GB T 773-1993 低压绝缘子瓷件技术条件.pdf

1、中华人民共和国国家标准低压绝缘子瓷件技术条件Specification of porcelain element for low voltage insulators 1 主题内容与适用范围GB 77 3 93 代替GB773 78 本标准规定了低压绝缘子瓷件的技术要求、试验方法和检验规则以及包装与标志。本标准适用于直流或工频交流额定电压低于1000 v的架4.电力线路、通信线路、电器和配电装（等用的未装配（或不装配）的瓷件（以下简称密件）。瓷件的安装使用条件：a. 周围环境温度4040。安装在电器上的瓷件，其使用场所的温度上限应按其相应电器标准的规定，如无特殊规定，一般为十40，如超过4oc

2、时，由供需双方商议sb. 安装地点海拔不超过1000 m。当低压电器用瓷件，使用地点海拔超过1000 m肘，其电气性能可按有关规定进行修正；c. 对于户内使用的资件，其周围空气相对湿度般不超过90%，并应避免瓷件表面凝露。瓷件按其制造方法分为ga. 干法成形（以粉状料用模压或其他压制方法）制造的；b. 湿法成形（以塑性？尼料挤制、车削、印坯或旋压等方法）制造的。瓷件不适用于有破坏瓷和袖的介质中使用。2 51,E目标准GB 775. 1 775. 3 绝缘子试验方法CB 1183形状和位置公差术语及定义GB 1800公差与配合总论标准公差与基本偏差GB 2900. 8电工名词术语绝缘子GB 84

3、11. 1 8411. 2 电瓷材料JB 3384 高压绝缘F抽样方案JB/Z 94 绝缘子产品包装3 术语3. 1 外观质量的术语规定如下a. 斑点熔化在瓷件表面上的杂物（如铁质、石膏等）所形成的异色斑点。b. 烧缺一一坯体内杂物烧去后所形成深入姿体上的凹陷。 杂质一一粘附在瓷件表面上的钵屑、砂粒、石英等颗粒。d. 气泡一因杂物分解在瓷体内部形成的泡。e. 轴面针孔轴面上呈现的不吉普入瓷体的、在径在11nm以下的小孔。国家技术监督局199304 20批准1993-12 01实施l.l GB 773 93f. 轴泡因烧成不良而在袖面上形成的泡。g. 开裂一烧成后在瓷体或稍面上形成的裂LJ不包括

4、干法成型瓷f牛轴下呈现的花纹状痕迹。h. 堆轴高出正常袖面的积袖部分。i. 缺袖一一瓷件规定应上糊的表面上露出的瓷体无袖部分。j. 折痕坯泥折叠在坯件表面上而未开裂的痕迹。k. 压痕坯件表面因受压而造成的凹陷痕迹。I. 刀痕一由于坯件加工时，在表面上造成的细条痕迹um. 波纹由于坯件加工时，在表面上造成的不平痕迹。n. 粘稍一一瓷件在熔烧时因瓷件与外物或相互粘连而损坏轴画或段体的缺陷。o. 碰损一一坯件或号是件与外物或相互碰击而伤及轴面戎瓷体的缺陷。p. 生烧一瓷件最终烧成温度低于坯料成瓷温度或保温时间不够以致喜f牛烧成不充分，混法成形资件经于L隙件试验有吸红现象者或干法成形瓷件吸水率越过标准

5、规定者。q. 过火留件最终烧成温度高于坯料成瓷温度或保温时间过长所形成的瓷件发脆，以戊由于温度过高1而引起的段体膨胀或起泡现象。r. 氧化起泡一资件网氧化期间烧成不良而引起瓷体膨胀或起泡现象。也缺砂一一段件规定应上砂的表面露出元砂的现象。t. 堆砂局部高出正常上砂层的砂粒堆积现象。u. 标记不清商标或标记模糊而辨认不清。v. 螺纹缺牙一一采用经螺纹连接的自件，其螺纹部分的螺纹缺少。3, 2 本标准所采用的其他术语应符合GB2900. 8、GB1183及GB1800的规定。4 技术要求4, 1 姿件应按本标准规定的要求以及按规定程序批准的图样制造。瓷件应采用符合GB8411.1规定的I或E类电材

