IEC TR 61340-2-2-2000 Electrostatics - Part 2-2 Measurement methods Measurement of chargeability《静电 第2-2部分 测量方法 充电率的测量》.pdf

1、RAPPORT TECHNIQUE CEI IEC TECHNICAL REPORT TR 61340-2-2 Premire dition First edition 2000-07 Electrostatique Partie 2-2: Mthodes de mesure Mesure de laptitude la charge Electrostatics Part 2-2: Measurement methods Measurement of chargeability Numro de rfrence Reference number IEC/TR 61340-2-2:2000Nu

2、mros des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent resp

3、ectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la prsente publication Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la tech

4、nique. Des renseignements relatifs la date de reconfir- mation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs des questions ltude et des travaux en cours entrepris par le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la liste des publications t

5、ablies, se trouvent dans les documents ci- dessous: Site web de la CEI* Catalogue des publications de la CEI Publi annuellement et mis jour rgulirement (Catalogue en ligne)* Bulletin de la CEI Disponible la fois au site web de la CEI* et comme priodique imprim Terminologie, symboles graphiques et li

6、ttraux En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CEI 60050: Vocabulaire Electro- technique International (VEI). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consultera la CEI 60027: Symboles littraux utilis

7、er en lectrotechnique, la CEI 60417: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617: Symboles graphiques pour schmas. * Voir adresse site web sur la page de titre. Numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issue

8、d with a designation in the 60000 series. Consolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incor- porating amendment 1 and the

9、base publication incorporating amendments 1 and 2. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is

10、 available in the IEC catalogue. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is to be found at the following IEC sources: IEC web site* Catalogue of IEC pub

11、lications Published yearly with regular updates (On-line catalogue)* IEC Bulletin Available both at the IEC web site* and as a printed periodical Terminology, graphical and letter symbols For general terminology, readers are referred to IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV). For

12、 graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 6061

13、7: Graphical symbols for diagrams. * See web site address on title page.RAPPORT TECHNIQUE CEI IEC TECHNICAL REPORT TR 61340-2-2 Premire dition First edition 2000-07 Electrostatique Partie 2-2: Mthodes de mesure Mesure de laptitude la charge Electrostatics Part 2-2: Measurement methods Measurement of

14、 chargeabilityCommission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2000 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni

15、utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photo-copie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and mi

16、crofilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission 3, rue de Varemb Geneva, Switzerland Telefax: +41 22 919 0300 e-mail: inmailiec.ch IEC web site http:/www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE P 2 TR 61340-2-2 CEI:2000 SOMMAIRE Pages AVANT-PROPOS . 4 Article

17、s 1 Gnralits 8 1.1 Domaine dapplication . 8 1.2 Document de rfrence. 8 2 Champs dapplication . 8 3 Eprouvettes et conditionnement 10 4 Mthodes de mesure 10 4.1 Mesures avec une chambre de Faraday 10 4.1.1 Principe. 10 4.1.2 Appareillage 10 4.1.3 Procdure . 14 4.1.4 Rsultats. 14 4.2 Mesures du champ

18、lectrostatique 16 4.2.1 Principe. 16 4.2.2 Appareillage 16 4.2.3 Construction 20 4.2.4 Procdure . 20 4.2.5 Rsultats. 22 4.3 Mesure du potentiel. 22 4.3.1 Principe. 22 4.3.2 Appareillage 22 4.3.3 Procdure . 24 4.3.4 Rsultats. 24 5 Essais daptitude la charge 24 5.1 Mesures sur site . 24 5.2 Modles des

19、sais. 24 5.2.1 Gnralits . 24 5.2.2 Essais de frottement . 24 5.2.3 Essais de glissement de produits. 26 5.2.4 Chargement de film sur des rouleaux 26 6 Rapport 30 Figure 1 Exemple de chambre de Faraday . 12 Figure 2 Exemples de configuration de cage de Faraday 14 Figure 3 Sonde induction de mesure de

20、 champ . 16 Figure 4 Moulin champ avec obturateur rotatif. 18 Figure 5 Moniteur de plaque de charge 18 Figure 6 Exemples de mesureurs de champ raction. 20 Figure 7 Simulation de chargement par roulement des films en essai . 28TR 61340-2-2 IEC:2000 3 CONTENTS Page FOREWORD 5 Clause 1 General 9 1.1 Sc

21、ope . 9 1.2 Reference document. 9 2 Fields of application . 9 3 Test specimens and conditioning 11 4 Methods of measurement . 11 4.1 Faraday pail measurements 11 4.1.1 Principle 11 4.1.2 Apparatus . 11 4.1.3 Procedure . 15 4.1.4 Results 15 4.2 Electrostatic field measurements. 17 4.2.1 Principle 17

