IEC 60512-2-5-2003 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-5 Electrical continuity and contact resistance tests Test 2e Contact di.pdf

1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60512-2-5 Premire dition First edition 2003-05 Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 2-5: Essais de continuit lectrique et de rsistance de contact Essai 2e: Perturbation de contact Connectors for electronic equipment Tes

2、ts and measurements Part 2-5: Electrical continuity and contact resistance tests Test 2e: Contact disturbance Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 60512-2-5:2003Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1

3、devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et

4、la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris

5、 sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste de

6、s publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (http:/www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, c

7、omprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (http:/

8、www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm) est aussi disponible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentai

9、res, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated edi

10、tions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC

11、publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to

12、new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalog

13、ue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (http:/www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On-line information is also available on recently issued publications, withd

14、rawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (http:/www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Cent

15、re If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 .NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60512-2-5 Premire dition First edition 2003-05 Connec

16、teurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 2-5: Essais de continuit lectrique et de rsistance de contact Essai 2e: Perturbation de contact Connectors for electronic equipment Tests and measurements Part 2-5: Electrical continuity and contact resistance tests Test 2e: Contact disturb

17、ance Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2003 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris

18、 la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Comm

19、ission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE D Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission 2 60512-2-5 CEI :2003 COMMISSION

20、 LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 2-5: Essais de continuit lectrique et de rsistance de contact Essai 2e: Perturbation de contact AVANT-PROPOS 1) La CEI (Commission lectrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de norm

21、alisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits,

22、publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux.

23、 La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord internation

24、al sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme t

25、els par les Comits nationaux. 4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norm

26、e de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5) La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. 6) Latt

27、ention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur exi

28、stence La Norme internationale CEI 60512-2-5 a t tablie par le sous-comit 48B: Connecteurs, du comit dtudes 48 de la CEI: Composants lectromcaniques et structures mcaniques pour quipements lectroniques. Cette norme annule et remplace lEssai 2e de la CEI 60512-2 parue en 1985, dont elle constitue une

29、 rvision technique. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDIS Rapport de vote 48B/1322/FDIS 48B/1347/RVD Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Cette publication a t rdige selon les Directi

30、ves ISO/CEI, Partie 2. Le comit a dcid que le contenu de cette publication ne sera pas modifi avant 2007. A cette date, la publication sera reconduite; supprime; remplace par une dition rvise, ou amende.60512-2-5 IEC:2003 3 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ CONNECTORS FOR ELECTRONIC EQUIPM

31、ENT TESTS AND MEASUREMENTS Part 2-5: Electrical continuity and contact resistance tests Test 2e: Contact disturbance FOREWORD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Commi

32、ttees). The object of the IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committe

33、es; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization fo

34、r Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical commi

35、ttee has representation from all interested National Committees. 3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that

36、 sense. 4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional s

37、tandard shall be clearly indicated in the latter. 5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one of its standards. 6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this

38、International Standard may be the subject of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. International Standard IEC 60512-2-5 has been prepared by subcommittee 48B: Connectors, of IEC technical committee 48: Electromechanical components and mec

39、hanical structures for electronic equipment. This standard cancels and replaces Test 2e of IEC 60512-2, published in 1985, and constitutes a technical revision. The text of this standard is based on the following documents: FDIS Report on voting 48B/1322/FDIS 48B/1347/RVD Full information on the vot

40、ing for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table. This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 2. The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until 2007. At this date

41、, the publication will be reconfirmed; withdrawn; replaced by a revised edition, or amended. 4 60512-2-5 CEI :2003 CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 2-5: Essais de continuit lectrique et de rsistance de contact Essai 2e: Perturbation de contact 1 Domaine dapplication

42、et objet La prsente partie de la CEI 60512 est utilise, lorsque la spcification particulire le prescrit, pour essayer des connecteurs pour quipements lectroniques du domaine dapplication du comit dtudes 48 de la CEI. Cet essai peut aussi tre effectu sur des dispositifs similaires, lorsquune spcifica

43、tion particulire le prescrit. Lobjet de cet essai est de dfinir une mthode dessai normalise pour dtecter des perturbations de contact de composants lectromcaniques dans des conditions dynamiques spcifies. NOTE Les conditions normales dessai sont dfinies dans la Partie 1 de cette norme. 2 Montage du

44、spcimen en essai Le spcimen en essai doit tre mont conformment aux prescriptions de la spcification particulire. 3 Mthode de mesure La perturbation de contact doit tre dtermine dans des conditions dynamiques. La dure de louverture des contacts ferms et/ou de la fermeture des contacts ouverts doit tr

45、e dtermine lorsque le composant est soumis aux essais de secousses, chocs, vibrations ou acclration. La surveillance de la perturbation de contact doit tre assure pendant la priode indique dans lessai correspondant et/ou dans la spcification particulire. Il est possible de surveiller les contacts so

46、it individuellement soit en un ou plusieurs groupes comme indiqu dans la spcification particulire. Lorsquon surveille les contacts en groupes, les contacts ferms peuvent tre raccords en srie et les contacts ouverts peuvent tre raccords en parallle. NOTE Lorsquon dtecte un dfaut sur les contacts essa

47、ys en groupe, il est admis dessayer ensuite les contacts individuellement. 4 Exigences La mesure doit tre effectue avec un courant continu ne dpassant pas 150 mA. La tension de la source ne doit pas dpasser 10 V. La dure de perturbation de contact ne doit pas dpasser la valeur indique dans lessai co

48、rrespondant et/ou dans la spcification particulire. Les valeurs prfrentielles sont 1 s, 10 s, 100 s, 1 ms et 10 ms. Un contact ferm est considr comme tant perturb lorsque la chute de tension entre contacts est suprieure 50 % de la tension de la source. Un contact ouvert est considr comme tant perturb lorsque la chute de tension entre contacts est infrieure 50 % de la tension de la source.60512-2-5 IEC:2003 5