SJ T 10804-2000 半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理.pdf

1、ICS 31.L 55备案号:2008120-2001中华人民共和国电子行业标准SJ/T 10804-2000半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理Semiconductor Integrated circuitsGeneral principles of measuring methods for level translator2000-12-28发布2001-03-01实施中华人民共和国信息产业部发布前言本标准在原国家标准GB 6797-86 6半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理的基础之上进行修订。本标准与GB 6797-86相比，所考虑参数基本相同，技术内容作了相应处理

2、，同时增加fos参数测试。本标准的编制修订有利于我国半导体集成电路行业的技术交流和经济交流。本标准代替GB 6797-860本标准由信息产业部提出。本标准由中国电子技术标准化研究所归口。本标准起草单位:中国电子技术标准化研究所。本标准主要起草人:李燕荣。本标准首次发布时间:1986年。目次1范围 .12引用标准 .13定义 .14要求15静态参数测试15.1输入柑位电压VIK一15.2输入高电平电压Viii .25.3输入低电平电压VIL 35.4输出钳位电压Vote45.5输出高电平电压VOH.55.6输出高电平闽值电压VoHT .65.7输出低电平电压凡:75.8输出低电平闽值电压Vou8

3、5.9输入电流It . .95.10输入高电平电流IIH，。.105.11输入低电平电流la.115.12输出高电平电流IOH. 125.13输出低电平电流IoL . 135.14输出高阻态时高电平电流lOZH145.15输出高阻态时低电平电流IOZL155.16电源电流,cc(几。、IEE165.17输出高电平时电源电流ICCH;175.18输出低电平时电源电流ICCL185.19输出短路电流los 196动态参数测试206.1输入电容C, . 206.2输出由低电平到高电平传输延迟时间tPLH 2 16.3输出由高电平到低电平传输延迟时间，PHL 226.4输出由高阻态到高电平传输延迟时间

4、IPZH 246.5输出由高阻态到低电平传输延迟时间tFZL 256.6输出由高电平到高阻态传输延迟时间tPHZ 276.7输出由低电平到高阻态传输延迟时间tPLZ 286.8输出由低电平到高电平转换延迟时间ITLH 296.9输出由高电平到低电平转换延迟时间tTHL 3 1中华人民共和国电子行业标准半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理SJ/T 10804-2000代替GB/T 6797-86Semiconductor integrated circuitsGeneral principles of measuring methods for level translator1主题内容与

5、适用范围本规范规定了半导体集成电路电平转换器(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路双极型电平转换器电特性的测试。2引用文件SJ/T 10734-%半导体集成电路文字符号电参数文字符号3定义本标准所有参数符号和定义符合SJ/T 10734的规定。4要求4. 1若无特殊说明，测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定.4.2测试期间，应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定。4.3测试期间，施于被测器件的电源电压的误差应在规定值的11%以内;施于被测器件的其他电参量的准确度应符合器件详细规范的规定。4.4被

6、测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。4.5被测器件有内部存储或滞后现象时，应规定预置条件。4.6 ;ail试期间。应避免因静电放电而引起器件损伤。静态参数测试输入钳位电压VIK5.1.1目的测试带有附加钳位二极管的输入端的输入钳位电压。5.1.2测试电路图中华人民共和国信息产业部2000-12-28批准2001-03-01实施一1一SJ/T 10804-2000VIK的测试电路图如图1所示。图15.1.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定:a.环境或参考点温度;b.电源电压;c.输入端流出电流I, K;d.输出端开路。5.1.4测试程序5.1.4.1在

7、规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5.1.4.2电源端施加规定的电压。5.1.4.3被测输入端流出规定的电流爪;其余输入端施加规定的条件。5.1.4.4在被测输入端测得V,K,5.1.4.5按本标准5.1.4.3 -5.1.4.4的规定，分别测试每个输入端.5.2输入高电平电压VIx5.2. 1目的输出电压为规定值时，测试输入端所施加的最小高电平电压。5.2.2测试电路图VIH的测试电路图如图2所示。SJ/T 10804-2000图25.2.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定:a.环境或参考点温度;b.电源电压:c.输入端条件:d.输出端电压Voe5. 2. 4

