuits Part 2: Digital integrated circuits Section one - Blank detail specification for bipolar monolithic digital integrated circuit gates (excluding uncommitted logic arrays) Numro de rfrence Reference number CEMEC

3、748-2-1 : 1991 Numros des publications Depuis le ler janvier 1997, les publications de la CE1 sont numrotes partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CE1 incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1

4、2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publicatiori de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la presente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est constamment revu par la CE1 afin quil reflte lta

5、t actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfir- mation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs ii des questions ltude et des travaux an c-Urs entrepris par le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la li

6、ste des publications tablies, se trouvent dans les documents ci- dessous: Cite webn de la CEI* Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis a jour rgulirement (Catalogue en ligne)* Bufietin de la CE1 Disponible la fois JU 4te web de la CEIO et comme priodique imprim Terminologie, s

7、ymboles graphiques et littraux En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 60050: Vocabulaire Electro- technique International (VEI). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes d sage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consulterk la CE1 60027:

8、Symboles littraux a utiliser en lectrotechnique, la CE1 6041 7: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles, et la CE1 60617: Symboles graphiques pour schmas. Voir adresse site web sur la page de titre. Numbering As from 1 January 1997 all I

9、EC publications are issued with a designation in the 60000 series. Consolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incor- pora

10、ting amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmat

11、ion of the publication is available in the IEC catalogue. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is to be found at the following IEC sources: IEC web c

12、ite Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates (On-line catalogue)* Available both at the IEC web site and as a printed periodical IEC Bulletin Terminology, graphical and letter symbols For general terminology, readers are referred to IEC 60050: International Electrotechnica

13、l Vocabulary (IEV). For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols fo be used in electrical technology. IEC 6041 7: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the si

14、ngle sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams. * See web site address on title page. NORME CE1 IEC INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD 748-2-1 UC 7901 32 Premire dition First edition 1991-1 o Dispositifs semiconducteurs Circuits intgrs Deuxime partie: Circuits intgrs numriques Section

15、un - Spcification particulire cadre pour les portes bipolaires circuits intgrs monolithiques (non valable pour les rseaux logiques prdiffuss) Semiconductor devices Integrated circuits Part 2: Digital integrated circuits Section one - Blank detail specification for bipolar monolithic digital integrat

16、ed circuit gates (excluding uncommitted logic arrays) 0 CE1 1991 Droits de reproduction rsetvc - Copyright - all rights resewed Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par auwn procd. lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et l

17、es microfilms. sans Iamrd crit de rditeur. No pari of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical. including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher Bureau central de la Commission Electrotechnique Internat

18、ionale 3, rue de Varemb Genve Suisse Tlfax: +41 22 919 0300 e-mail: inmaiiiec.ch IEC web site http:/lwww.iec.ch P Commission Electrotechnique Internationale CODE PRIX International Electrotechnical Commission PRICE CODE MemnvHaponHaR KTPOTBXHHVCKR HOMHCCHR Pourprix, voir catalogue en vigueur For pri

19、ce, see current catalogue -2- 748-2-1 OCEI 47/47A(BC)907/51 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE 47147A(BC)l 03311 65 47/47A(BC)1033A/165A DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS Circuits intgrs Deuxime partie: Circuits intgrs numriques Section un - Spcification particulire cadre pour les portes bipolaires

20、 circuits intgrs monolithiques (non valable pour les rseaux logiques prdiffuss) AVANT-PROPOS 1) Les dcisions ou accords officiels de la CE1 en ce qui concerne les questions techniques, prpars par des Comits Etudes o sont reprsents tous les Comits nationaux sintressant ces questions, expriment dans l

21、a plus grande mesure possible un accord international sur les sujets examins. 2) Ces dcisions constituent des recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux. 3) Dans le but dencourager lunification internationale, la CE1 exprime le voeu que tous les Comits nation

22、aux adoptent dans leurs rgles nationales le texte de la recommandation de la CEI, dans ia mesure O les conditions nationales le permettent. Toute divergence entre la recommandation de la CE1 et la rgle nationale correspondante doit, dans la mesure du possible, tre indique en termes clairs dans cette

23、 dernire. La prsente norme a t tablie par le Sous-Comit 47A: Circuits intgrs, du Comit dEtudes no 47 de la CEI: Dispositifs semiconducteurs. Cette norme est une spcification particulire cadre pour les portes bipolaires circuits intgrs monolithiques (non valable pour les rseaux logiques prdiffuss). L

24、e texte de cette norme est issu des documents suivants: I Rgle des Six Mois I Rapports de voie I I Rgle des Six Mois I Rapport de vote 47A(BC)212 47A(BC)239 Les rapports de vote indiqus dans le tableau ci-dessus donnent toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Le numro

25、 QC qui figure sur la page de couverture de la prsente publication est le numro de la spcification dans le systme CE1 dassurance de la qualit des composants lectroniques (IEUQ). 748-2-1 O IEC -3- Six Months Rule 47/47A(C0)987/151 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION Reports on Voting Six Months

26、 Rule Report on Voting 47/47A(C0)1033/165 47A(C0)212 47A(C0)239 47/47A(C0)1033A/165A SEMICONDUCTOR DEVICES Integrated circuits Part 2: Digital integrated circuits Section One - Blank detail specification for bipolar monolithic digital integrated circuit gates (excl ud i ng uncommitted log i c ar ray

27、s) FOREWORD The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, prepared by Technical Committees on which all the National Committees having a special interest therein are represented, express, as nearly as possible, an international consensus of opinion oh the subjects dealt with. T

28、hey have the form of recommendations for international use and they are accepted by the National Committees in that sense. In order to promote international unification, the IEC expresses the wish that all National Committees should adopt the text of the IEC recommendation for their national rules i

