GB T 18268.21-2010 测量、控制和实验室用的电设备 电磁兼容性要求 第21部分：特殊要求 无电磁兼容防护场合用敏感性试验和测量设备的试验配置、工作条件和性能判据.pdf

1、ICS 25.040.40;33.100 N 10 g冒中华人民圭七/飞、不日国国家标准GB/T 18268.21-2010jIEC 61326-2-1 : 2005 测量、控制和实验室用的电设备电磁兼容性要求第21部分:特殊要求无电磁兼容防护场合用敏感性试验和测量设备的试验配置、工作条件和性能判据Electrical equipment for measurement, control and laboratory use EMC requirements-Part 21 : Particular requirements一Test configurations, operational c

2、onditions and performance criteria for sensitive test and measurement equipment for EMC unprotected applications (IEC 61326-2-1: 2005 , IDT) 2011-01-14发布2011-05-01实施数码防伪中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会发布中华人民共和国国家标准测量、控制和实验室用的电设备电磁兼容性要求第21部分:特殊要求无电磁兼容防护场合用敏感性试验和测量设备的试验配置、工作条件和性能判据GB/T 18268. 21 2010/I

3、EC 61326-2-1 :2005 * 中国标准出版社出版发行北京复兴门外三里河北街16号邮政编码:100045网址电话:6852394668517548 中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销4峰开本880X12301/16 印张0.5字数8千字2011年4月第一版2011年4月第一次印刷晤节吁:155066. 1-42669定价14.00元如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68533533GB/T 18268.21-2010/IEC 61326-2-1 :2005 目lJ GB/T 18268(测量、控制和实验室用的电设备电磁兼容性要求系列标准包括

4、以下部分:-第1部分:通用要求第21部分:特妹要求元电磁兼容防护场合用敏感性试验和测量设备的试验配置、工作条件和性能判据第22部分:特殊要求低压配电系统用便携式试验、测量和监控设备的试验配置、工作条件和性能判据第23部分:特殊要求集成或远程信号调理变送器试验配置、工作条件和性能判据第24部分:特殊要求符合IEC61557毛的绝缘监控装置和符合IEC61557-9的绝缘故障定位设备的试验配置、工作条件和性能判据一一-第25部分:特殊要求接口符合IEC61781-1，CP3/2的现场装置的试验配置、工作条件和l性能判据第26部分:特殊要求体外诊断CIVD)医疗设备第31部分:执行或准备执行有关安全

5、功能(功能安全)的设备的抗扰度要求一般工业应用一一-第32部分:执行或准备执行有关安全功能(功能安全)的设备的抗扰度要求规定电磁环境中的工业应用本部分是GB/T18268的第21部分。本部分等同采用国际标准IEC61326-2-1 :2005(第1版)(测量、控制和实验室用的电设备电磁兼容性要求第2-1部分:特殊要求无EMC防护场合用敏感性试验和测量设备的试验配置、工作条件和性能判据)(英文版)。本部分等同翻译IEC61326-2-1 :2005。本部分依据GB/T1. 1-2000 (标准化工作导则第1部分:标准的结构和编写规则和GB/T 20000. 2-2001(标准化工作指南第2部分:

6、采用国际标准的规则的有关规定进行下列编辑性修改:删除了国际标准的前言;IEC 61326的本部分改为GB/T18268的本部分;原引用文件的引导语按GB/T1. 1-2000的规定改成规范性引用文件的引导语。本部分采用的国际标准中，各章的附加内容均采用了特殊编号，如5.2.401、5.3. 101、6.2. 101等，以示区别。鉴于本部分为等同采用国际标准，为与国际标准保持一致，本部分未作更改。本部分由中国机械工业联合会提出。本部分由全国工业过程测量和控制标准化技术委员会CSAC/TC124)归口。本部分负责起草单位:上海工业自动化仪表研究所。本部分参加起草单位:上海仪器仪表自控系统检验测试所

7、、福建上润精密仪器有限公司。本部分主要起草人:王英、李明华、戈剑、洪济哗。本部分为首次发布。I 1 范围G/T 18268.21-2010/IEC 61326-2-1 :2005 测量、控制和实验室用的电设备电磁兼容性要求第21部分:特殊要求无电磁兼容防护场合用敏感性试验和测量设备的试验配置、工作条件和性能判据除了GB/T18268.1的要求外，GB/T18268的本部分规定了更详细的有试验和测量电路设备的内部和(或)外部电路的设备的试验配置、工作条件和性能判据。按制造商的规定，这些设备因操作和(或)功能上的原因而没有电磁兼容防护。制造商应规定设备的预定使用环境，并)AG13/T 18268.

