ZB J04005-1987 潘适探伤方法.pdf

1、中华人民共和国专业标准ZB J04 005-87 潘适探伤方法本标准规定了俭验表面开口缺陷的渗透探伤方法及缺陷显示痕迹的等级分类。1 一艘事项1. 1 探伤前应预先考虑到被检物表面上可能出现的缺陷种类及大小，被植物的用途、表面粗糙度、数量和尺寸以及探伤剂的性质，然后选择适当的方法及确定操作细则。1. 2 本标准中的等级分类适用于最终加工面上缺陷的显示痕迹。合格等级应事先由供需双方协商确定。1.3 从事探伤或缺陷等级评定的人员，必须持有国家有关主管部门颁发的并与其工作相适应的无损检测人员技术资格证书。1.4 渗透探伤剂应配套使用，不同型号的渗透探伤神i不能混用c2 术语定义2. 1 渗透时间指施

2、加渗透:If1J到开始乳化处理或清洗处理之间的时间，包括排液所需的时间。2.2 乳化处理将乳化剂施加到被检物表面的操作。2.3 乳化时间从施加乳化剂到开始清洗处理的时间。2. 4 去除处理擦去附着在被检物表面的溶剂去除型渗透剂的操作。2. 5 显像时间在干式显像法中，指施加显像剂到开始观察的时间g在湿式显像法中，指从显像剂干燥到开始观察的时间。2.6 缺陷显示迹痕渗入缺陷中的渗透剂在被检表面析出时呈现的迹痕2.7 假缺陷显示不是由于缺陷所造成的显示迹痕。2.8 其他术语定义参见B3111-82(无损检测I名词术语。3 摞伤方法3. 1 探伤方法的分类根据渗透剂种类和显像剂种类的不同，渗透探伤方

3、法按表1和表2分类。表I按渗透剂种类分类的渗透探伤方法J 法名称渗透荆种类用准洗型荧光渗透剂荧光渗透探伤用后轧化型荧光穆透J1II用溶剂去除型荧光渗透1iJ用准洗型着色渗透剂苦色渗透探伤用后乳化型着色渗透illl用溶剂去除型着色渗透剂注z用于后乳化型荧光渗透剂的乳化剂有油基和事基两种。国家机械工业委员会批准178 方法代号FA FB FC VA VB VC 1988-01-01实施ZBJ04005-87 表2按显像方法分类的渗透探伤方法方法名称显像剂种类方法代号干式显像法用于式显像剂D 用湿式显像剂W 温式显像法用快干戎显像剂s 元显像剂显像法平用显像剂N 3.2 探伤步骤按照表1、表2中各方

4、法的组合使用，其探伤步骤见表3的顺序。所使用的事遁剂租显像剂种类在洗型荧光穆透剂干式显像剂*洗型荧光渗透刑或水洗型着色事透剂一湿式显像剂革洗型荧光掺透剂或水洗型曹色惨遭IIIJ快干式显像剂水洗型荧光渗透剂不用显像剂后乳化理荧光渗透剂干式显像剂后乳化型荧光楼道剂湿式显像剂后乳化型荧光渗透剂快干式显像剂榕剂去除型荧光穆透剂干式显像剂搭剂去除型荧光渗透剂或溶剂去除型曹色惨透剂一温式显像需剂去除型荧光串串遭剂快干式显悻剂或攘剂去除型着色B量剂榕押l去除型荧光渗透剂一不用显像剂后乳化型曹色掺透荆干式显像剂后乳化型着色事透剂湿式显像剂后乳化型曹色旗透剂快干式显像剂3.3 探伤操作3. 3. 1 前处理表3

