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本文(GB 5820.1-1986 电子元器件详细规范 3DG130A、3DG130B、3DG130C、3DG130D型环境额定高低频放大双极型晶体管(可供认证用).pdf)为本站会员(吴艺期)主动上传,麦多课文库仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对上载内容本身不做任何修改或编辑。 若此文所含内容侵犯了您的版权或隐私,请立即通知麦多课文库(发送邮件至master@mydoc123.com或直接QQ联系客服),我们立即给予删除!

GB 5820.1-1986 电子元器件详细规范 3DG130A、3DG130B、3DG130C、3DG130D型环境额定高低频放大双极型晶体管(可供认证用).pdf

1、GB 5820.1 86 4 极限值(绝对最大值体系。使用的极限条件不作检验用数值参数名称口亏符位最小值工作环境温度贮存温度电极一基极电压t大集电极一基极连续直流电压3DG 130A、C3DG130B、D集电极一发射极电压z一发射极连续直流电压3DG130A、C3DG130B、D发射极二基极电压z一基极连续(直流电压电极直流)电流Tamb Tstg - 55 - 55 175 175 VCBO Vc BO 40 60 V V VCEO VCEO 30 45 V V 几BO4 V Ic T(V j) Ptot 500 175 700 A7w m飞m耗散功率z高有效等效的结温耗散功率的绝对极限5

2、电特性(对检验要求见本规汩的第8特性和条件数值(见总规范的第4阜符2 5F 单位试验组别Tamb = 25 C 大共发射直流电流放大系数hF E (1) A2b 民E= 10V Ic-= 50mA 色标240 55 绿55 80 蓝80 120 120 180 共发射电流放大系数h FE (2) C2b V七E=10V Ic = 3mA 色标:黄20 3 4 特性和条件(见总规范的第4章Tamb = 25.C GB 5820.1 86 续表数符号小值 单位|试验组别大值和条件(见总规范的第4章)Tamb = 25C 高温下的截止电流z电极一基极截止电流Tamb = 125 C 民B= 30V

3、(3DG130 A、C)B = 45V (3DG130B、0)发射极一基极截止电流几B=4V基极一发射极电压1B = 300 mA 1c = 0 电极一发射极饱和电压= 100mA 1B = 10mA 电极一发射极维持电压1c = 5 mA 3 DG130 A、C3 DG130 B、D共基极输出电容B = 10V 1E = 0 f= 1 MHz 功率增益民c= 10V 1E = 50mA f = 30MHz 3 DG130 A、B3 DG130 C、D结到环境的热阻注:hFF.的允许测6 标志6. 1 器件上的标志8. 产品型号,为:t10%。叫GB 5820.1 86 续表符号1CB 0 (

4、2) hBO 几EVCE(sat) V CEO (SUS) Cob Gp Rth(j-an 30 45 14 16 数值10 0.1 1. 1 O. :r 10 0.215 b. hFE分档色标(按hFE分档色标规定,在管亮顶部点上色点hC. 类别标记(应放在型号后面,如3DG 130 A n ) I d. 制造厂商标F位|试验组别A A V V V pF dB dB C/mW C2b A2b A2b A2b A2b C2a C2a e. 检验批的识别代号(每周作为一个检验批,如8145的意思是1981年第45周。5 6.2 包装箱上的标志8. 重军事器件上的标志,b. 标上防潮等字样。7 定

5、货资料定货单上应有下列资料z8. 稽帽的型号,GB5820.1 86 b. hFE分档色标(见6.1b) J c. 本规范编号。8 世蛤条件和检验要求见下表A组检验或试验A1分组目检A2a分组不工ICBO(1) IEBo hFE (1 ) A2b分组ICBO (1) IcEo hFE (1) 6 A组一逐批非破坏性的。试方法T-001 T-002 T-006 T-001 T-009 T-006 条件Tamb = 25.C (见总规范的第4章总规范5.1.1民B= 40V (3 DG130 A、C)民B= 60V (3DG130B、0)Vf: B=4V F毛E= 10V Ic =50mA 民B=

6、 40V (3 DG130 A、C)民B= 60V (3DG130B、0)民E= 30V (3 DG130 A、C)民E= 45V (3 DG136 B、0)民E= 10V Ic = 50mA 色标z黄蓝紫检查要求数值J直|最大值10 10 5 0.1 0.5 40 55 55 80 80 j 120 I 120 I 180 单位A A t A A E类LTPD 5 1 5 试验IEBo 几EVCE (sat) V CEO(sus) A4分组/T 标桂(D)B1分组尺寸B3分组引线弯曲(D) GB 5820.1 86 续表条件试方法Tamb = 25 c (见总规范的第4章T-002 几B=4

7、 V D-001 乌=300mA Ic =。T-003 Ic = 100 mA IB = 10mA T-031 Ic = 5mA 3DG130A、C3DG130B、DT-041 民c= 10V Ic = 50mA f= 100MHz 3DG130A、B3DG130C、DB组一逐批试验见总规范3.6.6款。试验方法Ga 4936.1 85 5.2条附录EGB 4937 85 2. 1. 2款条件T amb = 25 c 见总规范的第4章)本用2方法1引出端数:3 外加力:2.5N 检查数大0.1 1. 1 。.330 45 150 300 检验限大按GB4937 85 的2.1.1.1验位、.A

8、 V V V V MHz MHz 单位求E类LTPD 20 求E类LTPD 15 15 7 B4分组可焊性B5分组温度冲击(D) 试验方法GB 4937 85 2.2.1款GB 4937 85 3.1.2款之以密封I GB 4937 . 85 3.7.4 8 IEC68-2 -17中的试验QcGB 5820 . 1 86 续表条件Tamb= 250C 见总规范的第4章本试验采用z试验b受试引出端数:3 2见附录A严格度等级:II 循环次数:10次。: 100 C 细检漏使用方法1粗检漏z采用方法32瓶抽干燥时间:3 .:t 1 mi n 方法3的第二步温度21250C 检验要求极限最大值按GB4937 85 的2.2.1款进行检验率250mPa C口13 S-1 单位H类LTPD 15 20

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