1、ICS 29.035.01 K 15 GB 中华人民共和国国家标准化指导性技术文件G/Z 28820.3-20 12/IEC/TS 61244-3: 2005 聚合物长期辐射老化第3部分:低压电缆材料在役监测程序Long-term radiation ageing in polymers 一Part 3: Procedures for in-service monitoring of low-voltage cable materials (IEC/TS 61224-3: 2005 , IDT) 2012-1105发布中华人民共和国国家质量监督检验检班总局中国国家标准化管理委员会2013-02
2、-01实施发布GB/Z 28820.3-2012/IEC/TS 61244-3: 2005 目次皿引言.凹1 范围-2 规范性引用文件.3 缩略语14 对监测技术的要求25 可用的技术25. 1 概述25. 2 无需取样的现场测量方法-5.2.1 概述-5.2.2 压痕模量.5.2.3 声速.5.2.4 近红外反射5.2.5 扭矩模量45.3 微量取样的现场试验45.3.1 概述45.3.2 模量绘图法.5.3.3 NMR松弛5.3.4 红外光谱(IR)5.3.5 氧化诱导期(OIT)和氧化诱导温度(OITP).5.3.6 热重分析(TGA)5.3.7 密度.5.3.8 凝胶含量和溶剂吸收量方
3、法.6 总结6参考文献I GBjZ 28820.3-2012jIECjTS 61244-3: 2005 目lJ1=1 GB/Z 28820(聚合物长期辐射老化由3部分组成:第1部分:监控扩散限制的氧化的技术;第2部分:预测低剂量率下老化的程序;第3部分:低压电缆材料在役监测程序。本部分为GB/Z28820的第3部分。本部分按照GBjT1. 1-2009给出的规则起草。本部分使用翻译法等同采用IECjTS61244-3: 2005(聚合物长期辐射老化第3部分:低压电缆材料在役监测程序。本部分由中国电器工业协会提出。本部分由全国电气绝缘材料与绝缘系统评定标准化技术委员会归口(SACjTC301)。
4、本部分起草单位:上海电缆研究所、机械工业北京电工技术经济研究所、深圳市沃尔核材股份有限公司、深圳市旭生三益科技有限公司、上海核工业研究设计院、上海特缆电工科技有限公司、江苏上上电缆集团有限公司、上海电缆厂有限公司、临海市亚东特种电缆料厂、上海凯波特种电缆料厂有限公司、无锡江南电缆有限公司、常州八益电缆股份有限公司、上海至正道化高分子材料有限公司、上海创新高温线缆厂、浙江万马电缆股份有限公司。本部分主要起草人:孙建生、刘亚丽、郭丽平、康树峰、卢伟、居学成、顾申杰、孙萍、王松明、王怡瑶、周才辉、段春来、赵文明、周叙元、侯海良、沈蓝、唐松柏、刘淑芬、刘凤娟、刘琦焕。mm GB/Z 28820.3-2
5、012/IEC/TS 61244-3:2005 引在辐射环境中,聚合物广泛作为电气绝缘材料使用(例如,控制电缆、仪表电缆和电力电缆)。在上述使用环境下,它们的运行寿命为核电站的整个工作寿命,或许超过40年,而且可能在整个寿命期间或者期末还会在事故条件下运行。尽管已有许多数据评价了聚合物绝缘材料在辐射条件下的性能,但是对于经历长期、低剂量率辐照的电缆性能,尚元确切的评估数据。因此,在核电站运行期间,需要对电缆绝缘材料的降解情况进行在役监测。合适的电缆监盟t技术是核电站监测方案的基础,它能保证核电站-一一-飞飞延寿和许可证更新。本部分主要内牵挂卖于辐身射环境下电赞这些技术同样可以用于聚合物膳草一热
6、书IIII.J.)而一一-二二N GB/Z 28820.3-2012/lEC/TS 61244-3:2005 聚合物长期辐射老化第3部分:低压电缆材料在役监测程序1 范围GB/Z 28820的本部分,总结了目前主要采用的电缆监测技术。这些技术主要针对低压电缆的降解的监测。每种方法的优点和局限及发展状况都会在相关章节中提到。2 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T 26168.4-2010 电气绝缘材料电离辐射影响的测定第4部分:运行中老化的评定程序。EC
