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本文(IEC 61340-4-1-2003 Electrostatics - Part 4-1 Standard test methods for specific applications - Electrical resistance of floor coverings and installed floors《静电学.第4-1部分 对于专门用途的标准试验方法.地板覆盖物和已装修地板的抗电.pdf)为本站会员(hopesteam270)主动上传,麦多课文库仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对上载内容本身不做任何修改或编辑。 若此文所含内容侵犯了您的版权或隐私,请立即通知麦多课文库(发送邮件至master@mydoc123.com或直接QQ联系客服),我们立即给予删除!

IEC 61340-4-1-2003 Electrostatics - Part 4-1 Standard test methods for specific applications - Electrical resistance of floor coverings and installed floors《静电学.第4-1部分 对于专门用途的标准试验方法.地板覆盖物和已装修地板的抗电.pdf

1、 NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 61340-4-1Deuxime ditionSecond edition2003-12Electrostatique Partie 4-1: Mthodes dessai normalises pour des applications spcifiques Rsistance lectrique des revtements de sol et des sols finis Electrostatics Part 4-1: Standard test methods for specific

2、 applications Electrical resistance of floor coverings and installed floors Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61340-4-1:2003 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IH

3、S-,-Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple,

4、 les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la

5、CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des inform

6、ations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne s

7、ur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications re

8、mplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo-nible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si

9、 vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designa

10、tion in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating

11、 amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, in

12、cluding its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the l

13、ist of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publicat

14、ion. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available by email. Please contact the Customer Service Cen

15、tre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . Copyright International Electrotechnical C

16、ommission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 61340-4-1Deuxime ditionSecond edition2003-12Electrostatique Partie 4-1: Mthodes dessai normalises pour des applications sp

17、cifiques Rsistance lectrique des revtements de sol et des sols finis Electrostatics Part 4-1: Standard test methods for specific applications Electrical resistance of floor coverings and installed floors Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2003 Droits de reprodu

18、ction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be re

19、produced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telef

20、ax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE M Commission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking p

21、ermitted without license from IHS-,- 2 61340-4-1 CEI:2003 SOMMAIRE AVANT-PROPOS4 1 Domaine dapplication 8 2 Rfrences normatives.8 3 Termes et dfinitions 8 4 Principe10 5 Appareillage .10 5.1 Appareillage de mesure de la rsistance .10 5.2 Electrodes de mesure12 5.3 Contre-lectrode .12 5.4 Plaques de

22、support .12 5.5 Plaque isolante .14 6 Echantillonnage pour des valuations de laboratoire 14 7 Prparation des prouvettes dessai.14 8 Atmosphre pour conditionnement et essais.16 9 Procdures dessai .16 9.1 Nettoyage des lectrodes16 9.2 Rsistance point-point16 9.3 Rsistance verticale (valuations de labo

23、ratoire uniquement)18 9.4 Rsistance la terre .18 10 Calcul et expression des rsultats 20 11 Rapport dessai 20 Figure 1 Exemple de deux conceptions alternatives pour des lectrodes de mesure adaptes.24 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for Re

24、saleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-61340-4-1 IEC:2003 3 CONTENTS FOREWORD.5 1 Scope.9 2 Normative references .9 3 Terms and definitions .9 4 Principle .11 5 Apparatus.11 5.1 Resistance measuring apparatus.11 5.2 Measuring electrodes 13 5.3 Counter-electrode .13 5.

25、4 Support plates.13 5.5 Insulating plate15 6 Sampling for laboratory evaluations15 7 Preparation of test specimens 15 8 Atmosphere for conditioning and testing .17 9 Test procedures .17 9.1 Cleaning electrodes.17 9.2 Point-to-point resistance17 9.3 Vertical resistance (laboratory evaluations only)19

26、 9.4 Resistance to ground 19 10 Calculation and expression of results .21 11 Test report21 Figure 1 Example of two alternative designs for suitable measuring electrodes25 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networ

27、king permitted without license from IHS-,- 4 61340-4-1 CEI:2003 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ ELECTROSTATIQUE Partie 4-1: Mthodes dessai normalises pour des applications spcifiques Rsistance lectrique des revtements de sol et des sols finis AVANT-PROPOS 1) La Commission Electrotechniqu

28、e Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et d

29、e llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, a

30、ux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (I

31、SO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de la CEI intresss son

32、t reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de

33、 ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliqu

34、er de faon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications nationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires. 5) La CEI na prvu aucune

35、procdure de marquage valant indication dapprobation et nengage pas sa responsabilit pour les quipements dclars conformes une de ses Publications. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute l

36、a CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe

37、 ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites d

38、ans cette publication. Lutilisation de publications rfrences est obligatoire pour une application correcte de la prsente publication. 9) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Publication de la CEI peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits

39、 analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 61340-4-1 a t tablie par le comit dtudes 101 de la CEI: Electrostatique. Cette deuxime dition annule et remplace la premir

40、e dition publie en 1995, et constitue une rvision technique. Les modifications significatives concernent uniquement la spcification de mthodes dessai mais ne contiennent pas de prescriptions de classification ou de performance; les mthodes dessai concernent les mesures de rsistances et les appareill

41、ages spcifis se conforment davantage ceux des autres parties de la CEI 61340. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-61340-4-1 IEC:2003 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL

42、 COMMISSION _ ELECTROSTATICS Part 4-1: Standard test methods for specific applications Electrical resistance of floor coverings and installed floors FOREWORD 1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnica

43、l committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications, Te

44、chnical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, govern

45、mental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or

46、 agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested IEC National Committees. 3) IEC Publications have the form of recommendations for international

47、 use and are accepted by IEC National Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any misinterpretation by any end user. 4) In order to p

48、romote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in the latter. 5) IEC provides no marking procedure

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