GB T 5999-1986 示波管和指示管测试方法.pdf

1、中华人民共和家标一旨示刁之酌tethodsof measurement of ciJloscope tubes and indicator tubes 本标准适用于示波(以电子管)光电参数的测试。1 测试条鲜和调整程序1. 1 测试条件1. 1. 1 电子管的测试应在阴极达到稳定发射状态后进行。为此，电子预热2min。1. 1. 2 测试时，电子管应处于良好的电屏蔽中，以尽。UDC 621. 387.82 :821.817 GB 5999 86 丝电压下除外界电场和磁场的影1. 1. 3 当采用显示测试图形的方法测试电子管时，莫测试图形及其尺寸应符合规定，荧光屏上的图形必须稳定。1. 1. 4

2、 扫描信号必须对称输送到偏转板，偏转板的中心电位应该和最靠近偏转板的阳极电位相同或接近。特殊类型的电子管除外。1. 1. 5 电子管在测试过程中应使用符合标准规定的偏转和校正系统，并置于正确位1. 1. 6 测试电子管时，应减少环境光的影叮1川叮1. 1. 7 视挪测Ig试设备(包括仪器、仪表)1.1. 7.1 在规定工作条件下，供给电子管各电极的电压误差应不超过下列规定z热丝电压(二三):t 3% 调制极电压(一): 士1%后阳极电压(): 当束电流在1mA以下时:t 3 % 当束电流在1mA至3mA时:t 10 % 其它阳极电压(): :t 2 % 1.1.7.2 电子管各电极上直流电压的

3、脉动系数应不超过下列规定:热丝电压z土3%电压:t 0.3% 阳极电压:t 1% 1.1. 7.3 电气测量仪表精度等级应不低于z接人直流电路的仪表:1.o级接人交流电路的仪表:2.0级电流小于10A的仪表:4级1. 1. 8 除非另有规定，光度计的光接收器的光谱特性曲线应预先经明视觉的光谱光视效率校准，其一致的程度应符合附录A规定。光度计是用已知色温和光强的标准光源校准好的。标准光源和被(电子管)的光谱功率分布或相关色温应尽可能相似。1. 1. 9 除非另有规定，光电参数测试应在环境温度为15-35C，相对湿度为45%-75%，气压为86-106kPa的大气条件下进行。国家标准局1986-0

4、4-11发布1987-01-01实GB 5999 86 1. 1. 10 1. 2 1. 2. 1 行za. b. 测试时，应有保障操作人员安全的防护措施。序将电子管装人台。按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压。通常按下列顺序进c. d. 1. 2. 2 a. b. 热丝电压p调制极电压，保i正电子束截止E扫描部分电压，阳极和聚焦极电压s阳极电压(高压)。按下列步骤调节电子管工作状态:调节调制极电压，使电子管荧光屏上出现扫描图形p图形尺寸，使之达到规定的尺寸Fc. 1周节束焦极电压使电子束聚焦zd. 调节调制极电压，使电子管达到规定亮度或规定束电流;重复步骤b、c、d，使电子管达到良好的工

5、作状态。除非另有规定，所有的电位都相对于阴悦。e. 1. 3 2 光电参数测试2. 1 气体试验2. 1. 1 含气系数(适用于电磁偏转的电子管)2. 1.1. 1 定义离子电流对引起它的电子电流的比值。2. 1. 1. 2 测试电原理图如图1所示。己主=已三二nA + mA U. 250V 25V , U 0+门。+图12. 1.1. 3 测试程序测试前，应取下或断开所有线圈(聚焦、偏转、校正等)。电子管最后阳极作为离子收集极，加规定的负电压(一般为-25 V) ，真它阳极连接在一起，加GB 5999 86 规定的正电压(一般为+250V)，并按下述步骤测试z调节i周制极电压，读出阴极电流值

6、1k (通常为数百微安量级)。在离子收集极接通电源、后，用阻尼小的仪表尽快地读出离子电流与漏电流的总和11。节调制极电压，使电子束过截止，读出漏电流12。按下式计算出含气系数(G): G It-I =一一一一一.( 1 ) 1k 2. 1. 2 气体十字形(适用于静电偏转的电子管2. 1. 2.1 定义由于电f束电离管内残余气体，在荧光屏中心引起的十字状图形。2. 1. 2.2 测试程序按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压，在荧光屏上显示规定尺寸的聚焦光栅(通常为50 x 50mm) 0调节调制极电压使在荧光屏上得到足够大的规定亮度(或束电流入此时观察光栅，其中是否出现比光栅更亮的气体十字