7、60544-5: 2003 , IDT) 3 缩略语下列缩略语适用于本文件。BR 丁基橡胶CM 状态监测CSPE 氯磺化聚乙烯CP 氯丁二烯DLO 扩散限制氧化DSC 差示扫描量热仪EPR 乙丙橡胶EVA 乙烯醋酸乙烯醋共聚物IR 红外光谱OIT 氧化诱导期OITP 氧化诱导温度NIR 近红外光谱NMR 核磁共振PE 聚乙烯PVC 聚氯乙烯PEEK 聚醒醒酣SBR 丁苯橡胶TGA 热重分析XLPE 交联聚乙烯XLPO 交联聚烯炬GB/Z 28820.3-2012/IEC/TS 61244-3 :2005 4 对监测技术的要求理想的电缆监测技术需要满足很多要求。现实中,还没有一种技术能够满足全部
8、要求,因此需要用到多种技术。在每一种情况中,要充分运用这些技术都需要基准数据(例如,同样配方同一生产厂的未老化材料)。理想的监控技术应具有下列属性:一非侵入性,给电缆造成的干扰最小;一一在正常运行时能够使用;一一不需要设备断电;一一适用的电缆材料和使用的地点易拚a) 现场测量,元需取压痕模量;-一声速;一一近红外反射;扭矩试验。b) 现场测量,微量取样一一模量绘图;核磁共振松弛;一一红外光谱;2 氧化诱导期(OIT)和氧化诱导温度COITP); 一一热重分析CTGA); 密度测量;溶剂吸收量和凝胶含量。以下将就这些方法展开详细描述。GB/Z 28820.3-2012/IEC/TS 61244-
9、3 :2005 5. 2 无需取样的现场测量方法5.2.1 橄述现场表示该方法仅能给出被测试点的信息,有可能会遗漏局部的降解区域。这些方法只能在人力可到达的区域内使用,并且除了在电缆终端绝缘暴露处测试绝缘材料外,仅能用于测试电缆护套材料。由于断裂伸长率的变化能表征降解,只有当这些技术的测试结果与材料的断裂伸长率的变化交叉相关时,这些方法才可以用于预测。这种类型的试验会给出电缆状态的直接的现场数据。由于电缆护套比绝缘材料更易阵解(通常如此),采用这种方法就能提早获得电缆故障的警告。熟练人员现场用于工进行弯曲试验就能对电缆状态得出定性的信息。5.2.2 压痕模量压痕模量仪能够测量和聚合物压缩模量相
10、关的参数。将已知形状的探针压入聚合物表面,就能测量载荷和位移。具体参见GB/T26168.4-2010。5.2.3 声速这项技术还处于发展中,现阶段(2005年)还只在PVC电缆上进行过测试HJ。按式1计算声速,式中固体媒介中的声音速度与其密度和弹性模量相关。式中:C声音的速度;E一一弹性模量; 聚合物密度。C2 =E P . ( 1 ) 在电缆材料的老化过程中,模量和密度都会变化。因此,老化过程中声音速度也会发生变化。测试仪采用压电传感器传送和接收图1所示一系列脉冲信号。信号通过时间可以用传感器间距(最大至几厘米)的函数来表示,获得的函数的斜率就是速度。已经在20kHz下测量了一系列PVC护
11、套电缆以及从这些电缆上剥下带状的护套材料的声音速度。将从护套材料带状试样上获得的数据与完整电缆上获得的数据进行对比,发现这种技术还受电缆形状尺寸、相邻的屏蔽和绝缘组件的影响。随着PVC配方的不同,在此频率下的声音速度变化很大,因此,如果要将这项技术运用于实际,就需要获得核电站中每一种电缆的基准数据tuo还有人使用1MHz脉冲进行测试口,3,结果发现,声音速度仅与PVC护套材料的降解有关,而与电缆形状和配方元关(见图2)。局限声音速度测定仪只能检测传感器探针间的少量护套材料的性能。测量结果受电缆结构和护套材料具体配方影响很大。因此,还需要大量的基准数据。此项技术还在发展中,而且仅对PVC护套材料
12、做了测试。目前已经开发出来便携式的测试仪样机,但尚未投入现场使用。对老化降解的高敏感度说明本技术也许值得继续开发。5.2.4 近红外反射聚合物老化期间红外光谱会发生变化,主要是殷基CC=O)、起基CO-H)和援基CCOOH)这些官能团马这些官能团可以在一透;射的红外光谱土见到7在现场使用的是便携式的附有光学探头的近红孙反射CNIR)0 NIR也可以用来确定电缆材料及其化合物4J。用在PVC护套电缆上的近红外波长是1300 nm2 100 nm(7 692 cm-14 762 cm-1)汀,测量时用一个光纤探头压在护套上。光通路长度的微小变化导致的基线偏移可以在吸收光谱上看到。微小的3 GB/Z
