SN T 2003.1-2005 电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定 第1部分 X射线荧光光谱定性筛选法.pdf

1、人共和入栓行飞2 SN/T 2003. 1 2005 E霄J自础43阴阳内XK-u 铅、隶、鲁南、光光谱、i的测选法电Determination of lead，皿ercury,cadmium, chromium and如ominein electrical and electronic equip脑ent-Part1 : Qualitative screening by wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometric method 2005-07-18发布2006心1-18实施主l骂:功仿中华人民共和国国家质量监督检验棱痊总局发布

2、SN/2003.1-2005 本部分为SN/T2003的第1部分。本部分的附录A为资料性附录。目。吕本部分出国家认证认可监督管理委员会提出并阳口。本部分由中华人民共和国深圳出入境检验检疫局起草、中华人民共和国广东出入境检验检疫局、中华人民共和国吉林出入境检验检疫局参加起幕。本部分主要起草人:刘贤杰、刘志红、吴景武、刘雨、宋武元、荣会、李树华、张珠福。本部分系首次发布的出入境检验检疫行业标准。I SN/2003.1-2005 1 范围电子电气产品中铅、隶、铺、络、漠的测定第1部分:X射线荧光光谱定性筛选法本部分规定了电子电气产品中铅、铭、隶、铺和澳的波长色散X射线荧光光谱定性筛选方法。本部分适用

3、于电子电气产品中铅、锦、隶、铺和澳的定性筛选。2 兢范性引用文件下列文件中的条款通过SN/丁2003的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注目期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可以使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB/丁16597射线荧光光谱法通则3 方法提要样品经制备后，在各元素定性筛选条件下用X射线荧光光谱仪进行测定，根据元素特征谱峰确定待检测元素是否存在。4 试剂和材料4.1 珊酸(H3B03):分析纯，105C烘1h，置于干燥器中储存。4.2 甲烧盘气混合气体(1

4、十9)。5 仪器5. 1 波长色散X射线荧光光谱仪:符合GB/丁16597规定，姥靶X射线光管。5.2 研磨机。5.3 金属切割机。5.4 压片机:压力不小于400kN。6 样品制备6. 1 均匀材质样品经切割机切割或机械破碎成20mm40 rnm大小，直接用X射线荧光光谱仪测定。6.2 非均匀材质及较小尺寸样晶经机械破碎和研磨机研磨.制成粒径不超过1mm的粉末样，混匀后用珊酸衬底压片制样(样品度不低于1mrn)，压力300kN。7 测定待仪器稳定后，将制备好的样品按定性筛选条件(参见附录A)进行测定，测定结果以是杏出现铅、锚、隶、铺和漠的特征谱峰来表示。l SN/T 2003.1-2005

5、8 仪器检出限要求不向基体电子电气产品对仪器检出限要求如表10表1不同蕃体材料仪器检出限要求单位为mg/kg元素聚合物材质金属材质电子元件Pb 30 60 60 Cr 30 60 60 Hg 30 60 60 Cd 15 30 30 15 30 9 结果判定若样品经拥定出现铅、隶、铺、锚和澳中个或多个元素的特征谱峰.可判定样品中含有这些元素;若样品经测定未出现铅、隶、铺、络和澳元素的特征谱峰，可判定样品中这些元素的含量低于表1中仪器检出限。? 一咱国噩噩醋SN/2003.1-2005 附录A(资料性附录)波长色散X射线荧光光谱定性筛选条件波长色散X射线荧光光谱定性筛选条件如表A.l所示:表A.

6、1波长色散X射线荧光光谱定性筛选条件2 X光管电压/电流;使直器元素分析线() kV/mA 晶体检测器i虑光片m L 48.777 0 60/40 LiF220 SC 300 无, Pb L 40.382 4 60/40 LiF220 SC 300 无Cr K巳107.109 4 60/40 LiF220 DUPLEX 300 无L 5l. 710 0 60/40 LiF220 SC 300 无Hg L, 43.225 2 60/40 LiF220 SC 300 无Cd Ko 15. 293 8 60/40 LiF200 SC 300 Brass300 K 42. 879 2 60/40 LiF220 SC 300 元注:其他元素对部分谱线有干扰.应注意分析排除a铅分析过程中L分析线常出现碎干扰，应选取铅L分析线作辅助分析;呈交分析过程中L分析线常出现绪和镣干扰.应选取来L分析线作辅助分析;络、铺和澳一般无干扰。