DB34 T 2127.2-2026 区域地球化学调查样品分析方法第2部分：X射线荧光光谱法多元素含量的测定.pdf

1、 ICS 07.060 CCS A 44 34 安徽省地方标准 DB34/T 2127.22026 代替 DB34/T 2127.2-2014 区域地球化学调查样品分析方法 第 2 部分：X 射线荧光光谱法多元素含量的测定 Analysis methods of regional geochemical survey samplesPart 2：Determination of multi-element content by X-Ray fluorescence spectrometry2026-01-05 发布2026-02-05 实施安徽省市场监督管理局发 布 DB34/T 2127.2

2、2026 I 前言 本文件按照 GB/T 1.12020标准化工作导则 第1部分：标准化文件的结构和起草规则的规定起草。本文件是 DB34/T 2127区域地球化学调查样品分析方法的第2部分，DB34/T 2127 已经发布了以下部分：第 1 部分：总则；第 2 部分：X 射线荧光光谱法多元素含量的测定；第 3 部分：电感耦合等离子体光谱法多元素含量的测定；第 4 部分：等离子体质谱法多元素含量的测定；第 5 部分：泡塑吸附-等离子体质谱法金含量的测定；第 6 部分：泡塑吸附-石墨炉原子吸收光谱法金含量的测定；第 7 部分：原子荧光光谱法砷、锑、铋、汞含量的测定；第 8 部分：火焰原子吸收法多

3、元素含量的测定；第 9 部分：催化极谱法钨、钼含量的测定；第 10 部分：离子选择电极法氟含量的测定；第 11 部分：发射光谱法银、硼、锡、铅含量的测定；第 12 部分：活性炭吸附-发射光谱法金含量的测定。本文件代替 DB34/T 2127.22014区域地球化学调查样品分析方法 第2部分：X射线荧光光谱法多元素含量的测定，与 DB34/T 2127.22014 相比，除结构调整和编辑性改动外，主要技术变化如下：a)增加了术语和定义（见第 3 章）；b)更改了标准物质的种类（见 5.1，2014 年版的 4.2）；c)更改了波长色散 X 射线荧光光谱仪检定要求（见 6.3，2014 年版的 5

4、3）；d)更改了样品要求（见第 7 章，2014 年版的 6.1）；e)更改了部分元素（氧化物）标准曲线范围（见 8.3.4，2014 年版的 6.4.4）；f)增加了质量保证和控制（见第 11 章）；g)增加了注意事项（见第 12 章）。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由安徽省自然资源厅提出并归口。本文件起草单位：安徽省地质实验研究所（国土资源部合肥矿产资源监督检测中心）。本文件主要起草人：刘玉纯、薛伟明、林庆文、杨俊、戴国环、黄依凡。本文件及其所代替文件的历次版本发布情况为：2014 年首次发布为 DB34/T 2127.2-2014，20

5、26 年第一次修订。DB34/T 2127.22026 II 引言 DB34/T 2127区域地球化学调查样品分析方法作为区域地球化学调查样品分析技术的推荐性地方标准，是区域地球化学调查的重要技术支撑，为贯彻实施区域地球化学调查、开展区域地球化学调查评价提供检测方法。DB34/T 2127区域地球化学调查样品分析方法由 12 个部分构成。第 1 部分：总则。目的在于确立区域地球化学样品分析的相关术语、定义和符号以及样品验收和试样制备、分析方法选择、分析质量控制等基本要求。第 2 部分：X 射线荧光光谱法多元素含量的测定。目的在于确立区域地球化学调查样品（土壤、水系沉积物）中钠、镁等多种元素的含

6、量，用 X 射线荧光光谱法测定钠、镁等多种组分含量的相关规则。第 3 部分：电感耦合等离子体光谱法多元素含量的测定。目的在于确立区域地球化学调查样品（土壤、水系沉积物）中锂、铍等多种元素的含量，用盐酸、硝酸、氢氟酸、高氯酸消解-等离子体发射光谱法测定锂、铍等多种元素含量的相关规则。第 4 部分：等离子体质谱法多元素含量的测定。目的在于确立区域地球化学调查样品（土壤、水系沉积物）中锂、铍等多种元素的含量，用盐酸、硝酸、氢氟酸、高氯酸消解-等离子体质谱法测定锂、铍等多种元素含量的相关规则。第 5 部分：泡塑吸附-等离子体质谱法金含量的测定。目的在于确立区域地球化学调查样品（土壤、水系沉积物）中金元

7、素含量，用泡塑吸附-等离子体质谱的测定金元素含量的相关规则。第 6 部分：泡塑吸附-石墨炉原子吸收光谱法金含量的测定。目的在于确立区域地球化学调查样品（土壤、水系沉积物）中金元素含量，用泡塑吸附-石墨炉原子吸收光谱法测定金元素含量的相关规则。第 7 部分：原子荧光光谱法砷、锑、铋、汞含量的测定。目的在于确立区域地球化学调查样品（土壤、水系沉积物）中砷、锑、铋、汞元素的含量，用王水消解-氢化物发生原子荧光光谱法测定砷、锑、铋、汞元素含量的相关规则。第 8 部分：火焰原子吸收法多元素含量的测定。目的在于确立区域地球化学调查样品（土壤、水系沉积物）中铜、铅等多种元素的含量，用盐酸、硝酸、氢氟酸、高氯

8、酸消解-火焰原子吸收法测定铜、铅等多种元素含量的相关规则。第 9 部分：催化极谱法钨、钼含量的测定。目的在于确立区域地球化学调查样品（土壤、水系沉积物）中钨、钼元素的含量，用氢氧化钠熔融-示波极谱法测定钨、钼元素含量的相关规则。第 10 部分：离子选择电极法氟含量的测定。目的在于确立区域地球化学调查样品（土壤、水系沉积物）中氟元素的含量，用氢氧化钠熔融-氟离子选择电极法测定氟元素含量的相关规则。第 11 部分：发射光谱法银、硼、锡、铅含量的测定。目的在于确立区域地球化学调查样品（土壤、水系沉积物）中银、硼、锡、铅元素的含量，用发射光谱法测定银、硼、锡、铅元素含量的相关规则。第 12 部分：活性

9、炭吸附-发射光谱法金含量的测定。目的在于确立区域地球化学调查样品（土壤、水系沉积物）中金元素的含量，用活性炭吸附-发射光谱法测定金元素含量的相关规则。DB34/T 2127.22026 1 区域地球化学调查样品分析方法 第 2 部分：X 射线荧光光谱法多元素含量的测定 1 范围 本文件描述了用 X射线荧光光谱法测定区域地球化学调查样品（土壤、水系沉积物）中 24 种组分的方法。本文件适用于土壤、水系沉积物样品中 Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、K2O、CaO、TFe2O3、P、Ba、Ti、V、Cr、Mn、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Pb、Rb、Sr、Y、Zr、Nb 的测定。方法检出限

10、见表1。表1 方法检出限 单位为毫克每千克、氧化物单位为 组分 检出限 组分 检出限 组分 检出限 组分 检出限 Na2O 0.01 TFe2O3 0.01 Mn 4.0 Pb 1.0 MgO 0.01 P 7.0 Co 1.0 Rb 2.0 Al2O3 0.01 Ba 6.0 Ni 1.0 Sr 1.0 SiO2 0.02 Ti 6.0 Cu 1.0 Y 1.0 K2O 0.01 V 4.0 Zn 1.0 Zr 1.0 CaO 0.01 Cr 1.0 Ga 1.0 Nb 1.0 2 规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日

11、期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T 6379.2 测量方法与结果的准确度(正确度与精密度)第2部分：确定标准测量方法重复性与再现性的基本方法 DB34/T 2127.1 区域地球化学调查样品分析方法 第1部分：总则 3 术语和定义 DB34/T 2127.1 界定的术语和定义适用于本文件。4 原理 当样品受 X射线照射后，其中各元素原子的内层电子被激发而引起电子跃迁，并发射出元素的特征 X射线，其强度的大小与样品中元素含量存在线性关系，采用经验系数法或散射线内标法校正元素间的基体效应。将土壤、水系沉积物样品用低压聚乙烯塑料环压片制

12、样，采用波长色散 X射线荧光光谱仪（WDXRF）同时测定样品中 24 种组分含量。DB34/T 2127.22026 2 5 试剂或材料 标准物质 采用与区域地球化学样品含量相似的 GBW 07301a、GBW 07302GBW 07318、GBW 07401GBW 07411、GBW 07423GBW 07430、GBW 07446GBW 07457、GBW 07385GBW 07391、GBW 07978GBW 07986、GBW 07536GBW 07573 及其他部分岩石标准物质，作为绘制标准曲线的标准物质。也可选用其他类似国家标准物质。无水乙醇 分析纯。氩甲烷混合气体 90氩气，10

13、甲烷。低压聚乙烯塑料环 壁厚 3 mm，环高 5 mm，内径 35 mm。6 仪器设备 托盘天平 分度值不低于 0.1 g。压片机 压力不低于 30 MPa。波长色散 X 射线荧光光谱仪 端窗铑靶 X射线管（4 kW）。7 样品制备 样品加工制备按 DB34/T 2127.1 的规定执行。样品应在 105烘箱中烘 2 h，放入干燥器中冷却至室温。8 试验步骤 样品片制备 用托盘天平称取样品 5.0 g，放入塑料环（5.4）中拨平压实，置于压片机（6.2）上，缓缓升压至30MPa，停留 5 s，减压取出。样品片表面应光滑，无裂纹。在样品片非分析面贴上样品编号标签或用记号笔写上样品编号。标准化样品

14、片的制备 DB34/T 2127.22026 3 选择分析元素含量适中的样品，按（8.1）的步骤制备成标准化样品片。测定 8.3.1 测量条件 视野光栏直径为 30 mm，真空光路（小于 20 Pa）。试样盒面罩直径为 30 mm。各分析元素的测量条件见附录A。8.3.2 背景校正 采用一点法扣背景，扣除背景后的分析线强度按公式（1）计算：=(1)式中：Ii扣除背景后的分析线强度；Ip分析线峰值强度；Ib分析线背景强度。8.3.3 仪器漂移校正 通过标准化样品片(8.2)的测量校正仪器漂移。8.3.4 标准物质样品片的制备 采用组分与区域地球化学样品的组分相似的国家一级标准物质系列（5.1）绘

15、制校准曲线。每个组分都应有一个具有足够的含量范围又有一定梯度的标准系列。标准系列含量范围见表2。标准物质样品片的制备按（8.1）的步骤进行。表2 标准系列范围 单位为毫克每千克、氧化物单位为 组分 含量范围 组分 含量范围 组分 含量范围 组分 含量范围 Na2O 0.038.99 TFe2O3 0.2124.75 Mn 629700 Pb 4.42700 MgO 0.0821.80 P 26.04130 Co 1.7997 Rb 1.4470 Al2O3 0.1029.26 Ba 42.04400 Ni 1.8349 Sr 2.81230 SiO2 0.6290.36 Ti 90.04610

16、3 Cu 2.81230 Y 1.4104 K2O 0.047.48 V 2.1768 Zn 11.73800 Zr 3.01540 CaO 0.0435.67 Cr 2.61090 Ga 0.239.0 Nb 2.895.0 8.3.5 校准与校正 校准、基体效应校正和谱线重叠干扰校正采用数学方法进行回归。标准物质中分析组分 i的推荐值按公式（2）计算：=(2+)(1+)+(2)式中：Wi标准物质中分析组分 i的推荐值（或未知样品中分析组分 i基体校正后的含量）；Ii标准物质（或未知样品）中分析组分 i扣除背景后的分析线强度；Aij共存组分 j对分析组分 i的基体影响系数；Rj共存组分 j的

17、含量；DB34/T 2127.22026 4 Bik共存组分 k对分析组分 i 的谱线重叠干扰校正系数；Rk干扰组分 k的含量（或 X射线强度）；C校正常数；a、b、c校准曲线系数。Ni、Zn、Ga、Pb、Rb、Sr、Y、Zr、Nb 等元素以强度与 Rh K 康普顿散射强度之比值与推荐值回归分析进行校准，Cu元素以强度与 Rh K 强度之比值与推荐值回归分析进行校准。对有谱线重叠干扰的组分（见表3），则须进行谱线重叠干扰校正。表3 元素主要干扰线 元素 分析线 主要干扰线 Na K Zn L1 Ba L Ti K Ti K Ba L V K Ti K1 Cr K V K1 Mn K Cr K1

18、 Fe K Mn K1 Co K Fe K1 Ni K Rb K1 Y K Rb K1 Zr K Sr K1 Nb K Y K1 8.3.6 测量 8.3.6.1 仪器准备 测量前，仪器要充分预热至稳定。8.3.6.2 输入分析组分的有关参数 输入分析元素的测量条件及标准物质中各组分的含量(标准值)。8.3.6.3 测量标准化样品 输入标准化样品名称，测量标准化样品片组分的分析线强度。8.3.6.4 测量标准物质 输入标准物质名称，测量标准物质样品片的组分分析线强度。标准物质系列样品片的测量要在一次开机时间内完成。8.3.6.5 回归分析 按公式（2）对标准物质中各组分的 X射线强度与推荐值进

19、行回归分析，求出校准曲线常数（a、b、c）、基体影响系数 Aij、重叠干扰校正系数 Bik和校正常数 C，保存。8.3.6.6 测量未知样品 DB34/T 2127.22026 5 输入未知样品分析编号，按照与测量标准物质（8.3.6.4）相同的条件进行测量。9 试验数据处理 各元素含量以质量分数（B）计。测得未知样品分析组分的 X 射线强度，并计算出各组分的含量。10 精密度 选取 5 个不同含量水平的土壤和水系沉积物的样品，分别由 5 个实验室各进行 4 次平行测定，按 GB/T 6379.2 对精密度试验结果进行统计分析，分析方法精密度见表4。表4 方法精密度 单位为毫克每千克、氧化物单

20、位为 成分 水平范围 m 重复性限 r 再现性限 R Na2O 0.641.98 0.01m+0.0043 0.0345m+0.0169 MgO 1.283.23 0.0004m+0.0186 0.0209m+0.0037 Al2O3 10.0915.15 0.159m0.5314 0.0218m+0.4323 SiO2 52.9669.93 0.0136m+1.2524 0.0143m+1.2782 K2O 2.073.23 0.040 0.0002m+0.0413 CaO 0.749.33 0.002m+0.0172 0.0137m+0.0434 TFe2O3 3.885.39-0.002

21、8m+0.0327 0.0328 P 549936.6 0.0028m+1.9236-0.0127m+16.49 Ba 506.7716.8 0.0066m+4.2272-0.0075m+20.706 Ti 25604830.5 0.003m+2.2697 0.0027m+27.945 V 54.8113.2 0.0111m+0.7353 5.089 Cr 44.593.1 1.705 0.0315m+2.1958 Mn 574971 0.0016m+3.271-0.0187m+24.792 Co 9.118.1-0.0004m+0.6068-0.0054m+0.83 Ni 20.9539.1

22、 0.0101m+0.2156 0.0706m+3.3835 Cu 13.11223.2-0.0018m+0.7462 0.0041m+0.8357 Zn 21.7119.8 0.001m+0.579 1.781 Ga 11.720.9-0.0047m+0.724-0.0011m+0.7361 Pb 18.4101.1-0.0015m+0.7821 0.0319m+0.0693 Rb 82.9131 0.936-0.0015m+1.4459 Sr 77318 0.0018m+0.6257 2.717 Y 19.231.6-0.005m+0.4903 0.0113m+0.2408 Zr 136.

23、9311.0 0.0025m+0.4041 0.0024m+3.2597 Nb 9.6118-0.0066m+0.4471 0.0051m+0.3929 11 质量保证和控制 DB34/T 2127.22026 6 试验所用仪器设备应经过检定或校准，并在有效期内。按 DB34/T 2127.1 的规定，每次检测，应同时采用空白试验、重复分析、标准物质验证等方法进行质量保证和控制。按 DB34/T 2127.1 的规定，每批样品分析时，按样品总数随机抽取 5的样品进行重复性密码分析。分析质量要求按 DB34/T 2127.1 的规定执行。DB34/T 2127.22026 7 附录A （资料性）

24、分析组分的参考测量条件 本部分适用于 X射线荧光光谱法测定土壤、水系沉积物样品中 24 种组分，表A.1 给出了 24 种组分在工作电压为 55 kV、工作电流为 60 mA条件下的推荐参数。表A.1 分析组分测量条件 元素分析线 分析晶体 2角（）计数时间（s）PHA 衰减器 准直器 探测器 谱峰 背景 谱峰 背景 Na K RX-25 46.562 48.900 8 4 110320 1/1 S4 PC Mg K RX-25 38.304 39.750 6 3 90330 1/1 S4 PC Al K PET 144.582 4 110320 1/1 S2 PC Si K PET 109.

25、006 4 110310 1/10 S4 PC K K LiF1 136.620 4 110290 1/1 S4 PC Ca K LiF1 113.106 4 110300 1/1 S4 PC Fe K LiF1 57.510 4 90380 1/10 S2 SC P K Ge 141.056 143.300 10 5 70300 1/1 S4 PC Ba L LiF1 87.186 88.540 10 5 110310 1/1 S4 PC Ti K LiF1 86.126 5 90400 1/1 S2 SC V K LiF1 77.020 74.320 20 10 110290 1/1 S4

26、 PC Cr K LiF1 69.350 74.320 20 10 140310 1/1 S4 PC Mn K LiF1 62.962 5 90400 1/1 S2 SC Co K LiF1 52.784 53.860 20 10 90360 1/1 S2 SC Ni K LiF1 48.652 49.700 20 10 90300 1/1 S2 SC Cu K LiF1 45.010 46.600 20 10 80350 1/1 S2 SC Zn K LiF1 41.784 42.500 8 4 90340 1/1 S2 SC Ga K LiF1 38.898 39.500 10 5 803

27、30 1/1 S2 SC As K LiF1 33.916 35.240 14 7 80330 1/1 S2 SC Pb L1 LiF1 28.244 29.600 20 10 90300 1/1 S2 SC Th L LiF1 27.458 29.600 30 15 80310 1/1 S2 SC Rb K LiF1 26.600 25.800 4 2 80310 1/1 S2 SC Sr K LiF1 25.130 25.800 4 2 70320 1/1 S2 SC Y K LiF1 23.768 24.500 10 5 80320 1/1 S2 SC Zr K LiF1 22.524 23.000 6 3 80310 1/1 S2 SC Nb K LiF1 21.376 23.000 10 5 90310 1/1 S2 SC Bi L LiF1 32.990 35.240 10 5 80300 1/1 S2 SC Rh Kc LiF1 18.440 8 80300 1/1 S2 SC Rh K LiF1 17.548 8 70300 1/1 S2 SC