6、料制造。4.2 瓷件的尺忖扁差4. 2. 1 十二法成形瓷件的尺寸偏差，除育特殊规定外，应符合表l规定。表lf法成？也瓷件的尺寸偏差极限偏差基本尺寸主耍尺寸非主要尺rH 乙二：日to. zs -o. 45 十0.5 6 l 0 士0.3 士0.5 士口6二.I O 18 士0.35 0. 6 主口7 18 30 士0.45+o 1 o. s 工，30.50 士0.5 士0.85 1. 0 :o50 80 : 0. 6 十1.0 十1.2 :80 120 斗士。7 i二1.2 :l-1. I j 口lffiH 士l.0 一一一士.2 +. J. 4 立, 6 2.0 十2.4 士2.8GB 77

7、3 93 续表ln1口1极限偏差基本尺寸主要尺寸非主要尺寸Il TI : 120 180 0. 8 士1.4 士.7 3. 4 180 250 士0.95 士1.5 士2.0 卡！.0 250 土。.4% , 土o.6% L 士0.8% L +!. 6% /, 注：表中“L”指被测量部位的基本尺寸。4豆1主要尺寸指影响瓷件装配和电气机械性能的部位尺寸（下两） 干法成形瓷件的安装连接尺寸偏差应优先选用主要尺寸等级I和等级E。图样中如对偏差等级未作规定，则按等级E规定。非主要尺寸偏差的选择，一般应与主要尺寸偏差等级相致。瓷牛爬电距离的负偏差，不应超过表1非主要尺寸栏规定的下极限偏差数值，其偏差等级

8、应与主要尺寸偏差等级相同，上偏差不作规定。4.2. 2 湿法成形瓷件的尺寸偏差，除有特殊规定外，应符合表2规定。表2湿法成形瓷件的尺寸偏差mn1 极限偏差基本尺寸主要尺寸非主哥尺寸I 运18土1.0 士！.35 士2.() 18 30 土1.2 士1.65 寸2.I ;30 40 士1.3 土！.8 士2.6 二4050士1.5 土2.0 3. 0 ;50 65 士2.0士2.25 士4.0:65 80 士2.3 -3 0 -4 6 80 100 2. 65 士3.5 士5.3 100 140 士2.9 土4.5+ 5. 8 14口180士3.15 -s 5 士（）.3 180 250 士3.

9、6 个6.5 士7.2 250 :o=l.5%H 士2.6 % ll 士3.0%岛H注表中“H”指被？哪部位的基本尺寸。湿法成形资件吉日图祥中对偏差等级未作规定，则按等级E规定c资件爬电距离的负偏差不应超过表2非主要尺寸栏规定的F极限偏差数值七偏差不作规定。4,3 瓷件的形位偏差4. 3. 1 f牛两平行于面（两端安装面或安装平面与端丽）的？行度应符合表3的规定。I GB 773 93 表3瓷件端面的平行度盯1m平度瓷件端面禁本尺寸干法成形器件湿法成形瓷件（长、宽、宣径的最大者）I I 主二300.3 0. 6 :30 65 a 5 0. 9 J. 7% 2.6） 65100 o. 8 1.

10、3 . 100 0. 8% D !. 3% D 注表中“D”指被测量部位的基本尺寸。瓷f牛图样中未规定偏差等级时，则按等级E规定。4. 3. 2 I?,;件安装支承面的平面度应符合表4规定。表4瓷f牛安装支承面的平面度平面度安装支1￥：面基本尺寸干法成形瓷件湿法成形jjj件i 二30。.15 0.3 口，25.30 65 o. :is o. 6 0.5 65 100 o. 6 1. 0 0. 9 三100。.6% H 1% B o. 9% H 注z表中“B”指被测量都位的基本尺寸。资件图样中未规定偏差等级时，则按等级E规定。4. 3. 3 4雪（或棒）型资件的轴线直线度不应超过瓷件高度（或民度

11、）的1%。4. 3. 4 瓷件的圆度4. 3. 4. 1 干法成形瓷件的困度不应超过如下规定z自1n1Il 。45(). 9 J. 5 I. 5% H a. 当尺寸偏差选定为表1主要尺寸等级I的瓷件其因度不应超过该表主要尺寸栏中等级E规定的上（或下）极限偏差的绝对值。b. 当尺寸偏差选定为表1主要尺寸等级E的瓷件，其困度不应超过该表非主要尺中栏中等级I规定的上（或下）极限偏差的绝对值。c. 瓷件图样中未规定偏差等级时，则按表l非主要尺寸栏中等级I的上或）极限偏差的规定c4. 3.4.2 湿法成形建件不应超过0.01d+2.5mm(d为主径，mm）。4. 3. 5 器件的同轴度规定如下：a. 干