7、形。2.2 阴极启动时间2.2. 1 定义在规定工作条件下，电子管加热丝电压后在荧光屏上出现可见显示或达到规定的平均峰值线亮度的时间。2.2.2 测试程序按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压，并显示最佳聚焦束迹。热丝电压为额定电压的最小值。调节调制极电压达到按2.27测试方法所测得的规定的平均峰值线亮度。和记录阴极电流1k。断开所有的电压。在规定的环境温度下冷却电子管至规定的时间(应不少于1h)。按详细规范的规定，接通偏转线电源，以显示最佳聚焦束迹。除热丝电压外，按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压，调制极电压应为规定平均峰值线亮度下所允许的最大值(见2.27条的测试方法)。加上热丝电

8、压。测量加上热丝电压的瞬间和下述情况之一的时间间隔。a. 在黑暗条件下所显示的束迹变为可见时阴11:fj;b. 在阴极电流等于1k的瞬间。2.3 热丝与阴极间耐压2.3.1 定义在截止条件下，热丝电压为最大极限使用电压时，热丝和阴极间所能承受电压的能力。2.3.2 测试电原理图如图2所示。GB 5999 86 V I I I I U -+ zs + am , U , U 图22.3.3 测试程序测试时，电子管热丝加最大极限使用电压(此电压约比标称电压高10%-15%) ，调节调制极电压，使之比截止电压更负。热丝与阴极间所加的电压，应使热丝任一处在任何瞬间对阴极的电压的绝对值均不低于规定的极限使

9、用电压的绝对值，其它电极不加电压。保持1min，通过回路中的电表或其它指示器检查热丝与阴极间是否被击穿。2.4 电极漏电流2.4.1 定义在两个或两个以上电极之间以任何途径(流经电极之间真空间隙的电流除外流过的传导电流。2.4.2 热丝与阴极间漏电流2.4.2.1 测试电原理图如图3所示。A I I I I - - -+ V U, U f 图3GB 5999 86 2.4.2.2 测试程序热丝加上规定的电压或电流，加上热丝对阴极的电压，热丝相对于阴极为za. 正电位zb. 负电位。在每种条件下，测试热丝和阴极间稳定的电流。2.4.3 其它电极漏电流2.4.3.1 测试电原理图如图4所示。I I

10、 I I I 0+ , U r._一+ U.S U . + 图42.4.3.2 测试程序按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压。调节调制极电压，使荧光屏亮度降至视觉消失。规定电极的电流。2.5 调制极负电流2.5. 1 定义流经调制极引线的负电流。2.5.2 测试程序方法A(适用于阴极和调制极处于或接近地电位的电子管): 按详细规范的规定，给电子管各电极力日1:.电压。调制极引线中的电流。注2此方法可用于100%预检台检验。把除调制极以外的电极与阴极相连接，并测量调制极引线中的电流。方法B(适用于所有的电子管，特别是阴极和调制极电位远离地电位的电子管): 按详细规范的规定，给电子管各电极加上

11、电压，调节调制极电压，使荧光屏亮度降至视觉消失，并记下此时的调制极电压值。在调制极和电、间串接10MQ的电阻，再调节调制极电压，使荧光屏亮度降至视觉消失，并记下此时的调制极电压值。绝缘电流按F式计异:Ii = H昕一I飞-n-ti pb同一. ( 2 ) 式中:I1一一绝缘电流，A;Umc一一调制极截止电压，V; GB 5999 86 ULc一一在调制极和电源间串接10MU电阻时的调制极截止电压，V。注2通常，绝缘极限为10MQ，所以这个极限可用u:c等于两倍的U.c来表示。2.6 电极电流2.6.1 定义通过电极间的空间流进或流出电极的净电流值。2.6.2 测试电原理图如图5所示。I-T +

12、 图52.6.3 测试程序暗箱检流计按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压，并显示规定尺寸的聚焦光栅。调节调制极电压，使荧光屏亮度达到规定值。重复调节，使聚焦和亮度均满足要求。此时，测得的流经各阳极回路和阴回路的电流即为相应的各阳极电流和阴极电流，其中最后阳极电流即为束电流(如果荧光屏的电流和其它电极电流通过同一电极引线流到管外，则应扣除该电极电流)。结果中应扣除各自的漏电流。2. 7 偏转后加速极电流2.7.1 定义流经偏转后加速极的电流。2.7.2 测试程序按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压，并显示覆盖荧光屏有效面的密实光栅。调节调制极电压至规定值，或达到规定的电子束电流。除非另有

13、规定，电子管应以最大允许的束电流工作。后加速极的电流。2.8 阴极发射2.8.1 定义电子从阴极表面逸出的过程。Z. 8. Z J!1式程序接详细规范的规定，给电子管各电极加上电压。如有规定，加上扫描偏转。下列参数za. 光点或光栅视觉消失时的调制极电压。b. 1固制极电压为零时的阴极电流。阴极电流应等于或大于下式计算值2GB 5999 86 h = KU;,(-; H . . . ( 3 ) 式中:1 k一一调制极电压为零时的阴极电流，A，K一一规定的阴极系数sUmc-截止电压，V。在零偏压下工作时，由于阴极过载易损坏电子管，本测试方法允许在调制极电压为视觉消失电压一半时测量阴极电流。此时，

