QJ 1527-1988 半导体集成电路.脉冲宽度调制电路测试方法.pdf

1、Q.I 中华人民共和E航天工业部部标准QJ 1527-88 半导体集成电路脉冲宽度调制电路测试方法1988-0毒-17发布1988-12-31实施中华人民共租噩黠去工业部发布中华人民共和国航天工业部部标准QJ1 527-88 半导体集成电路障冲宽度调割电路翻过芳i去本标准规定了半导体集成电路脉冲宽度调制电路以下简称器件)电参数I照该部基本原理与方法。1 总韵要求1 .1 若无特殊说明，在测试窥i蜀，环搜温度或参考点温度偏差规定值的范蜀，应符合器件详细规范的规定。1.2 测试期网，ji避兔外界子扰对测试精度部影响。测试设备引起的普普量误差应在器件详细规范中规定e1.3 测试期阂，施于被满器件部电

2、辈革的内应在工作信号频率下应基本为零a宣言在电源电应波动不得超过百分之二，纹波电压小子或等于1号mv.1 .毒被测器件与满试2系统连接或新开窍，不应超过程待的极限使用条件-1.5若有要求时，应按器件详级规范规定的颠序接通电源。1.6 测试期间，被测器件应按器件详细规范短定连接辅助电路部补偿电路。1.1 那试辈辈阂，被测器件应避免出现自激现象.1.8 J试装置的寄生参量指分布电容，分布电感等不应对测试结果产生锈显的影略。1. 9 测试翔酶，器件的工作频率低于被测器件的最高工作频率.2 电.测斌2.1 起始盖章宽偏差.6t.2.1. 1 呈义当辘入调牵l信号电压V，=O(短路耐，苦苦件输出端盘正向

3、脉冲宽度与负向陈J冷宽度王军高电平宽度与低电平宽度)之差，郎为起始脉宽偏差.too2.1. 2 111试朦噩噩运始脉宽铺差.6t.测试原理图如001所示e童在天工业部1988-04一11批准1&88-12-31摸黯1 QJ1527-88 v, :;0 Vo 111 DU 。￥-匮12.1. 测试条件测试郑润，下歹tl源试条件应符合苦苦件详细越范的规定。a. 环涟涟雯，b. 电源电压，C. 载波频率f.，d. 负载电I!RL e. 补偿河络及辅助电路.2.1.4 测试程序2.1.4.1 按规定灼环缝条件，将被测器件接入测试系绞中。2.1.4.2 施加越定剖电器重电压。2.1.4.3 改变Cj撞，

4、使器件载波频率符合规定刽工作频率a2.1 .4 当VlN=OH苦，t商量脉冲宽度R租金。L2. 1.4.5 按公式计算，则z6tO=tOR - toL (阳2.1.5 注意事穰遵守总的要求。2.2 起始朦宽偏差温度漂移来擎aL1to2.2.1 定义主单位环撞温度的变化，导致起始脉宽编差的变化量，因为起始泳宽铺差温度漂移系数2.2.2 涌试原理噩起始5幸宽偏差瘟疫漂移系数Dto事慧试原理因如图2所示。2 QJ1521-88 V令RZr-: 悄地iN D tI 111 c-L 工F 题22.2.3 测试备件在测试期间，下列测试条件应符合器件详级规范的规定. 环境温度，岳.电吉雷电压，C. 我被频率

5、(.，2.8.1 定义:做锁定的咆源咆历和销也负役条件!J，J咏觉渊创骨器能够输出的啕胀的峰峰假.9 QJ1521-88 2.8.2 测斌鹏耀图章是大输tI咆/E申国J3tV Qpp测试照规则且E引8，+ 品TN OUT D.lJ T Cf +协lT c1 固自2.:3. 3 测试;l;件!E测试期间，下刊测试条件应符合器件详细规范的规定。L 环境混成pb. ，也i月叶;./E.C. 我;J颇旦在f d. i.载咆阪R.， 补偿网络及辅助电路，f. 盖在增也L五十V1tE:P，-v脯，傲。2.8.4 测试程序2.8.4.1 按规宠坏草草条件，将被测穗件接入测试系统巾62.8.4.2 施加规定的电源电胀。2.8.4.3 r:立交电容稽C值，使糟件载波频率符合规寇的憾件工作频E队2.8.4.4 51慧与fA，若H中输III为lE向饱和电胀，刷版陈农读tIlv 0，内低。2.8.4.5 s:筒子B，器件输出为负向饱和电压，由电压表读出VO(叫值-2.8.4.6 l费公式计算.则VOpp苟-=VOp(川-Vopt-B。2.8.5 泣监事项遵守总的要求。附加说明s本标准由航天部七O八所提出，又非你准幽航3足部六九一厂负置肯走吕卫队0