29、n so far as national conditions will permit. Any divergence between the IEC recommendation and the corresponding national rules should, as far as possible, be clearly indicated in the latter. This standard has been prepared by Sub-Committee 47A: Integrated circuits, of IEC Technical Committee No. 47

30、 Semiconductor devices. This standard is a blank detail specification for bipolar monolithic digital integrated circuit gates (excluding uncommitted logic arrays). The text of this standard is based on the following documents: Full information on the voting for the approval of this standard can be

31、found in the Voting Reports indicated in the above table. The QC number that appears on the front cover of this publication is the specification number in the IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ). -4- Les publications suivantes de la CE1 sont cites dans la prsente norme: 74

32、8-2-1 OCEI Publications nos 68-2-1 7 (1 978): 617-12 (1991): 747-10 (1991): 748-1 (1984): 748-2 (1 985) : 748-11 (1990): 749 (1 984): QC O01002 (1986): Essais d?environnement. Deuxime partie: Essais - Essai Q: Etanchit. Symboles graphiques pour schmas. Douzime partie: Oprateurs logiques binaires. Di

33、spositifs semiconducteurs. Dixime partie: Spcification gnrique pour les dispositifs discrets et les circuits intgrs. Dispositifs semiconducteurs. Circuits intgrs. Premire partie: Gnralits. Amendement 1 (1991). Dispositifs semiconducteurs. Circuits intgrs. Deuxime partie: Circuits intgrs numriques. A

34、mendement 1 (1991). Dispositifs semiconducteurs. Circuits intgrs. Onzime partie: Spci- fication intermdiaire pour les circuits intgrs semiconducteurs l?exclusion des circuits hybrides. Dispositifs semiconducteurs. Essais mcaniques et climatiques. Rgles de procdure du systme CE1 d?assurance de la qua

35、lit des composants lectroniques (IECQ). 748-2-1 O IEC -5- The following IEC publications are quoted in this standard: Publications Nos. 68-2-1 7 (1 978): Environmental testing. Part 2: Tests - Test Q: Sealing. 617-12 (1991): Graphical symbols for diagrams. Part 12: Binary logic elements. 747-10 (1 9

36、84): Semiconductor devices. Part 1 O: Generic specification for discrete devices and integrated circuits. 748-1 (1984): Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 1 : General. Amendment 1 (1991). 748-2 (1 985): Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 2: Digital integrated circuits. Am

37、endment 1 (1991). 748-1 1 (1990): Semiconductor devices - Integrated circuits. Part 11 : Sectional speci- fication for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits. 749 (1 984): Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. QC 001002 (1986): Rules of Procedure of the IE

38、C Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ). -6- 748-2-1 CE1 DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS Circuits intgrs Deuxime partie: Circuits intgrs numriques Section un - Spcification particulire cadre pour les portes bipolaires circuits intgrs monolithiques (non valable pour les rseaux logiqu

39、es prdiffuss) INTRODUCTION Le systme CE1 dassurance de la qualit des composants lectroniques fonctionne conformment aux statuts de la CE1 et sous son autorit. Le but de ce systme est de dfinir les procdures dassurance de la qualit de telle faon que les composants lec- troniques livrs par un pays par

40、ticipant comme tant conformes aux exigences dune spcification applicable soient galement acceptables dans les autres pays participants sans ncessiter dautres essais. Cette spcification particulire cadre fait partie dune srie de spcifications particulires cadres concernant les dispositifs semiconduct

41、eurs; elle doit tre utilise avec la publication suivante de la CEI: 747-1 O/QC 700000: Dispositifs semiconducteurs. Dixime partie: Spcification gn- rique pour les dispositifs discrets et les circuits intgrs. Renseignements ncessaires Les nombres placs entre crochets sur cette page et les pages suiva

42、ntes correspondent aux indications suivantes qui doivent tre portes dans les cases prvues cet effet. Identification de la spcification particulire i Nom de lorganisme National de Normalisation sous lautorit duquel la spcification particulire est tablie. 2 Numro IECQ de ia spcification particulire. 3

43、 Numros de rfrence et ddition des spcifications gnrique et intermdiaire. 4 Numro national de la spcification particulire, date ddition et toute autre information requise par le systme national. Identification du composant 5 6 Fonction principale et numro de type. Renseignements sur la construction t

44、ypique (matriaux, technologie principale) et le botier. Si un dispositif possde plusieurs types de produits drivs, ces diffrences doivent tre indiques, par exemple les particularits des caractristiques dans un tableau comparatif. Pour les dispositifs sensibles aux charges lectrostatiques, les prcaut

45、ions nces- saires observer doivent tre ajoutes dans la spcification particulire. 748-2-1 O IEC -7- SEMICONDUCTOR DEVICES Integrated circuits Part 2: Digital integrated circuits, Section One - Blank detail specification for bipolar monolithic digital integrated circuit gates (excluding uncommitted lo

46、gic arrays) INTRODUCTION The IEC Quality Assessment System for Electronic Components is operated in accordance with the statutes of the IEC and under the authority of the IEC. The object of this system is to define quality assessment procedures in such a manner that electronic components released by

47、 one participating country as conforming with the requirements of an applicable specification are equally acceptable in all other participating countries without the need for further testing. This blank detail specification is one of a series of blank detail specifications for semi- conductor device

48、s and shall be used with the following IEC Publication: 747-1 O/QC 700000: Semiconductor devices. Part 1 O: Generic specification for discrete devices and integrated circuits. Required information Numbers shown in brackets on this and the following pages correspond to the following items of required information, which should be entered in the spaces provided. Identification of the detail specification l Z 3 4 Identification of the component The name of the National Standards Organization under whose authority the det