13、 28820.3-2012/IEC/TS 61244-3: 2005 基线偏移可以通过对吸收光谱(见图3)进行一阶求导消除,因为吸收光谱的一阶导数就是吸收光谱在每一波长上的斜率。红外光谱的很多区域都和PVC材料的断裂伸长率的变化有很好的相关性,例如,图4的光谱中1640 nml 650 nm(6 098 cm-l6 060 cm-1)的变化就是PVC的热老化。这种使用光纤为反射测量探头的技术正处于早期发展阶段。局限近红外反射光谱(NIR)只能检测到电缆材料很浅的表面。表面的情况可能不能反映材料本体的降解情况。和本类型的其他技术手段一样,近红外反射光谱获得的数据仅限于和探头直接接触的表面。在解释
14、数据时必须留意到一些聚合物中的稳定剂也会在相同的波长出峰。这项技术对电缆的尺寸或结构不敏感,但是每种材料都需要校准曲线。NIR技术不适用于炭黑填充的材料。5.2.5 扭矩模量电缆护套材料的降解还可以采用扭矩-应力回应方法测量问。用一对夹头夹住电缆外层,在其中一个夹头上施加一个小角度扭矩,角度为50 100,频率最大为ZHz。装置示意图见图5a)、图5b)和图5c)分别是扭矩试验仪的桌上型和便携式的原型机。已经将PVC电缆性能的初始数据用来优化扭矩实验的测试条件。在oHzZ Hz频率范围内,扭转频率对扭矩值的影响很小,对于PVC材料来说最佳试验频率是0.8 Hz。在转角为10。及以下时,元论是刚
15、出厂的还是已经老化的电缆,扭矩值随着扭转角线性上升。在转角更高的情况下,电缆中其他组件会对结果产生重大影响。作为非破坏性试验,推荐试验中的最大转角为100。关于两夹头之间电缆长度的影响,也进行了研究。在较短的电缆上测试结果受绝缘、导体或其他护层影响很大,随着电缆长度增加,扭矩-应力回应的灵敏度会降低。PVC电缆最佳试验长度为50 mm。不管是在热老化的材料上还是在连续经受辐射和热化学老化的电缆上,用原型试验仪测得的扭矩值和断裂伸长率都有很强的联系(见图6和图7)。在相当大的伸长率范围内,伸长率和扭矩都存在线性关系。只有在加速试验的非均匀氧化作用下才能观察到线性关系的偏离(见图的。扭矩试验反映的
16、是护套材料的综合性质,然而断裂伸长率却是由材料氧化程度更高的表面上的裂纹所决定。在核电站中的大多数电缆上发生的是均匀氧化。已经成功开发出在运行电缆上使用的便携式扭矩试验仪(见图5c)。这使得在现场电缆上元损获取数据变得可能。局限和所有的现场测试技术一样,这种测试方法也仅能用于人力可到达的区域。由于扭矩试验受电缆结构和尺寸的影响巨大,所以在实际运用中需要很多类型电缆的基准数据。如果现场环境条件会导致非均匀氧化,采用这种技术就会低估电缆护套材料的降解程度。虽然对电缆进行操作时存在轻微影响,但是这种技术仍可认为是元损检测。5.3 微量取样的现场试验5.3.1 概述这些方法也局限于人力可到达的区域,并
17、且所提供的信息也主要是护套材料的。只有终端部位的绝缘才能检测。当这些技术的测试结果与断裂伸长率基准数据的变化交叉相关时,这些方法可以用于预测。所有这些技术在实验室中都需要备有相当复杂的设备。尽管其中有些方法的现场试验已经积累了经验,有些国家还是拒绝取样试验。下文大致描述了这些方法。具体内容参见引用文件。4 GB/Z 28820.3-2012/IEC/TS 61244-3:2005 5.3.2 模量绘图法模量绘图法是最近15年内发展起来的,它是将反向拉仲柔量(与拉仲模量紧密相关)以分辨率50m定量画图6.7J。这样的分辨率意味着可以在小片电缆护套或绝缘材料的试样上进行测试。这项技术是基于商用热机
18、械分析仪进行多处简单的改造而戚。它分为两个步骤,先将一个抛物面形状的不锈钢尖端插入试样打磨过的横断面,形成一个凹口,然后在凹口处使用一个线性可变差动传感器进行压痕定量监测。与探头的几何形状和加载情况有关的压痕导致模量值的典型偏差在士5%左右。由于这项技术对模量的变化很敏感,它能检测的材料类型和压痕模量仪一致。图9和图10说明了在加速热老化研究中伸长率结果和模量测试的典型关系。图9是氯磺化聚乙烯(CSPE)护套料薄试样(0.4 mm厚度)在5个老化温度下的实验结果关系,图10是一种氯丁胶(CP)护套料在3个加速老化温度下的结果。图11是一种CSPE护套料在4种辐照温度组合下老化的结果。所有这三个