8、测试程序5.2.4. 1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5.2.4.2电源端施加规定的电压。5.2.4.3非被测输入端施加规定的条件。5.2.4.4调节被测输入端输入电压哟，使输出端电压凡为规定的数值。该输入电压即为VIH,5.2.4.5按本标准5.2.4.3-5.2.4.4的规定，分别测试每个输入端。5.3输入低电平电压KL5.3. 1目的输出端电压为规定值时，测试输入端所施加的最大低电平电压。5.3.2测试电路图V:的测试电路图如图3所示。SJ/T 10804-2000图35.3.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定:a.环境或参考点温度:b.电源电压:c

9、.输入端条件:d.输出端电压Voo5.3.4测试程序5.3.4. 1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5.3.4.2电源端施加规定的电压。5.3.4.3非被测输入端施加规定的条件。5.3.4.4调节被测输入端输入电压V,，使输出端电压Vo刚为规定的数值.该输入电压即为V,L,5.3.4.5按本标准5.3.4.3-5.3.4.4的规定，分别测试每个输入端。5.4输出钳位电压凡K5.41目的测试输出端在流出规定电流时的电压。5.4.2测试电路图凡K的测试电路图如图4所示。SJ/T 10804-2000图45.4.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定:a.环境或参考点

10、温度;b.电源电压:c.输出端抽出电流10K-5.44测试程序5.4.4. 1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5.4.4.2电源端施加规定的电压。5.4.4.3输入端接地。5.4.4.4被测输出端流出规定的电压IOK;其余输出端开路。5.4.4.5在被测输出端测得VOK05.4.4.6按本标准5.4.4.3 5.4.4.5的规定，分别测试每个输出端。5.5输出高电平电压VOx5.5. 1目的输入端在施加规定的条件下，测试输出端为高电平时的电压。5.5.2测试电路图VO“的测试电路图如图5所示。SJ/T 10804-2000电源VOH被测器件瓜队魔图55.5.3测试条件测试期间，下

11、列测试条件应符合器件详细规范的规定:a.环境或参考点温度;b.电源电压:c.输入端条件;d输出端施加电流10.5.5.4测试程序5.5.4.1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5.5.4.2电源端施加规定的电压。5.5.4.3输入端施加规定的条件。5.5.4.4被测输出端施加电流to;其余输出端开路。5.5.4.5在被测输出端测得VOH,5.5.4.6按本标准5.5.4.3-5.5.4.5的规定，分别测试每个输出端。5.6输出高电平闽值电压玛HT5. 6. 1.目的输入端在施加规定的闻值电平卜，测试输出端为高电平时的阐值电压。5. 6.2测试电路图v-的测试电路图如图6所示。SJ/

12、T 10804-2000图65.6.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定:a.环境或参考点温度;b.电源电压;c.输入端施加的阐值电平;d.输出负载。5.6.4测试程序5.6.4. 1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5.6.4.2电源端施加规定的电压。5.6.4.3输入端施加规定的阐值电平。5.6.4.4被测输出端施加规定的输出负载;其余输出端开路。5.6.4.5在被测输出端测得VOHT=5.6.4.6按本标准5.6.4.3- 5.6.4.5的规定，分别测试每个输出端。5.7输出低电平电压凡L5.7.1目的输入端在施加规定的条件F，测试输出端为低电平时的电压。

13、5. 7.2测试电路图玲L的测试电路图如图7所示。SJ/T 10804-2000电源VOL被测器件输入网络!厂图75.7.3测试条件测试期间，F列测试条件应符合器件详细规范的规定:a.环境或参考点温度:b.电源电压:输入端条件;d.输出端施加电流10.5.7.4测试程序5.7.4. 1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5.7.4.2电源端施加规定的电压.5.7.4. 3输入端施加规定的条件。5.7.4.4被测输出端施加规定的电流10;其余输出端开路。5.7.4. 5在被测输出端测得几L05.7.4. 6按本标准5.7.4.3 - 5.7.4.5的规定，分别测试每个输出端。5.8输出

