GB T 16649.1-2006 识别卡.带触点的集成电路卡.第1部分 物理特性.pdf

1、ICS 35.240.15 L 64 中人识别卡第1家际准GB/16649.1-2006 代替GBjT16649.1-1996 带触点的集成部分:物理特性路Identification cards-Integraed circuit(s) cards with conacts Part 1 : Physical characteristics 。SO/IEC7816-1: 1998 , MOD) 2006-03-14发布2006-07-01实施数码防伪中华人民共和国国家质量监督检验检茂总局中国国家标准化管理委员会发布GB/T 16649.1-2006 吕次前言.，. 1 1 范围12 规范性引

2、用文件13 术语和定义4 物理特性1一-町啕FGB/T 16649.1-2006 别高GB/T 16649(识别卡带触点的集成电路卡拟分为十二个部分:一一第1部分:物理特性;一第2部分:触点的尺寸和位置;一-第3部分:电信号和传输协议;一一第4部分:行业间交换用命令;一一第5部分:应用标识符的国家编号体系和注册规程;一一第6部分:行业间数据元;一一第7部分:用于结构化卡查询语富(SCQL)的行业问命令;8部分:与安全相关的行业间命令;9部分:附加的行业间命令和安全属性;一一第10部分:罔步卡的电信号和复位应答:一一一第11部分:集成电路卡上通过生物方法的身份验证;一一一第12部分:带触点集成电

3、路卡的USB接口。本部分为GB/T16649的第1部分。本部分修改采用国际标准ISO/IEC7816-1: 1998(识别卡带触点的集成电路卡第1部分:物理特性(英文版)。本部分与ISO/IEC7816-1: 1998相比，存在如下少量技术性差异:a) 本部分增加了4.2. 7电磁场，在ISO/IEC7816-1 :1998中并无这一条.但在新版测试方法标准中引用到了ISO/IEC7816-1: 1998中这一条，因此增加该条;b) 将4.2. 4(卡和触点的)机械强度改为芯片面积小于4rnm2和大于等于4rnrn2两种情况下两种削试方法:c) 将4.2.5(触点的)电阻的测试方法改为GB/T

4、17554.3中规定的测试方法和接收标准。本部分代替GB/丁16649.1-1996(识别卡带触点的集成电路卡第1部分:物理特性儿本部分与GB/T16649. 1-1996相比主要变化如下:a) 触点的表面轮廓中.所有的触点与其附近的卡表面平面之间的高度差应小于o.10 rnm改为向上不超过0.05rnrn，向下不超过0.1mm; b) 机械强度的测试方法从点压力一种分为两种点压力和三轮测试;c) 触点电阻的测试方法改为见GB/T17554.3; d) IC卡的抗静电条件从1500 V上升到了2000V。GB/T 16649是描述识别卡的参数和交换中识别卡使用的系列国家标准之一。下面列出了这些

5、国家标准的预计结构及其对应的国陈标准以及所代替的国家标准:a) GB/T 14916(识别卡物理特性OSO/IEC7810:2003，代替GB/T14916-1994) b) GB/T 15120(识别卡记录技术h分为:1部分:凸印OSO/IEC7811-1:1985); 2部分:磁条CISO/IEC7811-2:1985); 一一一第3部分:ID-1型卡上凸印字符的位置OSO/IEC7811-3: 1985); 一一第4部分:只读磁道的第1磁道和第2磁道的位置CISO/IEC7811-4:1985); 5部分:读写磁道的第3磁道的位置。SO/IEC7811-5 :1 985)0 1 GB月1

6、6649.1-2006H c) GB/丁15694(识别卡发卡者标识，分为:一第1部分:编号体系。SO/IEC7812-1:1993); 一一第2部分:申请和注册规程OSO/IEC7812-2: 2000)。d) GB/丁17552(识别卡金融交易卡。的GB/丁17554，分为:一一一第1部分:一般特性测试CISO/IEC10373-1:1998，代替GB/丁17554-1998); 一一篇2部分:带磁条的卡CISO/IEC10373-2: 1998); -第3部分:带触点的集成电路卡，及其相关接口设备。SO/IEC10373-3: 2001) ; 一第5部分:光记忆卡CISO/IEC1037

