SJ Z 9001.40-1987 基本环境试验规程 第2部分：各种试验 用iec68标准中的各项试验模拟贮存影响的导则.pdf

1、中华人民共和国电子工业推荐性部标准SJZ 9001_40-87 基本环境试验规程IEC68一248(1980) 用IEC68标准中的各项试验模拟贮存影响的导则Basic environmental testing; procedures Part 2: T巳stsGuidance on the applicatiou of th巳testsof IE C publication 68 to simulate the巳ffectsof storage 一一-1 贮存的定义在本导则中，贮存是指元件、设备或其它产品在比较长的时间(从几个星期到几年)内，保持在非工作状态和以下各种情况下za. 在工业仓

2、库，零售库房等的典型环境条件下sb. 在备用或急救用的设备或整套设备中，例如，火警装置、辅助马达、备用电机等。在这种情况下，由于周围设备工作，产品可能经受极其恶劣的环境应力条件。c. 需要长时间才能安装完的设备，例如大型电话交换机、大型计算机装置、电站等，其初始环境比工作环境严酷得多。注，应参考与这些条件有关的环境数据的专业标准。2 贮存试验的定义及目的贮存试验是指产品在其正常贮存寿命期间，模拟种或几种环境应力作用对产品的影响，模拟一种或几种环境应力作用对产品的影响，在波劳积累的假设是可能的情况下，则可以确寇za. 贮存是否影响产品在预定的应用中的使用情况，例如，元件引线或印刷电路板的可焊性变

3、坏，电参数漂移超过标准，引起开路或短路。或b. 贮存以后，产品工作是否引起了性能和可靠性的显著下降。或c. 应急设备，在长期处于非工作状态之后，产品准确地和可靠地工作能力是否受到影响。注g为确定较新的产品或长期贮存的产品的可靠性，以及确定贮存后工作的可靠性，应参考IEC有关可靠性和维修性标准。一一一一一中华人民共和国电子工业部1987n27批准1 SJ/Z 9001.40 87 一一一一一一一呼3 贮存条件下的劣化机理和失效类型举例由于贮存而引起的失效机理和失效类型的典型例子如下z3.1 由于氧化或基本材料和镀层之间的扩散过程，能够降低元件引线和印刷电路板的可焊性。热加速了这些过程，大大地降低

4、了可焊性，形成了新的表面。潮湿腐蚀现象也是客观存在的，多半由大气中所含有的污染物质使腐蚀作用加速。3.2 温度变化引起的其它失效机理的举例3.2.1 即使在较低的温度下，长期的低温作用也会使塑料变得很干燥。这些材料在贮存之后使用肘，其电性能和机械性能都会下降，随之而损坏或失效。3.2.2 由于不存在产品本身的加热效应，因而，贮存期间的高温作用比工作期间的高湿作用更危险。在相对湿度低于80%的条件下长期贮存也会对产品的性能和可靠性产生有害的影响。3.2.3 当相对湿度反复出现高峰值的条件时，或循环温度即使在一般的高相对温度条件下肘，密封性能比较差的容器内部的温度也会逐渐地增高。因此，长期贮存之后

5、，由于限定的温度突然降低，容器内部便可以产工阴阳。3.2.4 在高相对湿度和高温条件下贮存的产品，尤其是有机材料会受到长霉的影响。高相对温度和高温条件也可以加速诸如盐雾和工业气体的化学反应的影叮叮。3.3 其它失效机理的举例3.3.1 在高温环境条件下长期暴露，可以使电解电容器和电池组变干z热塑料硬度降低z防护化合物和浸蜡变软或蠕变。通常，在高温条件下，可以加速材料的老化。3.3.2在低温环境条件下长期暴露，可以使产品变脆，不仅橡胶和塑料，而且金属部件也会破裂或断开。一些封口由于收缩或破裂而损坏。3.4 机械部件由于高温氧化或潮湿的腐蚀而堵塞或卡死。3.5 产品的功能参数漂移超过规定的范围。可