14、阴极电流应等于或大于下式计算值2Ik 1 = KU;,(: . (4 ) V 128 式中zIh1一一调制极电压为视觉消失电压一半时的阴极电流，A，K一一规营的阴极系数，Umc-截止电压，V。如阴极电流与调制极电压特性曲线的负斜率所示(见图6) ，在允许的平均阴极电流极限值内，不应有限制发射电流的迹系。1 、 u m 图62.9 寄生发射2.9.1 定义_ 11 . -要和不受控制的电子发射。2.9.2 测试程序电子管的荧光屏应置于规定的平面上，在荧光屏上测得的环境照度应不超过5lx。按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压，并调节调制极电压达到截止值。如果在详细规范中有规定，则应使用包有操皮

15、的音叉状木槌，在规定时间内轻敲管颈。除非另有规定，每秒敲击四次。电子管在工作的第一个5s之后的规定时间内，如果寄生发射引起荧光屏可见激励，则认为该不合格。合适的木槌由图7给出。对在很高的阳极电压(约20kV)下工作的电子管，在轻敲营颈期间，可以规定接通或切断超高压。GB 5999 86 eo -t MWR L X 管。山套旷皮A啊橡外A四多层胶合板糠皮支撑轩8xL42.4 镰度缓冲垫63x63x40 38 埋头螺钉手柄中的紧国弹簧4外9.5x如1.19xL38 h-唱F固定螺钉硬质木棒国.由2.4x45 55 图72.10 2. 10.1 电火定义的任意两个或多个元件之间的不受控制的放电。试程

16、序2.10.2 方法A:电子营的荧光屏应置于规定的平面上。按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压。在荧光屏有效面上显示极电压达到规定的荧光屏亮度或所要求的截止日。在规定的时间内应无跳火明东。如果在详细规范中有规定，则应按规定调节调制极电压达到截止值和取消偏转场。使用包有的音叉状木槌，在规定的时间内轻敲管颈。除非另杳规定，每在l、敲击四次。电子管在敲击的第一个55后以及停敲以后的155，如果跳火引起荧光屏可见激励，则认为该管不的光栅，并调节调制合格。合适的木槌由图7给出。对在很高的阳极电压(约20kV)下工作的电子管，在轻期间，可以规定接通或切断超高压。方法B2电子管的荧光屏应置于规定的平面上

17、。按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压。电路中应包括阴极引线中的一规定的阴极负载阻抗和适于计数由于跳火在阴极阻抗上形成的电压脉冲的计数衣旦。在荧光屏有效面上显示规定的光栅，并调节调制极电压达到规定的荧光屏亮度或所要求的止值。如果电子管在规定时间内，计数的眺火次数超过了规定数，则认为不合格。2. 11 截止电压GB 5999 86 2.11.1 定义在规定的工作条件下未经偏转的聚焦光点刚刚消失时调制极上的电压。2.11.2 测试程序测试应在暗室中或环境光的照度低于l1x的条件下进行。按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压，荧光屏上显示规定的图形。除非详细规范中另有规定，此图形应为未偏转的聚

18、焦光点。极电压，使光点(或图形达到视觉消失，并测量此电压。可以采用聚焦光栅，用在规定的低束电流(典型值0.5A)下测得的调制极电压作为截止电压。2.12 扫描尺寸2.12.1 定义电子管荧光屏上出现的最大显示尺寸。2.12.2 测试程序方法A(静电偏转后加速管): 按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压。在垂直于测量轴的方向，显示规定长度的单根束迹，并调节调制极电压，达到规定的束电流。将束迹偏转到离中心规定距离的每肉。每种情况下，由偏转板截获电子束而引起的束电流变化，以此来测定最大显示尺寸。方法B:按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压，井显示因偏转板截获而尺寸受到限制的束迹或光栅。调节调

19、制极电压达到规定的荧光屏发光强度(或亮度或规定电极的电流。测量各端点的显示尺寸，此端点处测定的发光强度(或亮度)下降到中心区域发光强度(或亮度)的规定百分数。用测得的X和Y显示长度来确定最大的显示尺寸。2. 13 面板和屏面缺陷2.13.1 定义面板缺陷:在有效屏面上的玻璃缺陷。对于装机后屏面凸露在外的电子管，面板缺陷可以扩展到面板上非有效的可见部分。屏面缺陷:在工作或非工作的条件下，高效屏面上呈现的除面板缺陷外的荧光屏缺陷。2.13.2 测试程序按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压。在荧光屏有效面上显示规定的光栅(未聚焦), 并调节调制极电压，以达到规定的荧光屏亮度。然后观测面板和屏面缺

