IEC 61143-2-1992 Electrical measuring instruments X-t recorders part 2 recommended additional test methods《电测量仪表 X-t记录仪 第2部分 推荐的附加试验方法》.pdf

1、NORME CE1 INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD IEC 61 143-2 Premire dition First edition 1992-1 1 Appareils lectriques de mesure - En reg istreu rs X-t Partie 2: Mthodes d?essais complmentaires recommandes E lec t r cal meas u ri ng i ns t r u me n ts - X-t recorders Part 2: Recommended additional

2、test methods Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61143-2: 1992 Numros des publications Numbering Depuis le ler janvier 1997, les publications de la CE1 sont numrotes partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CE1 incorporant les amendements

3、 sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la presente publication Le contenu technique des publications

4、 de la CE1 est constamment revu par la CE1 afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfir- mation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs des questions ltude et des travaux en cours entrepris par le co

5、mit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la liste des publications tablies, se trouvent dans les documents ci- dessous: Site web de la CEI* Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis jour rgulirement (Catalogue en ligne)* Bulletin de la CE1 Disponible la fois au 4te

6、 web de la CEI* et comme priodique imprim Terminologie, symboles graphiques et littraux En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 60050: Vocabulaire Electro- technique International (VEI). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnral

7、approuvs par la CEI, le lecteur consultera la CE1 60027: Symboles littraux 2 utiliser en lectrotechnique, la CE1 6041 7: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles, et la CE1 60617: Symboles graphiques pour schmas. * Voir adresse site web),

8、 sur la page de titre. As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. Consolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1 .O, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to th

9、e base publication, the base publication incor- porating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology.

10、 Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available in the IEC catalogue. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is

11、 to be found at the following IEC sources: IEC web site* Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates (On-line catalogue)* IEC Bulletin Available both at the IEC web site* and as a printed periodical Terminology, graphical and letter symbols For general terminology, readers ar

12、e referred to I EC 60050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV). For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology3 IEC 60417: Graphical symbols for use

13、 on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams. * See web site address on title page. NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 61 143-2 Premire dition First edition 1992-1 I Appareils lectriques de mesure - En reg istreu rs

14、X-t Partie 2: Mthodes dessais complmentaires recommandes Electrical measuring instruments - X-t recorders Part 2: Recommended additional test methods O IEC 1992 Droits de reproduction rservs -Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni No part of this

15、 publication may be reproduced or utilized in utilise SOIJS quelque forme que ce soit et paf aucun any form or by any means, electronic or mechanical, procd, lectronique ou mcanique, y compris la photo- including photocopying and microfilm. without permission in copie et les microfilms, sans iaacord

16、 crit de lditeur. writing from the publisher. Ii?ternaiionai Electrotechrical Commission Telefax: +41 22 919 0300 3, rue de Varembe Geneva, Switzerland IEC web site http: /www.iec.ch e-mail: inmailiec.ch J CODE PRIX PRICE CODE Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue Com

17、mission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission MMyHapOC1Han 3flKTpoT?XHH-lCaR HOMHCCMR O -2- SOM MAI RE 1 143-2 O CE1 Pages AVANT-PROPOS . INTRODUCTION . Articles 1 . 1 2.1 1 Essai derreur intrinsque . 2.1 2 Erreur additionnelle due au dcalage du zro . 2.13 Influen

18、ce mutuelle des diffrents circuits de mesure pour les enregistreurs multiples et pour les enregistreurs voies multiples 4.20 Dtermination de la valeur de la zone morte Influence des grandeurs parasites . 6.1 interfrence en mode commun 6.2 Domaine dapplication Interfrence en mode srie (parallele) . E

19、ssai de performance dynamique . 7.1 Temps de rponse . 7.2 Domaine de rponse en frquence 7.3 Dpassement . 4 6 8 8 10 12 12 14 14 14 14 14 16 16 1143-2 O IEC -3- CONTENTS Page FOREWORD . INTRODUCTION . Clause 1.1 Scope . 2.1 1 Intrinsic error test 2.12 Additional error due to zero displacement . 2.13

20、Mutual influence of different measuring circuits of multiple and multiple channel recorders 4.20 Determination of the value of the dead band . Influence of parasitic quantities . 6.1 Common mode interference . 6.2 Series (parallel) mode interference Test of dynamic performance 7.1 Response time . 7.

21、2 Frequency response range 7.3 Overshoot . 5 7 9 9 11 13 13 15 15 15 15 15 17 17 1143-2 O CE1 -4- DIS 85( BC) 1 8 COM M ISS I ON LECTROT ECH N IQ U E i NT ER NAT I O NALE Rapport de vote 85( BC)2 1 APPAREILS LECTRIQUES DE MESURE - ENREGISTREURS X-t Partie 2: Mthodes dessais complmentaires recommande

22、s AVANT-PROPOS 1) La CE1 (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CE1 a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de nor

23、malisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internati

24、onales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CE1 collabore troitement avec lorganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels d

25、e la CE1 en ce qui concerne les questions techniques, prpars par les comits dtudes OU sont reprsents tous les Comits nationaux sintressant ces questions, expriment dans la plus grande mesure possible un accord international sur les sujets examins. 3) Ces dcisions constituent des recommandations inte

26、rnationales publies sous forme de normes, de rapports techniques ou de guides et agres comme telles par les Comits nationaux. 4) Dans le but dencourager lunification internationale. les Comits nationaux de la CE1 sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes int

27、ernationales de la CE1 dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CE1 et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. La prsente partie de la Norme internationale CE1 1143 a t tablie par le comit dtudes 85 d

