GB T 19943-2005 无损检测 金属材料X和伽玛射线 照相检测 基本规则.pdf

1、ICS 19.100 J 04 GB 中华人民共和同国家标准G/T 19943 2005/ISO 5579: 1998 无损检测金属材料X和伽玛射线照相检测基本规则Non-destructive testing-Radiographic examination of metallc materials by X-and gamma-rays asic rules CISO 5579 :1998，ID丁)2006-09嗣19发布2006-04幽01实施中华人民共和回国家雕监督检验帧总旦发布中国国家标准化管理委员GB/T 19943-2005/1805579: 1998 目次前言-.m 引言.N1

2、 范围.2 规范性引用文件3 定义.-4 射线照相技术分级.-. 2 5 概述5.1 电离辐射防护 . 2 5.2 检测布置-. 2 5.3 表面准备和检测时机. 5.4 射线照相底片的标识5.5 标记. . . . . . . . . . . . 2 5. 6 胶片的搭接. . 2 5. 7 像质计OQD. 6 推荐的射线照相技术. . . 6 6.1 X射线管电压和射线源的选择-6. 2 胶片系统和增感屏. 6. 3 射线束的对准. . . . . 9 6. 4 散射线的控制. . . 9 6. 5 源至工件距离u.10 6. 6 一次曝光最大区域. .11 6.7 射线照相底片密度.11

3、6.8 胶片处理. . . 11 6. 9 观片条件.-.117 检测报告. 11 参考文献. . . . u I GB/T 199432005/ISO 5579: 1998 前言本标准是首次制定。本标准等问采用ISO5579，1998100 kV-150 kV的X射线13 12 前后锁屏O.15一15口kV-250kV的X射线前后铅廓。02-0.15169Yb 飞北250 kV-500 kV的X射线13 飞好切T.l 前铅廓。1-0.3!.Fn铺廓。.02-0.371 Se 13 TZ 前足3争性瞬O.1.O. 2 T3 丁2前铅屏0.0川2I前铅廓。lO22) 后铅胖0.02-0.2飞也已

4、100MCO T3 13 前后钢屏或铜扉0.25-0，7wIOO w100 能量为(1-.1)M山的X射线设备T3 12 前后制屏或铜屏0.25-0.7w100 飞v豆1C丁12 12 前铜屏、钢屏或钥屏ld能嫌太子1M.V和小子等于12MeV 100300 T3 UI100 T2 前钮屏300 n 前铜牌1;.后每日屏O.5 a 也叮朋更优的胶片系统类别。b 吉日躲在胶片与工件之间放宜。1mrn的铅胖咱也J使附带有O.03 mm前胖的现成包装胶片阴,. A级也即使用。.5mm-2 mm的始廓。d 去去签约各;万同意.A级可使用0.5mm-l mm.铅廓。亡经商定叮使用码辟。表3铝和傲的胶片系

5、统类别和金属增感屏胶片系统樊别m射线源金属增感屏费烈和厚度/mmA级日级150 kV的X射线;l1J丰.践自甘始屏O.03，股份屏o、15: 150 kV-250 kV的X射线前后铅原0.020.15250 kV-500 kV的X射线13 12 前后铅屏O.1-0. 2 1I9Yb 前后铅f弃口.02.0.15 Se 前铅牌。护，后铅牌。1-0.2a 也可附否在忧的胶片系统我别b ，可使用附带。1mm滤板的O.1 mrn铅屏代替0.2mm铅屏。8 GBjT 19943-2005/1505579 ,1998 6. 3 射线束的对准射线束应指向被检区域的中心，并垂直于工件表面，除非能证明某些检测的

6、最佳显示可用其他射线方向获得。在后一种情况下，允许采用合适的射线束方向。经签约各方同意，也可选用其他射线照相法。6.4 散射线的控制散射线是降低像质的重要原因，用150kV400 kV的X射线时尤为明显。散射线可能来自被检工件内部和外部。为使散射线的影响最小，射线辐射场应作遮蔽，使射线柬仅限于被检区域。通常的做法是遮蔽初级圆锥状射线束，即在管头上装一物理锥体或光阑。胶片也应防御来自被检工件其他部位、被检工件后面或旁边物体的散射线，能使用厚度较大的后增感屏或使用一片铅板放在胶片-屏组合的后面，此板可插在暗袋里面，或直接放在暗袋后面。根据具体的布置，典型的铅板厚度范围为1mm ,-._, 4 rn

7、rn , 若厚工件的顶部边缘处于辐射场范围，通常采用降低边缘散射的方法，图9为两种典型方法。!S SSSSS ,5, SS S, S Sj 胶片E二二二二2铅桓圈9降低散射线影晌的方法用山lr和61!CO射线源或出现边缘散射时，工件与暗袋之间可用片铅饭作为低能散射线的滤扳。根据具体的透照厚度，铅板厚度为0.5mm,-._, 2 mrn。用能量大于等于6MV的X射线，不用后增感屏，也无需遮蔽散射线，除非紧靠胶片后面的是散射材料。通常，用150kV400 kV的X射线和用伽玛射线，如果不能使用射线束限制器，例如进行全景曝光时，曝光就应在尽可能大的房间内进行，使物体外的散射线随距离而衰减，只要口I能

