ISO 17639-2003 Destructive tests on welds in metallic materials - Macroscopic and microscopic examination of welds《焊缝的无损检验 接缝的宏观和微观检验》.pdf

1、 Numro de rfrence ISO 17639:2003(F) ISO 2003NORME INTERNATIONALE ISO 17639 Premire dition 2003-09-01Essais destructifs des soudures sur matriaux mtalliques Examens macroscopique et microscopique des assemblages souds Destructive tests on welds in metallic materials Macroscopic and microscopic examin

2、ation of welds ISO 17639:2003(F) PDF Exonration de responsabilit Le prsent fichier PDF peut contenir des polices de caractres intgres. Conformment aux conditions de licence dAdobe, ce fichier peut tre imprim ou visualis, mais ne doit pas tre modifi moins que lordinateur employ cet effet ne bnficie d

3、une licence autorisant lutilisation de ces polices et que celles-ci y soient installes. Lors du tlchargement de ce fichier, les parties concernes acceptent de fait la responsabilit de ne pas enfreindre les conditions de licence dAdobe. Le Secrtariat central de lISO dcline toute responsabilit en la m

4、atire. Adobe est une marque dpose dAdobe Systems Incorporated. Les dtails relatifs aux produits logiciels utiliss pour la cration du prsent fichier PDF sont disponibles dans la rubrique General Info du fichier; les paramtres de cration PDF ont t optimiss pour limpression. Toutes les mesures ont t pr

5、ises pour garantir lexploitation de ce fichier par les comits membres de lISO. Dans le cas peu probable o surviendrait un problme dutilisation, veuillez en informer le Secrtariat central ladresse donne ci-dessous. ISO 2003 Droits de reproduction rservs. Sauf prescription diffrente, aucune partie de

6、cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lISO ladresse ci-aprs ou du comit membre de lISO dans le pays du demandeur. ISO copyright office Case postal

7、e 56 CH-1211 Geneva 20 Tel. + 41 22 749 01 11 Fax. + 41 22 749 09 47 E-mail copyrightiso.org Web www.iso.org Publi en Suisse ii ISO 2003 Tous droits rservsISO 17639:2003(F) ISO 2003 Tous droits rservs iiiSommaire Page Avant-propos. iv 1 Domaine dapplication 1 2 Rfrences normatives. 1 3 Termes et dfi

8、nitions 1 4 Abrviations 2 5 Principe 2 6 But de lexamen. 2 7 Prlvement des prouvettes 2 8 Mode opratoire dessai . 4 8.1 Gnralits. 4 8.2 Prparation de lprouvette 4 8.3 tat de surface 4 8.4 Mthodes dattaque. 4 8.5 Ractifs 5 8.6 Mesures de scurit 5 9 Examen. 5 10 Dsignation 5 11 Rapport dexamen. 8 Anne

9、xe A (informative) Exemple de rapport dexamen 10 ISO 17639:2003(F) iv ISO 2003 Tous droits rservsAvant-propos LISO (Organisation internationale de normalisation) est une fdration mondiale dorganismes nationaux de normalisation (comits membres de lISO). Llaboration des Normes internationales est en g

10、nral confie aux comits techniques de lISO. Chaque comit membre intress par une tude a le droit de faire partie du comit technique cr cet effet. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec lISO participent galement aux travaux. LISO collabore troitemen

11、t avec la Commission lectrotechnique internationale (CEI) en ce qui concerne la normalisation lectrotechnique. Les Normes internationales sont rdiges conformment aux rgles donnes dans les Directives ISO/CEI, Partie 2. La tche principale des comits techniques est dlaborer les Normes internationales.