14、低电平闽值电压VOLT5.8.1目的输入端在施加规定的闲值电平下，测试输出端为低电平时的阐值电压。5.82测试电路图VOL丁的测试电路图如图8所示。SJ/T 10804-2000图85.8.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定:a.环境或参考点温度;b.电源电压;c.输入端施加的阐值电平:d.输出负载。5.8.4测试程序5.8.4. 1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5.8.4.2电源端施加规定的电压。5.8.4.3输入端施加规定的闭值电平。5.8.4.4被测输出端施加规定的输出负载;其余输出端开路。5.8.4.5在被测输出端测得VOLT 05.8.4.6按本

15、标准5.8.4.3.5.8.4.5的规定，分别测试每个输出端。5.9输入电流115.9.1目的输入端在施加规定的最大输入电压时，测试流入器件的电流。5.9.2测试电路图石的测试电路图如图9所示。SJ/T 10804-2000图95.9.3测试条件测试期间，一卜列测试条件应符合器件详细规范的规定:a.环境或参考点温度:b.电源电压;c.最大输入电压, ;d.输入端条件;已输出端开路。5.9.4测试程序5.9.4.1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5.9.4.2电源端施加规定的电压。5.9.4.3被测输入端施加规定的最大输入电压私;其余输入端施加规定的条件。5.9.4.4在被测输入端

16、测得石。5.9.4.5按本标准5.9.4.3 5.9.4.4的规定分别测试每个输入端。5. 10输入高电平电流fix5.10.1定义输入端在施加规定的高电平电压时，测试流入器件的电流。5. 10.2测试电路图I,。的测试电路图如图10所示。SJ/T 10804-2000图105. 10.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定:a.环境或参考点温度:b.电源电压;输入高电平电压VII A:d.输入端条件;e.输出端开路。5.10.4测试程序5. 10.4.1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5. 10.4.2电源端施加规定的电压。5. 10.4.3被测输入端施加规定

17、的最大高电平电压Val;其余输入端施加规定的条件.5. 10. 4. 4在被测输入端测得人。5.10.4.5按本标准5.10.4.3-5.10.4.4的规定，分别测试每个输入端。5. 11输入低电平电流II L5.11.1目的输入端在施加规定的低电平电压时，测试流出器件的电流。5. 11.2测试电路图III的测试电路图如图11所示。SJ/T 10804-2000图115. 11.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定:a.环境或参考点温度;b.电源电压;C.输入低电平电压VIL;d_输入端条件;e.输出端开路。5.11.4测试程序5.11.4.1在规定的环境条件下，将被测器件

18、接入测试系统中。5.11.4.2电源端施加规定的电压。5.11.4.3被测输入端施加规定的输入低电平电压KL;其余输入端施加规定的条件。5.11.4.4在被测输入端测得IL e5.11.4.5按本标准5.11.4.3-5.11.4.4的规定.分别测试每个输入端。5. 12输出高电平电流I0x5. 12. 1目的测试输入端在施加规定的条件使输出为高电平时，输出端流出器件的电流。5. 12.2测试电路图10。的测试电路图如图12所示。SJ/T 10804-2000图125. 12.3测试条件侧试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定:a.环境或参考点温度:b.电源电压:c输入端条件;d.输出端

19、施加的电压几 o5.12. 4测试程序5.12.4. 1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5. 12.4.2电源端施加规定的电压。5. 12. 4. 3输入端施加规定的条件。5.12.4.4被测输出端施加规定的电压凡;其余输出端开路。5.12.4.5在被测输出端测得IOx5. 12.4.6按本标准5.12.4.3- 5.12.4.5的规定，分别测试每个输出端。5. 13输出低电平电流IOL5. 13. 1目的测试输入端在施加规定的条件使输出为低电平时，输出端流入器件的电流。5.13.2侧试电路图IOL的测试电路图如图13所示。SJ/T 10804-2000图135.13.3测试条件