6、以引起开路和短路。4 选择适用的试由于不同的参数产生不同的应力，这些应力可以引起不同类型的损坏和失效模式，因此规定一种贮存试验显然是不可能的。在1E C 68号标准z基本环境试验规程中所叙述的标准试验，便于用来模拟特殊的贮存条件。通常，贮存试验是以试验Az寒冷，试验Bz干热，试验Ca:稳态湿热为依据。试验持续时间一般都很长，可以长达几个月(试验Ca的最长时间规定为两个月)。对于某况(如盐雾，工业大气)，另外一些试验会更重要些。这些试验应该在制订详细的贮存规范时考虑。必须强调指出z标准试验方法并不是用来模拟实际条件的，并且在某些情况下，必须进行特殊的试验。然而，从技术和经济上考虑，只要可能就应该

7、采用标准试验方法。在选择合适的试验方法时，有关规范的编写者应考虑以下几点za. 要求的目的(见第2章)2 SJ/Z 9001.40 87 一一一E 一一一b. 预计的劣化机理或失效模式，可以从前人的经验，或分析产品的性能，贮存条件以及环境与材料之间的相互作用得到。C. 涉及到的主要环境应力，这些应力可以考虑为单一，综合或依次作用的应力。d. 在基本上不改变失效模式或引进新的失效模式的情况下，加速劣化机理的可能性。4.1 应该参考适用于1E C 68号标准的试验方法的指导性文件。考虑到贮存试验的目的，本文给出了有关选择试验严酷等级时，需要考虑的事项。4.2 为了有效地缩短试验时间，不可能总是用提

8、高应力的方法得到加速试验。因为这样会使劣化机理发生很大的变化，不能取得有用的试验结果，例如z趴在有或无大气污染物质作用的潮湿腐蚀现象时z提高相对湿度产生的腐蚀产物，在形态上，与自然条件下形成的腐蚀产物是完全不同的。lb. 绝缘材料吸收水汽的结果，尤其是由于结柏材料的变化引起的不可递效应的结果z温度条件比SJ/Z9001.5 87或IEC 68一23，第2部分z试验一一试验Ca:稳态湿热的温度条件低，尤其是当分析对防护比较差的产品的影响肘，采用比较低的温、温度更合适。C. 些材料的缓慢变形现象，对于电子元器件参数漂移是非常重要的z在自然条件下，这种现象常常与大幅度的温度突变所产生的现象不同。4.

9、3 在某些情况下，贮存试验可以持续很长时间，试验的有效性不在于缩短获得试验结果所需要的时间，而在于在控制和再现条件中所产生的现象。常，对于长时间有限的应力作用的那些试验，试验条件的变化比高加速试验的试验条件变化大，因而，试验设备的控制和调整可以简化。4.4 在另一些情况下，可以用提高应力而又大体上不改变损坏机理的方式使试验加速，例如za. 提高温度可以加速诸如电解电容和电池组的干润。一般说来，材料暴露到干热环境都会加速老化过程。b. 由寒冷所引起的橡胶、塑料及一些金属部件的脆性、裂纹和断裂，可以通过暴露到比实际贮存温度低的温度下来加速。5 试验程序的细节贮存试验不要求比用于其它目的(性能的测定、鉴定等)所采用的试验更引起人们的注意。在进行试验肘，所采取的正常防护措施，尤其是与试验设备、辅助测试代表的控制有夫的防护措施，都适用于贮存试验。在功能参数的测量中，尤其是在很长的试验持续时间内或之后的测量应特别注意。试验之后，恢复条件常常是重要的，如脱水后的材料开始吸潮，或已经吸收或吸|时了水气的材料开始干郎。在这种情况下，应明确地规定和严格地控制恢复条件。参考(I E C 68一2)第2部分z各种试验。注2控制恢复条件在SJ/2 900 1. 1 87 (IEC 68 1 ) (i基本坏境试验规程第1部分2总贝IJ5.4.1;tr作出了规定。一一一，_.-.一3