IEC 60748-2-5-1992 Semiconductor devices integrated circuits part 2 digital integrated circuits section five blank detail specification for complementary MOS di.pdf

1、NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 748-215 QC 7901 31 Premire dition First edition 1992-01 Dispositifs semiconducteurs Circuits intgrs Deuxime partie: Circuits intgrs numriques Section cinq - Spcification particulire cadre pour les circuits intgrs numriques MOS complmentaires (sries

2、 4 O00 B et 4 O00 UB) Semiconductor devices Integrated circuits Part 2: Digital integrated circuits Section five - Blank detail specification for complementary MOS digital integrated circuits (series 4 O00 B and 4 O00 UB) Numro de rfrence Reference number CEMEC 748-2-5: 1992 Numros des publications

3、Depuis le ler janvier 1997, les publications de la CE1 sont numrotes a partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CE1 incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement ia public

4、ation de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la presente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est constamment revu par la CE1 afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseign

5、ements relatifs a la date de reconfir- mation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs d des questions a ltude et des travaux en curs entrepris par le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la liste des publications tablies, se tro

6、uvent dans les documents ci- dessous: Site web. de la CEP Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis a jour rgulirement (Catalogue en ligne) Buietin de la CE1 Disponible la fois 3u 4te web. de la CEI* et comme priodique imprim Terminologie, symboles graphiques et littraux En ce q

7、ui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 60050: Vocabulaire Electro- fechnique International (VEI). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes d sage gnrai approuvs par la CEI, le lecteur consulterk la CE1 60027: Symboles littraux utiliser en lectrote

8、chnique, la CE1 6041 7: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles, et la CE1 60617: Symboles graphiques pour schmas. Voir adresse .site web, sur la page de titre. Numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a desi

9、gnation in the 60000 series. Consolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1 .O, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incor- porating amendment 1 and the base publica

10、tion incorporating amendments 1 and 2. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available i

11、n the IEC catalogue. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is to be found at the following IEC sources: IEC web site* Catalogue of IEC publications Pu

12、blished yearly with regular updates (On-line catalogue) Available both at the IEC web site and as a printed periodical IEC Bulletin Terminology, graphical and letter symbols For general terminology, readers are referred to IEC 60050: International Elecfrotechnical Vocabulary (IEV). For graphical sym

13、bols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical s

14、ymbols for diagrams. See web site address on title page. NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 748-215 QC 790131 Premire dition First edition 1992-01 Dispositifs semiconducteurs Circuits in tgrs Deuxime partie: Circuits intgrs numriques Section cinq - Spcification particulire cadre pou

15、r les circuits intgrs numriques MOS complmentaires (sries 4 O00 B et 4 O00 UB) Semiconductor devices Integrated circuits Part 2: Digital integrated circuits Section five - Blank detail specification for complementary MOS digital integrated circuits (series 4 O00 B and 4 O00 UB) 0 CE1 1992 Droits de

16、reproduction rservs - Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par auwn procd. lecironique ou mcanique, y wmpris la photocopie et les microfilms. sans raccord mit de Iditeur. No pari of this publication may

17、 be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical. including photocopying and microfilm. without permission in writing from the publisher Bureau central de la Commission Electrotechnique. Inte,rnationale 3. rue de Varemb Genve Suisse Tlfax: +41 22 919 0300 e-mail: inma

18、iliec.ch IEC web site http:/www.iec.ch N Commission Electrotechnique Internationale CODE PRIX International Electrotechnical Commission PRICE CODE MenUlYHapoAHaR IKTOTXHHW?CWR HOMHCCHR Pour prix. voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue -2- 748-2-5 O CE1 Rgle des Six Mois 47A(BC)17

19、5 47(BC)i051 COM M i SS I ON LECT ROT E c H N i QU E I NTE R NAT ION ALE Rapport devote Procdure des Deux Mois Rapport devote 47(BC)195 47A(BC)21 O 47A( BC)242 DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS Circuits intgrs Deuxime partie: Circuits intgrs numriques Section cinq - Spcification particulire cadre pour les

