SJ 20288-1993 半导体集成电路JT54LS160（161、162、163、190、191、192、193）型LS-TTL计数器详细规范.pdf

1、中-FL 5971 SJ 20288 93 、气L 国+ J Detail specification for JT54LS160 , JT54LS161 , JT54LS162 , JT54LS163 ,JT54LS190 ,JT54LS191 ,JT54LS192 ,JT54LS193 types counters of LS TTL semiconductor integrated circuits 1993-05-11发布1993-07-01实施中华人民共和国电子工业部批准. , , 中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路JT54LS160、JT54LS161、JT54LS162

2、、JT54LS163、JT54LS190、JT54LS191、JT54LS192、JT54LS193型LSTTL计数器详细规范时2028893 Detail specificatiol for JT54LS160. JT54LS161. JT54LS162. JT54LS163. JT54LS 190. JT54LS191. JT54LS 192. JT54LS 193 types counters of LS - TTL semicnnductnr illtcgratcd circuits 1 范围1. 1 主题内容本规范规定了硅单片JT54LS160、JT54LS161、JT54LS162

3、、JT54LS163、JT54LS190、JT54LS191，JT54LS192、JT54LS193型LS一TTL计数器(以下简称器件)的详细要求。1. 2 适用范围本规范适用于器件的研制、生产和采购。1. 3 分类范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件分类。1. 3. 1 器件编号器件编号应按GJB597(微电路总规范第3.6.2条的规定。1. 3.1.1 器件型号件型号如下:器件型号1. 3. 1. 2 器件JT54LS160 JTS4LS161 JT54LS162 JTS4LS163 JTS4LS190 TS4LS191 JTS4LS192 TS4LS193 件

4、名称十进制同步计数器(异步消除)4位二进制同步计数器(异步清除)十进制同步计数器(同步清除)4位二进制同步计数器(同步清除)十进制同步加/减计数4位二进制同步加/减计数器十进制同步加/减计数器(双时钟)4位二进制同步加/减计数器(双时钟)器件等级应为GJB597第3.4条所规定的B级和本规范规定的Bl级。1. 3. 1. 3 封装形式:中华人民共和国电子工业部1993-05-01发布1993-07 -01实施封装形式如下:字母C D SJ 20288-93 封装形式I) OP3(陶瓷无引线片式载体封装)D16S3(陶瓷双列封装)F I F16X2(陶瓷扁平封装)H I HI6X(陶瓷熔封扁平封

5、装)J I 16臼(陶瓷熔封双列封装)注:1)按GB7092 (半导体集成电路外形尺寸。1. 3. 2 绝对最大额定值绝对最大额定值如下:数值项目符号最电电压Vcc - 0.5 入电压V , -1.5 度T.毡- 65 功耗1)JT54LS160 Pn JT54LS161 JT54LS162 JT54LS163 JT54LS190 JT54LS191 JT54LS192 JT54LS193 引线耐焊( 108) Th 结温2)TJ 注:1)器件应能经受测试输出短路电流(los)时所增加的功耗。2) 除按GJB548方法5004老化筛选条件外，不得超过最大结温。1. 3. 3 推荐工作条件推荐工

6、作条件如下:参数电电压入电平电压入低电平电压工作环境温度一2一符数号最Vcc 4.5 VlH 2目。VL TA - 55 最7.0 5.5 150 176 193 187 300 175 值最5.5 0.7 125 单位大V V mW 单位大V V V SJ 20288-93 续表数值参数符号单位最最大时钟脉冲宽度JT54LS160 tW(CPl JT54LS161 JT54LS162 25 JT54LS163 JT54LS190 ns JT54LS191 T54LS192 20 JT54LS193 除脉冲宽度tW(CRl 20 ns 计数允许时间JT54LS190 te 40 ns JT54

7、LS191 建立时间JT54LS160 tsu (CTp, LD) JT54LS161 25 ns JT54LS162 T54LS163 立时间JT54LS162 tsu 20 ns (CR) JT54LS163 时间JT54LSl60 tsu (D) JT54LS161 JT54LS162 20 JT54LS163 JT54LS190 ns T54LS191 JT54LS192 30 JT54LS193 保持时间T54LS160 tH T54LS161 JT54LS162 10 JT54LS163 JT54LS192 ns JT54LS193 JT54LS190 。JT54LS191 保持时

