GB T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法.pdf

1、中华人民共和国国家标准兀1041041 1 .U-I-:II咽勘川1-1 泊松tt)j!tl . Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components Test method for Youngs elastic modlus and Poisson ratio UDC 62 1. 315. 612 : 62 1. 382 /.387: 620.1 GB 5594.2 85 本标准适用于室温下电子无器件结构陶瓷材料的杨氏1 测谊原理、切变模量和泊松比的。当一个连续弹性体，被外力激发(敲击)而

2、产生振动时，可能出现许多个固有频率(或主振型)值，而试样的固有频率完全取决于其本身固有的物理性质，与任何外界因素无关。从能量观点来看，由于各主振型之间不会产生能量的传递，因此可以认为，各主振型之间是相互独立的。其中以基频振动具有最大能量。根据能量与振幅的平方成正比的关系，在阻尼振动中，只有基频振动的振幅衰减时间最长利用这一特点，在敲击法弹性模量测试中，将仪器设计了自动延时电路，待各高次主振型的振幅衰减到很小或零时，便可方便而准确地对其基频振动进行计量分析。根据外力激发方式、支撑方式的不同，试样将产生横振、纵振或扭振。横振较纵振容易被诱发产生共振，且共振现象明显。因此，在敲击法弹性模量测试中，常

3、通过测量横振基频来求出杨氏弹性模(E) ，通过扭振基频求出切交模量(C)。从而计算出泊松比()。2测试方法敲击式动态杨氏弹性模量测试方法。2. 1 对试样的要求试样应符合GB5593 85(电子元器件结构陶瓷材料剧规定。测量精度要求:长度为:!:0.05mm、宽度和厚度为:!:0.02mm、重量为:!:0.05 g。2.2 支撑方式在测量横振基频或扭振基频时，支撑点应选在基频振动的节点上，为测试方便起见，均可按两自由的方式选择支撑点。即在测横振基频时，支撑点宜选在距试棒两端0.224L处，而在测扭振基颇时，宜在1/2L处。对于支撑材料，一般应选择有一定强度且有良好隔振效果的有机材料如硬梅胶、硬

4、塑料。同时支座应有足够的质量，其共振频率须远偏离于试样的基频，以免支座与试样-起振动。为了减少试样与支座的摩擦阻尼，支座与试样的接触面应尽可能小。2.3敲击点的选择敲击点宜选择在基频振动的最大振幅处，这样不仅可激发基频共振，而且能抑制各偶次主振型的产生。有利于提高仪器的重复性精度。对于两端自由的杆件，在测横振基频时，敲击点可选择在试样的两端或1/2L处s而在测扭振基频时，为防止横振基频的F扰，宜在O.224L处敲击边楞，见图1、图2。国家标准局1985- 11 -27发布1986-12-01实复10次，取平均值。上读出R值。24时)(kgf/mm2) (当31/h24时)Tkgf/mm2) O

5、.224L 图3一支座，4一传感器试样，用仪器所附专用锤在敲击点敲击试样在仪试样，重复3.1的步求测量试样几何尺寸和tn-2/-21 .刷一耐叶-hvv，t。一，f飞-nL h-5 qr h-AM 5594.2 85 的tNL l 2一试样，E = 3.97 x时mjfG = 1. 63156 x 10 6 GB 。图11一敲击点，mM bR2 T I = O.5L 试样旦旦，试样长度，试样宽度，mm; 试样厚度，mm; 仪器读数p形状因数(查表)。切变模, g ; 试样长度，mm; 试样宽度，mm; 试样厚度，mm; 仪器读数。O.224L E g ; mm; 修正系数F: 杨氏弹性按图1放按图2按2.1公式4 3 2 mlbhR T 试步式中:mb h R M 4.2 3. 1 3.2 3.3 4. 1 式中zs 4 GB 5594.2 85 2 1 4 3 。.224LO.224L 。.5L的tNL 图2试示意图1一敲击点I2一试样I3一支座I4一传感器4.3泊松比= (E/2G) - 1 式中:EG 杨氏弹性模量，kgf/mm 2; 切变模量，kgf/mm 2。联Hm挡回自rl J IJ H .ILt . / J昌本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由天津大学起草。本标准主要起草人陆文汉。