GB T 6991-1986 电子元器件可靠性数据表示法.pdf

1、1 范围中华人民共和国国家标准电子元器件可靠性数据表示法Presentation of reliability data on electronic components (or parts) UDC 82 1. 38.032 -192.001.2 GB 6991-86 本标准对电F元器件可靠性数据表示提供指南，以获得关于失效和失效率或特性变化(漂移)方面的详细数据，为线路和设备的设计人员正确评价他们的线路和单元的可靠性提供必要的信息。它适用于那些以实验室进行的电子元器件可靠性试验中得到的数据，这些数据应按本标准提供的方法给予表示。本标准等效采用国际标准IEC319 (1978) 20时当n2

2、0时当n119 2 l 。l 总计50 50 50 50 50 表C3统计特性表试验小时数。168 336 672 1000 样本容量50 50 50 50 50 增益的均值77 .1 73.9 65.4 70.8 71. 6* 标准差估计21. 4 21. 4 17.1 21. 1 21. 8* 相关系数0.933 0.995 0.969 0.998* 相对变商的均值(Yo) - 4.2 - 14.6 7.8 - 6.4* 异常数忖。1 突然失放数。*所有计算f直是根据原样本容量减去异常数后的样本容量进行计算的。这里50- 1 = 49。川异常数规定为增益低于40的晶体管的个数。GB 899

3、1一. 20 140 120 100 80 箱 2z 60 #曲/- )()C 20 40 60 80 100 120 140 第0小时增益样本容量:50 图Cl散布图。可60 益益增增时。叫小。uv2JOO第和xpxO XFh xnr xtE MRO星UMA。xhvo uao x。回RDwhO xo -AVD RO K3 KD 点XD %d d户。x WA 120 1 80 :fJiI 辈Fx 40 。0.1 5 10 20 50 80 90 95 98 99 99.9 累积卤分敬样本容量;50 图C2概率纸图GB 6991一140 120 0.99分位数0.90分位数.。.50分位数40

4、。.05分位数20 。100200 300 400 500 600 7800 900 1000 时间小时样丰容量;50 图C3分位数图GB1一附录D采用说明参考件D.1 增加2.2h试验报告者及其日期，并在附录A中增加了相应栏目。0.2 将IEC319中2.3.1a和2.3.1b合并为2.3.1a原始失效数据，并在附录B中相应地增加了表B1原始失效数据，这样可使可假定为恒定失效率时及不能假定为恒定失效率时均有据可查。D.3 在2.3.2.2可假定为恒定失效率时中增加了应指出可假定为恒定失效率的理由及给出总试验时间和失效数。我国已制订GB5倒0.6-85恒定失效率假定的有效性检验，可为假定恒定失

5、效率提供检验方法。据此，本标准相应地修改了IEC319附录B中表剧的内容，并吸收了GB1772一79电子元器件失效率试验方法中失效率估计方法，以表B2恒定失效率时，应附加数据给出。0.4 我国己制订了一些非恒定失效率的失效分布的统计计算方法的标准，如适用于戚布尔分布的GB 2689.1-4等标准，本标准有义务推荐使用它们。因此，对IEC319的2.3.2.3不能假定为恒定失效率时增加了用其它分布进行假定和计算见2.3.2.3的。只有当分布未知时，才推荐使用IEC319 提供的通过划分时间区间，在各时间区间上进行估计的方法。据此，本标准相应地修改了IEC319附录B中表B2，给出表B3，以适应其它失效分布假定时使用。0.5 增加了2.3.3e说明相应的参数估计方法及其标准号，可为核实有关计算结果提供依据和方便。附加说明z本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由全国电工电子可靠性与维修性标准化技术委员会组织制订。本标准由电子工业部第五研究所负责起草。本标准主要起草人李新祥。