GB T 12843-1991 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理.pdf

1、中华人民共和准半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理General principle of m饵suringmeth创sof micropr侃侃sorsand peripheral interface circuits prameters for semiconductor inte伊atedcircuits GB/T 12843 91 1 主题内容与适用范围本标准规定了电路器及外围接口电路(以下简称器件)电试方法的基本原理。本标准适用于器件电参数的测试。2 引用标准臼/Z9015. 2(IEC 748-2) 半导体器件电路第2部分数字集成电路3 总要求3. 1 若无特

2、殊说明，测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围，应符合器件详细规范的规定。3.2 测试期间，应注免外界干扰琦测试精度的影响，测试设备引起的测试误差应符合器什详细规范的规定。3. 3 测试期间，施于被测器件的电度，应符合器件详细规范的规定。3.4 被测器件与测试系3. 5 测试期间，测试设备或操作者4 试4. 1 输入高电平电流IIH4. 1. 1 日的电压，应在规定值的土1%以内;施于被时，不应超过器件的使用，极限条件。因静电感应而引起器件失效。本方法是用来4.1.2 测试原理图规定的高电平时，流入该端的电流。国家技1991-04-28批准件的其他电参精1991-12-01实GB/T 1

3、2 8 4 3 91 I lIi VDD A V 输入网络被测器件输出网络图14. 1. 3 测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a. 环境温度TA;b. 电源电压Voo;C. 捕入高电平电压V仙输入低电平电压V1L;d. 输出端条件。4. ,. 4 测试程序4. ,. 4. , 在器件详细规范规定的环境温度TA下，将被测器件接入测试系统中04: ,. 4. 2 电源电压Voo调到器件详细规范规定的电压血。4. 1. 4. 3 被测输入端施加器件详细规范规定的输入高电平电压VIH其余输入端施加器件详细规范规定的输入低电平电压V1L0 4.4.4 输出端按器件详细规范的规定。

4、4. ,. 4. 5 在被测输入端测得输入高电平电流IIH4.4.6 按本标准4.1.4. 34. 1. 4. 5条的规定，分别测试每个输入端。4.2 输入低电平电流II比L 4.2. 1 目的本方法是用来测试输入端施加规定的低电平时，流出该端的电流。4.2.2 测试原理图GB/T 1 28 4 3 91 Voo IL VL A 输入网络被测器件输出网络图24.2. 3 测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。8. 环境温度TA;b. 电源电压VOO;C. 输入高电平电压V仙输入低电平电压V1L;d. 输出端条件。4.2.4 测试程序4. 2. 4. 1 在器件详细规范规定的环

5、境温度TA下，将被测器件接入测试系统中。4.2.4.2 电源电压VDD调到器件详细规范规定的电压值。4. 2. 4. 3 被测输入端施加器件详细规范规定的输入低电平电压V1L，其余输入端施加器件详细规范规定的输入高电平电压V1Ho4. 2. 4. 4 输出端按器件详细规范的规定。4.2.4.5 在被测输入端测得输入低电平电流IIL。4.2.4.6 按本标准4.2. 4. 3 4. 2. 4. 5条的规定，分别测试每个。4.3 输出高阻态时高电平电流10四4. 3. 1 目的本方法是用来测试在输入端施加规定的电压使输出为高阻态的情况下，输出端施加规定的高电平电压VOH时的输出电流。4.3.2 测

6、试原理图GB/T 1 2 8 4 3 9 1 VDD loZH A VOH 输入网络被测器件| 输出网络 图34.3.3 测试条件试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a. 环境温度TA;b. 电源电压Voo;C. 输入端逻辑电平;d. 揄出高电平电压VOHo4.3.4 测试程序4. 3. 4. 1 在器件详细规施规定的环境温度TA下，将被测器件接入测试系统中。4. 3. 4. 2 电源电压Voo调到器件详细规范规定的电压闹。4. 3. 4. 3 输入端施加器件详细规起规定的逻辑电平，使被测输出端为高阻态。4. 3. 4. 4 被测输出端施加器件详细规范规定的高电平电压VOH其余输出端

