1、 NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 61000-4-18Premire ditionFirst edition2006-11Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-18: Techniques dessai et de mesure Essai dimmunit londe oscillatoire amortie Electromagnetic compatibility (EMC) Part 4-18: Testing and measurement techniques Dam
2、ped oscillatory wave immunity test Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61000-4-18:2006 PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM BASIC EMC PUBLICATION Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without l
3、icense from IHS-,-,-Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibl
4、es. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des pub
5、lications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrig
6、enda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le cata
7、logue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les
8、 publications remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo-nible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Se
9、rvice clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issue
10、d with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publicati
11、on incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this
12、 publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication,
13、as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and
14、date of publication. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available by email. Please contact the Cust
15、omer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . Copyright International El
16、ectrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 61000-4-18Premire ditionFirst edition2006-11Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-18: Techniques d
17、essai et de mesure Essai dimmunit londe oscillatoire amortie Electromagnetic compatibility (EMC) Part 4-18: Testing and measurement techniques Damped oscillatory wave immunity test Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2006 Droits de reproduction rservs Copyright
18、- all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in
19、 any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-
20、mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE W Commission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM BASIC EMC PUBLICATION Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for Resale
21、No reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,- 2 61000-4-18 CEI:2006 SOMMAIRE AVANT-PROPOS6 INTRODUCTION.10 1 Domaine dapplication et objet12 2 Rfrences normatives.12 3 Termes et dfinitions 14 4 Gnralits.16 4.1 Information sur le phnomne de type onde oscillatoire amortie lente
22、 .16 4.2 Information sur le phnomne de type onde oscillatoire amortie rapide .18 5 Niveaux dessai 22 6 Matriel dessai 26 6.1 Gnrateur26 6.2 Spcifications du rseau de couplage/dcouplage.30 7 Installation dessai34 7.1 Connexions de mise la terre .34 7.2 Plan de rfrence36 7.3 Matriel en essai.36 7.4 Rs
23、eaux de couplage/dcouplage .38 7.5 Gnrateurs 38 8 Procdure dessai.38 8.1 Conditions de rfrence du laboratoire 40 8.2 Excution de lessai.40 9 Evaluation des rsultats dessai .42 10 Rapport dessai 44 Annexe A (informative) Information relative aux niveaux dessai pour londe oscillatoire amortie68 Biblio
24、graphie.70 Figure 1 Forme donde de londe sinusodale amortie (tension en circuit ouvert) .46 Figure 2 Exemple de schma du circuit du gnrateur dessai pour onde oscillatoire amortie .46 Figure 3 Exemple dinstallation dessai pour matriel de table utilisant le plan de rfrence 48 Figure 4 Exemple dinstall
25、ation dessai pour matriel pos sur le sol utilisant le plan de rfrence .48 Figure 5 Essai en mode commun des accs dalimentation continue ou alternative monophase .50 Figure 6 Essai en mode commun des accs dalimentation alternative triphase .52 Figure 7 Essai en mode commun des accs pour circuit uniqu
26、e.54 Figure 8 Essai en mode commun des accs pour groupe de circuits avec retour commun56 Figure 9 Essai en mode diffrentiel des accs dalimentation continue ou alternative monophase .58 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduc
27、tion or networking permitted without license from IHS-,-,-61000-4-18 IEC:2006 3 CONTENTS FOREWORD.7 INTRODUCTION.11 1 Scope and object13 2 Normative references .13 3 Terms and definitions .15 4 General 17 4.1 Information on the slow damped oscillatory wave phenomenon .17 4.2 Information on the fast
28、damped oscillatory wave phenomenon 19 5 Test levels23 6 Test equipment.27 6.1 Generator27 6.2 Specifications of the coupling/decoupling network .31 7 Test setup 35 7.1 Earthing connections.35 7.2 Ground reference plane.37 7.3 Equipment under test 37 7.4 Coupling/decoupling networks .39 7.5 Generator
29、s 39 8 Test procedure .39 8.1 Laboratory reference conditions 41 8.2 Execution of the test41 9 Evaluation of test results 43 10 Test report45 Annex A (informative) Information on test levels for the damped oscillatory wave 69 Bibliography71 Figure 1 Waveform of the damped oscillatory wave (open circ
30、uit voltage) .47 Figure 2 Example of schematic circuit of the test generator for the damped oscillatory wave.47 Figure 3 Example of test setup for table-top equipment using the ground reference plane .49 Figure 4 Example of test setup for floor-standing equipment using the ground reference plane.49
31、Figure 5 AC/DC power supply port, single phase, line-to-ground tests .51 Figure 6 AC power supply port, three phases, line-to-ground test 53 Figure 7 Input/output port, single circuit, line-to-ground test.55 Figure 8 Input/output port, group of circuits with common return, line-to-ground test57 Figu
32、re 9 AC/DC power supply port, single phase, line-to-line test 59 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,- 4 61000-4-18 CEI:2006 Figure 10 Essai en mode diffrentiel des
33、 accs dalimentation alternative triphase 60 Figure 11 Essai en mode diffrentiel des accs pour circuit unique62 Figure 12 Essai en mode diffrentiel des accs pour groupe de circuits avec retour commun64 Figure 13 Essai des accs communication pour signaux rapides (sortie gnrateur la terre).66 Tableau 1
34、 Niveaux dessai londe oscillatoire amortie lente (100 kHz ou 1 MHz) .24 Tableau 2 Niveaux dessai londe oscillatoire amortie rapide (3 MHz, 10 MHz ou 30 MHz)24 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitt
35、ed without license from IHS-,-,-61000-4-18 IEC:2006 5 Figure 10 AC power supply port, three phases, line-to-line test61 Figure 11 Input/output port, single circuit, line-to-line test 63 Figure 12 Input/output port, group of circuits with common return, line-to-line test .65 Figure 13 Test of a syste
36、m with communication ports with fast operating signals (generator output earthed) 67 Table 1 Test levels for the slow damped oscillatory wave (100 kHz or 1 MHz) .25 Table 2 Test levels for the fast damped oscillatory wave (3 MHz, 10 MHz or 30 MHz).25 Copyright International Electrotechnical Commissi
37、on Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,- 6 61000-4-18 CEI:2006 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ COMPATIBILIT LECTROMAGNTIQUE (CEM) Partie 4-18: Techniques dessai et de mesure Essai dimmunit londe oscillato
38、ire amortie AVANT-PROPOS 1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questi
39、ons de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de
40、la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitem
41、ent avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis,
42、tant donn que les Comits nationaux de la CEI intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin
43、que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de
44、 la CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliquer de faon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications nationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en t
45、ermes clairs dans ces dernires. 5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant indication dapprobation et nengage pas sa responsabilit pour les quipements dclars conformes une de ses Publications. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette
46、publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de
47、tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publications rfrences est obligatoire pour une application correcte de la prsente publication. 9) Lattention est at
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