8、间JT54LS160 tH (CR) T54LS161 。ns JT54LS162 JT54LS163 . 一3一臼2028893 2 引用文件3 GB 3431.1 82 GB 3431.2 86 GB 3439 82 GB 4590 84 GB 4728.12 85 GB 7092 GJB 548 88 GJB 597 88 GJB 半导体集成电路文字符号电参数文字符号半导体集成电路文字符号引出端功能符号半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理半导体集成电路机械和气候试验方法电气图用图形符号二进制逻辑单元半导体集成电路外形尺寸微电子器件试验方法和程序微电路总规范电子产品防静电放电控制大纲

9、3. 1 详细要求各项要求应按GJB597和本规范的规定。3.2 设计、结构和外形尺寸设计、结构和外形尺寸按GJB597和本规范的规定。3.2. 1 逻辑符号、逻辑图和引出逻辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。引出端排列为俯视图。4一 D1 D, 虫d1160也CP口215口A口314n Qo D1 04 130 Ql Dl nS 12D 飞，wD, n6 11Q Q c;!_; r:.p 10且叮TlGND, LJc_8 JULD 一(D、F、H、J型)臼20288-930., D1 Dl CR 巳|巴，8 , 3 Do 4 一18啕QoD1 5 17 -1,Ql 6 7 Q2 8

10、14 9 10 11 12 13 19 G 巴里图1-1JT54LS160 QI 1D g C1 1D C1 5一Q3 ?寸co ,CTRDIV16 CR LD M1 M2, CTT co :G4 CP C5/2. 3. 4 + -叮俨Do D1 121 Q1 D 4 D3 r - n Rn 11 Vcc CP 2 ,!.5D CO 、P。3 14 Qo D1 4 13 Q1 口511口QD306 110乌C马口7101:J CT Q!lDD ，U LD 一6一町20288-93CP LD冒EA.国4 1 1 Do D1 D, CR 3 2 8 E 20 19 Do D1 叫18Qo ,Q1

11、乌7 马8 1 Q3 -晶- - .- . , 、hf主V!主ftft工f5。G (c. 图1-2JT54LS161 酶、LD CTT CTp CP 0. Dz D.J CTRDlVl0 5CT=O .吨G3 3CT=9i b户7一臼2028893 CTRDlV16 I 巳PCR 5CT=0 LD |L:.I片-1F问H哩- -, E 1 I、LD Ml I72 CTT CO CR CTp CET CP E I I 1.卢. Do Dt D2 E当哇哥.I?:11-1 p， t-+-Q DZ LlSJ (.b L I I F自,-q p D1 lD 电LD .牛Q?C.l J2. C9 CB

12、dl - -8 队I 16 V ., CP Cp 15 CO 3 2 1 2019 Do 4 -18 Qo Do口3口电D1PS 17t!1Ql 6 16 D1 J4 13日91马7+ 15吨Qz口312tJ与t豆电80，。鸣，尸，I:;l J 6 11口Q1:gM 156 CTp口710口可7fo z GNDU8 90 ID ,-v (C J 图1-4JT54 LS163 8一时20288-93D1 D1 U 1 16 L-V-l)z q叫215 lliLJJ 11与&k.d 1 L龟电l.I314CP CT U4 13RC U/D d 5 12 tl CO/OO iQ2 d6 l1b LD

13、 电u，10UJDt GND U8 9口D，咽，574 d -、1 20 19 Qo 4 18 CP C3 5 17 ,RC 16 UfD jt7 15吨100QZL EF8a 14 LD ae l , 。D3 11111111111 且I .吨 C与LD 图1-5JT54LS190 9一SJ 20288-93 D1 D1 141 ICP 16 Dz Qo U3 15 一4 RC CO/BO CT 5 Q2D6 LD lli 岛9LJD3 (D、H、F、J型) 0 8。甜、Faaz3 19 18Cp 17.RC 16 LD 12 S S QZO AUR (C型)图1-6JT54LS191 一1

14、0一Q1 臼20288-93BO CO () s .T .BO 而nwn响岛也Vq;, . Dz D3喜Q旦bLD BO co CEE 12 9 14 13 ) (D、H、F，J2CT=O 1CT=9 ( CTRDIV10 7 9 川-u-AU2 3 1 6 4 5 CPo LDI .Qo Qz ,Q, .GND CT=O 2+ CP1.l IQl Q 56 最高时钟fmax CP 22 MHz 注;1)完整的测试条件列于表3。2) 每次只短路一个输出啊。3.5 电试验要求器件的电试验要求应为本规范表2所规定有关分组。各个分组的电测试按表3的规定。表2电试验要求分组(见表3)项目B级器件Bl级