20、 circuits intgrs numriques MOS complmentaires (sries 4 O00 B et 4 O00 UB) AVANT-PROPOS Les dcisions ou accords officiels de la GEI en ce qui concerne les questions techniques, prpars par des Comits Etudes O sont reprsents tous les Comits nationaux sintressant ces questions, expriment dans la plus gr

21、ande mesure possible un accord international sur les sujets examins. Ces dcisions constituent des recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux. Dans le but dencourager lunification internationale, la CE1 exprime le voeu que tous les Comits nationaux adoptent da

22、ns leurs rgles nationales le texte de la recommandation de la CEI. dans la mesure o les conditions nationales le permettent. Toute divergence entre la recommandation de la CE1 et la rgle nationale correspondante doit, dans la mesure du possible, tre indique en termes clairs dans cette dernire. La pr

23、sente norme a t tablie par le Sous-Comit 47A: Circuits intgrs, et par le Comit dEtudes no 47 de la CEI: Dispositifs semiconducteurs. Cette norme est une spcification particulire cadre pour les circuits intgrs numriques MOS complmentaires, sries 4 O00 B et 4 O00 UB. Le texte de cette norme est issu d

24、es documents suivants Les rapports de vote indiqus dans le tableau ci-dessus donnent toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Le numro QC qui figure sur la page de couverture de la prsente publication est le numro de la spcification dans le systme CE1 dassurance de la

25、qualit des composants lectroniques (IECQ). 748-2-5 O I EC -3- Six Months Rule 47A(C0)175 47(C0)1051 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION Report on Voting Two Months Procedure Report on Voting 47(C0)195 47A(C0)21 O 47A(C0)242 SEMICONDUCTOR DEVICES Integrated circuits Part 2: Digital integrated c

26、ircuits Section five - Blank detail specification for complementary MOS digital integrated circuits (series 4 O00 B and 4 O00 UB) FOREWORD The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, prepared by Technical Committees on which all the National Committees having a special intere

27、st therein are represented, express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the subjects dealt with. They have the form of recommendations for international use and they are accepted by the National Committees in that sense. In order to promote international unification, the

28、 IEC expresses the wish that all National Committees should adopt the text of the IEC recommendation for their national rules in so far as national conditions will permit. Any divergence between the IEC recommendation and the corresponding national rules should, as far as possible, be clearly indica

29、ted in the latter. This standard has been prepared by Sub-Committee 47A: Integrated circuits, and IEC Technical Committee No. 47: Semiconductor devices. This standard is a blank detail specification for complementary MOS digital integrated circuits, series 4 O00 B and 4 O00 UB. The text of this stan

30、dard is based on the following documents: Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the Voting Reports indicated in the above table. The QC number that appears on the front cover of this publication is the specification number in the IEC Quality Assessment Syst

31、em for Electronic Components (IECQ). -4- Les publications suivantes de la CE1 sont cites dans la prsente norme: 74-26 O CE1 Publications nos 68-2-17 (1978): 617-12 (1991): 747-10 (1991): 748-2-4 (1991): 748-11 (1990): 749 (1 984): QC 001002 (1986): Essais denvironnement - Deuxime partie: Essais - Es

32、sai Q: Etanchit. Symboles graphiques pour schmas. Douzime partie: Oprateurs logiques binaires. Dispositifs semiconducteurs. Dispositifs discrets. Dixime partie: Spci- fication gnrique pour les dispositifs discrets et les circuits intgrs. Dispositifs semiconducteurs. Circuits intgrs. Deuxime partie:

33、Circuits intgrs numriques. Section quatre - Spcification de famille pour les circuits intgrs numriques MOS complmentaires, sries 4 O00 B et 4 O00 UB. Dispositifs semiconducteurs. Circuits intgrs. Onzime partie: Spci- fication intermdiaire pour les circuits intgrs semiconducteurs lexclusion des circu

