SJ T 10080-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电器CT5442／CT7442型4线-10线译码器 .pdf

1、L -i中华人民共和国电子工业行业标准SJ/T 1004210048-91SJ/T 10078.10086-91电子元器件详细规范半导体集成电路TTL电路(一)1991一04-08发布1991一07-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路CT5442/CT7442型4线一10线译码器(BCD输人)SJ/T 10080-91Detail specification for electronic componentsSemiconductor integrated circuitCT5442/CT7442 4-line-to-10-l

2、ine decoder (BCD-to-decimal)本规范规定了半导体集成电路CT5442/CT7442型4线一10线译码器(BCD输入)质量评定的全部内容。本标准符合GB 4589. 1半导体器件分立器件和集成电路总规范和GB/T 12750(半导体集成电路分规范(不包括混合电路)的要求。中华人民共和国机械电子工业部1991-04-08批准1991-07-0191132SJ/T 10080-91中华人民共和国机械电子工业部评定器件质量的依据:GB 4589.1半导体器件分立器件和集成电路总规范GB/T 12750半导体集成电路分规范(不包括混合电路)SJ/T 10080-91CT5442

3、/CT7442型4线一10线译码器(BCD输入)详细规范订货资料:见本规范第7章。机械说明简要说明外形依据:GB 7092半导体集成电路外形尺寸。外形图:GB 7092D型5.3条及5.3.1条J型5.4条及5.4.1条P型5.5条及5.5.1条F型5.1条及5.1.1条双极型译码器半导体材料:硅封装:空封、非空封逻辑图、功能表观本规范第n章。品种:引出端排列:叭0扣勺凡工Yg八拭0-70C (C)一55-125C (M)陶瓷直擂(D)CT5442MD黑瓷直插(J)CT7442CJCT5442MJ塑料直插(P)CT7442CP多层陶瓷扁平(F)CT5442MF工Y0lyl卜一卜一Y.一h-汽G

4、ND引出端符号名称见本规范11.4条。标志:按GB 4589. 1第2. 5条及本规范第6章。质t评定类别，A,，B,，C一133一SJ/T 10080-914极限值(绝对.大颇定值沙若无其他规定，适用于全工作温度范围。条软号参数符号数值单位最小最大4.1工作环境温度54T.mb一55125740704.2贮存温度了:t一551504.3电饵电压v+7v4.4输入电压V.5.5v4.5多发射极晶体管输入端间的电压v, ,5.5v5电工作条件和电特性电特性的检验要求见本规范第8章。5.1电工作条件若无其他规定，适用于全工作温度范围。条款号参数符号数值单位最小最大5.1.1电源电压54V亡亡4.5

5、5. 5v744.755. 255.1.2输入高电平电压v,2v5.1.3输入低电平电压VIL0.8v5.1.4输出高电平电流I-800拌A5.1.5墉出低电平电流lo,16mA5.2电特性若无其他规定，适用于全工作温度范围。一134一SJ/T 10080-91条款号特性和条件，符号规范值单位试验最小最大5.2.1输出高电平电压Va二最小Vw=2VV,=0.8v lox二一800yAvv2.4vA35.2.2输出低电平电压Vc二最小V,=2vV.=0.8V IOL=16mAV.L0.4vA35. 2. 3输人钳位电压V“最小1,二一12mAvu一1.5vA35.2.4输入高电平电流V-=最大V

6、，二2. 4V7,40uAA35.2.5输入低电平电流V-=最大V二二0.4V1一1.6爪AA35.2.6最大输入电压下的输入电流v-最大V,=5.5V1,1.AA35.2.7输出短路电流V-二最大54tos一20一55.AA374一18-555.2.8电探电流V-最大输出端开路输入端接地54lcc41mAA356745.2.9传翰时间Cc=15pF RL.=4000T,mb=25C Vcc=5V(二级门)乙.x25n，A4tPXL25(三级门)1-301丫HL30注1) V二为最小或最大按本规范第5.1.1条.6标志器件上的标志示例:适用O91tum1标志 -j r+一口CT7442CP88