20、测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定:a.环境或参考点A度:b，电源电压;c.输入端条件:d.输出端施加的电压Vo,5. 13.4测试程序5. 13.4. 1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中.5. 13.4.2电源端施加规定的电压.5. 13.4.3输入端施加规定的条件。5.13.4.4被测输出端施加规定的电压吮:其余输出端开路。5. 13.4.5在被测输出端测得Ion,5. 13.4.6按本标准5.13.4.3-5.13.4.5的规定，分别测试每个输出端。5. 14输出高阻态时高电平电流IOZH5. 14. 1目的测试三态输出器件.三态控制端在施加规定的电压使输出为高阻

21、态时，输出端施加规定的高电平电压下流入器件的电流。5. 14.2测试电路图Iozx的测试电路图如图14所示。SJ/T 10804-2000图145. 14.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定:a.环境或参考点温度;b.电源电压;c.输入端条件;d.输出端施加的高电平电压Voo5. 14.4测试程序5. 14.4. 1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5. 14.4.2电源端施加规定的电压。5. 14.4.3输入端施加规定的条件。5.14.4.4被测输出端施加规定的高电平电压吮;其余输出端开路。5. 14.4.5在被测输出端测得IOZH5. 14.4.6按本标准

22、5.14.4.3-5.14.4.5的规定，分别测试每个输出端。5. 15输出高阻态时低电平电流IOZL5.15.1目的测试三态输出器件，三态控制端在施加规定的电压使输出为高阻态时，输出端施加规定的低电平电压下流出器件的电流。5. 15.2测试电路图IOZL的测试电路图如图15所示。SJ/T 10804-2000图155.15.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定:a.环境或参考点温度;b.电源电压:c.输入端条件;d.输出端施加的低电平电压VD o5. 15.4测试程序5. 15.4. 1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5. 15.4.2电源端施加规定的电压。

23、5. 15.4.3输入端施加规定的条件。5. 15.4.4被测输出端施加规定的低电平电压Vo;其余输出端开路。5. 15.4.5在被测输出端测得IDZi5. 15.4.6按本标准5.15.4.3-5.15.4.5的规定，分别测试每个输出端。5. 16电源电流ICC (DD IEE)5. 16. 1目的测试输入端在施加规定的条件下，流经电源端的电流。5. 16. 2测试电路图IC。和ID。的测试电路图如图16所示，IEE的测试电路图如图17所示。SJ/T 10804-2000图16图175. 16.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定:a.环境或参考点温度:b.电源电压;c.

24、输入端条件;d.输出端开路。5. 16.4测试程序5. 16.4. 1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5. 16.4.2电源端施加规定的电压。5. 16.4.3输入端施加规定的条件。5.16.4.4在电源端测得,CC (Ioo. IEE)o5.17输出高电平时电源电流ICCH5. 17. 1目的测试输入端在施加规定的条件下，使输出为高电平时，经电源端流入器件的电流。5. 17.2测试电路图ICCH的测试电路图如图18所示。SJ/T 10804-2000图185. 17.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定:a.环境或参考点温度;b.电源电压;c.输入端条件;d

25、.输出端开路。5. 17.4测试程序5. 17.4. 1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5. 17.4.2电源端施加规定的电压。5. 17.4.3输入端施加规定的条件。5.17.4.4在电源端M得Iccx5.18输出低电平时电源电流ICCL5. 18. 1目的测试输入端在施加规定的条件下，使输出为低电平时，经电源端流入器件的电流。5.18.2测试电路图ICCL的测试电路图如图19所示。SJ/T 10804-2000图195.18.3测试条件测试期间.下列测试条件应符合器件详细规范的规定:a.环境或参考点温度;b.电源电压;。.输入端条件;d.输出端开路。5,18.4测试程序5.1