15、器件中间(老化前)电测试Al Al 中间(老化后)电测试Al1) Al1) 最终电测试A2, A3 , A7 , A9 A2,A3, A7 , A9 A组试验要求Al, A2, A3, A7, A9, AI0, All Al , A2, A3, A7 , A9 C组终点电测试Al,A2,A3 Al, A2, A3 19一SJ 20288-93 注:1)该分组要求PDA计算(见42条)。表3-1JT54LS160，JT54LS161电测试引用标准条件规范值分符号单位(若无其他规定，T A = 25 C) GB 3439 最小最大V= 4 5V, VH = 2 OV，利用l-D端接地将V， 2 2

16、条2 5 V 出端置成高电平，1佣=-400A 2 5条VCC=4 SV, VIH= 0 7V，利用CR接地将VOL o 4 V 被测出成低电平，10L=4mAVK 2.1条VCC=4 5V，被入端1K=一18mA-1 5 V VCC= 5 5V，被1入端0 , CTp, CR o 1 1, 211条1, = 7 OV，其余输入端V，=mA OV LO, CP, CTT o 2 Vc= 5 SV, 入0 , CTp, CR 20 A1 1H 2 12条1, = 2 7V, 入端A V,=OV LO, CP, CTT 40 VCC=s 5V，被入端0 , CTp, CR -0 4 1L 2 13

17、条1，=04V，其余输入mA V,=4 5V LO, CP, CTT -0 8 1c陆2 21条VCC= 5 5V, VIH = 2 OV，利用LO端接地将被测输出端置成高电平- 20 一100mA V=5 5V，除LD输入端外，LO接45V ICCH 31 mA V,=5 5V, 出端开路LO接地2 25条Vcc=55V，除CP入外CP接55V IL .; 32 mA 接地，输出路CP接地A2 除TA= 125C外，参数、条件、规范值均A1分组，VK不测A3 除TA= -55C外，参数、条件、规m:值均同A1分组，VK不测A7 按功表进行20一SJ 20288-93 续表3-1引用标准条件规

18、范分组符号单位(若无其他规定，T A = 25 C) GB 3439 最小最大Vcc=50V, CP , CO 35 A9 tpLH 3 4条CL = 15pF:!: 10% , CP-Q 24 R L = 2kn :!: 5 % , CTT CO 14 ns 见本规范图2 CP CO 35 CP , Q 27 tPHL 3 5条CTT CO 14 CR Q 28 f血3 10条CP 25 MHz CP CO 56 tpLH 3 4条CP Q 41 CTT .U) 28 CP , CO 56 ns AI0 T A = 125C，条件同A9分组CP , Q 45 tpHL 3 5条CTT .U)

19、 28 CR Q 46 fmax 3 O条CP 22 MHz All 除TA=-55C外.参数、条件、规范值均AlO分组一21一臼20288-93表3-2JT54LS162，JT54LS163电测试引用标准条件规市值分组符号单位(若无其定T A = 25 C ) GB 3439 最小最大VOH 2.2条V= 4 5V. VIH = 2 OV.利用LD端接地将2 5 V 被出端置成高电平.1佣=-400A VOL 2 5条V=4 5V. VIH=2.0V.利用CR端接地将o 4 V 被测输出端置成低电平.101= 4mA VK 2 1条Vcc=4 5V.被测输入端llK= - 18mA - 1

20、5 V V= 5 5V.被测输D.CTp o 1 1 211条1=70V.其余输入端LD.CP.CTT mA V,=OV CR o 2 V=5 5V.被测入端D.CTp 20 Al IH 2 12条1，=27V.其余输入端A V,=OV LD.CP.CTT 40 CR Vcc=5 5V.被入端D.CTp -0 4 IL 2 13条1，=04V.其余输入mA V,=4 5V LD. CP.CTT 一o8 CR los 2 21条Vcc= 5 5V. V H= 2 OV利用LD端接地将被测输出端置成高电平-20 一100mA Vc = 5 5V.除LD输入端外.LD接45V lcCH 31 mA