28、e la CEI: Appareillage de mesure des grandeurs lectriques fondamentales. La CE1 1143-1 et la CE1 1143-2 annulent et remplacent la CE1 484 (1974). Le texte de cette norme est issu des documents suivants: Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abo

29、uti lapprobation de cette norme. 1143-2 O IEC -5- INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION DIS ELECTRICAL MEASURING INSTRUMENTS - X-t RECORDERS Report on Voting Part 2: Recommended additional test methods FOREWORD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization fo

30、r standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international cooperation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC

31、 publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate

32、in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, prepared by technical committees

33、 on which all the National Committees having a special interest therein are represented, express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the subjects dealt with. 3) They have the form of recommendations for international use published in the form of standards, technical repo

34、rts or guides and they are accepted by the National Committees in that sense. 4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence

35、 between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the latter. This part of International Standard IEC 1143 has been prepared by IEC technical committee 85: Measuring equipment for basic electrical quantities. The IEC 1143-1 and IEC 1143-2 can

36、cel and replace the IEC 484 (1974). The text of this standard is based on the following documents: I I 85(C0)18 I 85(C0)21 Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table. -6- 1 143-2 O CE1 INTRODUCTION La prsente par

37、tie de la CE1 1143 doit tre lue conjointement avec la partie 1 et la CE1 51 -9: 1 988, Appareils mesureurs lectriques indicateurs analogiques a action directe et leurs accessoires - Partie 9: Mthodes dessai recommandes. Elle donne les dtails des essais spcifiques aux enregistreurs X-t. Les condition

38、s dessais et les essais plus classiques, qui doivent tre appliqus, seront ceux donns ci- aprs, tirs de la liste des paragraphes de la CE1 51-9: 1.2 1.2.8 1.2.9 1.2.1 1 1.2.12 1.2.1 3 3.2 3.4 3.5 3.5.2 3.6 3.5.2 3.6 3.7 3.8 3.1 7 3.1 8 4.1 4.6 4.1 O 4.19 Dautres paragraphes de la CE1 51-9 peuvent gal

39、ement tre appliqus sils sont appropris. Afin de faciliter la lecture, la numrotation des paragraphes corrrespond celle de la CE1 51-9. Pour les enregistreurs X-t, la frappe nest pas permise. En cas de doute, le texte de cette partie 2, aussi bien que celui de la partie 1, prvaudra. 1143-2 O IEC -7-

40、INTRODUCTION This part of IEC 1143 shall be read in conjunction with part 1 and IEC 51-9: 1988, Direct acting indicating analogue electrical measuring instruments and their accessories - Part 9: Recommended test methods. It gives details of tests which are specific to X-t recorders. The testing cond

41、itions and the more conventional tests, which shall be followed, are those given in the following list of cubclauses from IEC 51-9: 1.2 1.2.8 1.2.9 1.2.11 1.2.12 1.2.13 3.2 3.4 3.5 3.5.2 3.6 3.5.2 3.6 3.7 3.8 3.1 7 3.18 4.1 4.6 4.1 O 4.19 Other clauses from IEC 51-9 may also be applied, if relevant.

42、 For easier reference clause numbering follows that of IEC 51-9. For X-t recorders, tapping is not allowed. In case of doubt, the text of this part 2 as well as that of pari 1 shall prevail. -8- 1 143-2 O CE1 APPAREILS LECTRIQUES DE MESURE - ENREGISTREURS X-t Partie 2: Mthodes dessais complmentaires

43、 recommandes 1.1 Domaine dapplication Voir la partie 1 2.1 1 Essai derreur intrinsque Lenregistreur doit tre plac dans les conditions de rfrence avec les circuits auxiliaires sous tension. 2.1 1.1 Circuit de mesure Avant de dterminer lerreur intrinsque, on doit faire en sorte que le dispositif denre

44、gistrement soit la graduation du support du diagramme correspondant au zro, et que le mcanisme dentranement du support du diagramme soit en service. Les erreurs doivent tre dtermines, comme suit, la fois pour des valeurs croissantes et pour des valeurs dcroissantes du mesurande: 2.1 1 .l. 1 Enregist

45、reurs ligne continue et enregistreurs voie unique par points Methode: On applique une grandeur dentre augmente suffisamment lentement, pour viter le dpassement, jusqu une valeur correspondant a la grandeur dentre Ba. On lit la valeur enregistre B, ds que la valeur stabilise de lentre a t obtenue et

46、que le support du diagramme a avanc dau moins 2 mm. On effectue cet essai pour cinq paliers espacs de manire approximativement gale lintrieur de lintervalle de mesure, comprenant les limites infrieure et suprieure de ltendue de mesure. Pour les enregistreurs par points voie unique, on lit la positio

47、n du point suivant immdiatement celui indiquant que la valeur stabilise a t obtenue. Pendant cet essai, le support du diagramme doit tre entran une vitesse suffisamment rapide pour permettre de distinguer les points individuels. Calcul: Lerreur intrinsque, exprime en pourcent, doit tre calcule comme

48、 suit pour chaque palier choisi: x 100 Bx - 5, AS O As est lintervalle de mesure. 1143-2 O IEC -9- ELECTRICAL MEASURING INSTRUMENTS - X-t RECORDERS Part 2: Recommended additional test methods 1.1 Scope See part 1. 2.1 1 Intrinsic error test The recorder shall be under reference conditions with the a

49、uxiliary circuits energized. 2.1 1.1 Measuring circuit Before determining the intrinsic error, the record shall be at the chart scale line corresponding to zero and the chart driving mechanism shall be on. The errors shall be determined for both increasing and decreasing values of the measurand as follows: