DB42 T 2096-2023 绿松石 钾、钒、铬、锌、钼、钡含量的测定 X射线荧光光谱法.pdf

1、 ICS 39 CCS D 59 DB42 湖北省地方标准 DB42/T 20962023 绿松石 钾、钒、铬、锌、钼、钡含量的测定 X 射线荧光光谱法 TurquoiseDetermination of potassium,vanadium,chromium,zinc,molybdenum,barium contentX-ray fluorescence spectrometry 2023-09-27 发布2023-11-27 实施湖北省市场监督管理局发 布 DB42/T 20962023 I 目次 前言.III 引言.1 范围.1 2 规范性引用文件.1 3 术语和定义.1 4 原理.1

2、5 仪器设备.1 6 样品.2 7 试验步骤.2 8 试验数据处理.2 9 精密度.3 10 试验报告.3 附录 A（资料性）X 射线荧光光谱仪参考测量条件.4 附录 B（规范性）试样结果接受程序流程图.5 DB42/T 20962023 III 前言 本文件按照GB/T 1.12020标准化工作导则 第1部分：标准化文件的结构和起草规则的规定起草。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由中国地质大学（武汉）珠宝学院提出。本文件由湖北省自然资源厅归口。本文件起草单位：中国地质大学（武汉）珠宝学院、湖北松石检测技术有限公司、竹山县绿松石产业服务中心、中国

3、地质大学（武汉）珠宝检测中心、武汉中地大珠宝检测有限公司。本文件主要起草人：杨明星、狄敬如、田胜国、邵际群、陶冲、刘玲、何翀。本文件实施应用中的疑问，可咨询湖北省自然资源厅，电话：027-86656061，邮箱：；本文件的有关修改意见建议请反馈至中国地质大学（武汉）珠宝学院，电话：027-87481007，邮箱：。DB42/T 20962023 V 引言 本文件作为绿松石微量元素含量的测定方法，可与DB42/T 769地理标志产品 竹山绿松石配套使用。文件中选定的几种元素具有明显的产地指征意义，能够为绿松石产地溯源提供必要的科学依据。DB42/T 20962023 1 绿松石 钾、钒、铬、锌、

4、钼、钡含量的测定 X 射线荧光光谱法 1 范围 本文件规定了绿松石中钾、钒、铬、锌、钼、钡含量的测定方法。本文件适用于绿松石中钾、钒、铬、锌、钼、钡含量的测定，各成分测定范围见表1。表1 各成分测定范围成分 测定范围/wt.%K2O0.031 0.510V0.004 0.460Cr0.003 1.06ZnO0.016 8.14Mo0.001 0.100Ba0.009 4.54注：规定的含量范围表示已做过精密度试验，超出该范围的可能也适用，但需要实验室进行确认。2 规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文

5、件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T 6379.1 测量方法与结果的准确度(正确度与精密度)第1部分：总则与定义GB/T 6379.2 测量方法与结果的准确度(正确度与精密度)第2部分：确定标准测量方法重复性与再现性的基本方法GB/T 8170 数值修约规则与极限数值的表示和判定 3 术语和定义 本文件没有需要界定的术语和定义。4 原理 绿松石经初级X射线激发，发射出X射线荧光，通过探测器测量待测元素X射线荧光强度。根据待测元素X射线荧光强度与含量之间的定量关系，应用校准曲线计算出待测元素含量。5 仪器设备 能量色散X射线荧光光谱仪，应满足下列要求：以锰

6、元素在 5.89 keV 能量位置的峰衡量，分辨率应优于 170 eV；可分析元素范围 NaU，全元素分析；DB42/T 20962023 2 内置靶材或其他部件不应包含待测元素；配备抽真空装置，可提供真空环境。6 样品 标准样品 标准样品应选择未经优化处理的天然绿松石样品进行加工，颜色分布均匀，表面干净。为避免样品的表面状况，如抛光质量（颗粒度）、形状（表面平整度）等对测量结果的影响，所有样品均切磨加工成标准规格（长宽宜不小于1 cm1 cm），并进行抛光。标准样品应经适当方法准确定值，并可溯源。试验样品 根据试样外观和状态确定测试区域，应尽可能选择曲率较小的抛光面，并避开明显花纹和瑕疵。测