21、出端开路V = 5 5V. LD接地2 25条Vcc=55V.除CP入端外CP接55V IL 32 mA 接地，输出端予路CP接地A2 TA = 125C外，参数、条件、规范值均同Al分组V1K不测A3 TA = -55C外，、条件、规范:均同Al分组VK不测A7 按功22一SJ 20288 93 续表3-2引用标准条件规范值分组符号单位(若无其他规定，T A = 25t:) GB 3439 最小最大Vcc=50V, CPCO 35 A9 tplH 3 4条CL = 15pF :t 10% , CPwQ 24 RL=2kO土5%，CTT .CO 14 ns 见本规范图2CP CO 35 CP

22、Q 27 tpHL 3 5条CTT CO 14 CR .Q 28 f ma 3 10条CP 25 M Hz CP .CO 56 tplH 3 4条CP Q 41 CTT 00 28 CPwCO 56 ns AI0 TA = 125t:，条件同A9分组CPwQ 45 tpHL 3 5条CTT CO 28 CR .Q 46 f rnAX 3 10条CP 22 M Hz All 除TA= -55t:外，参数、条件、规范同AI0分组23一臼2028893 表3-3JT54LS190，JT54LS191电测试引用标准条件规范值分组符号单位(若无其他规定，T A = 25C) GB 3439 最小最大Vc

23、c=4 5V, V1H=2 OV，利用LD端接低电平，Vf 2 2条2 5 V 阳被测输出端置成高i平，I VOL 5条隆幽堕曳端置成高l平o 4 V Im = 4mA V1K 2 1条Vcc=4 5V被测输入IIK= -18mA - 1 5 V Vcc= 5 5V，被测输入端CT o 3 II 2 11条V1=70V，其余入端mA V ,=OV 其余输入o 1 A1 Vcc=5 5V，被测输入端CT 60 IJH 2 12条V1 = 2 7V，其余输入A V1=OV 其余输入端20 Vcc= 5 5V，被测输入端CT - 1 2 IIL 2 13条V1=0 4V，其余输入mA V1=4 5V

24、 其余入端-0 4 Vcc= 5 5V, V1H = 2 OV，利用LD端接地将Ios 2 21条一20一100mA 被测输端置I 2 25条V=5 5V，输入端接地，输出端开路35 mA A2 除TA= 125C外.参数、条件、规范值均同A1分组，V1K不测-_ _. . . .一-. AUT qSJ 20288-93 表3-4JT54LS192，JT54LS193电测试引用标准条件规范值分组符号单位(若无其定，TA=25t:) GB 3439 最小最大V= 4 5V, VH = 2 OV，利用LD端接低电VOH 2 2条平，将测输出端置成高电平，10H = -2 5 V 400A VOL

25、2 5条Vcc=4.5V, VL=O 7V，利用CR端接命电o 4 V 平，将被测出端置成低电平，101= 4mA VK 2 1条Vcc=4 5V被测l入端IK=一18mA一15 V 211条Vcc= 5 5V, 输入端V= 7 OV，其余1 o 1 mA 入端V=OVAl I lH 2 12条Vcc= 5 5V，被测输入端V= 2 7V, V = 20 A OV 2 13条Vcc= 5 5V，被入端V= 0 4V，其余IL 一o4 mA 入端V=4 5V Ic陌2 21条Vcc= 5 5V，被测i入端V= 5 5V, LD和-20 -100 mA CR V=OV 出端接地1cc 2 25条V

26、cc=5 5V, LD、CR端接地，其余入端接34 mA 4 5V，输出端开路A2 除TA= 125t:外，参数、条件、规范值均同A1分组，VK不测A3 除TA= -55t:外，参数、条件、规币值均同A1分组，VK不测A7 按功能表进行Vcc = 5 OV, CL = 15pF :t LQ 40 A9 tpLH 3 4条10% , CPuQ ns R L = 2kl:t 5 % ，见本规范图238 CPo Q LD Q 40 CPuWQ 3 5条tpHL 47 ns CPo Q CRQ 35 卡fmax 3 10条CP 25 M Hz 25一SJ 20288一93续表3-4引用标准条件分符号G