22、4.2.2 Apparatus . 17 4.2.3 Construction 21 4.2.4 Procedure . 21 4.2.5 Results 23 4.3 Measurement of potential 23 4.3.1 Principle 23 4.3.2 Apparatus . 23 4.3.3 Procedure . 25 4.3.4 Results 25 5 Chargeability tests 25 5.1 On-site measurements 25 5.2 Model tests . 25 5.2.1 General. 25 5.2.2 Rubbing tes

23、ts 25 5.2.3 Product sliding tests 27 5.2.4 Film charging over rollers 27 6 Reporting . 31 Figure 1 Example of a Faraday pail 13 Figure 2 Examples of Faraday cage configuration 15 Figure 3 Induction probe field meter. 17 Figure 4 Field mill with rotating shutter. 19 Figure 5 Charge plate monitor 19 F

24、igure 6 Illustrations of feedback fieldmeters . 21 Figure 7 Simulation of roller charging of film under test 29 4 TR 61340-2-2 CEI:2000 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ LECTROSTATIQUE Partie 2-2: Mthodes de mesure Mesure de laptitude la charge AVANT-PROPOS 1) La CEI (Commission lectrotech

25、nique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de

26、 llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales

27、 en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques rep

28、rsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, spcification

29、s techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. 4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs nor

30、mes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5) La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quan

31、d un matriel est dclar conforme lune de ses normes. 6) Lattention est attire sur le fait que certains des lments du prsent rapport technique peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels

32、droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La tche principale des comits dtudes de la CEI est llaboration des Normes internationales. Toutefois, un comit d tudes peut proposer la publication dun rapport technique lorsquil a runi des donnes de nature diffrente de celles qui sont norm

33、alement publies comme Normes internationales, cela pouvant comprendre, par exemple, des informations sur ltat de la technique. La CEI 61340-2-2, qui est un rapport technique, a t tablie par le comit 101 de la CEI: Electrostatique. Le texte de ce rapport technique est issu des documents suivants: Pro

34、jet denqute Rapport de vote 101/56/CDV 101/72/RVC Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de ce rapport technique. Cette publication a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie 3.TR 61340-2-2 IEC:2000 5 INTERNATIONAL ELECTR

35、OTECHNICAL COMMISSION _ ELECTROSTATICS Part 2-2: Measurement methods Measurement of chargeability FOREWORD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object

36、of the IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC Nationa

37、l Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (

38、ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representa

39、tion from all interested National Committees. 3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense. 4) In order

40、 to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be cl

41、early indicated in the latter. 5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one of its standards. 6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this technical report ma

42、y be the subject of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. The main task of IEC technical committees is to prepare International Standards. However, a technical committee may propose the publication of a technical report when it has collec

43、ted data of a different kind from that which is normally published as an International Standard, for example “state of the art“. IEC 61340-2-2, which is a technical report, has been prepared by IEC technical committee 101: Electrostatics. The text of this technical report is based on the following d

44、ocuments: Enquiry draft Report on voting 101/56/CDV 101/72/RVC Full information on the voting for the approval of this technical report can be found in the report on voting indicated in the above table. This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 3. 6 TR 61340-2

45、2 CEI:2000 La CEI 61340 comporte les parties suivantes, sous le titre gnral: Electrostatique Partie 1: Guide relatif aux principes de phnomnes lectrostatiques 1) Partie 2-1: Mthodes de mesure Mthodes dessai des matriaux et des surfaces isolants qui dissipent des charges statiques par mesure directe

46、 de la vitesse de dissipation des charges lectrostatiques 1) Partie 2-2: Mthodes de mesure Mesure de laptitude la charge Partie 2-3: Mthodes de mesure Mthodes dessais pour la dtermination de la rsistance et de la rsistivit des matriaux planaires solides destins viter les charges lectrostatiques Part

47、ie 3-1: Mthodes pour la simulation des effets lectrostatiques Modle du corps humain Test des composants 2) Partie 3-2: Mthodes pour la simulation des effets lectrostatiques Modle de machines (MM) Test des composants 2) Partie 3-3: Mthodes pour la simulation des effets lectrostatiques Modle de dispos

48、itifs chargs Test des composants 1) Partie 4-1: Mthodes dessai normalises pour des applications spcifiques Comportement lectrostatique des revtements de sol et des sols finis Partie 4-2: Mthodes dessai normalises pour des applications spcifiques Mthodes dessai pour vtements 1) Partie 4-3: Mthodes dessai normalises pour des applications spcifiques Chaussures 2) Partie 4-4: Proprits lectrostatiques des conteneurs intermdiaires souples en vrac (FIBC) Mthodes dess