20、陷。要求精确测量时，应采用带刻度的放大镜。将荧光屏划分为若干区域，这些区域可直接测量确定，也可用带刻度的模板或框架来确定。用直观检查，或用一台具有规定孔径的光度计，对照规定的不均匀性系数，检查荧光屏上各部分的亮度均匀性。2.14 分辨率2.14.1 定义在图像上能够分辨出明暗细节的能力。2.14.2 扩展光栅法2.14.2.1 测试程序对于磁聚焦和(或)磁偏转的电子管应装到规定的聚焦和(或偏转线圈组件中去。按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压，显示规定的光栅。并将调制极电压调到规定的数值，或达到规定的荧光屏发光强度(或亮度)或束电流。扩展光栅，使线条结构清晰可见，并扩展到要进行调节聚焦使光

21、栅中心处在垂直和水平方向都最清晰。GB 5999 86 宽。除非详细规范中另有规定，可借助于一个带刻度的放2.14.3 椭圆或圆束迹法2.14.3.1 焦和(或磁偏转的电子管应装到规定的聚焦和(或)偏转线圈组件中去。按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压，显示具有规定长度的长轴和短轴以及规定频率的圆束迹或椭圆柬迹。调节i周制极电压至规定值，或达到规定的荧光屏发光强度(或亮度)或束电流。使聚焦最佳(见2.16)，并测量线条最宽处的线宽。除非详细规范中另有规定，可借助于一个带刻度的放2.14.4 脉冲线法2.14.4.1 测试程序对于磁聚焦和(或)磁偏转的电子管应装到规定的聚焦和(或)偏转线圈组

22、件中去。按详细规范的规定，给电子管各电极力日上电压，在规定的位置显示具有规定长度、持续时间和重率的脉冲线，并调节调制极电压至规定值，或达到规定的荧光屏发光强度(或亮度)或束电流。沿线条方向使聚焦最佳(见2.16)。除非详细规范中另有规定，可借助于一个带刻度的放大镜宽。2.14.5 压缩光栅法2.14.5.1 测试程序焦和(或)磁偏转的电子管应装到规定的聚焦和(或)按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压，显示规定的光栅，或规定的荧光屏发光强度或亮度)或束电流。使聚焦最佳见2.16)，并压缩帧幅度直到在荧光屏的规定区域上的线条结构刚可分辨。帧幅高度，并除以显示的线数，此商即为测量的线宽。2.14

23、.6 狭缝法2.14.6.1 测试设备示意图如图8所示。转线圈组件中去。并调节调制极电压至规定值，被测管口测量仪器微光度计-一一一一一一-一一一一寸;:口图8微光度计由装入暗箱内的物镜、光阑、场透镜、洁、光片和光检测计组成。在电子管上显示合适的光点或束迹，并经物镜成象到光阑上。透射光经过合适的场透镜被光检计收集，光检测计的输出送人合适的测量仪器。除非详细规范中另有规定，微光度计的光谱响应应预先经明视觉的光谱光视效率校准。固定物镜与光|祠的距离，以给出物的放大率M。对方法A2、B或C1并不需要知道放大率。微光度计的光轴应垂直于被测管的面板，而且微光度计能沿它的光轴移动，以使物镜将景象成象在光|嗣

24、上。光|剩由不透明衬底及其上的单个或两个圆形、矩形或方形小孔组成。小孔的有效直径或宽度1j和片光滤光一晴一崩阑光一镜-L物GB 5999 86 应不大于在峰值亮度20%处测得的规定线宽或光点直径的20%。沿小孔短轴移动光点或束迹影象的方法有za. 用螺旋测微计移动光|竭pb. 用螺旋测微计移动微光度计pc. 光点或束迹线性地横扫过管面。这时，光检测计的输出送人示波器的Y放大器，示波器X偏转与被测营的扫描同步并成正比。因而，示波器就显示光检测计输出的波形。2. 14.6.2 测试程序按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压，并显示最佳聚焦的束迹或光点(见2.16)。在垂直于管面方向移动微光度计，

25、使束迹或光点的影象成象在光阑上。在显示束迹的情况下，其影象应与小孔长轴平行。但采用与扫描线垂直的两个固定小孔的方法除外。按A或B或C所述的方法之一，使影象横穿过小孔，记下光检测计最大输出，并按下述合适的方法计算线宽或光点直径。方法A1 (用一个可移动的单孔光阑和固定的微光度计): 在光检测计输出为所记录到的最大值的规定百分数的位置Pl和h处读出测微计的读数(即血和P2值)。由下式计算线宽(b)或光点直径(d): b或d=(P2-PlM. (5 ) 方法A2(用一个可移动的单孔光|词和测量刻线板): 这种方法采用一紧贴在营面上的测量刻线板和一个可移动的光|祠，此法仅适用于光纤面板的电子。将已知尺