19、例子说明伸长率结果和模量测试的确有关系。并且这种关系与老化条件无关。这种结果是让人鼓舞的,因为它暗示了在实际的核电站中较低温度和剂量率下依然可能存在这样的关系。此外,它清楚表明在模量值到达25MPa35 MPa时断裂伸长率为50%(一个常用的终点判据)。对一种CP护套料和七种CSPE护套料进行单纯热老化和组合老化后也取得相同的实验结果,即模量值到达35MPa士15MPa时,断裂伸长率为50%8.飞因此,当使用模量检测技术时CP和CSPE护套材料通用的失效值为35MPa比较合适。当元法或没有对材料进行热老化时采用这种方法有巨大的优势。局限只能在人力可到达的区域取样,所以仅能检测电缆护套或可接触到
20、的电缆终端绝缘材料。为寻找本项技术与伸长率的相互关系,可能需要大量基准数据。5.3.3 NMR松弛这种方法通过将试样在合适的榕液中溶胀来提高其核磁共振松弛测试的灵敏度比10-12J。测试可以在许多商用NMR机器上进行。试验是可重复的,在15min20 min内就可以完成制样、数据收集和数据分析。对大量的热老化材料的筛选研究表明NMR方法可用于主要的电缆材料。即使是通常因为具有高模量结晶相导致很多CM技术很难适用的XLPO绝缘材料上川,也能采用这种技术。NMR松弛技术对材料非晶相内的交联度很灵敏,因此结晶对机械性能的混淆影响就可以消除。图12和图13分别是一种热老化CP护套料和热老化XLPO绝缘
21、料的NMR测试结果(质子自旋弛豫时间T2)和伸长率测试结果的相互关系。试验通常需要使用10mg试样。但是,也有结果表明使用0.1mg的试样也可行llJ,NMR方法被认为是非破坏性的。此外,能够利用如此少量的试样进行检测,说明它能够对不适用其他方法检测的很薄的复合绝缘材料进行测试。局限即使采用的试样量很少,取样也只能限于人力可到达的区域内对护套或绝缘材料进行。为了测定在过度降解之前电缆聚合物材料的NMR松弛时间的变化,需要相当大量的基准数据。5.3.4 红外光谱(IR)在老化过程中,红外光谱会发生变化,变化主要是在嵌基(C=O)、是基(O-H)和援基(COOH)这样的官能团上百代替现场测试的方法
22、是从屯缆上取样在实验室进行红外光谱试验。试样通常是从材料表面取得的碎屑或小条,但量非常小,不会对电缆运行造成影响。经常使用在1720 cm-I的殷基峰的变化来确定材料的降解程度131510图14是辐射老化的XLPE撮基吸收峰的变化情况,图15是热老化的XLPE殷基吸收峰的变化情GB/Z 28820.3-2012月EC/TS61244-3:2005 况。这个官能团在氧化降解的早期阶段很灵敏,但是在机械性能发生显著降低的后期阶段并不灵敏。局限除非绝缘是暴露在外的,否则只能在电缆护套上取样进行IR光谱试验。取样的深度要比现场IR反射试验取样的深度更深,但是这也不能说明材料整体的状况。取样只能在人力可
23、到达的区域,并且对降解后期阶段灵敏度不够。这项技术也不适用于炭黑填充聚合物。5.3.5 氧化诱导期(OIT)和氧化诱导温度COITP)氧化诱导试验所用的试样是从电缆组件(例如电缆护套材料)上取得的微量样品,并不影响电缆运行。可以用商用差示扫描量热计(DSC)在恒定温度下测得氧化诱导期(OIT)或者在恒定的升温速率下测得氧化诱导温度(OITP)。这两个试验是互补的,但是由于氧化诱导期难以测定,一般都用OITP。orT随着降解程度的增加而下降。试验的详细情况参见GB/T26168.4-2010。5.3.6 热重分析(TGA)如氧化诱导试验一样,热重分析使用的试样也是从电缆组件上取得的微量样品,并不
24、影响电缆运行。采用商用标准的热重分析设备,测试在一定升温速率下试样的质量损失。TG八设备获得的绝对值和试样室内的氧气含量有关,低氧含量的情况下得到初始值比较高。随着辐射阵解程度的提高,TGA温度有降低趋势。试验的详细情况参见GB/T26168.4-2010。5.3.7 密度聚合物在空气中老化,氧化在降解中起主要作用。氧化过程包括分解和交联,在聚合物分子链中形成氧化产物和气态分解产物。这些化学变化导致很容易就能测出密度的上升。试验的详细情况参见GB/T 26168.4-2010。5.3.8 凝胶含量和溶剂服收量方法这个方法相对简单易行1618,需要的试样是从电缆上取下小的材料样品。在用良溶剂煮沸