12、法成形ft二不应超过表1主要尺寸栏中等级I或等级E规定的.t（或r极限偏差的绝对值，其基本尺寸按大圆直径确定。瓷f牛罔样中未规定偏差等级时，则按等级E的规定。b. 湿法成形怪f牛应不超过表2主要尺寸栏中等级E；或非主要尺寸栏规定的U或下）极限偏差的绝对值。民基本尺寸按大回直径确定。1。GB 7 7 3 9 3 瓷件图样中未规定偏差等级时，则按非主要尺寸栏的规定。4.4 瓷件的外观质量4. 4. 1 草，.牛应按图样规定的部位均匀地上层段袖，袖面应光滑，不应有显著的色调不均现象们4. 4. 2 瓷件表面的缺陷不应影响瓷件的安装和连接，其表面上存在的缺陷不应超过表5的规定。瓷件不应有生烧、过火和氧

13、化起泡现象。表5瓷件的外观质量单个缺陷缺袖面积开裂斑点、杂粘袖或缺陷深度或！单个单个序号瓷件类别质、饶缺碰损总面积总国1积宽度总长度高度面积长度等直径面m cm 咆cn1 r11n1 rnn飞mm en/ fil町、盯lfficm 温浩成形怪件3.5 0.3 I I. I) 。.61. 0 1 其中2通倩瓷件不允l午2.5 0.3 1 () 6 0. 3 口6干法成形资件L X B,cm2 三二152. 5 o. 2 1 0.8 不0.4 0.3 6 20 2 作15 50 3. 5 o. 3 I. 5 1. 0 0. 6 0. 3 8 30 50 100 4. 0 0 4 2.0 1. 2

14、规0.8 o. :1 10 ! 0 100 5. 0 0. 5 2. 0 I. 4 定I. O 0. 3 10 60 注z表中Lx B值指瓷件在投影面投影的两个最大的外形尺寸，长度（或高度）与宽度（或直径的乘积。对于“T”形瓷件以实际投影面积作为Lx B值。导F法成形瓷件的开裂除应符合表5规定外且不应有影响电气机械惜能的贯穿瓷体的汗裂。干法成形在件因脱模或其他原因而引起的孔口缺损按碰损处理。奇怪中表面缺陷堆聚相连（例如2个斑点连在一起）应作单个缺陷处理。4,4. 3 堆袖、折痕、压痕的高度或深度不应超过表5的规定，刀痕和波纹的深度不应超过0.5 mn1，这些缺陷不计算在表5缺陷总面积内。4.

15、4. 4 瓷件：培烧支承部位不上袖而不算作缺陷，但其不上袖高度不应超过3mmo 4. 4. 5 瓷件螺纹缺牙长度不应超过瓷螺纹总长的10%，且不应影响其配合。4.4.6 瓷件重要部位表面单个缺陷面积应不超过表5单个缺陷面积的0.8倍。注z瓷件的重哥哥部位应在困样上注明。4,5 干法成形瓷牛吸水率不应超过0.8%。4.6 湿法成形瓷件的剖面应均质缴密经孔隙性试验后不应有任何渗透现象。4. 7 5克件应能耐受二三次冷热温差为70K的温度循环试验而不损坏。瓷件在冷水和热水中停留时间均为15min, 4-B 干法成形的低压电器瓷件，应能耐受表6规定的工频试验电压1min而不击穿或闪络。表61分钟工频试

16、验电压v 密件领定电压试验电压有效值）不小于运2202 000 220 660 2 500 660 800 3 000 BOO 3 500 注根据i:件的使用要求，图样上亦可规定不进行本试验。J 7 GB 773 93 4.9 干法成形的低压电器瓷件，其绝缘电阻应不小于20MO 4. 10 干法成形的低压电器瓷件，其机械强度应符合如下规定：a. 电瓷材料的冲击弯曲强度I类瓷不低于1.3 kJ I时，E类瓷不低于J.8kJ/m2ob. 毯牛的打击试验的强度由供需双方协议。4, 11 本标准未规定的特殊要求，应符合供需双方协议的规定。4. 12 白交货之日HP制造厂发出提货通知之日）起二年内，如果

