IEC 61000-4-3-2006 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-3 Testing and measurement techniques - Radiated radio-frequency electromagnetic field immunity t.pdf

1、 NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 61000-4-3Troisime ditionThird edition2006-02Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-3: Techniques dessai et de mesure Essai dimmunit aux champs lectromagntiquesrayonns aux frquences radiolectriques Electromagnetic compatibility (EMC) Part 4-3: Te

2、sting and measurement techniques Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61000-4-3:2006 PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM BASIC EMC PUBLICATION Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot

3、 for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publi

4、cations de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires

5、 sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-d

6、essous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la C

7、EI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne s

8、ont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo-nible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le

9、Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication num

10、bering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refe

11、r, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the conte

12、nt reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by t

13、he technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a variety of

14、 criteria including text searches, technical committees and date of publication. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/

15、justpub) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22

16、919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 61000-4-3Troisime ditionThird edition2006-02

17、Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-3: Techniques dessai et de mesure Essai dimmunit aux champs lectromagntiquesrayonns aux frquences radiolectriques Electromagnetic compatibility (EMC) Part 4-3: Testing and measurement techniques Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity tes

18、t Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2006 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la

19、 photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commiss

20、ion, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE XA Commission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM BASI

21、C EMC PUBLICATION Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,- 2 61000-4-3 CEI:2006 SOMMAIRE AVANT-PROPOS6 INTRODUCTION.10 1 Domaine dapplication et objet12 2 Rfrences nor

22、matives.12 3 Termes et dfinitions 14 4 Gnralits.20 5 Niveaux dessai 20 5.1 Niveaux dessai relatifs aux cas gnraux .22 5.2 Niveaux dessai relatifs la protection contre les missions aux frquences radiolectriques des radiotlphones numriques et des autres dispositifs metteurs RF 22 6 Matriel dessai 24 6

23、.1 Description des installations dessai 24 6.2 Etalonnage du champ26 7 Montage dessai .36 7.1 Installation dun matriel de table 36 7.2 Installation dun matriel pos au sol.36 7.3 Disposition du cblage 38 7.4 Disposition dun matriel port par un corps humain38 8 Procdure dessai.38 8.1 Conditions de rfr

24、ence en laboratoire 38 8.2 Ralisation de lessai 40 9 Evaluation des rsultats dessai .42 10 Rapport dessai 42 Annexe A (informative) Justification du choix de la modulation pour les essais relatifs la protection contre les missions aux frquences radiolectriques des radiotlphones numriques .60 Annexe

25、B (informative) Antennes mettrices70 Annexe C (informative) Utilisation de chambres anchoques 72 Annexe D (informative) Non-linarit de lamplificateur et exemple de procdure dtalonnage selon 6.278 Annexe E (informative) Informations destines aux comits de produits, sur le choix des niveaux dessai 88

26、Annexe F (informative) Choix des mthodes dessai 94 Annexe G (informative) Description de lenvironnement .96 Annexe H (normative) Mthode alternative dillumination pour des frquences suprieures 1 GHz (“mthode des fentres indpendantes”).106 Copyright International Electrotechnical Commission Provided b

27、y IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-61000-4-3 IEC:2006 3 CONTENTS FOREWORD.7 INTRODUCTION.11 1 Scope and object13 2 Normative references .13 3 Terms and definitions .15 4 General 21 5 Test levels21 5.1 Test levels related to

28、general purposes .23 5.2 Test levels related to the protection against RF emissions from digital radio telephones and other RF emitting devices .23 6 Test equipment.25 6.1 Description of the test facility 25 6.2 Calibration of field .27 7 Test setup 37 7.1 Arrangement of table-top equipment37 7.2 Ar

29、rangement of floor-standing equipment 37 7.3 Arrangement of wiring .39 7.4 Arrangement of human body-mounted equipment39 8 Test procedure .39 8.1 Laboratory reference conditions 39 8.2 Execution of the test41 9 Evaluation of test results 43 10 Test report43 Annex A (informative) Rationale for the ch

30、oice of modulation for tests related to the protection against RF emissions from digital radio telephones 61 Annex B (informative) Field generating antennas .71 Annex C (informative) Use of anechoic chambers 73 Annex D (informative) Amplifier non-linearity and example for the calibration procedure a

