1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60749-11 Premire dition First edition 2002-04 Dispositifs semiconducteurs Mthodes dessais mcaniques et climatiques Partie 11: Variations rapides de temprature Mthode des deux bains Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 11:
2、 Rapid change of temperature Two-fluid-bath method Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 60749-11:2002Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions con
3、solides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros dditi on 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2.
4、Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publi
5、cations de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par linter
6、mdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publicatio
7、n. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par courrier lectronique. Veuillez prendr
8、e contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03
9、00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0
10、, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensur
11、ing that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progre
12、ss undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to se
13、arch by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (ww
14、w.iec.ch/JP.htm) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel:
15、 +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 .NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60749-11 Premire dition First edition 2002-04 Dispositifs semiconducteurs Mthodes dessais mcaniques et climatiques Partie 11: Variations rapides de temprature Mthode des deux bains Semiconductor devices Mech
16、anical and climatic test methods Part 11: Rapid change of temperature Two-fluid-bath method Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2002 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilis
17、e sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm
18、, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE G Commission Electrotechnique In
19、ternationale International Electrotechnical Commission 2 60749-11 CEI:2002 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS MTHODES DESSAIS MCANIQUES ET CLIMATIQUES Partie 11: Variations rapides de temprature Mthode des deux bains AVANT-PROPOS 1) La CEI (Commission Electrotech
20、nique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de
21、 llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales
22、, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques rep
23、rsentent, dans la mesure du possible un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, rapports tech
24、niques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. 4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et rgionales
25、. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5) La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conf
26、orme lune de ses normes. 6) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et
27、 de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 60749-11 a t tablie par le comit dtudes 47 de la CEI: Dispositifs semiconducteurs. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDIS Rapport de vote 47/1605/FDIS 47/1621/RVD Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-d
28、essus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Cette mthode dessais mcaniques et climatiques, relative aux variations rapides de temprature et la mthode des deux bains, est le rsultat de la rcriture complte de lessai contenu en 1.2 du chapitre 3 de la CEI 60749.
29、Cette publication a t rdige selon les directives ISO/CEI, Partie 3. Le comit a dcid que le contenu de cette publication ne sera pas modifi avant 2012. A cette date, la publication sera reconduite; supprime; remplace par une dition rvise, ou amende.60749-11 IEC:2002 3 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL C
30、OMMISSION _ SEMICONDUCTOR DEVICES MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS Part 11: Rapid change of temperature Two-fluid-bath method FOREWORD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC N
31、ational Committees). The object of the IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to techn
32、ical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Or
33、ganization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each te
34、chnical committee has representation from all interested National Committees. 3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National Commi
35、ttees in that sense. 4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding national
36、or regional standard shall be clearly indicated in the latter. 5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one of its standards. 6) Attention is drawn to the possibility that some of the elem
37、ents of this International Standard may be the subject of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. International Standard IEC 60749-11 has been prepared by IEC technical committee 47: Semiconductor devices. The text of this standard is based
38、 on the following documents: FDIS Report on voting 47/1605/FDIS 47/1621/RVD Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table. This mechanical and climatic test method, as it relates to rapid change of temperature and t
39、wo-fluid-bath method, is a complete rewrite of the test contained in 1.2, chapter 3 of IEC 60749. This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 3. The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until 2012. At this date, the p
40、ublication will be reconfirmed; withdrawn; replaced by a revised edition, or amended. 4 60749-11 CEI:2002 INTRODUCTION Cet essai est destin dterminer la rsistance dun lment une exposition soudaine des variations importantes de temprature et aux effets dexpositions alternes ces tempratures extrmes. L
41、exposition cet essai peut ne pas induire les mmes mcanismes de dfaillance que lexposition aux cycles de tempratures dans lair.60749-11 IEC:2002 5 INTRODUCTION This test is conducted to determine the resistance of a device to sudden exposure to extreme or rapid changes in temperature and to the effec
42、t of alternate exposure to these extremes. Exposure to this test may not induce the same failure mechanisms as exposure to air to air temperature cycling. 6 60749-11 CEI:2002 DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS MTHODES DESSAIS MCANIQUES ET CLIMATIQUES Partie 11: Variations rapides de temprature Mthode des d
43、eux bains 1 Domaine dapplication La prsente partie de la CEI 60749 dfinit la mthode dessai de variations rapides de temprature et la mthode des deux bains. Lorsque les deux mthodes dessai sont effectues pour la qualification dun dispositif, les rsultats des cycles de temprature dans lair ont la prio
44、rit sur la mthode des deux bains. Cette dernire mthode dessai peut gale- ment tre utilise, en appliquant moins de cycles (par exemple 5 10 cycles), pour dterminer leffet de limmersion dans des liquides chauds qui est utilise pour le nettoyage des dispositifs. Cet essai est applicable tous les dispos
45、itifs semiconducteurs. Il est considr comme destructif, sauf stipulation contraire dans la spcification applicable. Cet essai de variations rapides de temprature et de la mthode des deux bains est, en gnral, conforme la CEI 60068-2-14, mais en raison dexigences spcifiques aux semi- conducteurs, les
46、articles de la prsente norme sappliquent. 2 Rfrences normatives Les documents de rfrence suivants sont indispensables pour lapplication du prsent document. Pour les rfrences dates, seule ldition cite sapplique. Pour les rfrences non dates, la dernire dition du document de rfrence sapplique (y compri
47、s les ventuels amendements). CEI 60749-3, Dispositifs semiconducteurs Mthodes dessais mcaniques et climatiques Partie 3: Examen visuel externe CEI 60068-2-14:1984, Essais denvironnement Deuxime partie: Essais Essai N: Variations de temprature 3 Termes et dfinitions Pour les besoins de la prsente par
48、tie de la CEI 60749, les termes et dfinitions suivants sappliquent. 3.1 charge charge compose des spcimens en essai et des fixations les maintenant pendant lessai NOTE La charge maximale est la masse maximale des spcimens et de leurs fixations pouvant tre placs dans la zone de travail du bain pendant le maintien de la temprature spcifie pour la dure spcifie. 3.2 capteur de c
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