25、试样之前要对其称重,在溶胀之后再进行称重。然后在真空炉内干燥去除溶剂,完全干燥后再次称量。溶剂吸收量是溶胀的重量减去最后干燥的重量,凝胶含量是最终重量除以初始重量。当交联反应超过分解反应时,凝胶含量上升,反之则凝胶含量下降。交联程度越高溶胀度越低,当分解反应超过交联反应时,溶胀度就上升。由于模量和硬度的变化对交联反应和分解反应都很敏感,对适合压痕模量和模量绘图测试的材料和环境,溶胀度和凝胶含量测量方法也是很好的状态监测技术。对于PVC材料和诸如丁基橡胶、CP和CSPE等橡胶材料,选用这种测试方法很合适凶,18J。图16就是一个CP护套料在三个不同老化温度下的可溶物含量对伸长率作图的结果8J。本
26、技术也适用于XLPO材料,把XLPE材料在130 .C进行老化(见图17)和把一种XLPO材料在125.C进行老化(见图18)的结果证明了这一点。要使可溶物含量对老化敏感,难点在于精确称量50mg以下的溶胀试样的重量问。另一方面,如果要使用凝胶含量方法,那么为了精确称量初始重量和最终干燥重量,试样重量应为1mg或以下。局限取样范围仅限于人力可到达区域,所以主要检测的是护套和终端上暴露的绝缘材料。为了确定电缆材料在降解之前凝胶含量和溶剂吸收量的变化,需要大量的基准数据。6 总结本部分总结了很多正在使用以及正在开发的电缆状态监测技术。表1中总结了这些方法,说明了它们的限制、现状和设备成本。最先进的
27、技术在GB/T26168.42010中已经包括。6 GB/Z 28820.3-2012/IEC/TS 61244-3: 2005 目前没有种技术能够适用于所有电缆材料或电缆结构,但是,很快会研发出更有效的方法满足电缆监测的需要。表1电缆状态监测可用技术总结技术测量参数被测材料限制d现状(2005) 设备成本参考文件现场测量元需取样d压痕模量弹性模量弹性体,CSPE,热不适用于辐照老化中GB/T 26168.4-2010 a 老化的PVC,聚烯短PVC 声音速度声音速度热老化的PVC受电缆结构和配方影响c 中1-3J 近红外反射红外反射热老化的PVC表面污物,炭黑填充c 高4J 材料不适用扭矩试
28、验仪扭矩PVC 受电缆结构影响c 中5J 现场测量微量取样d模量绘图弹性模量弹性体,硅树脂,a 中6 , 7J CP , CSPE, EPR 核磁共振NMR 弹性体,XLPO,b 中8 , 10-12J 松弛松弛时间CP, CSPE, EPR 红外光谱红外吸收XLPE , PE, SBR , EPR 降解后期不敏感,b 高13-15J 炭黑填充材料不适用氧化诱导期/氧化开始XLPE, EPR, PEEK , 表面污物,PVC不推荐中GB/T 26168.4-2010 a 温度EVA 热重分析质量损失辐射老化PVC热老化PVC不适用a 中GB/T 26168.4一-2010(TGA) 密度测量密
29、度XLPE, PE, CSPE, EPR, PVC a 低GB/T 26168.4-2010 最后干燥重凝胶含量和量、初始重量弹性体,XLPO,CP,a 低(实验8,16一18J溶剂吸收量溶胀重量、最CSPE, BR , PVC 室用途)后干燥重量a使用中的技术,具有相当多的经验和数据。b处于试验室阶段,尚需发展。c探索中的技术,目前尚元亮发或未在使用。d所有现场实验都仅限于人力可及范围,除了在终端,试验针对的是护套材料。对于取样测试,仅限于电缆表团|的性能。7 G/Z 28820.3-2012/lEC/TS 61244-3: 2005 1)3 /)2 1 一口口导体花?、1100 。13.4
30、 13.6 i电转换器10 kHz纵向13.8 14.0 超声延时/s阳j接受器14.2 14.4 a) 聚氯乙烯护套材料的超声波传播时间和断裂伸长率之间的关系的示例图2声音速度试验结果同8 GB/Z 28820.3-2012/IEC/TS 61244-3: 2005 400 300 200 0.180 。.120汉M甜半-t四帽K自. 2000.0 1 860.0 1 720.0 1 580.0 1 440.0 9 波长/nmPVC材料红外眼收波长的变化和用一阶导数消除基线偏移山图3GB/Z 28820.3-2012/IEC/TS 61244-3:2005 . 也缆试样典型一阶导数光谱1 队