8、 1中选择适用的试验等级。注:此类设备包括但不限于示波器、逻辑分析仪、频谱分析仪、网络分析仪、数字多用表和船用测试系统。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T18268的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注H期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不7tH期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB/T 4365- 2003 电工术语电磁兼容。EC60050-161: 1990 , IDT) GB/T 18268.1一2010测量、控制和实验室用的电设备电磁兼容性要求第1部分:通

9、用要求(IEC 61326-1, 2005 , 1T) 3 术语和定义GBjT 18268. 1和G/T4365确立的术语和定义适用于本部分。4 总则GBjT 18268. 1一-2010的第4章适用于本部分。5 电磁兼容试验方案5.1 总则GBjT 18268. 1-2010的5.1适用于本部分。5.2 试验时受试设备的配置GBjT 18268. 1-2010的5.2适用于本部分，并附加以下内容。5.2.401 试验和测量用的1/0端口(T和M端口)试验和测量(T和M)输入端口应封口和短路，除非这会导致工作条件不适合于测量受试设备的发射和抗扰度性能。在此情况下，应施加一个合适的输入信号。评定

10、受试设备的基本功能时不需要的试验和测量(T和M)输出端口应封口和(或)端接负载。注1:试验和测量端口不需要连接探头和(或)测试引线。测试引线在不同的应用场合可能会有相当大的变化，测试引线常常连接到外壳被移除的设备，并且在不同的拆卸阶段提供内部测量点的退路。在特定的应用中，连接GBjT 18268.21-201 OjIEC 61326-2-1 : 2005 的测试引线可能会增加发射和(或降低抗扰度性能。注2.封口是指用屏蔽物在局部进行包封.5.2.501 辅助设备受试设备正常工作所需的辅助设备应作为受试设备的组成部分进行试验。5. 3 试验时受试设备的工作条件GBjT 18268.1-2010的

11、5.3适用于本部分，并附加以下内容。5.3. 101 工作条件当电池和交流电源都可用时，两种工作状态都应符合要求。5.3.102 示波器示波器端口应设定为最大扫描速率、最大灵敏度和连续采集模式，除非已知其他模式在正常应用中产生最不利的发射和抗扰度结果。5.3.103 逻辑分析仪逻辑分析仪在发射试验时应设定成数据分析模式，在抗扰度试验时应设定成连续的数据采集模式，除非有其他模式能在正常应用中产生最不利的发射和抗扰度结果。5.3.104 数字多用表(DMM)典型配置包括:峰值检波、最大灵敏度(如果有自动选择量程功能，通常就可设定在自动状态)和连续采集模式。5.3.105 其他设备对于5.3. 10

12、25.3. 104未提及的设备，适用下列要求。鉴于只能对电子设备最典型的功能而不是所有的功能进行试验，所以应选择有代表性的工作状态。应选择估计是正常应用中最不利的工作状态。5.4 性能判据规范GBjT 18268.1-2010的5.4适用于本部分。5.5 试验描述GBjT 18268. 1一2010的5.5适用于本部分。6 抗扰度要求6. 1 试验条件GBjT 18268. 1一2010的6.1适用于本部分。6.2 抗扰度试验要求GBjT 18268. 1 - 2010的6.2适用于本部分，并附加以下内容。6.2.101 瞬时电磁现象试验试验时，受试设备可能发生功能或性能暂时降低或丧失，但能自

13、行恢复。自行恢复时间大于10s 应由制造商做出说明。触发功能应不做评定。不允许实际工作状态发生改变或储存的数据丢失。静电放电应施加在屏蔽壳上，但不施加在屏蔽端口或电缆连接器的内部插脚上。例如，BNC(同轴电缆接插件)、D-subminiaturc(超小D型连接器)、IEEE488 (通用接口总线GPIB)、RS232和IEEE 1284B(并行打印机端口)等。6.2.102 连续出现的电磁现象试验除制造商另有规定外，试验期间不允许受试设备出现可观察到的参数下降。不要求进行工频磁场试验。6.3 偶然性方面GBjT 18268. 1-2010的6.3适用于本部分。6.4 性能判据GBjT 1826

14、8. 12010的6.4适用于本部分，并附加以下内容。2 GB/T 18268.21-2010/IEC 61326号-1:20056.4. 101 示波器在抗扰度试验时观察的典型参数包括轨迹宽度偏离，轨迹偏移和显示噪声。6.4. 102 逻辑分析仪在抗扰度试验时观察的典型参数包括可能会导致逻辑分析仪系统死锁或者功能或状态改变的功能操作。6.4. 103 数字多用表(DMM)在抗扰度试验时观察的典型参数包括显示的测量值。7 发射要求GB/T 18268. 1-2010的第7章适用于本部分。8 试验结果和试验报告GB/T 18268. 1-2010的第8章适用于本部分。9 使用说明GB/T 182

15、68. 1-2010的第9章适用于本部分。山OON二zNEUSFu国OFON-N.NH益。GB/T 18268.21-201 O/IEC 61326-2-1 : 2005 献1 IEEE 488 , IEEE Standard For Higher Pcrformancc Protocol or thc Standard Digital Intcr face or Programmablc Instrumentation 可编程仪器标准数字接口的高性能协议IEEE 1284 , IEEE standard signalling method for a bi-dircctional parallcl pcriphcral intcrface 双向并行外部接口的信号发送方法文考参2 for personal computers 侵权必究nHd Fhu ULAq-EA-co 户huU F严气唱i- E 号一价书一定唔版权专有14.00 ) GB/T 18268.21一2010打印日期:2011年5月4ElF002A