IEC 60748-4-2-1993 Semiconductor devices integrated circuits Part 4 interface integrated circuits section 2 blank detail specification for linear analogue-to-di.pdf

1、NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 74814-2 QC 790304 Premire dition First edition 1993-1 1 Dispositifs semiconducteurs - Circuits intgrs - Partie 4: Circuits intgrs dinterface - Section 2: Spcification particulire cadre pour les convertisseurs linaires analogiques-numriques Semicond

2、uctor devices - Integrated circuits - Part 4: Interface integrated circuits - Section 2: Blank detail specification for linear analogue-to-digital converters (ADC) Numro de rfrence Reference number CEIIIEC 748-4-2: 1993 Numros des publications Depuis le ler janvier 1997, les publications de la CE1 s

3、ont numrotes partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CE1 incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendem

4、ent 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la prsente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est constamment revu par la CE1 afin quil reflete ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de re- confirmation de la publicat

5、ion sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs des questions ltude et des travaux en cours entrepris par le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la liste des publications tablies, se trouvent dans les documents ci-dessous: Site web de la CEI* Catalo

6、gue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis jour rgulirement (Catalogue en ligne) Disponible la fois au 4te web, de la CEI* et comme priodique imprim Bulletin de la CE1 Terminologie, symboles graphiques et littraux En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE

7、1 60050: Vocabulaire Electro- technique International (VEI). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consultera la CE1 60027: Symboles littraux 2 utiliser en lectrotechnique, la CE1 6041 7: Symboles graphiques utilisables sur le

8、matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles, et la CE1 60 61 7: Symboles graphiques pour schmas. * Voir adresse site web, sur la page de titre. Numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. Consolidated publications Conso

9、lidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1 .O, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incor- porating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Validity of this publ

10、ication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available in the IEC catalogue. Information on the subjects under consi

11、deration and work in progress undertaken by the technical com- mittee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is to be found at the following IEC sources: IEC web site* Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates (On-line catalogue)* A

12、vailable both at the IEC web site* and as a printed periodical IEC Bulletin Terminology, graphical and letter symbols For general terminology, readers are referred to I EC 60 050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV). For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC

13、 for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams. * See web site address on title p

14、age. NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 748-4-2 QC 790304 Premire dition First edition 1993-1 1 Dispositifs semiconducteurs - Circuits intgrs - Partie 4: Circuits intgrs dinterface - Section 2: Spcification particulire cadre pour les convertisseurs linaires analogiques-numriques Sem

15、iconductor devices - Integrated circuits - Part 4: Interface integrated circuits - Section 2: Blank detail specification for linear analogue-to-digital converters (ADC) CE1 1993 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved Aucune partie de cene publication ne peut tre reproduite n

16、i utilise sous quelque forme que soit et par aucun pro- cd. lectronique ou mcanique, y compris !a photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and mi

17、crofilm, wkhout permission #i writing fromthe publisher. Bureau Central de la Commffision Electrotechnique Internationale 3. rue de Varemb Genve, SuiSe R Commission Electrotechnique Internationale CODE PRIX International Electrotechnical Commission PRICE CODE MeWVHapoHafl3nempoexeca HOMWCCMH Pourpri

18、x, voir catalogue en vbueur For price, see current catalogue -2- Rgle des Six Mois 47A(BC)271 748-4-2 O CEI:1993 Rapport de vote 47A(BC)282 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS - Circuits intgrs - Partie 4: Circuits intgrs dinterface - Section 2: Spcification particu

19、lire cadre pour les convertisseurs linaires analogiques-numriques AVANT-PROPOS 1) La CE1 (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CE1 a pour objet de favoris

20、er la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress

21、 par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CE1 collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entr

22、e les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CE1 en ce qui concerne les questions techniques, prpars par les comits dtudes o sont reprsents tous les Comits nationaux sintressant ces questions, expriment dans la plus grande mesure possible un accord international sur les sujet

23、s examins. 3) Ces dcisions constituent des recommandations internationales Ppublies sous forme de normes, de rapports techniques ou de guides et agres comme telles par les Comits nationaux. 4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CE1 sengagent appliquer de

24、faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CE1 dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CE1 et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. La Norme internationale 7

25、48-4-2 a t tablie par le sous-comit 47A: Circuits intgrs, du comit dtudes 47 de la CEI: Dispositifs semiconducteurs. Cette norme est une spcification particulire cadre pour les convertisseurs linaires analogique-numrique dans le domaine du systme CE1 dassurance de la qualit des composants lectroniqu

26、es (IECQ). Le texte de cette norme est issu des documents suivants: Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. 748-4-2 O IEC:l993 47A( C0)27 1 -3- 47A(C0)282 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION SEMICONDUCTOR

27、 DEVICES - Integrated circuits - Part 4: Interface integrated circuits - Section 2: Blank detail specification for linear analogue-to-digital converters (ADC) FOREWORD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national eiect

28、rotechnicai committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international cooperation on ail questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their prepa

29、ration is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates close

30、ly with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, prepared by technical committees on which all the National Committees having a