5、探伤步骤h伤方:同步骤观察如处理渗透乳化清搅去除干燥显像干镰FA-D 。.。 0-.-0-0二一-一O一0FA-W 0-.-0-.-。一-.-0-0+。一0VA-W FA-S 。0 -。仁。O 0 VA-S FA- -N 0- . 0-0- -0-一一二一-c一OFB-D 0-.0一。一0C。 O 0 FB-W 。-00-O-00-0OFB-S 0- -C-() C)- -()-(j-O一-0FC-D 。0一C 0 -0一OFC-W 。0。 (J-O O O VC-W FC-S VC-S 0-0-一)一-0一-0-。一一O一OFC-N 0-0 0-一-一一C一0VB-D 。一O0-。 C 0

6、-c一0VB-W 。-0-O二斗。-一-0-斗。C一0VB-S 。-一0一O二C一0一仁一-00-0一-0L 3.3.1.1 向被检物表面施加渗透剂前，必须彻底清除妨碍渗透剂渗人缺陷的油腊、涂料、铁锈、氧化皮及污物等附着物以及残留在缺陷中的油脂及水份。3.3.1.2 根据附着物的种类、污染程度以及被检物材质的不同，可分别采用溶剂清洗、蒸汽清洗、涂膜剥离、碱洗和酸洗等方法进行清除处理。不允许采用喷砂、喷丸等可能堵塞缺陷开口的方法。3. 3.1.3 对被检物表面进行局部探伤时，准备工作范围应从探伤部位四周向外扩展25mm。3.3.1.4 准备工作后，必须使被检物表面上预清洗过程中残留的溶剂、清洗剂

7、和水份等充分干燥。3.3.1.5 必须根据ZBJ04 003-87控制渗透探伤材料质量的方法确认探伤剂符合要求。179 ? J i 4 i ZB J04 005-87 3.3.2 渗透处理3. 3. 2. 1 渗透处理可根据被检物的数量、尺寸、形状以及渗透剂的种类选用浸溃、喷洒和涂刷等方法，并在规定的时间内保持渗透剂将探伤部位的表面全部滑湿。3. 3. 2. 2 渗透时间取决于渗透剂的种类、被检物的材质、预测缺陷的种类及大小，以及被检物和掺透剂的温度，一般在1S-S0C范围内以表4所列时间为基准。在3-1SC的范围内应根据温度适当增加渗透时间:越过SOC或低于3C时，则应根据渗透剂的种类和被检

8、物的温度等另行考虑决定。某些特殊渗透剂的渗透时间可不受表4所限，但在试验报告内必须加以说明。3.3. 2.3 在进行乳化或清洗处理前，对被检物表面所附着的残余渗透剂要尽可能漓干。使用水基乳化剂街，应用水喷法排除多余的渗透:ifiJ;如无特殊规定，水压一般在14MPa (1. 4 kgf/ cm2)左右。表4渗透时间和显像时间(指最少时间)材质形态缺陷种类铝、镜、钢铁、黄铜、铸件、焊接件冷疤、气孔、熔融不良、裂纹青铜、敏、耐热合金轧制棒材、锻件、板材鳞状缺陷、裂纹带硬质合金刀片的工具熔融不良、气孔、裂纹塑料各种形态裂纹破璃各种形态裂纹陶i: 各种形态裂纹注:表中以外的其它缺陷种类，其掺透时间和显

9、像时间不受表4限制e3.3. 3 乳化时间各种方法的渗透剂撞撞透时间显像时间口1In町1In5 7 10 7 5 7 3 7 b 7 5 7 3.3.3. 1 可采用浸溃、浇注、喷洒等方法将乳化剂施加于被检物表面，乳化必须均匀3. 3.3. 2 乳化时间取决于乳化剂和渗透剂的性能及被检物表面租糙度。原则上用油基乳化剂的乳化时间在2mm内，用水基乳化剂的乳化时间在5min内。3. 3. 4 清洗处理和去除处理3. 3. 4.1 清洗处理和去除处理是为了去除附着在被检物表面的残余渗透剂;在处理过程中既要防止处理不足而造成对缺陷显示迹痕识别的闲难，同时也要防止处理过度而使渗入缺陷中的渗透剂也被洗去。