31、ccording to 6.2 .79 Annex E (informative) Guidance for product committees on the selection of test levels 89 Annex F (informative) Selection of test methods 95 Annex G (informative) Description of the environment97 Annex H (normative) Alternative illumination method for frequencies above 1 GHz (“ind

32、ependent windows method”) 107 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,- 4 61000-4-3 CEI:2006 Figure 1 Dfinition du niveau dessai et des formes donde apparaissant la sor

33、tie du gnrateur de signaux .46 Figure 2 Exemple dinstallation dessai.48 Figure 3 Etalonnage du champ 50 Figure 4 Etalonnage du champ, dimensions de la zone de champ uniforme .52 Figure 5 Exemple de montage dessai pour un matriel pos au sol.54 Figure 6 Exemple de montage dessai pour un matriel de tab

34、le 56 Figure 7 Dispositif de mesure 58 Figure C.1 Rflexions multiples dans une petite chambre anchoque existante 74 Figure C.2 La plupart des ondes rflchies sont limines.76 Figure D.1 Positions de mesure de la surface uniforme82 Figure H.1 Exemples de division de la surface dtalonnage en fentres de

35、0,5 m 0,5 m.108 Figure H.2 Exemple dillumination de fentres successives110 Tableau 1 Niveaux dessai relatifs aux cas gnraux, radiotlphones numriques et autres dispositifs metteurs RF.20 Tableau 2 Exigences pour la zone de champ homogne en vue de lapplication de lillumination totale, lillumination pa

36、rtielle et la mthode des fentres indpendantes .28 Tableau A.1 Comparaison des mthodes de modulation 62 Tableau A.2 Niveaux de brouillage relatifs .64 Tableau A.3 Niveaux dimmunit relatifs 66 Tableau D.1 Valeurs de puissance incidente mesures suivant la mthode dtalonnage amplitude de champ constante.

37、84 Tableau D.2 Valeurs de puissance incidente classes par ordre croissant et valuation du rsultat de mesure 84 Tableau D.3 Valeurs de puissance incidente et damplitude de champ mesures selon la mthode dtalonnage puissance constante.86 Tableau D.4 Valeurs de lamplitude de champ classes selon la valeu

38、r croissante et valuation du rsultat de mesure 86 Tableau E.1 Exemples de niveaux dessai, de distances de protection associes et suggestions de critres daptitude la fonction.92 Tableau G.1 Units mobiles et portables100 Tableau G.2 Stations de base102 Tableau G.3 Autres dispositifs RFs 104 Copyright

39、International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-61000-4-3 IEC:2006 5 Figure 1 Definition of the test level and the waveshapes occurring at the output of the signal generator47 Figure 2

40、Example of suitable test facility 49 Figure 3 Calibration of field51 Figure 4 Calibration of field, dimensions of the uniform field area 53 Figure 5 Example of test setup for floor-standing equipment 55 Figure 6 Example of test setup for table-top equipment57 Figure 7 Measuring setup 59 Figure C.1 M

41、ultiple reflections in an existing small anechoic chamber75 Figure C.2 Most of the reflected waves are eliminated .77 Figure D.1 Measuring positions of the uniform field area83 Figure H.1 Examples of division of the calibration area into 0,5 m 0,5 m windows .109 Figure H.2 Example of illumination of

42、 successive windows.111 Table 1 Test levels related to general purpose, digital radio telephones and other RF emitting devices21 Table 2 Requirements for uniform field area for application of full illumination, partial illumination and independent windows method29 Table A.1 Comparison of modulation

43、methods .63 Table A.2 Relative interference levels 65 Table A.3 Relative immunity levels.67 Table D.1 Forward power values measured according to the constant field strength calibration method 85 Table D.2 Forward power values sorted according to rising value and evaluation of the measuring result .8

44、5 Table D.3 Forward power and field strength values measured according to the constant power calibration method87 Table D.4 Field strength values sorted according to rising value and evaluation of the measuring result .87 Table E.1 Examples of test levels, associated protection distances and suggest

45、ed performance criteria93 Table G.1 Mobile and portable units.101 Table G.2 Base stations.103 Table G.3 Other RF devices.105 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,- 6

46、 61000-4-3 CEI:2006 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ COMPATIBILIT LECTROMAGNTIQUE (CEM) Partie 4-3: Techniques dessai et de mesure Essai dimmunit aux champs lectromagntiques rayonns aux frquences radiolectriques AVANT-PROPOS 1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une o

47、rganisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s