7、3叩5:1998);-第6部分:接近式卡CISO/IEC10373-6: 200 1) ; 一一第7部分:邻近式卡OSO/IEC10373-7: 2001)。f) GB/T 17551，分为:一第1部分:物理特性CISO/IEC11694-1:1994); -第2部分:可访问光区域的尺寸和位置CISO/IEC11694-2: 1995); 一一第3部分:光属性和特性OSO/IEC11694-3:1995); 一一第4部分:逻辑数据结构CISO/IEC116944:1996)。本部分由中华人民共和国信息产业部提出。本部分由中国电子技术标准化研究所归口。本部分起草单位:中国电子技术栋准化研究所。本

8、部分主要起草人:金青、冯敬、蔡怀忠、耿力。1 范围识到卡带触点的集成电路卡第1部分:物理特性GB/T 16649.1-2006 GB/T 16649的本部分规定了带触点的集成电路卡的物理特性。它适用于可能包含凸印和/或磁条(如ISO/IEC7811中所规定)的ID-1型识别卡。本部分适用于带有电触点的物理接口的卡，但是没有规定卡上集成电路的性质、数目和位置。注:其他类型IC卡、格式或接口的未来发展将会要求对本部分进行补充，或者导致制定另外的国家标准。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修攻单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用

9、于本部分.然而.鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本适用于本部分。GB/T 14916-2006识别卡物理特性CISO/IEC/FDIS7810: 2003 , IDT) GB/丁17554.1-2006识别卡测试方法第1部分:一般特性测试CISO/IEC10373-1: 1998 , Mom GB/T 17554.3 2006 识别卡测试方法第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备OSO/IEC 10373心:2001，MOD)ISO/IEC 7811识别卡记录技术GB/T 17552-1998识别卡金融交易卡(idtISO/I

10、EC 7813: 1995) 3 术语和定义下列术语和定义适用于GB/丁16649的本部分。3.1 集成电路integrated Crcuit(s) 为执行处理和/或存储功能而设计的电子器件。3.2 集成电路卡CICcard) integrated Crcuit(s) card 内部封装个或多个集成电路的ID-1型卡(如GB/T14916-2006中所定义)。3.3 触点contact 保持集成电路和外部接口设备间电流连续性的导电元件。4 物理特性下列物理特性描述了嵌入了带触点的集成电路的ID-1型卡(符合GB/T14916-2006的要求)。这种卡还应满足ISO/IEC7811和GB/T17

11、552-1998的要求。测试方法在GB/T17554.3-2006中描述。4.1 适用特性GB/丁14916-2006中规定的各类识别卡的物理特性适用于IC卡。注1:GB丁.l-b916-2006中规定的卡厚度适扇子带触点和集成电路的无凸fp卡。GB/T 16649.1-2006 注2:关于耐化学性(见GB/T14916-2006中7.的，发卡方应注意这样的事实，即污染会导致保存在磁条或集成电路中的信息、无效。4.2 附加特性4.2.1 紫外线超出周围紫外线水平的防护应是卡制造商的责任。4.2.2 X射线卡的任何一面曙光0.1Gy剂量，相当于70keV 140 keV的中等能量X射线(每年的累

12、积剂量), 应不引起卡的失效。注:这相当于人每年正常接收的0.05Gy剂量4.2.3 触点的表面轮廓所有的触点与其附近的卡表注:对于嵌入芯片后再打印的4.2.4 (卡和触点的)机械卡应能抵抗对其表当芯片面积小于4面)在相当于对直径1动，在ICC上加/14.2.5 (触点的)卡连接器组千具体测试方之4.2.6 (磁条和如果卡带有也不应引起磁条4.2.7 电磁场警告:磁场将会4.2.8 静电在带静电的人的在任意触点和地之I露其中时，其功能不应降低。4.2.9 工作温度卡应在0C50C的环境撮4.2. 10 弯曲性质进行GB/T17554. 1一2006中描述的14.2. 11 扭曲性质忖程中保持完

13、好。点区域(整个导电表电路的读、写耐2000V的静电.卡暴进行GB/T17554. 1-2006中描述的1000次扭曲循环测试后，卡应保持其功能并应不出现开裂。2 80NiF.寸SH曲U华人民共和国家标准识别卡带触点的集成电路卡第1部分:物理特性GI王/116649.1 2006 国中A 中国标准出版社出版发行北京复兴门外三星河北街16号邮政编码:100045网址电话:6852394668517548 中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销头印张0.5字数9千字2006年8月第一次印刷开本880X12301/1 6 2006年8月第一版定价8.00元如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68533533+非书号:155066 1-27899 GB/T 16649.1 2006