31、J -、LJ 户 r.r- v n f 。.0580.018 0.002 0.008 一0.0120.022 。.0480.038 0.028 剖嘲盼怎lgM宵运崽2 120.0 1 980.0 1 848.0 1 700.0 1 550.0 1 420.0 -0.032 1 280.0 滋长/nm图3(续)XM甜半附一由于260 240 220 200 180 160 140 120 、飞阜、 、:十、u-J$+,、长由,、4,、一、.-、-、-、-、-、一+.、二、L nu nu q nu n o. 029 0 。.0280 0.0270 0.0260 报盼怎ig储运叫自100 十80 1
32、50 110 95 82 58 55 28 15 0.0250 0 时间/天110 oC老化的PVC1 640 nm-1 650 nm的红外吸收的一阶导数和断裂伸长率的关系1J图410 GB/Z 28820.3-2012/IEC/TS 61244-3: 2005 记录仪扭矩(探测)率颜转扭-v 距离(长度a) 扭短试验仪示意图5Jb) 桌面型扭矩试验样机图5扭矩试验仪示意图和照片11 GB/Z 28820.3-2012/IEC/TS 61244-3:2005 便携扭矩试验样机图5(续)c) 热老化158c / 口因00 扭转角士5。103 102 XM睛业慧副鉴20 16 12 8 扭距/Nm
33、4 10 0 158 oC老化的阻燃PVC电缆的断裂伸长率对扭矩值作图5J图612 GB/Z 28820.3-2012/IEC/TS 61244-3: 2005 口/ 依次老化(0.5 MGy 120 C) 。103 10 X回睛半零部每扭转角:!:5.20 16 12 8 4 Lnu 1 0U i 扭距/Nm依次经过0.5l1Gy辐射老化和120.C热老化的PVC电缆的断裂伸长率对扭矩值作图5J图73 ( -A I I o 扭转角士5。10 XM甜半辈蹲监60 50 40 30 扭距/Nm20 10 101 0 13 120 .C老化的PVC电缆的断裂伸长率对扭矩值作图5J图8GBjZ 28
34、820.3-2012jIECjTS 61244-3 :2005 150 c 100 c 120 c 140 c 130 c A口200 100 400 300 XM睛制中零部监10 2 0U I 10 。100 模量/MPa5个不同温度老化的CSPE护套拉伸长度和模量绘图仪测得的模量的关系6J图980 c 95 c 110 C A口300 250 200 150 100 50 vaM睛半恙。1 1 000 100 外部模量/MPa3个不同温度老化的CP护套拉伸长度和模量绘图仪测得的模量关系8J图1014 GB/Z 28820.3-2012/IEC/TS 61244-3: 2005 100 80
35、 60 90 剂盘率kGy/h 0.062 。.0640.184 0.94 口。A 400 X崎岖立宫附叮80 c 110 C 95 c A口8 7 6 5 4 3 2 乃ImsNMR 15 3个不同温度老化的CP护套拉伸长度和NMR松弛时间关系日图12GBjZ 28820.3-2012jlECjTS 61244田3:2005100 C 110 C 口A A 400 300 200 100 X四前半岳18 16 14 12 10 8 日4 2 nu nu 1与/msNMR 2个不同温度老化的XLPO绝缘拉伸长度和NMR松弛时间的关系12J1. 0 0.9 0.8 EGO-yhH HIEUON-
36、图13o 0.2 kGy/h 口7kGy/h C 6 kGy/h at 60 c 储运因-储运阪-1. 0 0.8 0.6 0.4 0.2 辐照剂量/MGy不同剂量辐射老化的XLPE的撮基眼收峰15J图1416 GBjZ 28820.3一2012jIECjTS61244-3:2005 140 c 3 2 时EGDN时甜运崽HEUONKF储运崽n nu n l 10 老化时间Id2.8 2.6 2.4 2.2 1. 6 1. 8 2.0 溶剂吸收量1. 4 1. 2 。1. 0 3种不同温度老化的CP护套拉伸长度和溶剂服收量的关系问图1617 嗣gg系燎10 6 4 2 。8 GB/Z 2882