8、，工件应离地面远些，靠近工件的地面应铺上铅板。应通过直接放在每个暗袋后面的铅字BC高至少为10mm，厚至少为1.5 rnrn)来检验每种检测布置中的散射线影响。此符号的图像若比底片亮，则此底片应判废。此符号的图像若比底片陪或不可见，则此底片合格，即表明散射线防护良好。GB/T 19943-2005/ISO 5579 , 1998 源至工件距离最小源至工件距离1m取决于源尺寸d和工件至胶片距离b，只要可行，距离f应选取使该距离与源尺寸d之比，即I/d不小于下式给出的数值。A级6.5 t注7.5 62/3 . ( 1 ) .( 2 ) 去二1巳b2/3若距离b1.2t，则式()和式(2)及图10中

9、的尺寸b应以标称厚度t取代。可利用图10诺模图来确定源至工件距离fmm0 B级-lg民主幢国式娼剧本H500 400 z 100 300 200 80 40 60 50 30 20 10 4 8 6 5 2o 1 E E 1 000 革哥匾国t H 嗣躏毛酣500 300 200 100 50 30 20 10 且5000 E3o 2o m 匾圄;0: 1 000 H 制晴、二?咽200 100 50 30 20 500 300 10 2 0.5 8 4 3 5 7 6 4il!E勇、hv眨樨10 图10确定与工件至胶片距离和源尺寸相关的最小源至工件距离f础的诺模图诺模图是根据式(1)和式(2

10、)作出的。用A级技术时，如果须检出平面状缺欠，则最小距离fmin应与B级相同，以减小2个因子的几何不GB/T 19943-2005/ISO 5579: 1998 清晰度。对裂纹敏感材料的技术应用，应采闲灵敏度比自级更高的射线照相技术。如果射辈革派能放夜被非勤工仲内凶心位置(网3)，则应优先采用此法以获得更滔当的l照射方向，避免双赎滔照(005和图肘。f院最小源?在忑牛li离的减小不宽大于50%6.6 一次眼光最大区域应享f董均匀的一个被梭区域的外端与中心射线直在的穿透应在lJl之比，应级不应大于1.l，A级不应大于1. 2, 不同穿透厚度所产生的嘴皮不宜低于队7的规定，且不商于所用观片灯的允许

11、债(可进行适当的滤敲)。6. 7 射线照相底片密度银光条件:fi便被枪13:域射线照相底片上的总密度(包括片毒草和灰雾度)大于统等于表4纷出的数值q司提4射线照相底片密度级J 明曹曾fA 以Z.OB 2，30 a 允许测量误差为士。1。b 经签约各方特许，可降为1.5. b 经费在约各方将i午，可降为2.O. t安6.9.幸X见片灯凝l宜足够.nr采用商密度，这是有益的。为激免胶片肉于:t化、影或I!ftOC引起的不iE常灰雾度，$L夜所使用胶片的未曝光样品上定期梭骏灰雾度，并按实际洗片的问样条件进行操作和处理。灰雾度不应大于0.3。这里1所定义的灰雾度是指米曝光胶片经处理后所得的总密度包括乳

12、剂和片基)。W):)jU问多胶片技术的岛主张底片时，每张底片的哥哥lJl均应符合农4规定。如果要求双片提合观察时，单张底片的密度不应小于1.3。6.8 胶片处理$L按胶片和药品创造商惟裕的条件激行胶片处理，以达到选定的胶片系统类别。威特别泼滋控制源皮、摄影时间和Jr.1J时间。射线照相底片上不:fi存在由于处理或其他原因引起的有两评定的缺欠。6.9 观片条件射线照相底片宜在符合GB/T19938姿求的暗室利符合GB/T19802姿求的亮度nr澜的观察膊上评定。古平片E王城外的观察f罪寂丑恶薇。7 检测报告成对德张底片就成锁底片编写榆测报告，给汹所使用的射线照相役术以及其他有助于较好理解全省泉的

13、特殊情况等俗息。报告格式和内容宜在特定的$LY目标准中规定或囱签约各方商定。如果俭测仅按本标准进行，则检测报份$L釜少包指下别l内容.ap : a) 梭测公司名称$b) 唯司的报告编号;c) 工件，d) 材料$e) 梭lllti时机$11 GB/T 19943-2005/150 5579 , 1998 。标称厚度;g) 射线照相技术和级别，h) 所用标记系统;检测布置和胶片位置图(若有要求时); 射线源、设备型号和焦点尺寸gk) 所选用的胶片系统、增感屏和滤板;) 管电压和管电流或源活度，m) 曝光时间和源至胶片距离;像质t类型和位置;。)像质汁读数和最小底片密度;p) 与本标准的一致性gq) 与商定标准的任何偏差;r) 责任人姓名、资格和签名，s) 曝光日期和报告日期。12 GB/T 19943-2005/ISO 5579 ,1998 参考文献IJ GB/T 12604.2元损检测术语射线照相检测(GB/T12604.2-2005, ISO 5576 ,1997 Non-destructive testing-lndustrial X-ray and gamma-ray radiology-Vocabulary , IDT)