31、special interest therein are represented, express, as nearly as possible. an international consensus of opinion on the subjects dealt with. 3) They have the form of recommendations for international use published in the form of standards, technical reports or guides and they are accepted by the Nati

32、onal Committees in that sense. 4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding

33、 national or regional standard shall be clearly indicated in the latter. International Standard IEC 748-4-2 has been prepared by sub-committee 47A: Integrated circuits, of IEC technical committee 47: Semiconductor devices. This standard is a blank detail specification for analogue-to-digital convert

34、ers (ADC) in the field of the IEC Quality Assessment for Electronic Components (IECQ). The text of this standard is based on the following documents: I Six Months Rule I Report on voting I Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated

35、 in the above table. 748-4-2 O CEI:l993 -4- Le numro QC qui figure sur ia page de couverture de la prsente publication est le numro de la spcification dans le systme CE1 dassurance de la qualit des composants lectroniques (I ECQ). Les publications suivantes de la CE1 sont cites dans la prsente norme

36、: CE1 68-2-1 7: 1978, CE1 747-1: 1983, CE1 747-10: 1991, CE1 748-1: 1984, CE1 748-4: 1987. CE1 748-1 1: 1990. CE1 749:1984, CE1 QC 001002: 1986, Essais denvironnement - Deuxime partie: Essais - Essai Q: Etanchit Amendement 4 (1991) Dispositifs semiconducteurs - Dispositifs discrets et circuits intgr

37、s - Premire partie: Gnralits Dispositifs semiconducteurs - Dispositifs discrets et circuits intgrs - Dixime partie: Spcification gnrique pour les dispositifs discrets et les circuits intgrs Dispositifs semiconducteurs - Circuits intgrs - Premire partie: Gnralits Amendement l(l991) Dispositifs semico

38、nducteurs - Circuits intgrs - Quatrime partie: Circuits intgrs dinterface Amendement 1 (1991) Dispositifs semiconducteurs - Circuits intgrs - Onzime partie: Spcification intermdiaire pour les circuits intgrs semiconducteurs lexclusion des circuits hybrides Dispositifs semiconducteurs - Essais mcaniq

39、ues et climatiques Amendement 1 (1991) Rgles de procdure du systme CE/ dassurance de la qualit des composants lectroniques (IECQ) Amendement 1 (1992) 748-4-2 O IEC:1993 -5- The QC number that appears on the front cover of this publication is the specification number in the IEC Quality Assessment Sys

40、tem for Electronic Components (IECQ). The following IEC publications are quoted in this standard: IEC 68-2-17: 1978, IEC 747-1: 1983, IEC 747-10: 1991, IEC 748-1: 1984, IEC 748-4: 1987, IEC 748-1 1 : 1990, IEC 749:1984, IEC QC 001002: 1986. Environmental testing - Part 2: Tests - Test Q: Sealing Ame

41、ndment 4 (1 991 ) Semiconductor devices - Discrete devices and integrated circuits -Part i: General Semiconductor devices - Discrete devices and integrated circuits - Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 1: Gen

42、eral Amendment 1 (1991) Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4: Interface integrated circuits Amendment l(l991) Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 1 1: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits Semiconductor devices - Mechan

43、ical and climatic test methods Amendment l(7991) Rules of procedure of the IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ) Amendment 1 (1992) -6- 748-4-2 O CE111 993 DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS - Circuits intgrs - Partie 4: Circuits intgrs dinterface - Section 2: Spcification particul

44、ire cadre pour les convertisseurs linaires analogiques-numriques INTRODUCTION Le systme CE1 dassurance de la qualit des composants lectroniques fonctionne conformment aux statuts de la CE1 et sous son autorit. Le but de ce systme est de dfinir les procdures dassurance de la qualit de telle faon que

45、les composants lectro- niques livrs par un pays participant comme tant conformes aux exigences dune spcification applicable soient galement acceptables dans les autres pays participants sans ncessiter dautres essais. Cette spcification particulire cadre fait partie dune srie de spcifications particu

46、lires cadres concernant les dispositifs semiconducteurs; elle doit tre utilise avec lec publi- cations suivantes de la CEI: 747-1 OIQC 700000: Dispositifs semiconducteurs - Dispositifs discrets et circuits intgrs - Dixime partie: Spcification gnrique pour les dispositifs discrets et les circuits int

47、grs. 748-1 1/QC 7901 00: Dispositifs semiconducteurs - Circuits intgrs - Onzime partie: Spcification intermdiaire pour les circuits intgrs semiconducteurs lexclusion des hybrides. Renseignements ncessaires Les nombres placs entre crochets sur cette page et les pages suivantes correspondent aux indic

48、ations suivantes qui doivent tre portes dans les cases prvues cet effet. Identification de la spcification particulire l 2 3 4 Numro national de la spcification particulire, date ddition et toute autre Identification du composant SI 6 Nom de lorganisme National de Normalisation sous lautorit duquel la spcifi- cation particulire est tablie. Numro IECQ de la spcification particulire. Numros de rfrence et ddition des spcifications gnrique et intermdiaire. information requise par le systme national. Fonction p