10、用荧光渗透剂时，可在紫外线照射下边观察处理程度、边进行操作。3. 3. 4.2 水洗型及后乳化型渗透剂均用水清洗。使用啧咀时的水压，在没有特殊规定情况下应不大T34 MPa(3. S kgf/cm勺。3. 3. 4.3 溶剂去除型渗透剂用清洗剂去除。除了特别难于去除的场合外，般都用蘸有清洗剂的布和纸擦拭;不得往复擦拭，不得将被检件浸于清洗剂中或过量地使用清洗剂。3. 3. 5 干燥处理3. 3. 5. 1 在使用湿式显像剂时，经3.3. 6. 2条处理后，应使附着于被检物表面的恩像剂迅速干燥。使用干式或快干式显像剂时，干燥处理应在显像处理前进行。被检物表面的干燥掘度应控制在不大于SZC范围。3

11、.3.5.2 用清洗剂去除时，应自然干燥或用布或纸擦干，不得加热干燥。3. 3. 6 显像处理3. 3. 6.1 用于式显像法时经3.3.5.1条处理后，用适当方法将显像剂均匀地覆盖在整个被检物的表面上，并保持一定时间。3. 3. 6.2 用湿式显像剂时，被检物经清洗或清除处理后可直接浸入湿式显像剂中，也可将显像剂喷洒、180 一 ZB J04 005-87 涂刷到被检物上，然后迅速排除残余显像剂，再按3.3.5.1条进行处理。3. 3. 6.3 用快干式显像剂时，先要经过3.3.5.1条处理，然后再喷洒或涂刷显像剂，但切不可将被检物浸于显像剂中。喷涂上显像剂后，应进行自然干燥或用低温空气喷吹

12、干燥。3. 3.6.4 用湿式及快干式显像剂时，显像剂应喷涂得薄而均匀，以略能看出被检物表面为宜，不要在同一部位上反复涂敷。3.3.6.5 显像时间取决于显像剂的种类、预计的缺陷种类和大小以及被检物的温度等因素.一般在15-50(;范围内按表4所列的时间为宜p特殊显像剂的显像时间可不受表4所限，但在试验报告内必须加以说明。3.3.7 观察3. 3.7.1 观察显示的迹痕应在显像剂施加后7-30min内进行，如显示迹痕的大小不发生变化，则可超过上时间。3.3.7.2 荧光掺透探伤时，观察前要有5mn以上的时间使眼睛适应暗室，被检物表面上的标准荧光强度应大于501x(按GB5097-85黑光源的间

13、接评定方法测定)。着色渗透探伤时应在3501x以上的可见光下进行观察。3.3. 7.3 当出现显示迹痕时，必须确定此迹痕是真缺陷还是假缺陷显示，如无法确定，则应进行复验或对该部分进行放大观察，或用其他方法进行验证。3.3.8 复验在探伤过程中或探伤结束后，若发现下列情况必须重新将试件彻底清洗干净进行检验za. 探伤结束时，用对比试块(见ZBJ04 003附录A)验证sb. 发现灵敏度下降难以确定迹痕是真缺陷还是假缺陷显示时pC. 供需双方有争议或认为有其他需要时，d. 若难于按第6条规定对缺陷显示迹痕作等级分类时，必须通过复验或用供需双方同意的方法加以验证。3. 3. 9 后处理探伤结束后，为

14、了防止残留的显像剂腐蚀被检物表面或影响其使用，必要时应清除显像剂，清除方法可用刷洗、喷气、啧水、用布或纸擦除等方法。4 探伤剂4. 1 探伤剂包括渗透剂、乳化剂、清洗剂、显像剂。4.2 探伤J1IJ必须具有良好性能。控制探伤剂的质量要求见ZBJ04 003 , 4.3 在某些特殊要求的场合，例如对氯、氟含量及含硫量等需要加以限制时，可由供需双方协商，5 对比试块对比试块应符合ZBJ04 003附录A的要求。6缺陷显示迹斑的等级分类6.1 缺陷显示迹痕的种类缺陷显示迹痕按其形状及集中程度可分为三种:a. 线状缺陷显示迹痕其长度为宽度三倍以上的缺陷迹痕，b. 圆状缺陷显示迹痕除了线状缺陷显示迹痕之

