1、标准中华人民共和国电子工业天线测试方法功率容量的SJ2534.16-81 叮本标准适用于功率容量的1 限制曲事窑量的的功率容量系指天的限制，而在高峰电的限制-2 击与天钱周围宝气2.1击穿与气压的关系 功率的能力.功率容量在高平均功率电平时受电平时则受到与强电场有关的电特性的关击穿与气压有关，当气压很低时，击穿功率电平随气压的增加而减小，其电气压辉光放电与被长有关，在高气压下，它随气压的升高而增大.在高真空条件下介卫星高度上)进行功率容量测量时，二次电子倍增是任何一种天线的一种可能的击穿机.二次电子倍增是出现在高真空条件下的天线谐振现象.当电子从天线的一个电极到另一个电极的渡越时间可与工作频率
2、的倒数相比拟时，由于电子碰撞引起表面电离，从而导致电子密度增大。2.2 等离子体环境下的击穿现对于装在重返大气层的运载器上的天线，应在电容量.当天线的发射功率提高到某一电平时，电子密度增大.在这种情况下确定击穿的最重要的参子体密度的大小有关.2.2.1 I描界等离子体密度空气包围该运载器的情况下确寇功收的功率足以使气体发热并使电子体密度.击穿的寇义与初i脂界电离气体的自然振荡频率等于天线激励当电离气体的自然振荡频率远低于天线激度的.时的等时，该子体密度称为临界等离子体密度.子体称为低于临界密度的或低密2.2.2 初始等离子体密度低于临界密度时击穿的寇义若初始的等离子体密度远低于临界密度，则未扰
3、动的气体对天线场的影响可以忽略.这况下击穿被定义为使受扰动的电离气体成为过临界(过密度并使等离子体以外的发射功率发生剧降的输入功于。2.2.3 初始等离子体密度接近l临界密度时击穿的寇义若初始等离子体密度接近或超过临界密度，击穿的定义就更复杂了，此时未扰动的电气体可能对天线场有严重影响，通常不能忽略。在这种情况下，通用的击穿定义是指一个特定的输入功率电平，当输入功率超过此电平时，等离子体外的发射功率不再有明显增加.3功的电子工业部1987-0卜06发布1987-06咱们实一-1-5J2534.16-87 因为天线始注与环境条件的种类不同，因此本标准不规定17J卒容量的具体现u试步骤，只的一般问
4、题。3.1 环境条件的模拟当海拨高度高时，天线在低气压条f牛下工作，此时为7满意地选行峰值功率容盘测量，必须采用钝罩或其它合适的小企来模tEJB拔高度:条件。注意出2电子顶上的iIl量单据外推是不的.可采用放射性材料在被翻天线周围的大气中不断形成自由电子的办法，来保证击穿试验的可靠性与一致性而又不致降低绝对击穿门限。在实验室中割量导弹天线的:功率容量时，必须摸拟等离子体条件卢击穿功率电平与若干等离子体参数以及电子密度的大小和空间变化的关系可能是临界的。当测试天线时，不仅要击穿功率电平，而且要在功率电平低于、等于和高于击穿电平情况下测量天线的输入阻扰、辐射方向图、功率增益的变化以及发射信号的失真
5、.3.2 发射机的参数为了得到准确的结果，应该使测量用的功率掘的参数(例如调制、什脉冲波形、脉冲宽度忡重复频率等与天线实际所采用的发射机的参数相同.3.3 :杂试时，应仔细检查天线是否有毛剌、脏物、金属碎屑及锈蚀物等，这些杂质常是低击穿功率的主E阳系。3.4 监视可以用热电不同，当外或涂在关键表面的温度敏感涂料来测量温升。根据所用的测试监视器类型电平增加时，击穿可通过外部观察、昕音、发射监视器天线所接收到的号的变化，或者旦发生号的变化来检测.有时候(例如在发生辉光放电情况下关定停止击穿的功率电平。3.5 安全预防措施在高平均功率电平情况下进行测量肘，应采取适当的安全装置和方法，作员不受伤害.附加说明z本标准由电子工业部标准化研究所提出。本标准由电子工业部第三十九研究所负责起平本标准主要起草人z柯树人一-2-由以保护近处的工