12、Les projets de Normes internationales adopts par les comits techniques sont soumis aux comits membres pour vote. Leur publication comme Normes internationales requiert lapprobation de 75 % au moins des comits membres votants. Lattention est appele sur le fait que certains des lments du prsent docume

13、nt peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. LISO ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et averti de leur existence. LISO 17639 a t labore par le comit technique ISO/TC 44, Soudage et techniques connexes, sous-

14、comit SC 5, Essais et contrle des soudures. Il convient dadresser les demandes dinterprtation officielle de tout aspect de la prsente Norme internationale au secrtariat de lISO/TC 44/SC 5, par lintermdiaire du comit membre situ dans le pays de lutilisateur, dont une liste complte peut tre obtenue la

15、dresse www.iso.org. NORME INTERNATIONALE ISO 17639:2003(F) ISO 2003 Tous droits rservs 1Essais destructifs des soudures sur matriaux mtalliques Examens macroscopique et microscopique des assemblages souds 1 Domaine dapplication La prsente Norme internationale spcifie un mode opratoire dessai et ses

16、principaux objectifs concernant les examens macroscopique et microscopique des assemblages souds. 2 Rfrences normatives Les documents de rfrence suivants sont indispensables pour lapplication du prsent document. Pour les rfrences dates, seule ldition cite sapplique. Pour les rfrences non dates, la d

17、ernire dition du document de rfrence sapplique (y compris les ventuels amendements). ISO 6520-1, Soudage et techniques connexes Classification des dfauts gomtriques dans les soudures des matires mtalliques Partie 1: Soudage par fusion ISO 9956-3, Descriptif et qualification dun mode opratoire de sou

18、dage pour les matriaux mtalliques Partie 3: preuve de qualification dun mode opratoire de soudage larc sur acier ISO 9956-4, Descriptif et qualification dun mode opratoire de soudage pour les matriaux mtalliques Partie 4: preuve de qualification dun mode opratoire de soudage larc sur laluminium et s

19、es alliages ISO/TR 15608, Soudage Lignes directrices pour un systme de groupement des matriaux mtalliques ISO/TR 16060, Essais destructifs des soudures sur matriaux mtalliques Ractifs pour examens macroscopique et microscopique des assemblages souds 3 Termes et dfinitions Pour les besoins du prsent

20、document, les termes et dfinitions suivants sappliquent. 3.1 examen macroscopique, m examen lil nu, ou sous faible grossissement (gnralement moins de 50), dune prouvette attaque ou non attaque 3.2 examen microscopique, m examen au microscope, avec un grossissement gnralement compris entre 50 et 500,

21、 dune prouvette attaque ou non attaque 3.3 oprateur, m personne qui effectue lexamen microscopique et/ou macroscopique ISO 17639:2003(F) 2 ISO 2003 Tous droits rservs4 Abrviations Pour les besoins du prsent document, les abrviations suivantes sappliquent. A Examen macroscopique I Examen microscopiqu

22、e E Avec attaque U Sans attaque Les abrviations relatives aux mtaux de base doivent tre conformes aux systmes de groupement dcrits dans lISO 9956-3 pour les aciers et dans lISO 9956-4 pour laluminium et les alliages daluminium. Des systmes de groupement pour dautres matriaux sont donns dans le lISO/

23、TR 15608. Les mme systmes de groupement doivent tre utilis pour le mtal fondu. Il est recommand de choisir les abrviations pour les ractifs dans lISO/TR 16060, lorsque cette dernire est applicable. NOTE Les marques commerciales peuvent tre utilises si lISO/TR 16060 nest pas applicable. 5 Principe Le

24、s examens macroscopique et microscopique sont utiliss pour mettre en vidence les caractristiques dun assemblage soud, habituellement par lexamen de coupes transversales. Cet examen est ralis par un examen visuel et/ou optique de la surface prpare, avant ou aprs attaque. 6 But de lexamen Les examens

25、macroscopique et microscopique doivent permettre de rvler la structure (y compris la structure cristallographique, la morphologie et lorientation des grains, les prcipits et les inclusions) indpendamment ou en liaison avec les diverses fissures et cavits. Les coupes peuvent galement permettre de not