27、B 3439 (若无其他规定，TA = 25t) A10 tpLH 3.4条TA= 125t，条件罔A9分组tpHL 3 5条1m皿3 10条All 除TA=-55t外，参数、条件、规范同AIO分组注:1)脉冲特性:幅度为0-3V;宽度为500ns。a. 负载线路时测温at撞婆测!J遭且堕争CL b. 波形图占-, r-;,J .1 _.r - - -2.7V 3V J 1 3V 。J WOJ -tszJ 26一1垦L1 3V ,!_W-I LJ)-+Q CPu旨QCP口QLJ)-+ Q CPuQ CPD Q CR Q CP 且.3VE 1HI l , 规范值单位最小最大63 ns 60 63

28、 73 ns 56 222 MHz 3V 。V 3V CP 兰itPHL C也Q11 Qz CfT co CP tPIIL Q, CTT co 臼20288-931 2 3 4 8 9 民2.7V.3V.,1 lV 1.3V ,1. 3V 、之r-.:叶、可l1-, , l、II t , l飞tlt. , tlflIJ , - -一1.3V , 、1I 、i l工tm14?t 1I|、t同也v nI1.3V |飞ll -ttPHd J, E飞I|11.3V 11 r1.3V tPt乱图2-2JT54LS160, JT54LS162 1 2 3 .3V .3V 1 t，.也tlHl: t，.也,

29、4 8 -. 1I .3V 14 t，.也Lll-一-一-15 , tPIiL .1 0 3V V |飞V佣I I、VOL a VOH VO V册VOL V 臼f, !、_Vo 3V .OV V佣1吁世tPi钮，16 3V 1.3V OV V佣VOl. V佣Vc且- - - -_-tPHL , 图2-3JT54LS161 , JT54LS163 t ,.,. tPtIL t，.也V 面荤1.3V V皿3V OV VOH JVYF YOL 27一臼20288-934 司i-Gt, CR 3V、/2.7 1.3V O.7V I电4E OV VOL tpHL 国2-4JT54LS160, JT54L

30、S161 tr. 3V 1.3V CR 2.7V t1FH O.7Vvt 可1OV 3V -.且嘈、明广，、-OV 1.3V CP圃，、1hU l Vf W 1. 3V VOL Qo , tp!乱伊-Vc嗣飞l1. 3V VOL Ql F V恻 f 1. 3V VOL - tPHL。1 , 1. 3V 3 4 16 3 9 2 5 图2-10JT54LS193 AU 剧皿拥阻mm胁vvvvvv VOH VOL 3VI 。v3vf 。vCP 2 Ir-、3L主YCO/BO SJ 20288-93 些11(1飞151.3V tpLH H 图2-11JT54LS191 注:RL =2kn士5%;CL

31、 = 15pF士10%(包括探头和夹具电容); 二极管为2CK76。脉冲发生器应具有下列特性:CP端、LDtw = 0.5间，t，主运15ns;t，6ns;f二IMHz;Vm=03V。CR端、顶端的tw= 20ns。D端的tw= 30ns, tsu = 20ns, tH = 10ns。图2负载线路和被形图3.6 标志标志应按GJB597第3.6条的规定。3.7 微电路组的划分本规范所涉及的器件应为第12微电路组(见GJB597附录E)。4 质量保证规定16 3V 1. 3V 。vtPHL 3V 1. 3V , OV 4. 1 除本规范另有规定外，抽样和检验程序应按GJB597和GJB548方法

32、5005的规定。4.2 在鉴定和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB548方法5004和本规范表4的规定进行筛选。若无其它规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。31一SJ 20288-93 表4筛选程序条件和要求筛选项目B级器件Bl 器件说明方法条件方法条件内部目检2010 试验条件B2010 条件B条件C试验条件C定性烘烙(不1008 (温度:150t (混度:150t 要求终点量)1008 时间:24h)时间:24h)1010 试验条件C1010 件C可用方法1011试验条件A替代试验条件瓦试验条件D.2001 2001 Y1方向Y1方向哥在.筛选丁EL给自检断落、外壳破裂、封

33、盖落为失赞中间(老化前)本范Al分组本规范Al分组由制造厂选择是否进行电测试试件D试条件D老化1015 (温度:125t 1015 (温度:125t 按本规范图3线路或等效线路时间:160h) 时间:160) 中间(老化后)本规范A1分组本规范Al分组电测试5%.本规程A110% .本规范分组。当不合Al分组。当不I若老化前未进行中间电参数试格品率不超过PDA计算合格品率不超I验，那么老化后A1分组检出的20%时可重新过20%时可重新提交老化，但I失效数也应计入PDA内老化，但只允许次只允许次本规范I 本筛选后，若改变器件的引线本规范A2、A3、A2A3 1 i涂覆最终电试分组或返工，则应再进

