1、中华人民共和国国家标准铝及铝合金阳极氧化膜厚度的试验方法分光束显微法Test methods for thickness of anodic oxidaHon coatings on aluminium and aluminium alloys Splitbeam mcroscopc method 牛二榻准适用于铝及铝合金制品阳极轼化膜厚度的测定。UDC 669. 715 ,620.197.2 ,531. 717.1 GB 8 0 l 5. 2 8 7 ISO 2 l 2 8 l 9 7 6 本标准不适用于测量特殊膜（如深色氧化膜）、试样基底粗糙的膜。在一般王收条件F,oJ测量I Om以上的膜
2、。当表面平滑时也可测量5JOm的氧化膜。本标准等同fISO 21281976钥及铝合金阳极氧化阳极氧化膜厚度的测定分光束显微）；损测量法。1 定义1. 1 阳极氧化膜的厚度必须在考察的区域内，至少取10点进行测量，并且计算出膜厚的算术平均值。1. 2 考察区域测量表面（或测试线段）必须经供需双方商定。另外对其表面特性应有规定。2 原理在分光束显微镜中，一束狭长平行光线。）倾斜地入射全氧化膜表面，通常入射角取4S （如回盯俨I .v h f七月第 金属光束的一部分R.在氧化膜的外表反射出来另一部分光束R穿过氧化膜并在金属氧化膜界面t反射出来。fl，经历了两次折射。这样，在视区可得到两条平行亮线，
3、两平行线间距离正比于氧化膜的厚度及放大倍数。I同条V-行线的可距也与氧化膜的折射率及仪器的JL何形状告关氧化膜的折射率般在l. 091.621问。当入射角及测量仪器的物镜光轴与试样表面均为15。时，氧化膜厚度可以按公式（j ）计算p P飞.211 I 2 01e . . . . . . ( I J 式中：e氧化膜的真实厚度，m;中国有色金属工业总公司198704 22批准1988 05 01实施3:. GB 8015. 2 87 r一一仪器测髦的！手1豆叶IDl; n 氧化膜折射率（.;9 l G幻、3仪器专用分光束思微镜，涵常用F测量透明膜厚及表面粗糙度。同时要用阳极氧化膜的标样进行校准，该
4、如样的膜厚宇先己用横截而1lv贯tkl1n以确；4 测量wT按仪器吱产家提供的说明白进行测hl膜厚可以届过螺旋测微鼓测量，转动螺旋测做鼓时，使卡字恪架从条线移动至另条线。有也仪器还可调节放大倍数，使鼓轮上的读数与膜真实厚度相对应。5 结果说明阳极氧化膜的常规值至少测量I0 .，并汁算其算术平均值。测量但相对于算术平均俏的允许偏差为I0 % , 异常jj1数不得超过：总测量点数的30%并且异常值在计算平均值时必须舍去，riiJHt取与该点相近的两个测量值之一代替。如异常值连续出现，需it入平均值（x ) .平均偏差用公式（2）表示：附加说明z本标准由东北轻合金ho工负责起草p丰标准主耍起草人高亢之、子子毅。3Gli 二；xXI 页 . . . . ( 2 )