17、用户在遵守本标准和按规定程序批准的运输、保管、安装和运行规定的条件下，发现有建件不符合本标准规定时，制造厂必须无偿地给f更换。5试验方法5. 1 瓷件的试验方法除本标准规定者外，应符合GB775.卜，775.3及（；B84ll.l8411.2的规定。5.2 吸水率试验5. 2. 1 试品试品应是从密件k敲下来的小块，其重量为3050g.或是小型瓷件的整个瓷件的部分（应有断裂面），试块的七袖面（包括倍烧支承面）一般不应超过试块表面积的30%.表面应干净元油污，且j已敲击瓷件形成的可见裂纹。5. 2. 2 试验程序试验时，将试块全部浸入盛有洁净的蒸馆水的容器内，并使水面高于瓷块t表面50mm，试块

18、在水中停留24h。在其前的4h，水应保持沸腾，水由冷至沸腾的时间应不超过30min（此时间包括在4h 内）。从第5h卉始冷却，到第24h末取出试块。然后用拧干的湿纱布或滤纸）吸去试块表面的水分并立即称最（为保持试块湿度，可将其置于玻璃器皿中）。然后在110士5的温度下干燥一笔恒室。称最前，试块应放在干燥器内冷却至周围空气温度。称量准确度为O.OOlgo5. 2. 3 试验结果计算瓷件的吸水率投下式计算z吸水率巴元旦100式中：1n1一试块干燥前的重量，g;m , 试块干燥后的重量，g,吸水率计算准确到小数后二位数字。资牛吸水率以各试块吸水率的算术平均值计算。5_3 孔隙性试验5. 3. 1 试

19、验用试块和试验溶液成符合GB775. l规定。5. 3. 2 i式验程序试验时将试块近于盛有试验溶液的容器中，静肾24h后，取出试块，清洗其表面待干燥1rr击碎试j史.x察其断而有无渗透现象。由于击敲试块所引起的微小裂纹而形成的染色现象不应作为渗透处用。5.4 工颇耐受电压试验5.4. 1 试验的般条件，除卒标准规定外，应符合GB775. 2的规定。5.4. 2 试蜿设备与装置试验用变压器的容量应不小于0.5 kVA。试验用试验箱（或r,恒温恒湿箱）的容积应不小于瓷件连同庄台所ci容积的3试验哀iill11划叫：u18 GB 773 93 ( 4t 3 图1I 在件；2箱盖；3金属网座；4绝缘

20、套管；5 净水川一点封5.4.3试验程序试验时，试验箱内应注以深度不小子20mm的水，盖好箱盖，至少停留4h，使水自然蒸发至箱内空气相对湿度为95%士3%（必要时可适当的加热），温度为20土5，然后将在E件置于箱内的金属网台上（如果瓷件是安装在电气设备内的，可将电气设备放入，伺应将其箱壳打开），密件与试验箱盖的距离愤不小于30mmo试验电极按具体产品要求连接。瓷件在箱内停留24h。然后在相对湿度65%士15%条件下，加t工频电尿。试验电压应在近似于零电压时开始然后以能够读出电压表指针指示的速度升高至本标准第4.8条表6规定的试验电压，保持Imin，瓷件不应被击穿或闪络。5. 5 绝缘电阻测量5

21、. 5. 1 试验的一般条件和试验装置按本标准第5.4条规定。5. 5. 2 试验程序按本标准第5.4. 3条规定将瓷件置于试验箱内，并停留24h，然后在相对湿度65Vo土15%的条件下，用500v的高阻川或兆欧表测量瓷件的绝缘电阻。5.6 冲击弯曲强度试验对瓷件所用材料进行冲击弯曲强度试验时，按GB8411.2规定进行。5. 7 打击试验试验应在专用的装置上进行。该装置应能使试品由于受落体打击而产生冲击弯曲压力Q试品受力点及与支座支承面间不应有软性衬垫，落体锤头及支座用硬质有机材料制成。试验装置推荐于罔219 GB 773 93 I , . 2 v-图21 导向杆，2导管；3试品，4纤维板或

22、胶布极锤头15支座打击试验的强度和次数应在具体产品标准和供需双方协议规定。瓷f牛经试验后，如果未破碎，或者没有碎块掉落和肉眼能发现的开裂，则认为通过本试验。6检验规则6. 1 瓷牛w.由制造厂质量检查部门验收，制造广应保证全部送交的瓷件符合本标准的要求。6.2 按照本标准规定的检验规则和试验方法，用户有权对制造厂送交的瓷件检验其质量和指标是再符合本标准规定的各项要求。6.3 瓷件的试验分为逐个试验、抽样试验和型式试验。6.4 逐个试验瓷件应接表7规定遂个进行检验（第2、3项的具体检查尺寸按供需双方协议进行），如果发现有瓷件不符合表中规定的任何项要求，则此瓷件不合格。表7瓷件逐个试验项目序号试验

