IEC 61000-5-5-1996 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 5 Installation and mitigation guidelines - Section 5 Specification of protective devices for HEMP .pdf

1、NORME CE1 INTERNATIONALE IEC INTERNATIONAL STANDARD 1000-5-5 Premire dition First edition 1996-02 Compatibilit lectromagntique (CEM) - Partie 5: Guides dinstallation et dattnuation Section 5: Spcification des dispositifs de protection pour perturbations conduites IEMN-HA - Publication fondamentale e

2、n CEM E I ec t r o mag net i c co m pa t i b i I it y (EM C) - Part 5: Installation and mitigation guidelines Section 5: Specification of protective devices for HEMP conducted disturbance - Basic EMC publication Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 1000-5-5: 1996 Validit de la prsente publicati

3、on Le contenu technique des publications de la CE1 est cons- tamment revu par la CE1 afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfirmation de la publication sont disponibles auprs du Bureau Central de la CEI. Les renseignements relatifs ces rvisions, Ita

4、biis- sement des ditions rvises et aux amendements peuvent tre obtenus auprs des Comits nationaux de la CE1 et dans les documents ci-dessous: Bulletin de la CE1 Annuaire de ia CE1 Publi annuellement Catalogue des publications de ia CE1 Publi annuellement et mis jour rgulirement Terminologie En ce qu

5、i conceme la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 50: Vocabulaire flectrotechnique Inter- national (VEI), qui se prsente sous forme de chapitres spars traitant chacun dun sujet dfini. Des dtails complets sur le VE1 peuvent tre obtenus sur demande. Voir gaiement le dictionnaire multili

6、ngue de la CEI. Les termes et dfinitions figurant dans la prsente publi- cation ont t soit tirs du VEI, soit spcifiquement approuvs aux fins de cette publication. Symboles graphiques et littraux Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnral approuvs par la CEI, le le

7、cteur consultera: - la CE1 27: Symboles littraux a utiliser en lectro- technique; - la CE1 417: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles; - la CE1 617: Symboles graphiques pour schmas; et pour les appareils lectromdicaux, - la CE1 878: Sy

8、mboles graphiques pour quipements lectriques en pratique mdicale. Les symboles et signes contenus dans la prsente publi- cation ont t soit tirs de la CE1 27, de la CE1 417, de la CE1 617 eVou de la CE1 878, soit spcifiquement approuvs aux fins de cette publication. Publications de la CE1 tablies par

9、 le mme comit dtudes Lattention du lecteur est attire sur les listes figurant la fin de cette publication, qui numrent les publications de la CE1 prpares par le comit dtudes qui a tabli la prsente publication. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under const

10、ant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available from the IEC Centrai Office. Information on the revision work, the issue of revised editions and amendments may be obtained from I

11、EC National Committees and from the following IEC sources: IEC Bulletin IEC Yearbook Catalogue of IEC publications Published yearly Published yearly with regular updates Terminology For general terminology, readers are referred to IEC 50: International flectrotechnical Vocabulary (IEV), which is iss

12、ued in the form of separate chapters each dealing with a specific field. Full details of the IEV will be supplied on request. See also the IEC Multilingual Dictionary. The terms and definitions contained in the present publi- cation have either been taken from the IEV or have been specifically appro

13、ved for the purpose of this publication. Graphical and letter symbols For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications: - IEC 27: Letter symbols to be used in electrical technology; - IEC 417: Graphical symbols for use on e

14、quipment. Index, survey and compilation of the single sheets; - IEC 61 7: Graphical symbols for diagrams; and for medical electrical equipment, - IEC 878: Graphical symbols for electromedical equipment in medical practice. The symbols and signs contained in the present publication have either been t

15、aken from IEC 27, IEC 417, IEC 617 andlor IEC 878, or have been specifically approved for the purpose of this publication. IEC publications prepared by the same technical committee The attention of readers is drawn to the end pages of this publication which list the IEC publications issued by the te

16、chnical committee which has prepared the present publication. NORME CE1 INTERNATIONALE IEC INTERNATIONAL STANDARD 1000-5-5 Premire dition First edition 1996-02 Compatibilit lectromagntique (CEM) - Partie 5: Guides dinstallation et dattnuation Section 5: Spcification des dispositifs de protection pou