7、16皿A一型号质月评定类别制造单位商标135SJ/T 10080-91若受器件尺寸限制时，允许将“检验批识别代码”、“质量评定类别”标在器件背面。了订货资料若无其他规定，订购器件至少需要下列资料:二产品型号;b.详细规范编号，c.质f评定类别，d.其他。8试验条件和检验要求抽样要求:根据采用的质量评定类别，参照GB/T 12750第9章的有关规定.A组检验的抽样要求分组AQL，类，类ILAQLILAQLA1I0.65I0.65A2I0.1二0.1A3I0.15I0.15AUS41.0S41.0A3bS41.0S41.0A4S41.0S41.0B组、C组和D组检验的抽样要求分组LTPD，类I类B

8、CB115一1515C120一2020C2b 一1515C315一15一15B4 C410 10B5 C51。一1。一10C6一2。一2。一2。一C715一15 I15一B8 C8一 一7一C9 一57一C1120一2。一2。一B2120 一10 I15C23 一15一C242010一15一D8 一5一7一136SJ/T 10080-91A组逐批全部试验均为非破坏性的(见GB 4589. I第3.6.6条)检验或试验引用标准条件若无其他规定.7.b= 25 IC(见GB 4589. 1第4. 1条)检验要求规范值Al分组外部目检GB 4589. 1.4.2.1.1条标志清晰，表面无损伤和气孔A

9、2分组25下的功能验证按本规范5. 2. 1条,5.2.2条和11.3条按本规范5. 2. 1条、5.2.2条和11.3条人3分组25下的静态特性GB 3439半导体集成电路rr1，电路侧试方法的基本原理按本规范5. 2. 1条至5.2.8条和10.1条按本规范5. 2. 1条至5.2.8条A3a分组最高工作祖度下的静态特性GB 3439Tamb按本规范4. 1条规定的最大值。条件:同A3分组同A3分组A3b分组最低工作温度下的静态特性GB 3439Tsmb按本规范4. 1条规定的最小值。条件:同A3分组 同A3分组一按本规范5一条A4分组25下的动态特性GB 3439按本规范5.2.9条B组

10、逐批标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589. 1第3.6.6条)检验或试验引用标准若无赫定，ilkTamb= 25:一(见GB 4589.1第4.1条，一一检验要求B1分组尺寸GB 4589. 1,4. 2. 2条及附录B按本规范第1章B4分组可焊性GB 4590半导体集成电路机械和气候试脸方法a2. 5条按方法b(槽焊法)按25.c条137SJ/T 10080-91B组逐批(续)检验或试验引用标准条件若无其他规定，7.b =25C(见GB 4589. 1第4.1条)检验要求规范值B5分组温度快速变化a空封器件随后进行电测t密封:细检漏GB 4590,3. 1条GB 4590,3. 11

11、条或3.12条GB 4590,3.13条GB 4590,3. 1条温度按本规范第4. 2条规定循环次数:10次1, = 5min同A2,A3分组恢复豁按规定同A2,A3分组粗检漏b.非空封和环氧封的空封器件随后进行:外部目检稼态湿热按规定温度按本规范第4. 2条规定循环次数:10次1. =5minGB 4589.1,4.2.1. 1条GB 4590,3.7条按规定严格度A时间:2411同Al分组电测tB8分组电耐久性(16811)最后测t(同A2,A3和A4分组)同A2,A3分组同A2、人3分组GB 4590,4.7条T.mb按本规范4. 1条规定的最大值，其他按本规范10. 3条同A2,A3

12、和A4分组一同A2、一分B21分组高压熬汽(D(非空封器件)最后恻里(同A2和A3分组)GB 4590,4.5条严格度C时间:241,同A2和A3分组同A2和A3分组CRRL分组就B4,B5,B8和B21分组提供计数检查结果。138SJ/T 10080-91C组周期标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589. 1第3.6.6条)温度快速变化(D)(非空封和环氧封的空封器件)随后进行:外部目检稳态湿热检验或试脸弓I用标准条件若无其他规定T.mb=25C(见GB 4589.1第4.1条)位验要求规范值C1分组尺寸GB 4589.1,d_夕_夕各乃附蚤R按本规范第1章C26分组最高和最低工作温度下

13、的动态特性-.-产动，.叫卜产.一心一一GB 3439温度按本规范4.1条同A4分组规范值为A4分组最大值的1. 5倍，最小值的0.8倍C3分组引线强度拉力(D)GB 4590半导体集成电路机械和气候试验方法外加力的值按2.1条表1按2.1.5条弯曲(D)C4分组耐焊接热(D)最后测t2.1条.2.2条GB 4590,2. 6条a:外加力的值按2.2条表2按方法1(260C槽焊)无损伤同A3分组150C同A1二电测t(同A3分组)C6分组，稳态加速度(D)(空封器件)最后测t(同A3分组)同A3分组同A3分组加速度:按规定GB 4590,2. 10条同A3分组同A3分组C7分组稳态湿热(D)a