26、寸的刻线板(如台式测微计)紧贴营面，使得刻线与显示束迹平行。用合适的仪器显示光检测计的输出。由于刻线槽挡住了束迹的一部分，被刻线槽挡住的束迹的亮度分布可被记录下来。数。在光检测计输出为所记录到的最大值的规定百分数时的横坐标上，读出测试点之间的刻线槽用已知刻度尺寸和所记下的刻线槽数来计算线宽或光点直径。方法B(用一个固定单孔光|润和可移动的微光度计): 在光检测计输出为所记录到的最大值的规定百分数的位置Pl和P2处读出测微计的读数(&PPl和P2值)。由下式计算线宽(b)或光点直径(d): b或d= (P2 - Pl) . (6) 育法C1 (用一个固定单孔光|嗣和扫描光点或束迹):观察示波器含

27、有单峰分布的显示波形。在光检测计输出为所记录到的最大值的规定百分数处，测量两横坐标间的距离D1。由下式计算线宽(的或光点直径(d):b或d=KDl. . . . . .( 7 ) 式中:K一一示波器的X偏转相对于被测管扫描偏转的校准系数。方法C2 (用具杳两个固定小孔的光阑和扫描光点或束迹): 在示波器上观察峰值间距为D2的两个峰值波形。在一个峰值波形上测量D1(见上述方法C1 ) ，再测量D20由下式计算线宽(b)或光点直径(d):式中zD3一一两个小孔的间距。2.14.7 可变狭缝法2.14.7.1 测试设备如图8所示。GB 5999 86 D.D , b或d=一-，-1 D2M 光度计由

28、装人暗箱内的物镜、光阑、场透镜、施光片和光计组成。在电子营上显示合适的光点或束迹，并经物镜成象到光阑上。透射光经过合适的场透镜被光计收集，由光检测计的输出送人合适的测量仪器。除非详细规范中另有规定，微光度计的光预先经明视觉的光谱光视效平怔吐。(8 ) 应应固定物镜与光阑的距离，以给出物的放大率M。微光度计的光轴应垂直于被板，而且微光度计能沿它的光轴移动，以使物镜将影象成象到光阑上。小孔宽度连续可调，并由2.14.7.2 测试程序。按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压，并显示最佳聚焦的束迹或光点(见2.16)，在垂直于管面方向移动微光度计，使束迹或光点的影象成象在光|竭上。在束迹的情况下，其

29、影象应与小孔的长轴平行。打开小孔，让全部有效光进入，并记下光检测计输出。逐渐关闭小孔，保持束迹或光点在孔的中心，直至光的规定百分数。读出测微计的读数p，由下式计算线宽(的或光点计输出为小孔打开时所记录到的最大值(d) : b或d=p/M. . . . (9) 2.14.8 空间频率法2.14.8.1 测试设备示意图如图9所示。放人暗箱光检测计-低颜基准援帽F - -r 图9被测管、场透镜和光检测计组成，而且能相对于管面移动。试设备由装人暗箱内的物镜、对于方法A，显微镜的物镜与的间距可以调节，以便保证在校准时能微调放大率M。对于方法B，放大率M为已知。GB 5999 86 计上。典型光栅如图10

30、所示。扫描方向于光栅背后，并把物镜的孔径成象到光检(a ) 按规定在电子管上显示束迹或光点，并经物镜成象到光栅上。透射光经合适的场透镜被光检测计。束迹(或光点)的影象按图10(a)所示方向横扫过光栅栅条，横过方式既可用光栅固定，而束迹(或光点)横扫过管面F也可用束迹(或光点)在管面上不动，而移动光栅。光检测计的输出送人显示装置(如示波器或描笔式记录仪。显示装置的时基和束迹或光点)与光栅的相对移动同步。2.14.8.2 按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压，并显一直于管面方向移动测试设备，使束迹或光点)的影象用合适的方法使示装置上指示的振幅，方法A(采用单频光栅): 振幅比用规定空间频率下的

31、振方法B(采用多频光栅): 每一栅条传递的振幅与单独的大间隔传递的振幅的比值用每一空间频率下的振幅百分数表示。采用内插法，可以求出在规定空间频率下的调制度或在规定调制度下的空间频率。荧光屏上灵敏层的余辉和束电流的大小应相适应E束电流将随使用中灵敏层灼伤的难易而定。下述三种办法考虑到了这些因素。办法1(对于低束电流和中短余辉灵敏层的电子营): 在低频下电子束扫过电子管荧光屏产生一条短线。使扫描速度足够低以确保在敏层上的能量消失掉。扫描方向与光栅栅条垂直(见图10)。注意事项:为了尽量减少荧光屏噪声的影晌，在垂直于扫描线的方向可使光点在高频下作小幅度偏转。办法2(对于低束电流和长余辉灵敏层的电子在

