1、Norme internationale 2361 INTERNATIONAL ORGANIZATION FOR STANDARDIZATION*ME)(CPYHAPOflHAR OPrAHH3AUMR fl0 CTAHLIAPTM3AUMM*ORGANlSATlON INTERNATIONALE DE NORMALISATION Revtements lectrolytiques de nickel sur mtal de magntique et non magntique - Mesurage de Ipaisseur - Mthode magntique Electrodeposite
2、d nickel coatings on magnetic and non-magnetic substrates - Measurement of coating thickness - Magnetic method Deuxime dition - 1982-08-15 base CDU 669.248.7 : 621.317.49 : 531.717 Descripteurs : revtement en nickel, mesure de dimension, paisseur Rf. no : IS0 2361-1982 (FI Prix bas6 sur 4 pages Avan
3、t-propos LISO (Organisation internationale de normalisation) est une fdration mondiale dorganismes nationaux de normalisation (comits membres de IISO). Llaboration des Normes internationales est confie aux comits techniques de IISO. Chaque comit membre intress par une tude a le droit de faire partie
4、 du comit technique correspondant. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouverne- mentales, en liaison avec IISO, participent galement aux travaux. Les projets de Normes internationales adopts par les comits techniques sont soumis aux comits membres pour approbation, avant leur
5、 acceptation comme Normes inter- nationales par le Conseil de 160. La Norme internationale IS0 2361 a t labore par le comit technique ISO/TC 107, Revtements m6talliques et autres revtements non organiques, et a t soumise aux comits membres en novembre 1980. Les comits membres des pays suivants lont
6、approuve : Afrique du Sud, Rp. d Inde Australie Italie Bulgarie Japon Egypte, Rp. arabe d Pays-Bas Espagne Pologne France Portugal Hongrie Roumanie Royaume-Uni Sude Suisse Tchcoslovaquie URSS USA Aucun comit membre ne la dsapprouve. Cette deuxime dition annule et remplace la premire dition (IS0 2361
7、1972) 0 Organisation internationale de normalisation, 1982 O Imprim en Suisse NORM E INTERN ATlON ALE IS0 2361-1982 (F) Revtements lectrolytiques de nickel sur mtal de base magntique et non magntique - Mesurage de Ipaisseur - Mthode magntique 1 Objet et domaine dapplication La prsente Norme interna
8、tionale spcifie une mthode magn- tique de mesurage non destructif de Ipaisseur des revte- ments lectrolytiques de nickel sur mtal de base magntique ou non magntique. Cette mthode ne sapplique pas aux revtements autocataly- tiques de nickel (nickel chimique), du fait de leur composition chimique. La
9、prsente Norme internationale concerne deux types de dpts de nickel, savoir : a) (revtements de type A); revtements de nickel sur mtal de base magntique b) revtements de nickel sur mtal de base non- magntique (revtements de type 6). Tous les instruments peuvent tre utiliss sur les deux types de revte
10、ments. Les instruments bass sur le principe de lattraction magntique ont une plage de mesurage efficace allant jusqu 50 um dans le cas de revtements de type A, et allant jusqu 25 pm pour les revtements de type B. Les instruments de mesurage par rluctance ont une plage de mesurage bien suprieure, per
11、mettant des mesurages jusqu 1 mm et plus sur les deux types de revtements. 2 Rfrences IS0 1463, Revtements mtalliques et couches doxyde - Mesurage de Ipaisseur - Mthode par coupe microgra- phique. IS0 2064, Revtements mtalliques et autres revtements non organiques - Dfinitions et principes concernan
12、t le mesurage de lpaisseur. IS0 2177, Revtements mtalliques - Mesurage de Ipaisseur - Mthode coulomtrique par dissolution anodique. 1) 3 Principe Les instruments utiliss cet effet mesurent soit lattraction magntique entre un aimant permanent et lensemble revtementimtal de base, soit la rluctance dun
13、 flux magnti- que passant travers le revtement et le mtal de base. 4 Facteurs influencant la prcision de mesurage*) Les facteurs suivants peuvent influencer la prcision de mesu- rage de Ipaisseur dun revtement. 4.1 paisseur du revtement La prcision dun mesurage varie avec Ipaisseur du revte- ment et
14、 la conception de linstrument utilis. Pour les revte- ments minces, la prcision est constante et indpendante de Ipaisseur. Pour les revtements pais, la prcision est une fraction approximativement constante de Ipaisseur. 4.2 Proprits magntiques du mtal de base (revtements de type A seulement) Les mes
15、urages dpaisseur suivant la mthode magntique sont influencs par les variations des proprits magntiques du mtal de base. En pratique, les variations des proprits magntiques des aciers bas carbone peuvent tre considres comme ngligeables. 4.3 paisseur du mtal de base (revtements de type A seulement) Po
16、ur chaque instrument, il existe une paisseur critique du metal de base au-del8 de laquelle les mesures ne seront plus affectees par un accroissement dpaisseur. Cette paisseur tant fonction du palpeur et de la nature du mtal de base, sa valeur devrait tre determine exprimentalement, moins quelle soit
