IEC TR2 60816-1984 Guide on methods of measurement of short duration transients on low voltage power and signal lines.《低压电力线和信号线上短时瞬态的测量方法指南》.pdf

1、IEC BLb 84 m 4844871 0082738 b m Publication 816 - - -I r- - COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE RAPPORT DE LA CE1 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION IEC REPORT Publication 816 Premire dition - First edition 1984 Guide sur les mthodes de mesure des transitoires de courte dure sur les li

2、gnes de puissance et de contrle basse tension Guide on methods of measurement of short duration transients on low voltage power and signal lines O CE1 1984 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights resewed Bureau Central de la Commission Electrotechnique Internationale Genve, Suisse 3,

3、rue de Varemb Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,- IEC Bib 84 484Ll8L 0082739 B M Rvision de la prsente publication Le contenu technique des publications de la CE1

4、 est constamment revu par la Commission afin dassurer quil reflte bien ltat actuel de la technique. Les renseignements relatifs ce travail de rvision, lta- blissement des ditions rvises et aux mises jour peuvent tre obtenus auprk des Comits nationaux de la CE1 et en consultant les documents ci-desso

5、us: O Bulletin de la CE1 O Annuaire de la CE1 O Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement Revision of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information on the work

6、 of revision, the issue of revised editions and amendment sheets may be obtained from IEC National Committees and from the following IEC sources: O IEC Bulletin O IEC Yearbook O Catalogue of IEC Publications Published yearly Terminologie Terminology En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lect

7、eur se For general terminology, readers are referred to IEC Publi- reportera la Publication 50 de la CEI: Vocabulaire Electro- cation 50: International Electrotechnical Vocabulary (IEV), technique International (VEI), qui est tablie sous forme de which is issued in the form of separate chapters each

8、 dealing chapitres spars traitant chacun dun sujet dfini, lIndex with a specific field, the General Index being published 2s a gnral tant publi sparment. Des dtails complets sur le separate booklet. Full details of the IEV will be supplied VE1 peuvent tre obtenus sur demande. on request. Les termes

9、et dfinitions figurant dans la prsente publication The terms and definitions contained in the present publica- ont t soit repris du VEI, soit spcifiquement approuvs tion have either been taken from the IEV or have been aux fins de cette publication. specifically approved for the purpose of this publ

10、ication. Symboles graphiques et littraux Graphical and letter symbols Pour les symboles graphiques, symboles littraux et signes For graphical symbols, and letter symbols and signs ap- dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consultera: - la Publication 27 de la CEI: Symboles littraux utiliser p

11、roved by the IEC for general use, readers are referred to: - IEC Publication 27: Letter symbols to be used in electrical en lectrotechnique; technology; - la Publication 617 de la CEI: Symboles graphiques pour - IEC Publication 617: Graphical symbols for diagrams. schmas. Les symboles et signes cont

12、enus dans la prsente publica- The symbols and signs contained in the present publication have either been taken from IEC Publications 27 or 617, or have been specifically approved for the purpose of this publi- cation. tion ont t soit repris des Publications 27 ou 617 de la CEI, soit spcifiquement a

13、pprouvs aux fins de cette publication. Publications de la CE1 tablies par le mme Comit dEtudes Technical Committee I E C publications prepared by the same Lattention du lecteur est attire sur la page 3 de la cou- verture, qui numre les publications de la CE1 prpares par le Comit dEtudes qui a tabli

14、la prsente publication. The attention of readers is drawn to the inside of the back cover, which lists IEC publications issued by the Technical Committee which has prepared the present publication. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for Resa

15、leNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-IEC 8Lb 84 4844872 0082740 4 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE RAPPORT DE LA CE1 INTERNATIONAL ELECTROPECHNICAL COMMISSION IEC REPORT Publication 816 Premire dition - First edition 1984 Guide sur les mthodes de mesure des

16、 transitoires de courte dure sur les lignes de puissance et de contrle basse tension Guide on methods of measurement of short duration transients on IQW voltage power and signal lines O GEI 1984 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peu

17、t tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd. lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms. sans laccord crit de lditeur. No pan of this publication may be reproduced or utilied in any form or by any means, elecironic or mechanical, including ph

18、otocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. Bureau Central de la Commission Electrotechnique Internationale Genve, Suisse 3, rue de Varemb Prix price FLS. 96.- . ;-.-.- ._ Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot fo