7、试区域的大小与准直器的孔径有关，应满足测试需要。7 试验步骤 选择测量条件 各待测元素特征谱线的测量条件通过优化获得，测量条件参见附录A。不同仪器设备可根据实际情况选择合适的测量条件。绘制校准曲线 选择绿松石标准样品，每个待测元素在含量范围内应选择具有一定含量梯度的系列样品，系列样品数量应不低于3个。根据实际情况选择合适的校准方程，一般采用基本参数法。测量标准样品中各元素的X射线荧光强度，根据各元素含量的标准值绘制校准曲线。受方法原理限制，在校准曲线的绘制中不考虑H2O的影响，即扣除相应含量并进行归一化处理。选取建立工作曲线的一个或两个标准样品作为漂移校正样品。应定期使用漂移校正样品对校准曲线

8、进行验证，若漂移较大，应重新建立。测定 定性分析，确定试样主量元素和微量元素的组分。根据定性分析结果评估校准曲线的适用性，再在选定的测量条件下测定试样。8 试验数据处理 根据试样中各待测元素的 X 射线荧光强度，由校准曲线计算各元素的含量。试样两次独立测定结果的差值的绝对值不大于重复性限 r，则取算数平均值作为结果。否则应按附录 B 中的规定追加测定次数并确定结果。结果应按 GB/T 8170 的要求进行修约。结果1%时，修约至小数点后三位；结果1%时，修约至小数点后两位。受方法原理的限制，在使用本方法时应熟悉以下影响试验结果的因素：DB42/T 20962023 3 试样的基体效应；试样表面

9、经无机充填或致密度优化(有时伴有机充填)；试样的形状和测量面积；试样的不均匀程度；杂质矿物的影响。9 精密度 按GB/T 6379.1和GB/T 6379.2统计方法确定的精密度见表2。表2 精密度 成分 测定范围/wt.%r/wt.%R/wt.%K2O0.031 0.5100.00830.0169V0.004 0.4600.00920.0145Cr0.003 1.060.01030.0118ZnO0.016 8.140.0178R=0.0548 +0.0101Mo0.001 0.1000.00190.0024Ba0.009 4.540.01640.0449注1：试验中元素的平均含量（质量分数

10、），%；注2：r 重复性限；注3：R 再现性限。10 试验报告 试验报告应包括下列信息：a)实验室的名称和地址；b)试样名称及标识；c)使用的标准编号；d)试验日期；e)结果；f)在试验中观察到的异常现象；（如有）g)试样本身、仪器设备等必要的详细说明；h)试验报告的发布日期。DB42/T 20962023 4 A A 附录A （资料性）X 射线荧光光谱仪参考测量条件 以QuantX为例，参考测量条件见表A.1。表A.1 元素测量条件测定元素分析谱线电压/kV滤光片测量时间/s计数速率环境KKa8Cellulose60Medium真空VKa16Pd Thin60 Medium 真空 CrKa1

11、6Pd Thin60 Medium 真空 ZnKa28Pd Thick60 Medium 真空 MoKa28Pd Thick60 Medium 真空 BaKa50Cu Thick60 Medium 真空 注：准直器孔径推荐采用3 mm。DB42/T 20962023 5 B B 附录B （规范性）试样结果接受程序流程图 图B.1规定了试样结果接受程序流程图。图B.1 试样结果接受程序流程图 分析结果 1、2 max min r 再次测定 3 max min 1.2r 再次测定 4 max min 1.3r =中位数1,2,3,4 =1+22 =1+2+33 =1+2+3+44 否 否 否 是 是 是