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本文(IEC 60512-11-2-2002 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-2 Climatic tests Test 11b Combined sequential cold low air pressure a.pdf)为本站会员(visitstep340)主动上传,麦多课文库仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对上载内容本身不做任何修改或编辑。 若此文所含内容侵犯了您的版权或隐私,请立即通知麦多课文库(发送邮件至master@mydoc123.com或直接QQ联系客服),我们立即给予删除!

IEC 60512-11-2-2002 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-2 Climatic tests Test 11b Combined sequential cold low air pressure a.pdf

1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60512-11-2 Premire dition First edition 2002-02 Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 11-2: Essais climatiques Essai 11b: Essai combin squentiel de froid, basse pression atmosphrique et chaleur humide Connectors for elec

2、tronic equipment Tests and measurements Part 11-2: Climatic tests Test 11b: Combined/sequential cold, low air pressure and damp heat Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 60512-11-2:2002Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60

3、000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros dditi on 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incor

4、porant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cet

5、te publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publicati

6、on, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux c

7、ritres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parue

8、s (www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact ave

9、c le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now pu

10、blishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The techni

11、cal content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendment

12、s and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications

13、The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as wel

14、l as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/JP.htm) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need furthe

15、r assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 .NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60512-11-2 Premire dition First edition 2002-02 Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 11-2: Ess

16、ais climatiques Essai 11b: Essai combin squentiel de froid, basse pression atmosphrique et chaleur humide Connectors for electronic equipment Tests and measurements Part 11-2: Climatic tests Test 11b: Combined/sequential cold, low air pressure and damp heat Pour prix, voir catalogue en vigueur For p

17、rice, see current catalogue IEC 2002 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord

18、crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 G

19、eneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE D Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission 2 60512-11-2 CEI:2002 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ CONNECTEURS P

20、OUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 11-2: Essais climatiques Essai 11b: Essai combin squentiel de froid, basse pression atmosphrique et chaleur humide AVANT-PROPOS 1) La CEI (Commission lectrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemb

21、le des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internatio

22、nales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement

23、 avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tan

24、t donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux

25、. 4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nati

26、onale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5) La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. 6) Lattention est attire sur le fai

27、t que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internation

28、ale CEI 60512-11-2 a t tablie par le sous-comit 48B: Connecteurs, du comit dtudes 48 de la CEI: Composants lectromcaniques et structures mcaniques pour quipements lectroniques. Cette norme annule et remplace lessai 11b de la CEI 60512-6, parue en 1984, dont elle constitue une rvision technique. Le t

29、exte de cette norme est issu des documents suivants: FDIS Rapport de vote 48B/1143/FDIS 48B/1193/RVD Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Cette publication a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie 3. L

30、e comit a dcid que le contenu de cette publication ne sera pas modifi avant 2007. A cette date, la publication sera reconduite; supprime; remplace par une dition rvise, ou amende.60512-11-2 IEC:2002 3 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ CONNECTORS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT TESTS AND MEASUREME

31、NTS Part 11-2: Climatic tests Test 11b: Combined/sequential cold, low air pressure and damp heat FOREWORD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object o

32、f the IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National

33、 Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (I

34、SO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representat

35、ion from all interested National Committees. 3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense. 4) In order

36、to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be cle

37、arly indicated in the latter. 5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one of its standards. 6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standa

38、rd may be the subject of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. International Standard IEC 60512-11-2 has been prepared by subcommittee 48B: Connectors, of IEC technical committee 48: Electromechanical components and mechanical structures

39、for electronic equipment. This standard cancels and replaces test 11b of IEC 60512-6, issued in 1984, and constitutes a technical revision. The text of this standard is based on the following documents: FDIS Report on voting 48B/1143/FDIS 48B/1193/RVD Full information on the voting for the approval

40、of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table. This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 3. The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until 2007. At this date, the publication wil

41、l be reconfirmed; withdrawn; replaced by a revised edition, or amended. 4 60512-11-2 CEI:2002 CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 11-2: Essais climatiques Essai 11b: Essai combin squentiel de froid, basse pression atmosphrique et chaleur humide 1 Gnralits 1.1 Domaine da

42、pplication et objet La prsente partie de la CEI 60512 est utilise, lorsque la spcification particulire le prescrit, pour essayer des composants lectromcaniques du domaine dapplication du comit dtudes 48 de la CEI. Cet essai peut aussi tre effectu sur des dispositifs similaires, lorsquune spcificatio

43、n particulire le prescrit. Lobjet de cet essai est dtablir une mthode dessai normalise pour valuer laptitude dun composant fonctionner de manire spcifie pendant et aprs avoir t soumis aux conditions qui prvalent, plus ou moins, dans toute partie dun avion pendant la monte et la descente, mais qui so

44、nt particulirement svres dans les zones non chauffes et/ou non pressurises. 1.2 Rfrences normatives Les documents de rfrence suivants sont indispensables pour lapplication du prsent document. Pour les rfrences dates, seule ldition cite sapplique. Pour les rfrences non dates, la dernire dition du doc

45、ument de rfrence sapplique (y compris les ventuels amendements). CEI 60068-2-39:1976, Essais denvironnement Deuxime partie: Essais Essai Z/AMD: Essai combin squentiel de froid, basse pression atmosphrique et chaleur humide 2 Prparation 2.1 Prparation du spcimen Quand la spcification particulire le r

46、equiert, le spcimen doit tre accoupl et dsaccoupl le nombre de fois spcifi avant lessai. Pour chaque essai effectu, la spcification particulire doit prciser la condition du composant, par exemple accoupl ou dsaccoupl. Si la spcification particulire prescrit un dispositif de surveillance, les disposi

47、tions ncessaires doivent tre prises. 2.2 Cblage du spcimen Les spcimens doivent tre cbls conformment la spcification particulire. Si par exception, quelque partie du spcimen (par exemple les sorties arrires des contacts des embases dont ltanchit est assure hermtiquement) doit tre protge dune manire

48、quelconque, la protection doit tre conforme la spcification particulire.60512-11-2 IEC:2002 5 CONNECTORS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT TESTS AND MEASUREMENTS Part 11-2: Climatic tests Test 11b: Combined/sequential cold, low air pressure and damp heat 1 General 1.1 Scope and object This part of IEC 60512, when required by the detail specification, is used for testing electromechanical comp

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