32、电子管荧光屏上显示一个静止的光点，z; 振动和机械噪声。z因长余辉的荧光粉(特别是氟化物)较易灼伤，推荐在平行于光栅栅条的方向使光点在高频下作小幅度偏转，这个偏转减小了荧光粉的局部过载，也大大地减少了荧光屏噪声的影响。办法3(对于高束电流的电子管): 扫描方向1tidi- !til-!1Illi -!ill (b ) 的束迹或光点见2.16)。沿上。束迹影象应与在。发之前灵近的间隔相对应。幅与光栅上大的间隔和一系列百分数表示。条。移动光栅时应无过光占GB 5999 86 当电子管荧光屏上任一点的平均电流密度足够高，时，应改变测试程序以降低平均束电流至安全水平。可使用下列两种方法之一或者两种方法

33、一并使用。试的时间内要引起荧光粉的灼伤a. 存王E直于光栅移动方向使光点反复扫描。该扫描的幅度应足以使荧光屏任何点上的平均束电流密度降至安全水平。扫描速率约为正常工作时使用的速率。b. 借助于在调制极和阴极之间加适当信号的方法让光点在规定亮度和截止之间脉动。调制信号的接通与断开时间比应足够低，以使荧光屏上任一点的平均电流密度降至安全水平。两个电平之间的过擅时间应较接通时间为短。束迹的像与光栅应这样相对移动:以如20个)。2. 15 余辉时间2.15.1 定义在光栅的空间频率的一个周期内产生适当的脉动数(例从激发停止的时刻到亮度下降到起始值的某一规定百分数的时刻所经历的时间。2.15.2 调制极

34、脉冲调制法(适用于长余辉和短余辉的荧光屏)2.15.2.1 测试设备将具有规定光谱响应的光电倍增管装人暗箱，并放在电子管面板前，除非详细规范中另有规定，管面与光电倍增管阴极间的最小距离为50mm。将光电倍增管的输出信号送人示波器，以显示衰减特性。该示波器应备有适应极短余辉荧光粉的具有足够带宽的、以及在显示长余辉荧光粉时有足够长的扫描持续时间的放大器。2.15.2.2 测试程序按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压，并产生规定的显示。调制极加上矩形电压脉冲，使电子管从过截止激励到规定的激励状态，并调节到最佳聚焦。将光电倍增管的输出短路，并调节示波器的束迹至合适的零参考电平。去除光电倍增管的输出

35、短路，井调节光电倍增管的电源和放大器的增益，使示波器显示屏上获得满屏偏转。调节示波器的触发旋钮，使时基扫描恰好在调制脉冲结束之前开始，然后显示衰减特性。如有规定，可采取照相记录。注意申明:a. 为避免荧光粉烧伤，应小心操作，以防止过高密度的电流轰击荧光屏。b. 若需军在峰f盲亮度的很小百分数下读数时，允许采用对数放大器，或提高放大器的增益倍数已知)。在这种情况下，必须保证不影响示波器的时基触发电平。2.15.3 脉冲线法(适用于长余辉或短余辉荧光屏)2.15.3.1 测试设备将具有规定光谱响应的光电倍增管装人暗箱，并放在电子管面板前。除非详细规范中另有规定，管面与光电倍增管阴极间的最小距离为5

36、0mm。将光电倍增管的输出信号送人示波器，以显示衰减特性。该示波器应备有适应极短余辉荧光粉的具有足够带宽的、以及在显示长余辉荧光粉时苟足够长的扫描持续时间的放大器。2.15.3.2 测试程序按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压，并显示具有规定长度、持续时间和重复频率的脉冲线。在荧光屏的前面放一块带杳规定宽度的狭缝板，使狭缝与扫描线成直角，脉冲线仅有一小部分可见。将光电倍增管的输出短路，并调节示波器的束迹至合适的零参考电平。去除光电倍增管的输出短路，并调节光电倍增营的电源和示波器放大器的增益，使示波器显示屏GB 5999 86 上。调节示技器的触发旋钮，使时基扫描恰好在调制脉冲结束之前开始，