7、按器件详细规范的规定。4. 3. 4. 5 在被测输出端测得输出高阻态时高电平电流IOZHo4. 3. 4. 6 按本标准4.3. 4. 34. 3. 4. 5条的规定分别测试相应输出响。4.4 输出高阻态时低电平电流IOZL4. 4. 1 目的本方法是用来测试在输入端施加规定的电压使输出为高阻态的情况下，输出端施加规定的低电平电压VOL时的输出电流。4.4.2 测试原理图GB/T 1 2843 9 1 Voo IOZL A 比L输入网络| 被测器件输出网络l可14. 4. 3 测试条件测试期间，下列测试条件应符合a. 环境温度TA;b. 电源电压VDDZc. 输入端逻辑电平;d. 输出低电平

8、电压VOL。4.4.4 测试程序4. 4. 4. 1 在器件详细规范规定的环境温度TA下，将被测器件接入测试系统中。4. 4. 4. 2 电源电压VDD调到器件详细规范规定的电压国。4. 4. 4. 3 输入端施加器件详细规范规定的逻辑电平，使被测输出端为高阻态。4. 4. 4. 4 被测输出端施加器件详细规范规定的低电平电压VOL其余输出端按器件详细规范的规定。4.4.4.5 在被测输出端测得高阻态时低电平电流loZLo4. 4. 4. 6 按本标准4.4. 4. 3 4. 4. 4. 5条的规定，分别测试相应输出啊。4. 5 工作状态时电源电流1004. 5. 1 目的本方法是用来测试在规

9、定的条件下使器件为工作状态时流过电源端的电流。规范的规定。4.5.2 测试原理图GB/T 12843 91 V. 100 A 输入网络| 被测器件| 输出网络性I5 4. 5. 3 测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a. 环境温度TA;b. 电惊电压Voo;c. 输入网络条件和输出网络条件;d. 工作频率。4. 5. 4 测试程序4. 5. 4. 1 在器件详细规范规定的环境强度TA下，将被测器件接入测试系统中。4.5. 4. 2 电源电压Voo调到器件详细规范规定的电压值。4. 5. 4. 3 输入端条件、输出端条件以及工作频率按器件详细规范的规定，使被测器件执行规定的

10、功能作。4.5.4.4 在电;源原端测得工f作乍状态时电j源原电j流荒Iu山山u4.6 输出高电平电压V儿OH4. 6. 1 目的本方法是用来测试在输入端施加规定的电压使输出端为逻辑高电平时的输出电压。4.6.2 测试原理图v. 输入网络被测器件VOH 输出负载输出网络V i到64.6.3 测试条件试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。GB/T 1 2843 91 a. 环境温度TA;b. 电源电压VDD;C. 辅人E丽莎一辑电平;d. 输出端负载。4.6.4 测试程序4. 6. 4. , 在器件详细规范规定的环境温度TA下，将被测器件接入测试系统中。4. 6. 4. 2 电源电压VD

11、D调到器件详细规范规定的电压且。4. 6. 4. 3 输入端施加器件详细规范规定的逻辑电平。4. 6. 4. 4 被测输出端施加器件详细规范规定的负响。4. 6. 4. 5 在被测输出端测得输出高电平电压VOHo4. 6. 4. 6 按本标准4.6. 4. 3,- 4. 6. 4. 5条的规定分别测试有关输出叮咐l叫u。4. 7 输出低电平电压vO4. 7. 1 目的本方法是用来测试在输入端施加规定的电压使输出端为电平时的输出电压。4.7.2 测试原理图VDO 输入网络被V也输出负载器件输出网络V 国74. 7. 3 测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a. 环境温度TA;

12、b. 电源电压VDD;C. 精I入端逻辑电平;d. 输出端负载。4. 7. 4 测试程序4.7.4. 在器件详细规范规定的环境温度TA下，将被测器件接入测试系统中。4.7.4.2 电源电压VDD调到器件详细规范规定的电压且。4. 7. 4. 3 输入端施加器件详细规范规定的逻辑电平。4.7.4.4 被测输出端施加器件详细规范规定的负柄。4. 7. 4. 5 在被测输出端测得输出低电平电压VOLo4. 7. 4. 6 按本标准4.7.4.34.7.4.5条的规定，分别测试有关输出端。5 试5. , 输入电容C.5. ,. , 目的本方法是后5. ,. 2 测试原理图5. ,. 3 测试条件试期间

