GB T 18268-2000 测量、控制和实验室用的电设备电磁兼容性要求.pdf

1、GB/T 18268 2000 前当日本标准等同采用国际标准IEC61326-1: 1997 11 k V 射频场感应的传导骚扰GB/T 17626. 6 3V lH Ii GB/T 18268-2000 表1(完)端口试验项目基础标准试验值电快速瞬变脉冲群GB/T 17626.4 1 kV 直流电源.，浪湘(冲击)GB/T 17626. 5 0.5 kV 11 kV 射频场感应的传导骚扰GB/T 17626.6 3V 电快速瞬变脉冲群GB/T 17626.4 0.5 kV I10信号/控制浪涌(冲击)GB/T 17626.5 1 kVZ) 3) 射频场感应的传导骚扰GB/T 17626.6

2、3 Vl 电快速瞬变脉冲群GB/T 17626.4 1 kV 直接与电源相连的浪涌(冲击)GB/T 17626.5 0.5 kV 11 kV 1/0倍号/控制射频场感应的传导骚扰GB/T 17626.6 3V 1)线对线.2)线对地.3)仅适用于长距离线的情况(见3.6) 。仅运用于线路长度超过3m的情况，对接地端口的试验没有单独规定，因为它们包含在相应的基础标准中z一一专用的保护接地端口作为交流电源端口进行试验;功能性接地作为1/0端口进行试验。在进行试验时，设备不应该出现危险和不安全性的后果。6. 3 系统和应用方面如果对于特殊的应用，需要更高的等级或需要对系统方面其他现象进行试验，则应该

3、提高抗扰度或者是在安装中采用缓解措施。6.4 偶然性方商在试验期间，性能判据应该是可观察的，并且不应该是一个偶然现象.试验持续时间和试验次数应足以试验电磁兼容试验方案中规定的受试设备的每个功能。对自动(微处理器)控制受试设备进行试验时，应特别注意这一点。注例如，当对一台数字设备进行静电放电试验时，应对受试设备在正负极性、各试验点和各试验等级进行至少10次的放电试验以排除偶然性结果，在电快速瞬变脉冲群试验中，延长试验时间至大于1min可能是可取的6. 5 性能判据以下是评定抗扰度试验结果的通用原则(性能判据), 性能判据1，试验时，在技术规范极限内性能正常。伊U1 , 如果某电子设备有一个中央处

4、理单元，并且要求工作时可靠性高，那么处理器工作时性能不能有偏离于制造商所规定技术规范的明显降级。性能判据2，试验时，功能或性能暂时降低或丧失，但能自行恢复。例1: 数据传送通过奇偶校验或通过其它方法来控制和校验。例如由雷击引起的不正常工作时，数据传送将自动重复-次，这时降低的数据传送速率是可以接受的。例2，试验时，模拟功能数值出现一可容许的偏差。试验后，偏差消失。例3，在一个监视器只用作人机监视时，出现短时间的性能下降是可以接受的，例如在施加脉冲群时出181 G/T 182682000 现闪烁。性能判据3，试验时，功能或性能暂时降低或丧失，但需要操作者干预或系统复位。例1, 当主电源的中断比规

5、定的缓冲时间要长时，设备的供电单元被切断。供电电源的接通可能是自动的或由操作者进行。例2, 在骚扰引起程序中断后，设备的处理器功能应在安全位置停止下来，并且不会处于毁损状态。可能需要给出提示，以让操作者作出判定。伊tl3 , 试验导致过流保护装置断路，由操作者更换或复位该过流保护装置。性能判据4，由于设备、元器件、软件的损坏，或数据丢失，造成不能恢复的降级或功能丧失。对于性能判据2和3，如果在试验信号施加过程中，受试设备表现出规定的抗扰度，并且在试验结束后，受试设备满足产品技术规范中规定的功能性要求那么受试设备就通过了试验。性能判据4通常是不可接受的。因为不可能对每个现象给出唯一的性能判据，所