37、然后显示衰减特性。如高规定，可采取照相记录。注意带明:8. 为避免荧光粉灼伤，应小心操作，以防止过高密度的电流轰击荧光屏。b. 若需罩在峰值亮度很小的百分数下读数时，允许采用对数放大器，或提高放大器的增益(倍数已知)。在这种情况下，必须保证不影响示技器的时基触发电平。c. 狭缝宽度和扫描速度应使光点扫过狭缝所需的时间比被测余辉短。2.15.4 光栅衰减法(适用于长余辉荧光屏)2.15.4.1 测试设备同2.26.2。2.15.4.2 测试程序按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压，井显示具高规定尺寸和规定聚焦条件的光栅。调节调制极电压达到规定的发光强度或亮度。除非另有规定，电子管在此条件下工

38、作305。调节调制极电压使电子管过截止，并记下发光强度或亮度衰减到规定值的时间。2. 16 聚焦电压2. 16.1 定义在规定的工作条件下，规定显示的指定部位达到最佳聚焦时的聚焦极电压和(或)象散校正极电压。2.16.2 测试程序按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压，并产生规定的显示。调节调制极电压至规定值，或达到规定的荧光屏发光强度(或亮度或束电流。调节聚焦，如有象散校正极，尚须调节该电极电压，使之在两条相互垂直的轴上获得最佳聚焦。除非另有规定，此最佳聚焦应在管面中心处，可用合适的放大镜观察。按规定测量聚焦极电压和(或)象散校正极电压。2. 17 光点的机械偏移2.17.1 定义未加任何

39、偏转场时，电f束产生的光点相对于荧光屏上规定参考点的位移。2.17.2 测试程序方法A(适用于静电偏转的电F营): 按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压。每个偏转板连接到规定的电极上，并调节到聚焦。光点应在规定尺寸的区域内，此区域的中心应与管面的几何中心一致，其边界应按规定与某一偏转轴平行或与矩形屏中心线平行。注意事项z8. 电子管应屏蔽，以防止外界磁场的影响。b. 按详细规范的规定，应调节或脉冲调制束电流，使真不至灼伤荧光屏。方法B(适用于磁偏转的电子管k接详细规范的规定，给电子管各电极加上电压，IJ阳何明阴月守。静电聚焦管应在荧光屏中心调到最佳聚焦z磁聚焦管应在聚焦线圈电流为零时工作，

40、并应除去永久磁铁聚焦组件。节调制极电压，得到最小可辨别的光点。将电子管绕轴旋转1800，分别标出旋转前后两光点的中心点。此两标点连线的中点表示未偏转的光点位置，它应在距荧光屏几何中心的规定距离之内。2. 18 光点的电致偏移GB 5999 86 2. 18.1 定义因漏电流或束电流通过偏转电路中的电阻而形成的自偏压所引起的光点位移。2.18.2 测试程序程序A(漏电引起的偏移): 将每一偏转板经lOMQ1: 10%的电阻接到规定的电极上，按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压，并产生规定的显示。调节调制极电压至规定值，或达到规定的束电流，并调节到见2.16)。依次使每只电阻短路，此时光点偏移

41、应不超程序B(束电流效应): 。将每一偏转板经10MQ1: 10%的电阻接到规定的电极上。按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压。当调制极电压或束电流在两值之间变化时，光点变化。注:为避免荧光粉灼伤，详细规范中可规定采用与测量轴垂直的扫描束迹显示。2.19 未聚焦光点直径(磁聚焦管)2. 19.1 定义在规定工作条件下，当聚焦和偏转场为零时荧光屏上呈现的电子束直径。2.19.2 测试程序按详细规范场到零。，给电子管各电极加上电压，调制极电压使电子束, 焦和偏转给电子管的调制极加上矩形脉冲，使电子管从过截止状态激励到规定的激励状态。此状态给出规定的发光强度(或亮度)或峰值束电流，并可由另一试验

42、事先确定。光屏上的光点直径。2.20 电子束校准2.20.1 定义在多枪管中，通过调节电子管校准极电压来控制电子束运动的过程。2.20.2 测试程序按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压，调节并测量校准极电压，参数达到最佳状态(如荧光屏发光强度或亮度，束迹配准和扫描幅度)。注:除热丝电压或电流、气体试验、绝缘外的其它一切试验，电子束校准极电压节。2.21 偏转因数2.21.1 定义在规定工作条件下，偏转电压除以束点位移的商。2. 21 .2 测试程序的规定应保持不变，无须重新调按详细规范的规定，给电低亮度光点。各电极加上电压，并调节调制极电压得到一个聚焦在荧光屏中心的给一对偏转板加上直流电压

43、，此电压足以使光点在待测的偏转轴上的偏转至少为最小高效屏面尺寸的25% 0 7j_换偏转板电压的极性，并测量光点的总偏移量。也可用交流电压产生扫描线测量其长度。在另一偏转轴上重复此试验。按下式计算偏转因数z式中:s一一偏转因数，V1 m; s=卫E-s UD一一总偏转电压(静态电压的两倍或交流电压峰一峰值)，V ; . (10) GB 5999 86 s一一光点总幅移量，cm。对于径向偏转因数应按下述程序测试z范的规定，给电子管各电极加上电压，在两对偏转板上加以相位相差90。的正弦电压，而在径向偏转电极上加一直流电压Uo，使在荧光屏上显示出一圆扫描图形(基圆。基圆的中心应接近于管屏的几何中心，