26、er la forme de lprouvette dans la section de coupe. Le Tableau 1 fournit des lignes directrices pour lobservation des dtails qui peuvent tre dtects lors de lexamen microscopique et macroscopique 7 Prlvement des prouvettes Les prouvettes sont gnralement orientes perpendiculairement laxe de la soudure

27、 (coupes transversales) et comprennent le cordon de soudure et les zones thermiquement affectes situes de part et dautre de la soudure. Toutefois, des prouvettes peuvent galement concerner dautres orientations. Il est recommand que lemplacement, lorientation et le nombre de pices dessai soient spcif

28、is avant tout essai, par exemple en rfrence une norme dapplication. ISO 17639:2003(F) ISO 2003 Tous droits rservs 3Tableau 1 Lignes directrices pour lobservation des dtails lors des examens microscopique et macroscopique Dtails Dfauts selon lISO 6520-1 Examen macroscopique sans attaque Examen macros

29、copique avec attaque Examen microscopique sans attaque Examen microscopique avec attaque 1 Fissures chaud 100 X X X X 2 Fissures froid 100 X X X X 3 Arrachement lamellaire 100 X X X X 4 Cavits 200 X X X X 5 Inclusions 300 X X X X 6 Manque de fusion ou de pntration 400 X X X X 7 Forme gomtrique 500 X

30、 X 8 Zone affecte thermiquement X X 9 Passes et couches X (X) 10 Joints de grains (X) X 11 Structure cristallographique X 12 Structure de solidification X X 13 Prparation de joint (X) X X X 14 Direction de laminage/extrusion X X 15 Direction du fibrage (grains) X X 16 Sgrgations X X 17 Prcipitations

31、 X 18 Rparation et non-conformit (X) X (X) X 19 Effets mcaniques et thermiques X X X signifie dtail mis en vidence; (X) signifie dtail qui peut tre mis en vidence ou non. NOTE La rsolution dun microscope optique peut tre insuffisante pour dceler certains dtails mentionns, par exemple prcipits et inc

32、lusions. ISO 17639:2003(F) 4 ISO 2003 Tous droits rservs8 Mode opratoire dessai 8.1 Gnralits Les indications suivantes doivent tre donnes: mtaux de base et produits de soudage consommables; but de lexamen; composition/nom du ractif; tat de surface (voir 8.3); mthodes dattaque (voir 8.4); dure de lat

33、taque; mesures supplmentaires (voir 8.6); exigences supplmentaires. 8.2 Prparation de lprouvette Lprouvette doit tre prpare en vue de lexamen, selon le cas, par coupage, montage, meulage et/ou polissage, avec ou sans attaque (voir lISO/TR 16060). La surface dexamen ne doit pas tre altre par ces dive

34、rses oprations. 8.3 tat de surface Les exigences relatives ltat de surface dpendent notamment de facteurs tels que type dexamen envisag (macroscopique ou microscopique); type de matriau; documents obtenir (par exemple photographies). NOTE Les renseignements relatifs aux produits et aux mthodes utili

35、ss lors du meulage et du polissage sont donns dans lISO/TR 16060. 8.4 Mthodes dattaque La mthode dattaque doit tre spcifie avant lattaque. Les mthodes les plus couramment utilises sont les suivantes attaque par immersion de lprouvette dans le ractif; attaque effectue en tamponnant la surface de lpro

36、uvette; attaque lectrolytique. Dautres mthodes peuvent tre utilises mais il convient de les spcifier, par exemple en rfrence une norme dapplication. Lorsque lattaque est termine, il convient de laver et de scher lprouvette. ISO 17639:2003(F) ISO 2003 Tous droits rservs 58.5 Ractifs Les ractifs typiq

37、ues relatifs aux diffrents mtaux de base, aux dpts souds, en fonction des buts et des types de lexamen, sont donns dans lISO/TR 16060. Selon les informations recherches, le type et la concentration du ractif, ainsi que la temprature et la dure de lattaque, peuvent varier en fonction du matriau et du

