1、中华人民共和国电子行业军用标准机载雷达环境条件及试验方法温度冲击试验Environmental conditions and test metbods Cor aircraCt radar Temperature sbock test 1 范围1. 1 主题内容本标准规定了机载雷达的温度冲击环境条件及1.2 适用范围本标准适用于机载雷达的温度冲击试验.1. 3 应用指。SJ 20115.3 92 本标准是用来评定机载雷达在使用期间，温度迅速变化条件下的适应能力。2 引用文件GJB 150. lrJ150.20 86 军用设备环境试验方法SJ 20115. 1 92 机载雷达环境条件及试验方法总
2、则3 术语本章无条文。4 一般要求。本章无条文。5 求。5. 1 试验等级5. 1. 1 试验温度低温-55C 高温70C 5. 1. 2 循环试验5. 1. 2. 1 温度冲击试验循环过程如图1所示。中国电子工业总公司1992-11-19发布一一1 一-1993-05-01实施SJ 20115.3 92 温度t3 十70Cf- - - - -一tj 室t2 t2 tj 低温-550-一t3 图l温度冲击试验循环过程图图中:t 1一试验样机在高温箱、低温箱中放置的时间。放置时间的选取按5.1. 2. 2条规定;t2一试验样机从低温箱搬到高温箱或者从高温箱搬到低温箱的时间。t2三5min;t3一
3、试验样机放入试验箱中，试验箱内的温度回归到容差范围，保持试验箱的温度稳定时间。t25mino5. 1. 2. 2 放置时间当试验样机温度稳定时间小于2h时，放置时间为2h。试验样机温度稳定时间大于2h时，放置时间为仙。5. 1. 2. 3 循环次数将试验样机按图l温度冲击循环过程图进行3次试验。5.2 试验条件5. 2. 1 当不具备用一箱法进行试验时，可用两个试验箱，一个高温箱，一个低温箱。两个试验箱的放置应便于试验样机在两箱之间迅速转换。5. 2. 2 试验箱在试验样机放入后，应能在规定的时间t3内使箱内温度达到所要求的额定值，并能保持此额定值温度。5. 2. 3 用一箱法试验时，除非产品
4、规范另有规定，箱温的升降在不跑过5min时间内的平均速度为:5士lC/mino5. 3 试验程序5. 3. 1 预处理为消除试验样机在前阶段试验过程中各种环境因素的影响，在试验之前应进行清捕、外观检查，并置于试验的标准大气条件下使之达到温度稳定。5.3.2 初始检测按产品规范规定的项目、方法和要求对试验样机进行外观和性能检测，并记录。5. 3. 3 条件试验5. 3. 3. 1 一箱法a. 不带包装的试验样机按使用状态的正常位置放入试验箱中，试验箱温度按5.2. 3条一-2 -一叮俨SJ 20115.3 92 、，一一规定，降温到一5S.C.放置时间为tl温度稳定时间为t3; b. 将试验箱温
5、度按5.2.3条规定升到70.C，放置时间为温度稳定时间t3; c. 将试验箱温度按5.2.3条规定降到室温。至此，试验过程构成一个循环a按此循环过程进行3次。5. 3. 3. 2 两箱法a. 将高温箱的温度升到70.C，低温箱的温度降到-55;b. 试验样机按使用状态的正常位置放入低温箱中，在t3时间内使箱内温度达到规定值一55z结束后，从试验箱内取出试验样机，在室温下敢置也或者更长时间，使之达附加说明:本标准由中国电子总公司科技质量局提出本标准由电子标准化研究所归口。本标准由780厂、781厂、782厂口叮叮本标准主要起草人:魏世栋、高述宝、王金林。计划项目代号:143010. 一-3 -一，并记录。