6、以给出以下导则z检查某一设备般能满足的功能;一根据与现象有关的装置功能，确定性能如j据。表2中给出了一些可能的组合示例。如果客户请求应提供不同的功能方面的性能判据。表2抗扰度试验结果评定示例最重要的运行连续非监控(功能安全)运行静电放电CESDl1 2 GB/T 17626. 2 射频电磁场辐射I l G/T 17626. 3 电快速瞬变脉冲群1 2 GB/T 17626. 4 浪涌(冲击)1 2 GB/T 17626. 5 射频场感应的传导骚扰1 1 GB/T 17626. 6 电压暂降、垣时中断和电压变化2 GB/T 17626. 11 连续监控不连续运行运行2 3 1 2 2 2 2 3

7、 1 3 3 3 注:对于型式试验，极力推荐对于所有的试验项目均选择性能判据L但是，对相关的功能和试验组合，如果技术规范和试验报告都对这种偏离川以强调，则性能判据2和/或3也可接受。7 发射要求某些控制设备在国家规定不予要求时，本标准所述的发射要求不适用。7. 1 测量条件测量应该按照电磁兼容试验方案在工作状态下进行(见第5章)。注z本标准所包吉的传导发射限值是按端口逐个给出的e试验、试验方法和试验配置的描述在表3和表4中所列的引用标准中给出。引用标准的内容在这里不再复述s但是，本标准给出了实际进行试验时需要的修改或附加的信息。1 日2?2 发射限值表3中给出了A类设备的发射限值。表4中给出了

8、B类设备的发射限值。GB/T 18268 2000 应该考虑预期使用区域的环境和发射规定后再进行选择表3或表4中的值。如果设备符合表3中的限值，但不符合表4中的限值，则应该在产品技术规范中加以说明。对使用于工业、科学、医疗频率的设备，见GB48240 表3A类设备发射限值端口频率范围限值引用标准MHz 30-230 准峰值40dBCV!m)，测量距离10m GB!T 6113.1及外壳GB!丁6113.2230-1 000 准峰值47dBCV!m)，测量距离10m 准峰值79dBV 0.15-0.5 平均值66dBV 交流电源准峰值73dBV GB!T 6113.1及0.5-5 平均值60dB

9、V GB/T 6113.2 5-30 准峰值73dBV 平均值60dBV 1)关于替代试验场地，见GB9254二1998的附录A(标准的附录)。表4B类设备发射限值端口频率范围MHz 限值引用标准30-230 J准峰值30dBCfV!m)，测量距离10m GB/T 6113.1及外壳GB!T 6113.2 230-1 000 准峰值37dBC f V 1m)，测量距离10m 按引用标准规定GB/T 17625. 1 。-0.002GB/T 17625.2 准峰值66-56dBV 0.15-0.5 平均值56-46dBV 交流电源限值随频率的对数呈线性降低准峰值56dBV GB/T 6113.1

10、及0.5-5 GB/T 6113.2 平均值46dBfV 5-30 准峰值60dBV 平均值50dB.V 1)关于替代试验场地，见GB92541998附录A(标准的附录。2)对于不连续骚扰的试验和测量，见GB4343 , 8 试验结果和试验报告试验结果应记录在一份综合的试验报告中，该试验报告应具有足够多的细节以提供试验可重复性。试验报告至少应包含以下信息:一一受试设备的描述;电磁兼容试验方案;试验数据和结果;试验设备和配置。183 GB!T 18268-2000 附录A(标准的附录)用于工业场所的设备抗扰度试验要求本附录适用于预期安装在工业场所使用的仪表和装置(包括用于高等级骚扰源附近的所有设

11、备)。注z非专为工业场所使用设计的设备可以通过控制安装和/或使用过程中的电磁环境使用。表Al预期用于工业场所的设备抗扰度试验要求瑞口试验项目基础标准试验值静电放电(ESD)GB!T 17626. 2 接触放电4kV I空气放电8kV 外壳射频电磁场辐射GB/T 17626. 3 10 V/m 工频磁场GB/T 17626.8 30 A/m5l 电压暂降、短时中断和电压变化GB/T 17626. 11 各极性。.5周期，降低100%电快速瞬变脉冲群GB/T 17626. 4 2 kV 交流电踊浪涌(冲击GB/T 17626. 5 1 kV /2 kV 射频场感应的传导骚扰GB/T 17626.