14、.空封器件b.非空封器件最后测量(同A2,A3分组)GB 4590,3.6条GB 4590,3. 7条严格度D:56d严格度A时间100011同A2,A3分组139一SJ /T 10080-91C组周期(续)检验或试验引用标准条件若无其他规定，Tamb=25C(见GB 4589. 1第4.1条)检验要求规范值C8分组电耐久性(10001,)最后测t(同B8分组)GB 4590.4.7条同B8分组同B8分组同BS分组C9分组高温贮存最后侧量(同B8分组)GB 4590.3.3条温度按Z.,y(mxx)时间:1000h同B8分组同B8分组Cll分组标志耐久性GB 4590,4.3条按方法2.溶液A

15、型按GB 4590,4. 3. 2条C23分组抗溶性(1)(非空封器件)GB 4590.4.4条GB 4590,4.4.2条按GB 4590.4. 4. 2条C24分组易燃性(D)非空封器件)GB 4590.4.1条按GB 4590,4. 1. 2条按GB 4590. 4. 1. 2条CRRL分组就C2b,C3,C4,C5,C6,C7,C8,C9.Cll,C23、和C24分组提供计数检查结果.注1)连续三次通过后，周期可放宽为一年一次9 D组D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行，其后每年进行一次。检验或试验引用标准条件若无其他规定.7.b=25(见GB 4589_ 1第4.1条)检验要求规范值

16、D8分组电耐久性(D)最后测量(同B8分组)GB 4590第4.7条E类20001,.类30006其他同08分组同h8分组同B8分组10附加资料140SJ/T 10080-9110.1静态特性的测量静态特性的测量按GB 3439半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理。10.2动态特性的测量10.2.1动态特性的测量按GB 3439,10.2.2负载线路VII500Q接被侧输出端10.3电耐久性试验线路Vm=3V fo=l00kHz J,=50kHz fi=25kHz h=12.5kHz V-二5V 2二40052141SJ/T 10080-9111型号说明11.1逻辑符号11.2逻辑图14

17、2SJ/T 10080-9111.3功能表输入输出人，A, A, A,Y, YV:Y, Y, Y, Y, Y,Y。V，L L L IL 1, L HL L H LL L H HL H L IL H L HL H H IL H H HH L I. LH L L H1. H H H H H H H H HH I_ H H H H H H H HH H L H H H H H H HH H H L H H H H H HH H H H L H H H H HH H H H H L H H H HH H H H H H L H H HH H H H H H H L H HH H H H H H H H

18、 1. HH H H H H H H H H LH L H LH L H HH H L IH H L HH H H IH H H HH H H H H H H H H HH H H H H H H H H HH H H H H H H H H HH H H H H H H H H HH H H H H H H H H HH H H H H H H H H H11.4引出端符号名称引出端符号A.-A,Yo-Y,名称译码地址输入端十进制输出端(低电平有效)143SJ/T 10080-91附录A筛选(补充件)1类器件:生产厂自行规定啼选条件。，类器件:筛选项目和条件如下:等级A等级B内部GB 459

19、04.6条当内部目检GB 45904.6条高温稳定GB 45903.3条，150C,481,温度快速变化GB 4590 3.1条，一65-150C .10次稳态加速度，GB 45902.10条密封，GB 45903.12条和3.13条老化前电测量同A3分组剔除不合格品老化GB45904. 7条，Tmnb最大、1681老化后电测量同A3分组，剔除不合格品.若不合格品率大于5%，则该批拒收.等级C内部目检GB 45904.6条温度快速变化GB 4590 3.1条，一65-150C .10次稳态加速度，GB 45902.10条老化前电测量同A3分组剔除不合格品老化GAB 45904.7条，Temn最大、2钓h一老化后电测量同A3分组，月叮除不合格品若不合格命率大于一5%.则该批拒收.习老化GB 45904. 7条，了。山最大、1州注:1)不适用于非空封器件。一J住连SJ/T 10080-91附加说明:本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出。本标准由北京八七八厂负责起草。本标准主要起草人:孙人杰。145