37、0.3-2012月EC/TS61244-3 :2005 400 200 nu nu 1 300 85 80 75 500 95 90 X峭扣V剧时崽XM睛世中-F600 500 400 300 200 100 。130 c 时间Id1300C老化的XLPE绝缘的伸长率和凝胶含量及溶剂眼收量的试验结果对比18J刷运叫自口性综nu l 2 。8 6 4 nU FDO 民aq300 200 100 75 70 65 60 X尉命运路这M宵川平且tF图17700 600 500 400 300 200 100 。125 c 125 oC老化的XLPO绝缘伸长率和凝肢含量及溶剂眼收量的试验结果对比18J
38、时间Id图1818 GB/Z 28820.3-2012/IEC/TS 61244-3 :2005 参考文献lJ STONKUS, D. J. , LEHOCKEY, E. M. , AZIZIAN , H. and ANANDAKUMARAN , K. In situ diagnostic monitoring of power plant cables , Proceedings EPRI workshop on Power plant cable condition monitoring, San Francisco , Feb. 1993. 2J IKEDA , T. , IKEHARA
39、, J. , ASHIDA, T. and FUJII, M. The d巳gradationdiagnosis of polymeric materials by ultrasonic waves-Part 1: Degrading m巳chanisms01 polymeric materials and the degradation diagnosis 01 low voltage cables by the ultrasonic method,岛1itsubishiCable Industries Review , Mitsubishi Cable Industries Ltd, No
40、. 94 , 43-47 (Nov 1998) (in Japanese, with English summary and figure captions). 3J IKEDA, T. ,IKEHARA,上,ASHIDA,T., FUJII, M.and KAWASAKI,K. The degradation diagnosis of polymeric materials by ultrasonic waves-Part 2: Development of the ultrasonic degradation tester U-203 , Mitsubishi Cable Industri
41、es Review , Mitsubishi Cable Industries Ltd , No. 95 , 27-32 (Jun 1999) (in Japanese ,with English summary and figure captions). 4J AZIZIAN,丑,CableMaterial Identification and Cable Ageing Monitoring using Non-De structive,Non-Invasive N巳arInfrared Spectroscopy, EPRI Cable Condition Monitoring WG Me巳
42、tmg,J uly21-23 , 1998 ,Albuquerque,New Mexico , USA. 5J KUSAMA , Y. , YAGI, T. , MORITA, Y , KAMIMURA , S. and YAGYU, H. New method for detecting degradation in installed cables in nuclear power plants , NUREG/CP-01l9 (1991) Vol. 1 p. 261 ,Proc. 19th Water R巳actorSafety Information meeting , USNRC.