44、而基圆的直径应为有效屏面直径的一半，若有效屏面为圆环，则基圆应位于圆环的中心处。在径向偏转电极上先后加以数值为Uo加U和Uo减U的直流电压，得到两个偏离基圆的形束迹，测量两个圆形束迹圆周之间按下式计算出径向偏转因数z式中:Sr-一一径向偏转因数，V /cmJ UD-一-径向偏转电压相对于基圆所d一一两圆柬迹间的最小距离，cm。Sr = . (11 ) 电压)，V J 注z最小距离d一般应选择为有效屏面直径的25%，若有效屏面为圆环，则d一般应选择为圆环宽度的75%。2.22 偏转均匀性2.22.1 定义因数2.22.2 方法Az试程序化对该偏转因数按详细规范的规定，给电子管各在一条偏转轴上，测

45、量光点位移光点位移为最小有效屏面尺寸75%, 值之比。加上电压，这些电压同2.21.2中所加的电压。小有效屏面尺寸25%上的偏转因数。数。这两个偏转因数之差对最大偏转因数之比，即在另一偏转轴上旦采川队。转均匀性因数。方法Bz 按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压，这些电压同2.21.2中所加的电压。在一条偏转轴上，使电子束在荧光屏中心附近偏转一个规定小距离，测量偏转因数。束迹沿它的轴偏转到有效屏面内规定的位置，使光点偏转同一距离，再测偏转日丑人。这两个偏转因数之差对最大偏转因数之比，即为偏转均匀性因数。在另一偏转轴上重复测试。注g为了简化计算，允许保持一个恒定的偏转电压，并测量偏转距离的差

46、值，或者保持恒定的偏转距离，并测转电压的差值。2.23 电子束偏转消隐(电子束偏转造成的视觉消失2.23.1 定义由消隐电极引起的电子束偏转所造成的荧光屏上的束迹视觉消失。2.23.2 测试程序按详细规范的规定，给电子管各电极加上电压，并给出规定的显示。调节调制极电压至规定值，或达到规定的束电流。如布规定，测量电子束消隐电极电流。显示未受偏转的光点，并记下此光点在荧光屏上的位置。如布规定，应采用脉冲调节调制极电压来降低光点平均发光强度。当脉冲调节调制极电压无法实行时￥本测试允许采用束迹进行。此束迹应垂直于电子束消隐轴，其长度等于偏转轴上的有效屏面尺寸。给电子束消隐电极加上规定极性的电压，升高其

47、电压，并测量光点消失时相对于规定电极的电压值。GB 5999 86 光点(或线)距其原来未消嗣UL1=1. H:J阳啊里。也可用另一种方法，即改变束消隐电极电位，使消隐电极对第一阳极的电位依次为正和负，直到在每种情况下达到电子束消隐为止。光点在此两个位置之间的差为消隐时测量的光点偏移量，必须注不一定等于按上述步骤测得的偏移量的两倍。如有规定，可去除调制极上的任何脉冲电压，再测量电子束消隐电极电流。光屏上任何寄生发光的平均亮度。2.24 束迹相互调制(相互作用因数)2.24.1 定义在规定的工作条件下，多枪营中各电子枪束迹相互影响的程度。2.24.2 所有未使用的Y偏转板与规定的阳极连接，并按详

48、细规范的规定，给电子管各电极加上电压。在每一电子枪的x轴上显示聚焦束迹，并调节荧光屏的发光强度(或亮度至规定在U轴上o高于50Hz的频率依次偏转每一束迹。未扫描的电子枪的线宽的增加，表示Y偏转板相互调制的程度，并应不超过规定值。重复上述程序，但在每一电子枪U轴上进行束迹扫描，且依次给Z轴上加扫描。2.25 图形畸变单束营或多束管)2.25.1 定义荧光屏上显示的图形偏离规定图形的几何畸变。2.25.2 测试设备备由下列部分组成:8. 可微调的直流补偿电源和合适的交流补偿电源，以控制X和Y偏移。b. 束迹旋转线圈和可调的直流电掠。c. 透明刻度板，如图11所示。其上刻有按详细规范规定的如下刻线zP K M V w R s C F G A 。-I E D U T Y X N L Q 图11AOB:参考轴线。POQ:与AOB垂直的参考轴线。B GB 5999 86 0: AOB和POQ的交点。CD和EFt在矩形营中通过0点并与AOB参考