26、8.4.1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5. 18.4.2电源端施加规定的电压。5.18. 4. 3输入端施加规定的条件。5. 18.4.4在电源端测得Icci5.19输出短路电流los5.19.1目的输入端在施加规定的电平下，测试输出为高电平时输出端对地短路的电流。5.19.2测试电路图Ios的测试电路图如图20所示。图20SJ/T 10804-20005.19.3侧试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定:a.环境或参考点温度;b.电源电压;c.输入端施加的电平。5.19.4测试程序5.19.4. 1在器件详细规范规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。5.

27、19.4.2电源端施加规定的电压。5. 19.4.3输入端施加规定的电平。5.19.4.4被测输出端对地短路;其余输出端开路。5.19.4.5在被测输出端测得输出短路电流lose5. 19.4.6按本标准5.19.4.3至5.19.4.5的规定，分别测试每个输出端。5，19.5注意事项每次测试的时间应小于1秒钟。6动态参数测试6. 1输入电容C,6.1.1目的在规定的测试条件下，测试输入端相对于地端的电容值。6. 1.2测试电路图口的测试电路图如图21所示。图216.1.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定:a.环境或参考点温度;b.电源电压;c.输入端条件:d.输入电压V

28、,一20一SJ/T 10804-2000e. C,.q、L,. L2;f.输出端开路;9.测试频率。6.1:4测试程序6.1.4.1在规定的环境条件下，将电容电桥调至平衡，然后将被测器件接入测试系统中。6.1.4.2电源端施加规定的电压。6.1.4.3被测输入端施加规定的输入电压V,:其余输入端施加规定的条件。6.1.4.4将电容电桥调至平衡，即测得Cl.6.1.4.5按本标准6.1.4.3-6.1.4.4的规定，分别测试每个输入端。6.1.5除另有规定外，在测试频率条件下电容C,.二应呈短路:电感L, L:应呈高阻。6.2输出由低电平到高电平传输延迟时间PLH6.2.1目的测试输入端在施加规

29、定的条件时，输出脉冲电压由低电平到高电平的边沿和对应的/输入脉冲电压边沿上规定的参考电平间的时间。6.2.2测试电路图1PLH的测试电路图如图22所示。图22tPL。的波形图如图23所示。SJ/T 10804-2000tPL。的波形图如图23所示。输入脉冲电压输出脉冲电压株(札)VRell0 V(气)VOHVuev0几LV图236.2.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定:a.环境或参考点温度:b.电源电压;c.输入端条件;d.输入脉冲电压的幅度心(珠、气)、频率弄宽度tw、上升时间、下降时间tL:e.输出负载:f.参考电压VREF-6. 2. 4测试程序6.2.4.1在规

30、定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。6.2.4.2电源端施加规定的电压。6.2.4.3被测输入端施加规定的脉冲电压;其余输入端施加详细规范的电压。6.2.4.4被测输出端施加规定的输出负载:其余输出端开路。6.2.4.5在被测输出端输出脉冲电压由低电平到高电平的边沿上参考电压株。处和对应的输入脉冲电压边沿上参考电压VREF:处之间测得tPLH 6. 2. 4 P按本标准6.2.4.3-6.2.4.5的规定，分别测试有关输入、输出端。6.3输出由高电平到低电平传输延迟时间tPHL6.3. 1目的测试输入端在施加规定的条件时，输出脉冲电压由高电平到低电平的边沿和对应的输入脉冲电压边沿上规定的

31、参考电压间的时间。6.3.2测试电路图tPHL的测试电路图如图24所示。SJ/T 10804-2000图24tPHL的波形图如图25所示。输入脉冲电压输出脉冲电压V.(VH)VAEFIQ V(气)VM气FOVaVOxVPEFOV-图256.3.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定:a.环境或参考点温度;b.电源电压;c.输入端条件;d.输入脉冲电压的幅度K。(价、吮)、频率不宽度、上升时间1,. F降时间IF:一2SJ/T 10804-2000e输出负载;f.参考电压蛛EF06.3.4测试程序6. 3.4. 1在规定的环境条件一，将被测器件接入测试系统中。6.3.4. 2电