13、，下列a. 环境温度TA;b. 电源电压VDD;C. 输入网络条件;d. 输出网络条件;e. 偏置网络条件;f. 泪试颇率。5. ,. 4 测试程序GB /T , 2 8 4 3 9 , 对地之间的电容。VDD L 图8应符合器件详细规范的规定。5. ,. 4. , 在器件详细规范规定的环境温度民下，将被测器件接入测试系统中。5. ,. 4. 2 电源电压VDD调到器件详细规范规定的电压值。5. ,. 4. 3 偏置条件按器件详细规范规定。5. ,. 4. 4 输出网络按器件详细规范的规定。5. ,. 4. 5 测试频率按器件详细规范规定。5. ,. 4. 6 测量输入端对地的电容C.。注2C

14、在规定的测试频率下呈现低阻抗。L在规定的测试频率下呈现高阻抗。5.2 输出电容Co5.2. , 目的本方法是用来测试输出端对地的电容。5.2.2 理图GB/T 1 2 8 4 3 9 1 VDD 被输测出网l器网件络图95. 2. 3 测试条件试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a. 环境温度TA;b. 电源电压Voo;c. 精I入网络条件pd. 输出网络条件;e. 1扇窗网络条件;1 泪11试频率。5. 2. 4 测试步5. 2. 4. 1 在器件详细规范规定的环境温度TA下，将被测5. 2. 4. 2 电源电压Voo调到器件详细规范规定的电压值。5. 2. 4. 3 偏置条件按器

15、件详细规范规定。5. 2. 4. 4 输入网络按器件详细规范规定。5. 2. 4. 5 测试频率按器件详细规范规定。5. 2. 4. 6 测量输出端对地的电容Co。注zC在规定的测试频率下呈低阻抗。L在规定的测试频率下呈高阻抗。5. 3 数据输出延迟时间tO(Q)5. 3.1 日的本方法是用来测试器件在执行规定的功5. 3. 2 测试原理图时，数L C l偏I置l网l络电容电桥试系统中。出相对于规定输入时钟的延迟时间。GB/T , 2843 9 因105.3.3 测试条件试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定0. 环境温度TA;b. 电源电压Voo;c. 输入高电平电压VIH，输入低电平

16、电压V1L;d. 输出高电平电压VOH输出低电平电压VOL;e. 输入脉冲条件:度;宽度;上升时间;下降时间;。f. 不同脉冲之间的相互关系;g. 输入网络、输出网络、输出负载网络。5. 3. 4 测试步5. 3. 4. , 在器件详细规泡规定的环境温度TA下，将被测器件接入测试系统中。5. 3. 4. 2 电源电压Voo调到器件详细规范规定的电压值。5. 3. 4. 3 输入端施加器件详细规范规定的逻辑电平。5. 3. 4. 4 输出端施加器件详细规范规定的负载。5. 3. 4. 5 启动测试系统，被测器件执行规定的功能。5. 3. 4. 6 观测数据端输出相对于规定输入时钟的延迟时间也(Q

17、)。5.4 地址输出延迟时间tO(A)5. 4. 1 日的GB/T 1 2 8 4 3 91 本方法是用来测试器件在执行规定的功能操作时，5. 4. 2 测试原理图出相对于规定输入时钟的延迟时间。VDD 时钟输出网络输出负载被测器件输入网络图115.4.3 测试条件测试期间，下列测试条件应规范的规定。8. 环境温度TA;b. 电惊电压V;c. 捕入高电平电压VlH输入低电平电压V1L;d. 输出高电平电压VOH输出低电平电压VOL;e. 输入脉冲条件:幅度;宽度;上升时间;时间;频率。f. 不同脉冲之间的相互关系;g. 输入网络、输出网络、输出负载网络。5.4.4 测试程序5. 4. 4. 1

18、 5. 4. 4. 2 5. 4. 4. 3 5. 4. 4. 4 5. 4. 4. 5 5. 4. 4. 6 在器件详细规范规定的环境温度TA下，将被测器件接入测试系统中。电源电压VDD调到器件详细规范规定的电压国。入端施加器件详细规范规定的逻辑电平。出端施加器件详细规范规定的只响。启动测试系统，被测器件执行规定的功口。地址端输出相对于规定输入时钟的延迟时间虹的6 功能测试6. 1 微处理器及外围接口电路的功能是指器件详细规范中所规定的全部操作。GB /T 1 2 8 4 3 - 9 1 6.2 功能测试所使用的测试图形的生成方法以及所使用的测试设备，应符合器件详细规范的规定。附加说明:本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出。本标准由机械电子工业部北京机械工业自动化研究所、电子标准化研究所负责起千。本标准主要起草人徐永康、高苗、张宏图。