34、its hybrides. Dispositifs semiconducteurs. Essais mcaniques et climatiques. Amendement 1 (1991). Rgles de procdure du systme CE1 dassurance de la-qualit des com- posants lectriques (IECQ). 748-2-5 O IEC -5- The following IEC publications are quoted in this standard: Publications Nos. 68-2-17 (1978):

35、 617-12 (1991): 747-10 (1991): 748-2-4 (1991): 748-1 1 (1990): 749 (1 984): OC 001002 (1986): Environmental testing - Part 2: Tests - Test Q: Sealing. Graphical symbols for diagrams. Part 12: Binary logic elements. Semiconductor devices. Discrete devices. Part 1 O: Generic specification for discrete

36、 devices and integrated circuits. Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 2: Digital integrated circuits. Section four - Family specification for complementary MOS digital integrated circuits, series 4 O00 B and 4 O00 UB. Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 1 1 : Sectional spec

37、i- fication for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Amendment 1 (1991). Rules of Procedure of the IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ). -6- 748-2-5 O CE1 DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS Circui

38、ts intgrs Deuxime partie: Circuits intgrs numriques Section cinq - Spcification particulire cadre pour les circuits intgrs numriques MOS complmentaires (sries 4 O00 B et 4 O00 UB) INTRODUCTION Le systme CE1 dassurance de la qualit des composants lectroniques fonctionne conformment aux statuts de la

39、CE1 et sous son autorit. Le but de ce systme est de dfinir les procdures dassurance de la qualit de telle faon que les composants lec- troniques livrs par un pays participant comme tant conformes aux exigences dune spcif ication applicable soient galement acceptables dans tous les autres pays parti-

40、 cipants sans ncessiter dautres essais. Cette spcification particulire cadre fait partie dune srie de spcifications particulires cadres concernant les dispositifs semiconducteurs; elle doit tre utilise avec la publication suivante de la CEI: 747-1 O/QC 700000: Dispositifs semiconducteurs. Dixime par

41、tie: Spcification gn- rique pour les dispositifs discrets et les circuits intgrs. Renseignements ncessaires Les nombres placs entre crochets sur cette page et les pages suivantes correspondent aux indications suivantes qui doivent tre portes dans les cases prvues cet effet. Identification de la spci

42、fication particulire l Nom de lorganisme National de Normalisation sous lautorit duquel la spcification particulire est tablie. 2 Numro IECQ de la spcification particulire. 3 Numros de rfrence et ddition des spcifications gnrique, intermdiaire et de famille. 141 Numro national de la spcification par

43、ticulire, date ddition et toute autre information requise par le systme national. Identification du composant 5 6 Fonction principale et numro de type. Renseignements sur la construction typique (matriaux, technologie principale) et le boit i er. Si un dispositif possde plusieurs types de produits d

44、rivs, ces diffrences doivent tre indiques, par exemple les particularits des caractristiques dans un tableau comparatif. Pour les dispositifs sensibles aux charges lectrostatiques, les prcautions ncessai- res observer doivent tre ajoutes dans la spcification particulire. 748-2-5 O 1 EC -7- SE MICO N

45、 DUCT0 R DEVICES Integrated circuits Part 2: Digital integrated circuits Section five - Blank detail specification for complementary MOS digital integrated circuits (series 4 O00 B and 4 O00 UB) INTRODUCTION The IEC Quality Assessment System for Electronic Components is operated in accordance with t

46、he statutes of the IEC and under the authority of the IEC. The object of this system is to define quality assessment procedures in such a manner that electronic components re- leased by one participating country as conforming with the requirements of an applicable specification are equally acceptabl

47、e in all other participating countries without the need for further testing. This blank detail specification is one of a series of blank detail specifications for semi- conductor devices and shall be used with the following IEC publication: 747-1 O/QC 700000: Semiconductor devices. Pari 1 O: Generic

48、 specification for discrete devices and integrated circuits. Required information Numbers shown in brackets on this and the following pages correspond to the following items of required information, which should be entered in the spaces provided. Identification of the detail specification I 2 3 The name of the National Standards Organization under whose authority the detail specification is issued. The IECQ number of the detail specification. The numbers and issue numbers of the generic, sectional and family specifications. 4 Identi