IEC 61340-3-2-2006 Electrostatics - Part 3-2 Methods for simulation of electrostatic effects - Machine model (MM) electrostatic discharge test waveforms《静电学.第3-2部分 静电感应模拟方法.机械模型(MM).静电放电试验波》.pdf

1、 NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 61340-3-2Deuxime ditionSecond edition2006-12lectrostatique Partie 3-2: Mthodes pour la simulation des effets lectrostatiques Formes donde dessai des dcharges lectrostatiques pour les modles de machine (MM) Electrostatics Part 3-2: Methods for simulat

2、ion of electrostatic effects Machine model (MM) electrostatic discharge test waveforms Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61340-3-2:2006 Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1

3、. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base

4、 incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont disp

5、o-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues,

6、sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par

7、comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo-n

8、ible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custservi

9、ec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its

10、publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kep

11、t under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the s

12、ubjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web s

13、ite (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This

14、summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact

15、 the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 61340-3-2Deuxime ditionSecond edition2006-12lectrostatique Partie 3-2: Mthodes pour la simulation des effets lectrostatiques Formes donde dessai des dcha

16、rges lectrostatiques pour les modles de machine (MM) Electrostatics Part 3-2: Methods for simulation of electrostatic effects Machine model (MM) electrostatic discharge test waveforms Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2006 Droits de reproduction rservs Copyrig

17、ht - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized

18、 in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00

19、 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE K Commission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission 2 61340-3-2 CEI:2006 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ LECTROSTATIQUE Partie 3-2: Mthodes pour la simulation des effets lectrostatiques Formes do

20、nde dessai des dcharges lectrostatiques pour les modles de machine (MM) AVANT-PROPOS 1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de f

21、avoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au pu

22、blic (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI

23、, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure

24、 du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les publications CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et elles sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI.

25、Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager

26、luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliquer de faon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications nationales et rgionales. Toute divergence entre toute Publication de la CEI et toute publication nationale ou rgionale

27、 correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant indication dapprobation et nengage pas sa responsabilit pour les quipements dclars conformes une de ses publications. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en pos

28、session de la dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de

29、dommages corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CE

30、I, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publications rfrences est obligatoire pour une application correcte de la prsente publication. 9) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prse

31、nte publication CEI peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit ou de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 61340-3-2 a t tablie par le comit

32、 dtudes 101 de la CEI: Electrostatique. Cette deuxime dition annule et remplace la premire dition publie en 2002 et constitue une rvision technique. Le changement majeur par rapport ldition prcdente est quelle ne contient plus dapplications pour les dispositifs semiconducteurs. 61340-3-2 IEC:2006 3

33、INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ ELECTROSTATICS Part 3-2: Methods for simulation of electrostatic effects Machine model (MM) electrostatic discharge test waveforms FOREWORD 1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising al

34、l national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Te

35、chnical Specifications, Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory w

36、ork. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations.

37、2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested IEC National Committees. 3) IEC Publications have the form of recomme

38、ndations for international use and are accepted by IEC National Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any misinterpretation by any

39、end user. 4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence between any IEC Publication and the corresponding national or regional publi

40、cation shall be clearly indicated in the latter. 5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with an IEC Publication. 6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.

41、7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for c

42、osts (including legal fees) and expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC Publications. 8) Attention is drawn to the normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is indispensable for the correct appl

43、ication of this publication. 9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject of patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. International Standard IEC 61340-3-2 has been prepared by IEC

44、technical committee 101: Electrostatics. This second edition cancels and replaces the first edition, published in 2002, and constitutes a technical revision. The major change of this document is that it no longer contains the application to semiconductor devices. 4 61340-3-2 CEI:2006 Cette dition a

45、pris en compte les instructions du Standardization Management Board (SMB) de la CEI en ce qui concerne ltude des apports provenant des documents du CE 47 concernant les mthodes dessais ESD. Le CE 101 a rvis la prsente CEI 61340-3-2, concernant le modle de machine, en collaboration avec le Groupe de

46、Travail Mixte CE 47/CE 101. La CEI 61340-3-2 intgre les contributions du CE 47, fondes sur la CEI 60749-27 correspondante du CE 47. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDIS Rapport de vote 101/237/FDIS 101/239/RVD Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute i

47、nformation sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Cette publication a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie 2. Une liste de toutes les parties de la srie CEI 61340, prsentes sous le titre gnral Electrostatique peut tre consulte sur le site web de la CEI. Le comit a dcid que le

48、contenu de cette publication ne sera pas modifi avant la date de maintenance indique sur le site web de la CEI sous “http:/webstore.iec.ch“ dans les donnes relatives la publication recherche. A cette date, la publication sera reconduite, supprime, remplace par une dition rvise, ou amende. 61340-3-2 IEC:2006 5 It recognizes the direction of the IEC SMB (Standardization Management Board) in terms of considering inputs from TC 47 documents with regard to ESD test methods