17、 spcifie par le fabricant. 1) 2) correctement talonn et utilis. Actuellement au stade de projet. (Rvision de IISO 2177-1972.) Pour les besoins de la prsente Norme internationale, lincertitude de la mesure est celle qui correspond au mesurage effectu avec un instrument 1 IS0 2361-1982 (FI 4.4 Effets
18、de bord 4.10 Particules trangres Les palpeurs des instruments doivent tre en contact physique avec la surface dessai, car ces instruments sont sensibles aux matires trangres qui sopposent un contact intime entre le palpeur et la surface du revtement. La propret de la surface du palpeur doit tre vrif
19、ie. La mthode est sensible aux brusques variations de forme de la surface de Iprouvette. De ce fait, les mesurages effectus trop prs dune arte ou lintrieur dun angle ne seront vala- bles que si linstrument a t spcialement talonn cet effet. Cet effet peut stendre jusqu environ 20 mm de la disconti- n
20、uit, suivant linstrument. 4.5 Courbure Les mesures sont affectes par la courbure de Iprouvette. Cette influence varie considrablement selon la conception et le type de linstrument, mais elle est dautant plus prononce que le rayon de courbure est faible. Les instruments munis de palpeurs bipolaires p
21、euvent gale- ment donner des lectures diffrentes selon que les ples sont disposs dans un plan parallle ou perpendiculaire laxe dune surface cylindrique. Un effet similaire se rencontre avec un pal- peur unipolaire dont la pointe prsente une usure irrgulire. Cest pourquoi des mesurages effectus sur d
22、es prouvettes ayant des surfaces courbes ne seront valables que si Iinstru- ment a t spcialement talonn cet effet. 4.6 Rugosit de surface Si la dispersion dune srie de mesurages effectus sur la mme aire de rfrence (voir IS0 2064) prsentant une certaine rugo- sit dpasse la rptabilit inhrente linstrum
23、ent, le nombre ncessaire de mesurages devrait slever au moins cinq. 4.7 Sens dusinage du mtal de base (revte- ments de type A seulement) Les mesurages effectus laide dun instrument muni dun palpeur bipolaire ou dun palpeur unipolaire us de facon irr- gulire, peuvent tre influencs par le sens dusinag
24、e auquel a t soumis le mtal de base magntique (par exemple laminage), les lectures releves variant avec lorientation du pal- peur sur la surface. 4.8 ment) Magntisme rsiduel (revtements de type A seule- Le magntisme rsiduel dans le mtal de base affecte les mesu- rages effectus laide dinstruments uti
25、lisant un champ magntique stationnaire. Son influence sur les mesurages effectus B laide dinstruments rluctance utilisant un champ magntique alternatif est beaucoup plus faible (voir 6.7). 4.9 Champs magntiques De forts champs magntiques, tels ceux produits par divers types dquipements lectriques, p
26、euvent srieusement pertur- ber le fonctionnement des instruments utilisant un champ magntique stationnaire (voir 6.7). 4.11 Proprits magntiques du revtement Les mesures sont affectes par les variations des proprits magntiques du revtement. Ces proprits sont fonction des conditions dans lesquelles le
27、 dpt est effectu, du type et de la composition du revtement et des conditions de contrainte de celui-ci. Un traitement thermique effectu 400 OC pendant 30 min. permet dgaliser la permabilit magntique des rev- tements de nickel mat (sans soufre ou presque) de mme com- position. Aprs un traitement the
28、rmique, il est possible que les dpts de nickel brillants conservent ou ne conservent pas les mmes proprits magntiques, le traitement thermique ris- quant dendommager la pice. Les proprits magntiques dun revtement de nickel couches multiples dpendent ga- lement de Ipaisseur de chacune des couches qui
29、 le compo- sent. 4.12 de base (revtements de type B seulement) Revtements de nickel au dos du mtal Les revtements de nickel appliqus au dos du mtal de base peuvent affecter les mesures; cette influence est fonction de Ipaisseur du mtal de base. 4;13 Pression du palpeur Les ples du palpeur doivent tr
30、e appliqus avec une pression constante et suffisamment leve, mais de telle facon quaucune dformation du revtement ne se produise. 4.14 Orientation du palpeur Les lectures sur des instruments utilisant lattraction magn- tique peuvent tre influences par lorientation de laimant par rapport au champ de
31、la pesanteur. Ainsi, lemploi dun instru- ment dans une position horizontale ou renverse peut ncessi- ter un talonnage diffrent ou peut tre impossible. 5 talonnage des instruments 5.1 Gnralits Avant utilisation, chaque instrument doit tre talonn confor- mment aux instructions du fabricant et en utili
32、sant des talons dpaisseur approprie. En cours dutilisation, Italonnage doit tre vrifi intervalles rguliers, aprs un temps dchauffement, au moins une fois par jour. Les facteurs mentionns dans le chapitre 4 et les modes opratoires dcrits dans le chapitre 6 doivent faire lobjet dune attention Darticul