15、外的其他缺陷，均为圃状缺陷显示迹痕$ 分散状缺陷显示迹痕在哈定区域内存在几个缺陷显示迹痕。6.2 缺陷显示迹痕的等级分类6.2.1 线状和回状缺陷显示迹痕的等级分类根据其长度按表5进行。日与F181 , ZB J04 005- 87 表5线状和圆状缺陷显示迹痕的等级分类mm 等级分类峡陷显示迹痕的长度1 级二三I2 2 级二注24 3 级二48 4 级注816 5 级二3:16 32 6 级二去3264 7 级注646.2.2 分散状缺陷显示迹痕的等级分类根据表6所列数值进行，在2500 mm矩形面积内(矩形最大边长为150mm)长度超过1mm缺陷显示迹痕的总和团表6分散状缺陷显示迹痕的等级分

16、类mm 等级分类缺陷显示迹痕的长度且相1 级注24 2 级二4二B3 级二注B16 4 级二1632 5 级注3264 6 级二注64128 7 级二三1286.2.3 当有2个或2个以上缺陷显示迹痕大致在同条连线上、同时间距又小于2mm肘，则应看作是一个连续的线状缺陷显示迹痕(包括迹痕长度和闯距)。当缺陷显示迹痕中最短的迹痕长度小于2mm而间距又大于显示迹痕时，员IJ可看作单独的缺陷显示迹痕$间距小于显示迹痕时，则可看作密集型的缺陷显示迹痕(参照6.2.2条，按表6评定缺限显示迹痕的长度总和等级)。6.2.4 如有必要，可根据供需双方协商决定采用其他等级标准。7探伤结果的标识与记录7. 1

17、缺陷显示缺陷显示迹痕可根据需要分别用照相、示意图或描绘等方法记录。?2 被检物表面探伤后的被检物表面如需特别标明时，应使这些记号永远保留。7. 2. 1 大批量探伤时，对每一个合格品应用印记或腐蚀法以P符号标识，如在上述方法有困难时，可用颜色标l:P符号。用P符号标识有困难时可用标色记号法。在被检物表面上无法制造标记时.可采用其他方法标记。7.2.2 抽样探伤时，对成批合格产品按7.2. 1条方法用F符号或标色记号法标识。7.2.3 在有缺陷的被检物上涂料或粉笔等标出缺陷位置。7.3 探伤记录探伤记录应按试验报告要求记录，试验报告格式内容如下182 ZB J04 005-87 渗透探伤试验报告

18、委托单位g工件名称且编号s幢验目的:被检区域z探伤环境气温05C以下或50C以上必须记录)穆透拥i温度(15C以下或50C以上必须记最h试件形状和尺寸、材质、表面状态:探伤方法的种类:渗透剂、乳化剂、清洗剂、显像剂的名称:操作方法za探伤前处理方法;b.渗透剂施加方法，乳化剂施加方法;d.清洗方法或去除方法$e.干燥方法号f.显像剂施加方法囚操作条件za.渗透时间;b.乳化时间5清洗水的水压$d.干燥温度及时间;e.显像时间及观察时间。探伤结果:a.有元缺陷;b.按照7.1条指出缺陷显示迹痕的位置与形状，并附草图或照相$c按照第6条记录缺陷显示迹痕的等级分类。探伤人员姓名、技术资格、探伤日期。附加说明z本标准由上海材料研究所提出并归。本标准由上海材料研究所负责起草。本标准主要起草人密中玉。, No 183