12、6 3 V6l 电快速瞬变脉冲群GB/T 17626. 4 2 kV 直流电源浪涌(冲击)GB/T 17626. 5 1 kV /2 kV 射频场感应的传导骚扰GB/T 17626. 6 3V们电快速瞬变脉冲群GB/T 17626.4 1 kV 1/0倍号/控制浪涌(冲击)GB/T 17626. 5 1 kV2)1 射频场的传导骚扰GB/T 17626. 6 3 V直接与供电电快速瞬变脉冲群GB/T 17626. 4 2 kV 网络相连的浪涌(冲击)GB/T 17626. 5 1 kV /2 kV 1/0信号/控制端口射频场感应的传导骚扰GB/T 17626. 6 3 V6) 1 )线对线。z

13、)线对地团3)仅适用于长距离线的情况(见3.6)。4)仅适用于线路长度超过3m的情况。5)仅适用于对磁场敏感的设备。当磁场强度大于1A/m时，允许阴极射线管的显示干扰。6)传导射频试验的试验等级较辐射射频试验的试验等级低，这是由于传导射频试验在每个频率上模拟了谐振状态，因此是一种较严酷的试验。7)设备/系统各部分间的直流连接，如没有连接到直梳配电网络，应当作为1/0信号/控制端口处理。附录B(标准的附录)在受控电磁环境中使用的设备抗扰度试验要求本附录所涵盖的设备是指用于具有受控电磁环境的实验室或试验和测量区域的设备。制造商应指明符合表Bl要求的设备是被设计在受控的电磁环境中工作，即在附近不能使

14、用诸如移动电话之类的射频发射机。1St GB/T 18268-2000 沌l 通常，分析、试验和服务实验室具有受控的电磁环境，并且这些区域的工作人员通常显经过蜻训的，能够解释结果。所以，表BI中的民验值比表1中的试验值严酷程度低。2 如果在附近使用射频发射机，它们可能会干扰本标准泡围内的设备。表Bl在受控电磁环境中使用的设备抗扰度试验要求端口试验项目基础标准试验值外壳静电放电(ESDlGB/T 17626. 2 接触放电4kV.空气放电8kV 射频电磁场辐射GI3/T 17626. 3 1 V/m 电压暂降、短时中断和电压变化GB/T 17626. 11 各极性0.5周期，降低100%电快速瞬

15、变脉冲群GB/T 17626. 4 1 kV 交流电源浪涌冲击)GH/T 17626. 5 0.5 kVu /1 kV射频场感应的传导骚扰GB/T 17626. 6 1 V 电快速瞬变脉冲群GB/T 17626. 4 1 kY 亘流电源3川浪涌冲击)GB!T 17626目5不要求射频场感应的传导骚扰GB/T 17626. 6 1 Y 电快速瞬变脉冲群GB/T 17626. 4 0.5 kY I!O信号/控制浪涌(冲击)GB/T 17626. 5 不要求射频场感应的传导骚扰GB/T 17626.6 1 V3J 电快速瞬变脉冲群GB/T 17626.4 X 测量I!O浪涌(冲击)GB/T 1762

16、6. 5 不要求射频场感应的传导骚扰GH/T 17626. 6 XS) 1)线开I线。2)线对地。3)仅适用于线路长度翘过3m的情况。的设备/景统各部分间的直流连接，如没有连接到直流配电网络，应当作为1/0信号/控制端口处理。S)额定骚扰值在制造商的产品的技术规范中说明。附录C(标准的附录)便魏式试验和测量设备的抗扰度试验要求本附录所涵盖的设备是指由电池或由被测线路供电的便携式试验和测量设备。在充电时能进行操作的设备不包括在本附录的范围内。注l 丰标准泡围内试验和测量设备能被用于许多场所，但由能够解释所获结果的工作人员使用。如果这些设备被连接到供电电源，般来说，这种连接仅仅是通过它们的试验或测量引线来实现的，并且只短期的试验。因此，表C1的试验值比表I的试验值严酷程度低。2 如果在附近使用射频发射机，自们可能会干扰本标准范围内的设备。185 GB!T 18268-2000 表Cl便携式试验和测量设备的抗扰度试验要求喘口试验项目基础标准试验值外壳静电放电(ESDlGB!T 17626. 2 接触放电4kV，空气放电8kV 射频电磁场辐射GB!T 17626.3 3 V!m 对本标准范围内的产品所使用的电源充电器没有更进一步的要求。18 ,