32、源端施加规定的电压。6.3.4.3被测输入端施加规定的脉冲电压:其余输入端施加规定的条件。6.3.4.4被测输出端施加规定的输出负载:其余输出端开路。6.3.4.5在被测输出端输出脉冲电压由高电平到低电平的边沿上参考电压蛛EF。处和对应的输入脉冲电压边沿上参考电压暇EF，处之间测得tPHL 06.3.4.6按本标准6.3.4.3 6.3.4.5的规定，分别测试有关输入、输出端。6.4输出由高阻态到高电平传输延迟时间tPZH6.4. 1目的测试三态输出的器件，三态控制端在施加规定的脉冲电压时，输出脉冲电压由高阻态到高电平的边沿和对应的输入脉冲电压边沿上规定的参考电压间的时间。6.4.2测试电路图

33、tPZH的测试电路图如图26所示。图26SJ/T 10804-2000tpzH的波形图如图27所示。峨临ov际ha控制脉冲电压输出脉冲电压x0 V图276.4.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定:a.环境或参考点温度:b.电源电压;c.输入端条件;d.输入脉冲电压的幅度V,频率I“宽度t,、上升时间t,、一F降时间!If;e.输出负裁f参考电压蛛EF“6.4.4测试程序6.4.4.1在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中。6.4.4.2电源端施加规定的电压。6.4.4.3三态控制端施加规定的脉冲电压:其余输入端施加规定的条件。6.4.4.4被测输出端施加规定的输出负

34、载;其余输出端开路。6.4.4.5在被测输出端输出脉冲电压由高阻态到高电平的边沿上参考电压VREF。处和对应的输入脉冲电压边沿上参考电压VREF，处之间测得tPZH 06.4.4.6按本标准6.4,4.3-6.4.4.5的规定，分别测试有关三态控制端、输出端。6.5输出由高阻态到低电平传输延迟时间tPZL6.5. 1目的测试三态输出的器件，三态控制端在施加规定的脉冲电压时，输出脉冲电压由高阻态到低电平的边沿和对应的输入脉冲电压边沿上规定的参考电压间的时间。6.5.2测试电路图IPZ:的测试电路图如图28所示。SJ/T 10804-2000图28tPZL的波形图如图29所示。EFVF月打卜n月控

35、制脉冲电压输出脉冲电压图296.5.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定:a.环境或参考点温度:b.电源电压:C输入端条件:d输入脉冲电压的幅度心、频率办宽度t,、上升时间t,、下降时间tf:e输出负载:f.参考电压VREF06.5.4测试程序6.5. 4. 1在规定的环境条门卜，将被测器件接入测试系统中6.5.4.2电源端施加规定的电压。一26一SJ/T 10604-20006. 5.4. 3三态控制端施加规定的脉冲电压:其余输入端施加规定的条件。6.5.4.4被测输出端施加规定的输出负载:其余输出端开路。6.5.4.5在被测输出端输出脉冲电压由高阻态至低电平的边沿上参考电压玖EF。处和对应的输入脉冲电压边沿上参考电压蛛EF。处之间测得tPZL6.5.4. 6按本标准6.5.4.3-6.5.4.5的规定，分别测试有关三态控制端、输出端。6. 6输出由高电平到高阻态传输延迟时间tpHZ6. 6. 1目的测试三态输出的器件，三态控制端在施加规定的脉冲电压时，输出脉冲电压由高电平到高阻态的边沿和对应的输入脉冲电压边沿上规定的参考电压间的时间。6.6.2测试电路图tpHZ的测试电路图如图30所示。图30tpHZ的波形图如图31所示.气偏ov控制脉冲电压输出脉冲电压VOHYO.刁5V-1.5 V图31