17、r perturbations conduites IEMN-HA - Publication fondamentale en CEM Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 5: Installation and mitigation guidelines Section 5: Specification of protective devices for HEMP conducted disturbance - Basic EMC publication O CE1 1996 Droits de reproduction rservs - Co

18、pyright - all rights reserved Aucune partie de tte publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que soit et par aucun pro- cd, lectronique ou mcanique, y conpris la photocopie et les microfilms, sans laccord crd de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilned

19、 in any form or by any means. eiectronic or mechanical. including photqying and microfilm. without permission in writing from the publisher. Bureau Central de la Commission Electrotechnique Internationale 3. rue de Varemb Genve, Suisse Commission Electrotechnique Internationale International Electro

20、technical Commission PRICE CODE w MemnyHaponHaR 3netiporexliecan HOMHCCUR COD E PRIX Pourprix. voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue -2- SOMMAIRE 1000-5-5 O CEI:1996 AVANT-PROPOS . I NTROD U CTION Articles 1 Domaine dapplication . 2 Rfrences normatives . 3 Dfinitions . 4 Spcific

21、ations des protections contre les perturbations conduites 4.1 4.2 4.3 4.4 4.5 4.6 4.7 Gnralits 4.1 . 1 Classification des protections . 4.1.2 Bases fondamentales des spcifications pour systme de protection . Eclateurs gaz 4.2.1 Spcifications fondamentales 4.2.2 Spcifications fondamentales additionne

22、lles 4.2.3 Spcifications relatives IIEMN-HA 4.3.1 Spcifications fondamentales 4.3.2 Spcifications fondamentales additionnelles 4.3.3 Spcifications concernant IIEMN-HA . Varistances oxyde mtallique (MOV) . Parafoudres expulsion . Parafoudres rsistance variable 4.5.1 Spcifications fondamentales 4.5.2

23、Spcifications fondamentales additionnelles 4.5.3 Spcifications concernant IIEMN-HA . Ecrteurs de transitoires jonctions avalanches (diodes de protection) 4.6.1 Specifications fondamentales 4.6.2 Spcifications relatives IIEMN-HA Filtres 4.7.1 Gnralits . 4.7.2 Spcifications fondamentales 4.7.3 Spcific

24、ations fondamentales additionnelles pour des filtres autres que pour lnergie . 4.7.4 Spcifications fondamentales additionnelles pour des filtres pour nergie 4.7.5 Spcifications relatives IIEMN-HA Pages 6 8 10 10 12 16 16 16 18 20 20 20 20 22 22 22 22 24 24 24 24 24 26 26 26 28 28 28 28 30 32 1000-5-

25、5 O IEC:1996 -3- CONTENTS Page FOR E WORD . 7 INTRODUCTION 9 Clause 1 Scope . 2 Normative references 3 Definitions . 4 Specifications of protective devices for conducted disturbance 4.1 General 4.1.1 Device classification 4.1.2 Fundamentals on specifications of protective devices 4.2 Gas discharge t

26、ubes 4.2.1 Basic specifications . 4.2.2 Additional basic specifications . 4.2.3 HEMP-relevant specifications 4.3 Metal oxide varistors (MOV) . 4.3.1 Basic specifications . 4.3.2 Additional basic specifications . 4.3.3 HEMP-relevant specifications 4.4 Expulsion-type arresters . 4.5 Non-linear resisto

27、r type arresters 4.5.1 Basic specifications . 4.5.2 Additional basic specifications . 4.5.3 HEMP-relevant specifications 4.6.1 Basic specifications . 4.6.2 HEMP-relevant specifications 4.7 Filters .) . 4.7.1 General . 4.7.2 Basic specifications . 4.6 Avalanche-junction transient voltage suppressors

28、(protective diodes) 4.7.3 Additional basic specifications for non-power line filters . 4.7.4 Additional basic specifications for power-line filters 4.7.5 HEMP-relevant specifications 11 11 13 17 17 17 19 21 21 21 21 23 23 23 23 25 25 25 25 25 27 27 27 29 29 29 29 31 33 -4- 1000-5-5 O CEI:1996 Articl