38、 type dexamen. Pour des assemblages similaires, diffrents ractifs peuvent tre utiliss. 8.6 Mesures de scurit Les mesures de scurit suivantes doivent tre observes: porter des dispositifs de protection des yeux et du visage, lorsque cela est ncessaire; manipuler les ractifs avec des gants ou des pince

39、s convenables; effectuer les mlanges sous une hotte de laboratoire ou sous une hotte aspirante; toujours verser lacide dans leau et non linverse; toujours verser le solut dans le solvant, cest-dire la petite quantit (le solut) dans la grande quantit (le solvant). 9 Examen La surface prpare peut tre

40、examine avant et/ou aprs lattaque, selon le cas, ou bien conformment aux normes et/ou spcifications applicables. 10 Dsignation Lexamen doit tre dsign de la faon suivante: rfrence la prsente Norme internationale; type dexamen (examen macroscopique ou microscopique); prouvette attaque ou non attaque;

41、but de lexamen (mtal fondu et/ou mtal de base); assemblages souds (mtal de base gauche, mtal de base droite, et mtal fondu); ractif (numro du tableau de lISO/TR 16060). La dsignation peut tre donne sous forme complte ou abrge; voir exemples 1 et 2. NOTE Il est recommand de donner le but de lexamen e

42、ntre traits dunion. ISO 17639:2003(F) 6 ISO 2003 Tous droits rservsEXEMPLE 1 Version complte Un examen microscopique avec les conditions suivantes: prouvette attaque; but de lexamen: 43; mtal de base gauche: 5.4; droite: 9.2; produit consommable: 43; ractif: xy. EXEMPLE 1 a) But de lexamen: Mtal fon

43、du seulement Examen - ISO 17639 - I - E - 43 - 5.4 / 9.2 / 43 / xy o ISO 17639 = rfrence la prsente Norme internationale; I = examen microscopique; E = avec attaque; 43 = but de lexamen; 5.4 = acier avec un Cr max. de 9 % et Mo max. 1,2 %; 9.2 = acier inoxydable austnitique; 43 = mtal fondu: Ni/Fe/C

44、r/Mo avec Ni max. 40 %; xy = ractif. NOTE xy reprsente le numro du tableau de lannexe approprie de lISO/TR 16060. ISO 17639:2003(F) ISO 2003 Tous droits rservs 7EXEMPLE 1 b) But de lexamen: Mtal fondu et mtal de base gauche Examen - ISO 17639 - I - E - 43, 5.4 - 5.4 / 9.2 / 43 / xy o ISO 17639 = rfr

45、ence la prsente Norme internationale; I = examen microscopique; E = avec attaque; 43, 5.4 = but de lexamen; 5.4 = acier avec Cr max. 9 %, Mo max. 1,2 %; 9.2 = acier inoxydable austnitique; 43 = mtal fondu: Ni/Fe/Cr/Mo avec Ni max. 40 %; xy = ractif. EXEMPLE 1 c) But de lexamen: Mtal fondu et mtal de

46、 base gauche et droite Examen - ISO 17639 - I - E - 43, 5.4, 9.2 - 5.4 / 9.2 / 43 / xy o ISO 17639 = rfrence la prsente Norme internationale; I = examen microscopique; E = avec attaque; 43, 5.4, 9.2 = but de lexamen; 5.4 = acier avec Cr max. 9 %, Mo max. 1,2 %; 9.2 = acier inoxydable austnitique; 43

47、 = mtal fondu: Ni/Fe/Cr/Mo avec Ni max. 40 %; xy = ractif. ISO 17639:2003(F) 8 ISO 2003 Tous droits rservsEXEMPLE 2 Version abrge Un examen microscopique avec les conditions suivantes: Avec attaque; But de lexamen: 22.2; Mtal de base gauche: 22.2; droite: 22.2; Mtal fondu: 22.2; Ractif: xy. NOTE Le but de lexamen (22.2) signifie la fois le mtal fondu et les mtaux de base droite et gau