34、行的和A7，A9分组A7、.A9:5Hll A7分组试验密封1014 1014 细粗检漏目检2009 2009 可在发货批进行鉴定或量致性检试5005 3.5条5005 3.5条样品的选取一32一U CC G U芷g;G Voc. G SJ 20288-93 V 2 艇，CTRDlVI0 CT 0 Ml M2 3CT=9 C5 /2. 3. 4 + 图3-1JT54LS160 Vcc CR 图3-2J 1R3 CTRDIV16 CT气9Ml M2 G3: 3CT; 15 Q4 -. .王二+qRPM如;0 Ml U 某王三卫也4.图3-3JT54 Rl Rll Rl v cc 一V cc .

35、33一。v34一CT 干臼2028893 Vcc RP CTJIDIV16 = O Ml 1M2 3CT= 15 图3-4JT54LS163 N, 一，CP LD ,6,1._4-国3-饵盼i立16.1.41-图3-6v R., SJ 20288-93 ,CR - CTRDIV10 CT=。一一2TICT二WGl 聪3G1 crJl) 比图3-7 JT54 LS192 、V，.=- U R y .f. 但随I.Y.CT=O IG1 F也nm伊1CT= 15 :. L BO 2.:T二。GZI. 图3-8JT54LS193 注:Vcc = 5 .OV;R1 = lkO:t 10% ; R2 =

36、270; R3 = 100。 脉冲发生器特性要求:G、G1:V (H =2.0-5.5V; V1L =一0.5-0.7V;f=100kHz;占空比q= 50% 0 G2: V (H= 2.0-5. 5V; V1L = O. 5-0. 7V;f= 50kHz;占空比q=50%。图3老化和寿命试验线路图4.3 鉴定检验鉴定检验应按GJB597的规定。所进行的C和D组检验(见4.4.1-4.4.4条)的规定。4.4 质量一致性检验一致性检验应按GJB597的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规应符合GJB548方法5005和本规范A、B、范A、B、C和D组检验(见4.4.1-4.4

37、.4条)的规定。4.4.1 A组A组检验应按本规范表5的规定。电试验要求按本规范表2，各分组的具体电参数测试按本规范表3的规定。各分组的测试可用一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。各分组的测试可按任意顺序进行，合格判定数(c)最大为2。一35一SJ 20288 93 表5A组检LTPl 试验B 81级Al分组25C下静态试2 2 A2分组125C下静3 3 A3分组-55C下静态测试5 5 A7分组25C下功能测试2 2 A9分组25C下开关测试2 2 AI0分组125C下开l试3 All分组-55C下厅犬试5 4.4.2 B组检验B组检验应按本规范表6的规定。B

38、l-B5分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。36一臼2028893 表6B组条件和要求样品数/(接收数)试B级Bl级件或说明方法条件方法条件LTPD B1分组尺寸2016 2016 2/(0) B2分组抗溶性2015 2015 4/(0) 2022 2022 15 B3分组LTPD系对引线数而焊接温度:焊接温度:或或可焊性兰言试器件数应多245土5t:245 :t 5t: 汇， 2003 2003 于3个B4分组1/(0) 内目2014 2014 检查B5分组7 键合强度2011 试验条件C2011 试条件CLTPD系对键合数

39、而(1)热压焊或或D或D言，被试件至少4(2) 个四分组15/(0) (a)电参数(b)A1分组GJB 电仅在初始鉴定或产不要求xxx 放电灵敏度品重新设计时进行(c)电参数A1分组4.4.3 C组检验C组检验应按本规范表7的规定。若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。37一臼20288一93试验一检一组一件C一器7一求一啤表一-B回耍一和寸bT一白条一方法条件样品数/(接收数)或LTPD 说明Cl分组5 稳态寿命1005、验条件D1005 、验条件D采用本规程E 或E图3的线路度:125t. !(温度:125t 问:1000h) 时: 1000h) 终点电测试问.A2.A3