43、6J GILLEN ,K. T. , CLOUGH ,R. L. and QUINTANA, C. A. Modulus Profiling of Polymers , Polym. Degrad. Stabil. , 17 , 31 (1987). 7J GILLEN ,K. T. ,TERRILL,E. R. and WINTER,R. W. Modulus Mapping of Rubbers Using Micro-and Nano-Indentation Techniques, Rubber Chemistry and Technology一-RubberReviews. Invit
44、ed Review ,74 ,428 (2001). 8J GILLEN , K. T. , ASSINK , R. A. and BERNSTEIN , R. Condition Monitoring Approaches Applied to a Polychloroprene Cable Jacketing Material,Polym. Degrad. Stabil. ,84 ,419 (2004). 9J GILLEN ,K. T. and BERNSTEIN , R. Condition Monitoring Approaches Applied to a CSPE Cable J
45、 acketing Material , in preparation. 10J ASSINK , R. A. , CELINA, M. and MINIER, L. M. Condition Monitoring of a Th巳rmallyAged Elastomer by 1 H NMR T2 Relaxation Measurements of Solvent Swelled Samples , J. Appl. Polym. Sci. ,邸,3636(2002). 口1JASSINK , R. A. CELINA, M. and GILLEN, K. T. Monitoring th
46、e Condition of Thermally Aged Polymers by NMR Relaxation Measurements ,Polymer News , 28 ,102 (2003). 12J HARRIS, D. J. , ASSINK,R. A. and GILLEN,K. T. 1H T2 NMR Monitoring of Crosslinked Polyolefin Ageing ,J. Appl. Poly. Sci. , 90 , 2578 (2003). 13J ANANDAKU肌1ARAN,K.,BRAUN,J. M. , MORRA,R. and STON
47、KUS, D. J. Characterisation of aged station cable insulations-comparison of electrical and physical tests, Proceedings EPRI workshop on Power plant cable condition monitoring,San Francisco ,Feb. 1993. 口4JANANDAKUMARAN,K. and STONKUS,且J. Assessment of oxidative thermal degradation of crosslinked PE and EPR cable insulation,Polymer Eng. Sci. 32 ,p.1386-1393 (1992). 15J ANANDAKUMARAN, K. and STONKUS, D. J. Accessing radiation induced degradation 19 GB/Z 28820.3-2012/IEC/TS 61244-3: 2005 at low a
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