29、es Pages 4.8 Circuits de protection . 32 4.8.2 Spcifications . 32 4.9 Parafoudres de scurit . 38 4.9.1 Gnralits . 38 4.9.2 Spcifications concernant la scurit 38 4.9.3 Spcifications concernant la protection . 38 4.1 O Protections coaxiales pour circuit r.f. 40 4.1 0.1 Gnralits . 40 4.1 0.2 Spcificati

30、ons fondamentales 40 42 4.8.1 Gnralits . 32 4.10.3 Spcifications relatives IIEMN-HA pour les supports coaxiaux . 4.10.4 Spcifications relatives IIEMN-HA pour les lignes quart donde et les rsonateurs . 42 Annexes A B Revue des circuits gnriques de protection et de leur application dans la protection

31、contre les surtensions . 44 Une mthode pour mesurer linductance des dispositifs limiteurs de tension deux fils . 54 C Revue des parafoudres de scurit et de la philosophie concernant la scurit 60 D 66 E Bibliographie . 70 Une mthode de mesure de limpdance dentre des filtres de puissance 1000-5-5 O IE

32、C:1996 -5- Clause 4.8 Protection circuits 4.8.1 General 4.8.2 Specifications . 4.9 Safety arresters . 4.9.1 General 4.9.2 Safety relevant specifications 4.9.3 Surge relevant specifications 4.1 O Coaxial r.f.-circuit protectors 4.10.1 General . 4.10.2 Basic specifications 4.1 0.3 HEMP-relevant specif

33、ications for coaxial holders 4.1 0.4 HEMP-relevant specifications for stub-lines and resonators Page 33 33 33 39 39 39 41 41 41 41 43 43 Annexes A B C D Survey of generic protection circuits and their application in surge protection . 45 55 61 67 A method of measuring the inductance of two-lead volt

34、age limiting devices Survey on safety arresters and related safety philosophy . A method of measuring the input impedance of mains filters E Bibliography 71 -6- 1000-5-5 O CEI:1996 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE 77Cl29lFDIS COMPATIBILIT LECTROMAGNTIQUE (CEM) - 77C135lRV D Partie 5: Guides

35、 dinstallation et dattnuation Section 5: Spcification des dispositifs de protection pour perturbations conduites IEMN-HA - Publication fondamentale en CEM AVANT-PROPOS 1) La CE1 (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comit

36、s lectrotechniques nationaux (Comites nationaux de la CEI). La CE1 a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes Internationales. Leur

37、 laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CE1 collabore troitement avec lOrga

38、nisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. Les dcisions ou accords officiels de la CE1 concernant les questions techniques, reprsentent, dans la mesure du possible un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les

39、 Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. Dans le but dencourager lunification inte

40、rnationale, les Comits nationaux de la CE1 sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes Internationales de la CE1 dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la recommandation de la CE1 et la norme nationale correspondante doit tre indique

41、 en termes clairs dans cette dernire. 5) La CE1 na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. 6) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme int

42、ernationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CE1 ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. 2) 3) 4) La Norme internationale CE1 1000-5-5 a t tablie par le sous-

43、comit 77C: Immunit limpulsion lectromagntique nuclaire haute altitude (IEMN-HA), du comit dtude 77 de la CEI: Compatibilit lectromagntique. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: I FDIS I Rapport de vote I Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information

44、sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Les annexes A, B, C, D et E sont donnes uniquement titre dinformation. 1000-5-5 O IEC:1996 -7- INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION FDIS ELECTROMAGNETIC COMPATI BI LITY (EMC) - Report on voting Part 5: Installation and mitigation guidelines

45、Section 5: Specification of protective devices for HEMP conducted disturbance - Basic EMC publication 77Cl29lFD I S FOREWORD 77Cl35lRVD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC Nati

46、onal Committees). The object of the IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technica

47、l committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organ

48、ization for Standardization (EO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, express as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested National Committees. The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical reports or guides and they are accepted by the National