IEC 61788-10-2006 Superconductivity - Part 10 Critical temperature measurement - Critical temperature of composite superconductors by a resistance method《超导性.第10部分 临界温度测量.用电阻法对复合超导体的临界温度的测量》.pdf

1、 NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 61788-10Deuxime ditionSecond edition2006-08Supraconductivit Partie 10: Mesure de la temprature critique Temprature critique des composites supraconducteurs par une mthode par rsistance Superconductivity Part 10: Critical temperature measurement Criti

2、cal temperature of composite superconductors by a resistance method Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61788-10:2006 Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolide

3、s Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les ame

4、ndements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Cat

5、alogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement dispon

6、ibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date

7、 de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo-nible par courrier le

8、ctronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919

9、 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For ex

10、ample, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant rev

11、iew by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consid

12、eration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/sear

13、chpub) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently

14、issued publications (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Servic

15、e Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 61788-10Deuxime ditionSecond edition2006-08Supraconductivit Partie 10: Mesure de la temprature critique Temprature critique des composites supraconducteurs par une mthode pa

16、r rsistance Superconductivity Part 10: Critical temperature measurement Critical temperature of composite superconductors by a resistance method Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2006 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie

17、de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electroni

18、c or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch C

19、ODE PRIX PRICE CODE N Commission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission 2 61788-10 CEI:2006 SOMMAIRE AVANT-PROPOS4 INTRODUCTION.8 1 Domaine dapplication 10 2 Rfrences normatives.10 3 Termes et dfinitions 10 4 Dtermination de la temprature critique 10 5 Exigences 12

20、6 Appareillage .12 7 Procdure de mesure .14 8 Dtermination de Tc.18 9 Exactitude et stabilit .18 10 Rapport dessai 18 Annexe A (informative) Informations supplmentaires relatives la mesure de la temprature critique24 Figure 1 Dtermination de la temprature critique (Tc).20 Figure 2 Courbes types de t

21、ension en fonction de la temprature pour le premier et le second passage22 61788-10 IEC:2006 3 CONTENTS FOREWORD.5 INTRODUCTION.9 1 Scope.11 2 Normative references .11 3 Terms and definitions .11 4 Determination of critical temperature 11 5 Requirements .13 6 Apparatus.13 7 Measurement procedure.15

22、8 Tcdetermination.19 9 Accuracy and stability.19 10 Test report19 Annex A (informative) Additional information relating to measurement of critical temperature 25 Figure 1 Determination of critical temperature (Tc).21 Figure 2 Typical voltage versus temperature curves for first and second runs 23 4 6

23、1788-10 CEI:2006 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ SUPRACONDUCTIVIT Partie 10: Mesure de la temprature critique Temprature critique des composites supraconducteurs par une mthode par rsistance AVANT-PROPOS 1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale

24、 de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres act

25、ivits publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par

26、le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les

27、 deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de la CEI intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les Publica

28、tions de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue resp

29、onsable de lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliquer de faon transparente les Publications de la CEI d

30、ans leurs publications nationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires. 5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant indication dapprobation

31、et nengage pas sa responsabilit pour les quipements dclars conformes une de ses Publications. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou

32、mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris

33、 les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publications

34、rfrences est obligatoire pour une application correcte de la prsente publication. 9) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Publication de la CEI peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour respons

35、able de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 61788-10 a t tablie par le comit dtudes 90 de la CEI: Supraconductivit. Cette deuxime dition annule et remplace la premire dition parue en 2002. Cette dition constitue une rv

36、ision technique. Les principaux changements introduits par cette nouvelle dition consistent dans le fait quun plus grand nombre de composites supraconducteurs sont couverts par cette norme, i.e. les composites supraconducteurs Cu/Nb3Al et les MgB2 gaine mtallique, et les conducteurs avec couche dYtt

37、rium ou de terre rare ont t ajouts. De plus, des modifications techniques ont t apportes aux dimensions de lembase et la dfinition de la contrainte en flexion. 61788-10 IEC:2006 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ SUPERCONDUCTIVITY Part 10: Critical temperature measurement Critical tempera

38、ture of composite superconductors by a resistance method FOREWORD 1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote international co-ope

39、ration on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications, Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to a

40、s “IEC Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this pre

41、paration. IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international con

42、sensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested IEC National Committees. 3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National Committees in that sense. While all reasonable efforts

43、 are made to ensure that the technical content of IEC Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any misinterpretation by any end user. 4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications

44、 transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in the latter. 5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and can

45、not be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with an IEC Publication. 6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication. 7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and m

46、embers of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publicatio

47、n or any other IEC Publications. 8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is indispensable for the correct application of this publication. 9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publicatio

48、n may be the subject of patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. International Standard IEC 61788-10 has been prepared by IEC technical committee 90: Superconductivity. This second edition cancels and replaces the first edition published in 2002. It constitutes a technical revision. Modifications made to the second edition mostly increase covered composite superconductors in this standard, i.e. Cu/Nb3Al and metal-sheathed MgB2composite superco