23、项目名称试验依据试验方法1 外观质量检查第4.4条GB 775. 1 2 尺寸偏差检查第4.2条GD 775. I 3 形位偏差检查第.j,3条GD 775. l 6.5 抽样试验6.5. 1 瓷件应按批进行验收。以间工艺方法制成的同一型号（规格的瓷件算作一批每批数量不作规定。6. 5.2 痊件应按批进行抽样试验。抽样试验应在逐个试验合格后的批中随机抽取试品进行。抽样规则按JB3384规定，本标准采用计f牛二次抽样方案。6. 5. 2. 1 样本容量（每项试验的试品数）每项试验的样本容量。从表8批量（N）和检瓷水平夜出样本容量字码在表9查出其样本容量。20 GB 773-93 平kp 一，查在

24、44引一检量一容一本一样一与一量一批一。表一批量Ns 3 S-4 500 fl E 500 1 200 E F l 200 3 zco E G 3 zoo 10 000 F G 10 000 F H 如无特殊规定，尺寸及形位偏差检查采用s4的检查水平，其余试验项目为S-3的检查水平。6.5.2.2 判定准则本标准计件抽样的判定准则规定于表9,表9判定准则口、f.IJ 定敬样本容量AQL4. 0% AQL6. 5% 样本字码A, R, A, 且主n, n, A吃1A, R, R, A A R, R . D 5 10 。1 2 2 。2 2 3 E 8 16 。2 2 3 。3 3 I F 13

25、26 。3 3 4 1 4 4 G 20 40 1 4 4 5 2 6 5 7 H 32 64 2 6 5 7 3 8 7 日注zn, 二次抽样方案的第一次抽取的样本容量n, 二次抽样方案的第二次抽取的样本容量。A, 接收判定数。A，为第一次抽样的接收判定数，A为第次抽样的接收判定数。R, 拒收判定数R，为第一次抽样的拒收判定数，儿2为第二次抽样的拒收判定数如无特殊规定，尺寸及形位偏差检查的接收质量水平（AQL）为6.5%，其余试验项目为4.0%。6. 5. 2. 3抽样试验项目规定于表lOo表10抽样试验项目项号试验项目名称试验依据试品数量1 尺寸偏差检查第4.2条按检查水平抽出的全部2 形

26、位偏差检查第4.3条经项l检查后的全部温度循环试验第4.7条在经项2后的试品中3 按检查水平抽出的试品21 GB 773 93 续表10呵！号试验项目名称试验依据4 孔隙陀试验寄：4,6条5 吸水率试验军在4，二条6 特殊试验吉在4门条注：J：表巾尺寸及形位偏差检查指不进行逐个检查的主要尺J、爬电距离及形优偏差巳也l孔隙性试验反吸水事试验的资块亦可以选取机械试验破坏后的碎块B6.5.2-4 试验结果判定. 成品苦t挝纶ri)J3试验丽的瓷块经项3试验后的瓷块指检查水平抽出的全部抽样试验的各项按各该项的祥本容量进行试验，试验后按各项的接收质量水干AQL）进行结果判定。如果第一样本中的不合格品数d

27、，运A，则该项合格，若d，！？.，则该项不合格号若Ac型式试验的各项楼得废J9j的样本容量进行试验，并按表12判定准则进行结果判定。如果样本巾的不合格品数d.,:; A，.则该I商合格.Ti d :;:, R, IJ!rJ该项不合格n试验后如果所有各项均合格则型式试验通过，如果有Ji及以上试验项目不合格则型式试验不合格。如果定期（四年）型式试验不合格，川j应停止验收该产品，并暂时停止继续生产该种产品衍消除斗、合格产品原因并鼓新试验合咯后，才允许恢复其生产和验收。7 包装与标志7. 1 I牛的包装推荐采用JB/Z91的规定。7. 2 3号件应按图样规定的那位清楚而牢固地标出制造f商标和制造年份（小型号主件无法标id时可以不7.3 瓷件包装箱或篓i二应标明：a. 制造厂名称；b. 瓷件规格、型号（p，.代号）； 痊件数量和重！过：d. “小心轻放”、瓷件”等字样或指示标记。?. 4 随着送交的每箱（Et篓）瓮件应附有产品检查合格证，此证应具有制造厂质量检查部门的印章。附加说明：本标准由中华人民共和国机械电子工业部提出。牛二标准由西安电民研究所归口。本标准由西安电瓷研究所负责起草。本标准主要起草人刘树横。23