19、r ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-. 2.- SOMMAIRE 816 O CE1 1984 PREAMBULE PRFACE . INTRODUCTION . Articles 1 . 2 . 3 . 4 . 5 . 6 . Domaine dapplication . Caractristiques des transitoires . 2.1 Transitoires produits par lenvironnement . 2.2 Transitoires prod

20、uits par des appareils lectriques. 2.3 Paramtres mesurer . Caractristiques des mcanismes de couplage entre les sources de transitoires et les systmes potentiellement susceptibles 3.1 Modes de propagation Susceptibilit/Immunit 4.1 Dtriorations -1 4.2 Mauvais fonctionnement . Instrumentation 5.1 Obten

21、tion des donnes statistiques sur les paramtres des transitoires . 5.2 Compteur de transitoires 5.3 Voltmtre de crte . 5.4 Autres paramtres 5.5 Enregistrement et analyse de la forme donde 5.6 Mesure de lnergie des transitoires . ; 5.7 Mesures dans le domaine frquentiel 5.8 Dispositifs de cot modique

22、Techniques de mesure . 6.1 Mesure des transitoires conduits . 6.2 Mesure des transitoires rayonns . FIGURES ANNEXE A - Mthode permettant de mesurer les missions conduites de transitoires . ANNEXE B - Impdance dentre de lquipement . ANNEXE C - Exemple de sonde de mesure Bibliographie et rfrences . Pa

23、ges 4 4 6 6 8 8 8 8 14 16 18 18 20 22 22 24 24 26 26 36 38 44 44 46 60 62 76 82 88 90 + - . . Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-IEC 816 84 4844873 0082742 816 O

24、IEC 1984 -3- CONTENTS FOREWORD PREFACE INTRODUCTION . Clause 1 . Scope 2 . Characteristics of transients . 2.1 Environment-produced transients . 2.2 Appliance-produced transients . 2.3 Parameters to be measured 3 . Characteristics of mechanisms of coupling between transient sources and potentially s

25、usceptible .devices . 3.1 Propagation modes . 4 . Susceptibility/Immunity 4.1 Damage effects 4.2 Malfunction effects . . 5 . Instrumentation 5.1 Obtaining statistical data on parameters of transients 5.2 Transient counter 5.3 Peak voltmeter . 5.4 Other parameters . 5.5 Waveform recording and analysi

26、s 5.6 Transient energy measurements 5.7 Frequency domain measurement . 5.8 Special inexpensive devices . 6.1 Measurement of conducted transients 6.2 Measurement of radiated transients 6 . Measurement techniques FIGURES APPENDIX A . Method for measuring transient conducted emissions APPENDIX B . Equi

27、pment input impedance . , . APPENDIX C . Example of a monitoring probe . Bibliography and references Page 5 5 7 15 17 19 19 21 23 23 25 25 27 27 37 39 45 45 47 61 62 77 83 89 90 . * :- Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduc

28、tion or networking permitted without license from IHS-,-,-IEC 81b 84 W 4844871 0082743 T W -4- 816 O CE1 1984 - COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE GUIDE SUR LES MTHODES DE MESURE DES TRANSITOIRES DE COURTE DURE SUR LES LIGNES DE PUISSANCE ET DE CONTRLE BASSE TENSION PREAMBULE 1) Les dcisions

29、ou accords officiels de la CE1 en ce qui concerne les questions techniques, prpars par des Comits #Etudes OU sont reprsents tous les Comits, nationaux sintressant ces questions, expriment dans la plus grande mesure possible un accord international sur les sujets examins. 2) Ces dcisions constituent

30、des recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux. 3) Dans le but dencourager lunification internationale, la CE1 exprime le vu que tous les Comits nationaux adoptent dans leurs rgles nationales le texte de la recommandation de la CEI, dans la mesure OU les cond

31、itions nationales le permettent. Toute divergence entre la recommandation de la CE1 et la rgle nationale correspondante doit, dans la mesure du possible, tre indique en termes clairs dans cette dernire. PRFACE Le prsent rapport a t tabli par le Comit dEtudes no 77 de la CEI: Compatibilit lectromagnt

32、ique entre les matriels lectriques y compris les rseaux. Le texte de ce rapport est issu des documents suivants: I Rgle des Six Mois I Rapport de vote I 77(BC)20 77(BC)21 Pour de plus amples renseignements, consulter le rapport de vote mentionn dans le tableau ci-dessus. . .- Copyright International