40、分1, A2. A3分(见本规范(见本规范2和表3)2和表3)C2分组1010 f试验条件C1010 f试验条件C5 15 恒定加速度I 2001 条件E.I 2001 式验条件D.1方向1方向密封1014 1014 粗检自检陆方法1010方法1010目检判目检判据终点电测试1.A2.A3分.A2.A3分(见本规市(见本规范2和表3)2和表3)C3分组125t下开关测试求0分组(见规施表2表3)3 c4分组-55t下开关测试求1分组(见规范表2表3)5 4.4.4 D组检验D组检验应按本规范表8的规定。DlD2D5、D6、D7和D8分组可用同一检验批中电性能不合格的器件为样本。若无其他规定，表

41、中采用的方法系指GJB548的试验方法。38一试验D1分组尺寸02分组引线牢固性密封粗检03分组冲击湿密封细粗目检终点电测试D4分组机械冲击变恒定加速度密封细粗时20288-93表8D组检验条件和要求B级器件Bl级器件方法条件方法条件2016 2016 2004 试验条件乌2004 件(片式载体(片采用试验采用试验条件0)条件0)1014 I 1014 1011 I试验条件B.1011试验条件A.15次循环1010 I试验条件C.100次1004 I片式载体不要求引线弯1014 2002 2007 2001 1014 应力的预处按方法1004和1010的目检判Al. A2. A3分组(见本规范

42、表2和表3)试验条件B条件A试验条件E.Y1方向15次循环1010 I试验条件C.100次循环1004 I片式载体不要求引线弯曲应力的预处理1014 2002 2007 2001 I 1014 按方法1004和1010的目检判Al.础.A3分组(见本规范表2和表3)件A件A件O.Y1方向样品数/(接收数)或LTPO 15 15 15 15 15 15 说明Bl级器件可用GB 4590中3.6条的试验替代时间:56d或按GB4590第3.6条的目检判据可在抗潮湿后和密封试验前进行终点电参数测试用于D3分组的样品可用在D4分组39一臼2028893 续表8条件和要求试目检终点电试D5分组盐雾密封粗

43、检漏目检时分组B级器件方法|条件|按方法2002和2007的目Al，A2.A3分组(见本规范表2和表3)1009 I试验条件A.1014 片不要求引线弯应力的处理 按方法1009的目检判内部水汽含量I1018 I 100t;时最大水汽含量为:5000ppmD7分组B1级器件方法!条件1009 1014 按方法2002和2007的目检判据A1. A2. A3分组(见本规范表2和表3)件A.片体不要求引线弯应力的预处理按方法1009的目检判据不要求引线涂覆粘附2025I不适用于片式2025不适用于片式强度I载体I载体D8分组封盖扭矩4.5 检验方法2024 I仅适用于熔2024I仅适用于熔封的外壳

44、I 甜的外壳检验方法应按下列规定。4.5. 1 电压和电流样品数/(接收数)或LTPD 15 3/(0) 或5/(0) 15 5/(0) 说明对B1级件用户要求时可进行该分组的试验当试验3个器件出现1个失效时.可加试2个器件并且不失效。若第一次试验未通过时，可在鉴定机构认可的另一试验室进行第二次试验.若第二次试验通过则该批应被接收LTPD系对引线数而言所有电压的参考点为器件的GND端，电流约定以流入器件引出端为正。一40一臼20288-935 交货准备5. 1 包装要求包装要求按GJB597第5.1条的规定。6 说明事项6. 1 订货资料订货合同应规定下列内计:a. 完整的器件编号(见1.3.

45、1条); b. 需要时，对器件制造厂提供与所交付器件相应的检验批量一致性数据的要求:c. 南晏时，对合格证书的安尽;d. 需要时，对产品或工艺的更改，通知采购单位的要求:e. 需要时，失效分析(包括GJB548方法5003要求的试验条件)、纠正措施和结果提供报告的要求;f. 对产品保证选择的要求;g. 南安时，对特殊载体、引线民度或引线形式的要求;h. 对认证标志的要求:时，其他要求。6.2 缩写、符号和定义本规范所用的缩写、符号和定义按GJB597、GJ3431.1和GB3431.2的规定。6.3 替代性本规范规定的器件其功能可替代普通工业用器件，不允许用普通工业用器件替代军用器件。附加说明:本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由国营八七八厂起草。本规范主要起草人:孙人杰。计划项目代号:001037。一41一