33、ire. 2 5.2 talons dpaisseur IS0 2361-1982 (F) 6.4 Courbure 5.2.1 Les talons dpaisseur doivent tre des talons revtus obtenus par dpt lectrolytique de nickel adhrant sur un mtal de base. La rugosit de surface et les proprits magntiques du mtal de base et du revtement des talons doivent tre les mmes qu
34、e celles de Iprouvette (voir 4.2 et 4.1 1). Pour sassurer de la similitude des proprits magntiques des mtaux de base, il est recommand deffectuer une comparaison des lectures obtenues avec le mtal de base de ltalon non revtu et avec celui de Iprouvette. De la mme manire, pour sassurer de la validit
35、de ltalon- nage de linstrument, il est ncessaire dutiliser comme talon, une prouvette reprsentative dont Ipaisseur a t dtermi- ne, soit par la mthode coulomtrique (voir IS0 21771, soit par coupe micrographique (voir IS0 1463). 5.2.2 Dans certains cas, Italonnage de linstrument doit tre contrl en fai
36、sant pivoter le palpeur plusieurs fois de 90 (voir 4.7 et 4.8). 5.2.3 Pour les revtements de type A, Ipaisseur du mtal de base doit tre la mme pour Iprouvette et pour ltalon, si Ipaisseur critique dfinie en 4.3 nest pas dpasse. Des erreurs supplmentaires se produisent lorsque le mtal de base est rec
37、ouvert sur ses deux faces. Si Ipaisseur critique nest pas dpasse, recouvrir lautre face du mtal de base de ltalon ou de Iprouvette dune couche suffisante de matire sembla- ble pour rendre les lectures indpendantes de Ipaisseur du mtal de base. 5.2.4 Lorsque la courbure du revtement mesurer est telle
38、 quelle interdit Italonnage sur une surface plane, la courbure de ltalon revtu doit tre la mme que celle de Iprouvette. 6 Mode opratoire 6.1 Gnralits Utiliser chaque instrument conformment aux instructions du fabricant, en accordant une attention particulire aux facteurs mentionns dans le chapitre 4
39、 Les prcautions suivantes doivent tre prises. 6.2 paisseur du mtal de base (revtements de type A seulement) Vrifier que Ipaisseur du mtal de base est suprieure Ipaisseur critique. Si tel nest pas le cas, utiliser la mthode du dpt au dos indique en 5.2.3, ou sassurer que Italonnage a bien t effectu
40、sur un talon ayant la mme paisseur et les mmes proprits magntiques que Iprouvette. 6.3 Effets de bord Ne pas effectuer de mesurages pr il est donc ncessaire de rejeter les lectu- res manifestement trop lev6es. 6.6 Sens dusinage (revtements de type A seulement) Si le sens dusinage a un effet marqu su
41、r les rsultats, les mesurages sur les prouvettes doivent tre effectus en orien- tant le palpeur de la mme faon que pendant Italonnage. Si cela est impossible, effectuer quatre mesurages sur la mme aire de mesure, en faisant chaque fois pivoter le palpeur de 9oo. 6.7 Magnetisme residue1 (revtements d
42、e type A seule- ment) Si le mtal de base prsente un magntisme rsiduel, il est ncessaire, en utilisant un instrument bipolaire utilisant un champ magntique stationnaire, deffectuer des mesurages dans deux orientations diffrentes, faisant entre elles un angle de 180. II peut tre ncessaire de dmagntise
43、r Iprouvette pour obte- nir des rsultats valables. 6.8 Propret de la surface Avant de procder aux mesurages, dbarrasser la surface de tous les corps trangers tels que salissures, graisse, produits corrosifs, etc., sans enlever le revtement. En procdant aux mesurages, viter dutiliser des surfaces prs
44、entant des dfauts visibles difficiles liminer, tels que rsidus de soudage ou de flux de brasage, taches dacide, scories ou oxyde. 6.9 Techniques Les rsultats obtenus peuvent dpendre de la technique de loprateur. Par exemple, la pression exerce sur un palpeur ou la vitesse dapplication de la force dq
45、uilibrage un aimant varieront dun individu un autre. Ces effets peuvent tre rduits ou rendus insignifiants, soit en faisant talonner Iinstru- ment par loprateur qui effectuera le mesurage, soit en utili- sant des palpeurs pression constante. 6.10 Positionnement du palpeur En gnral, le palpeur doit t
46、re dispos perpendiculairement la surface de Iprouvette, au point de mesurage. Avec certains 3 IS0 2361-1982 (FI instruments de type utilisant lattraction magntique, ceci est indispensable. Cependant, avec certains instruments, il est souhaitable dincliner lgrement le palpeur et de choisir langle din
47、clinaison donnant la lecture minimale. Si, sur une surface polie, les rsultats obtenus varient dans une large mesure avec langle dinclinaison, il est vraisemblable que le palpeur est us et doit tre remDlac. Si un instrument du type utilisant la force dattraction doit tre utilis en position horizontale ou renverse, il doit tre talonn spcialement pour cette position si le systme de mesurage nest pas support au centre de gravit. 7 Prcision exige Ltalonnage de lin
copyright@ 2008-2019 麦多课文库（www.mydoc123.com）网站版权所有
备案/许可证编号：苏ICP备17064731号-1