33、 Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-816 O IEC 1984 -5- INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION Six Months Rule 77(C0)20 GUIDE ON METHODS OF MEASUREMENT OF SHORT DURATION TRANSIENTS ON

34、LOW VOLTAGE POWER AND SIGNAL LINES Report on Voting 77(C0)21 FOREWORD 1) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, prepared by Technical Committees on which all the National Committees having a special interest therein are represented, express, as nearly as possible, an int

35、ernational corisensus of opinion on the subjects dealt with. 2) They have the form of recommendations for international use and they are accepted by the National Committees in that sense. 3) In order to promote international unification, the IEC expresses the wish that all National Committees should

36、 adopt . the text of the IEC recommendation for their national rules in so far as national conditions will permit. Any divergence between the IEC recommendation and the corresponding national rules should, as far as possible, be clearly indicated in the latter. PREFACE This report has been prepared

37、by IEC Technical Committee No. 77: Electromagnetic Compatibility between Electrical Equipment including Networks. The text of this report is based on the following documents: Further information can be found in the Report on Voting indicated in the table above. . Copyright International Electrotechn

38、ical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-6- 816 O CE1 1984 GUIDE SUR LES MTHODES DE MESURE DES TRANSITOIRES DE COURTE DURE SUR LES LIGNES DE PUISSANCE ET DE CONTROLE BASSE TENSION INTRODUCTION Les transit

39、oires apparaissant sur les lignes de puissance et de contrle peuvent produire divers effets, allant de dgradations mineures du fonctionnement des matriels une rupture catastrophique de l?isolant. Ils ont une grande varit de formes d?ondes qui dpendent du mcanisme de leur formation. En outre, ceux qu

40、i sont dus l?ouverture et la fermeture d?un circuit alternatif auront une forme qui dpend du moment exact dans le cycle o la commutation a lieu, mais ils peuvent avoir, de plus, des caractristiques de formes d?ondes microscopiques (dtailles) et macroscopiques (globales) trs compliques. Du fait qu?il

41、s se produisent de faon alatoire, il est tris difficile de bien mesurer les transitoires. La dcouverte de nouvelles techniques pour la conception et la fabrication de systmes a accru la volont d?identifier avec plus de prcision les effets des transitoires. En particulier, un dispositif semi-conducte

42、ur peut tre sensible une surtension d?une dure trs courte (nanosecondes). Du fait des variations des formes d?ondes, il faut mesurer un grand nombre de paramtres pour avoir une mesure prcise d?un transitoire donn. Mme si l?on mesure la forme d?onde exacte d?un transitoire, pour le matriser, il faut

43、dcrire ce transitoire l?aide d?un nombre dtermin de paramtres. Le choix de ces paramtres et leur plage de valeurs est encore matire spculations. La mthode de mesure approprie est encore considre par certains comme une question ouverte. Les quipements de test modernes permettent des mesures encore in

44、existantes dans un pass rcent, mais ils doivent tre utiliss avec une attention particulire. Il est, par consquent, ncessaire de disposer de mthodes bien dfinies et reconnues pour mesurer les transitoires, afin que: u) les mesures effectues par diffrents laboratoires puissent tre compares; b) des lim

45、ites cohrentes soient fixes aux transitoires produits par des types particuliers de matriels, ainsi qu? la susceptibilit de certains matriels aux transitoires. Ce guide a donc t prpar pour aider satisfaire ces exigences. I1 est noter que ce guide ne? traite que des phnomnes transitoires qui ne se ra

46、pportent pas la frquence du rseau et durent 40 ms au maximum. I1 ne traite pas non plus de variations ni de fluctuations de tension prolonges. 1. Domaine d?application Le prsent rapport est destin servir de guide en ce qui concerne les mthodes de , mesure des transitoires de courte dure sur les lign

47、es de puissance et de contrle basse tension. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-IEC - 816 O IEC 1984 -7- GUIDE ON METHODS OF MEASUREMENT OF SHORT DURATION TRANSIE

48、NTS ON LOW VOLTAGE POWER AND SIGNAL LINES INTRODUCTION Transients appearing on power and signal lines are capable of producing a variety of effects ranging from minor equipment performance degradation to catastrophic insulation breakdown. They have a wide variety of waveforms, which depend upon the mechanism of generation. Furthermore, those that originate from switching a.c. power on and off will have a form that depends upon